本申请提供的相控阵校准方法、装置、电子设备及存储介质，应用于通信技术领域，所述方法包括：获取相控阵在未补偿干扰源影响时的初始口面场分布；将所述初始口面场分布输入至口面场分布补偿模型进行预测，得到所述相控阵在已补偿干扰源影响时的目标口面场分布；根据所述目标口面场分布对所述相控阵进行校准。述目标口面场分布对所述相控阵进行校准。述目标口面场分布对所述相控阵进行校准。
【技术实现步骤摘要】
相控阵校准方法、装置、电子设备及计算机存储介质
[0001]本申请属于通信
，特别是涉及一种相控阵校准方法、装置、电子设备及计算机存储介质。
技术介绍
[0002]相控阵校准作为相控阵天线在设计和实际生产过程中重要环节，不仅能够补偿工艺不一致性造成的阵列初始相位不均匀的问题，还可以改善阵列的远场方向图以及通过观察迭代校准后的口面场分布来对相控阵的阵列通道进行故障诊断。
[0003]而相关技术中相控阵校准一般是采用外部校准方式，是通过对相控阵使用特质探头进行直接或间接测试以获取口面场分布直接获取口场面分布，或者是通过普通探头置于干扰源后进行中场扫描检测，通过计算机对检测数据进行反演推导得到口面场分布来对相控阵进行校准，但这种测量方式不能计入干扰源对相控阵的影响，从而降低了相控阵校准的精确度。
技术实现思路
[0004]有鉴于此，本申请实施例提出一种相控阵校准方法、装置、电子设备及存储介质，用于尽可能解决相关技术中干扰源会影响探头扫描面所采集到的数据，使得所获取到的数据存在误差，从而减低了相控阵校准的精确度的问题。
[0005]本申请第一方面提供一种相控阵校准方法，所述方法包括：
[0006]获取相控阵在未补偿干扰源影响时的初始口面场分布；
[0007]将所述初始口面场分布输入至口面场分布补偿模型进行预测，得到所述相控阵在已补偿干扰源影响时的目标口面场分布；
[0008]根据所述目标口面场分布对所述相控阵进行校准。
[0009]可选地，所述口面场分布补偿模型是通过以下步骤得到：
[0010]获取在不同通道激励信号下相控阵的映射数据，所述映射数据包括相关联的样本口面场分布和标准口面场分布；
[0011]利用所述映射数据对待训练的口面场分布补偿模型进行训练；
[0012]在训练后的口面场分布补偿模型符合训练要求时，结束训练。
[0013]可选地，所述获取在不同通道激励信号下相控阵的映射数据，包括：
[0014]通过仿真模型模拟在不同通道激励信号下未被干扰源影响下的相控阵，得到标准口面场分布，以及通过仿真模型模拟不同通道激励信号下已被干扰源影响下的相控阵，得到样本口面场分布。
[0015]可选地，所述获取在不同通道激励信号下相控阵的映射数据，包括：
[0016]通过检测探头对不同通道激励信号下未被干扰源影响下的相控阵进行检测，得到标准口面场分布，以及对不同通道激励信号下已被干扰源影响下的相控阵进行检测，得到样本口面场分布。
[0017]可选地，所述映射数组包括：所述样本口面场分布和所述标准口面场分布中的相位分布和幅度分布；
[0018]所述利用所述映射数据对待训练的口面场分布补偿模型进行训练，包括：
[0019]将从所述相位分布中提取的实部相位特征、虚部相位特征，以及从所述幅度分布中提取的实部幅度特征、虚部幅度特征，组成分布特征向量；
[0020]利用所述分布特征向量对待训练的口面场分布补偿模型进行训练。
[0021]可选地，所述在训练后的口面场分布补偿模型符合训练要求时，结束训练之前，所述方法还包括：
[0022]在训练后的口面场分布补偿模型的符合以下至少一种条件时，结束训练：
[0023]所述训练后的口面场分布补偿模型的损失值函数收敛；
[0024]所述训练后的口面场分布补偿模型的测试误差小于测试误差阈值；
[0025]所述训练后的口面场分布补偿模型的训练误差小于训练误差阈值。
[0026]可选地，所述获取相控阵在未补偿干扰源影响时的初始口面场分布，包括：
[0027]控制检测探头对干扰源影响下的相控阵进行检测，获得初始口面场分布，所述干扰源处于所述检测探头与所述相控阵之间。
[0028]依据本申请第二方面，提供一种相控阵校准装置，所述装置包括：
[0029]检测模块，被配置为获取相控阵在未补偿干扰源影响时的初始口面场分布；
[0030]预测模块，被配置为将所述初始口面场分布输入至口面场分布补偿模型进行预测，得到所述相控阵在已补偿干扰源影响时的目标口面场分布；
[0031]校准模块，被配置为根据所述目标口面场分布对所述相控阵进行校准。
[0032]可选地，所述装置还包括：
[0033]训练模块，被配置为：
[0034]获取在不同通道激励信号下相控阵的映射数据，所述映射数据包括相关联的样本口面场分布和标准口面场分布；
[0035]利用所述映射数据对待训练的口面场分布补偿模型进行训练；
[0036]在训练后的口面场分布补偿模型符合训练要求时，结束训练。
[0037]可选地，所述训练模块，还被配置为：
[0038]通过仿真模型模拟在不同通道激励信号下未被干扰源影响下的相控阵，得到标准口面场分布，以及通过仿真模型模拟不同通道激励信号下已被干扰源影响下的相控阵，得到样本口面场分布。
[0039]可选地，所述训练模块，还被配置为：
[0040]通过检测探头对不同通道激励信号下未被干扰源影响下的相控阵进行检测，得到标准口面场分布，以及对不同通道激励信号下已被干扰源影响下的相控阵进行检测，得到样本口面场分布。
[0041]可选地，所述映射数组包括：所述样本口面场分布和所述标准口面场分布中的相位分布和幅度分布；
[0042]所述训练模块，还被配置为：
[0043]将从所述相位分布中提取的实部相位特征、虚部相位特征，以及从所述幅度分布中提取的实部幅度特征、虚部幅度特征，组成分布特征向量；
[0044]利用所述分布特征向量对待训练的口面场分布补偿模型进行训练。
[0045]可选地，所述训练模块，还被配置为：
[0046]在训练后的口面场分布补偿模型的符合以下至少一种条件时，结束训练：
[0047]所述训练后的口面场分布补偿模型的损失值函数收敛；
[0048]所述训练后的口面场分布补偿模型的测试误差小于测试误差阈值；
[0049]所述训练后的口面场分布补偿模型的训练误差小于训练误差阈值。
[0050]可选地，所述检测模块，还被配置为：
[0051]控制检测探头对干扰源影响下的相控阵进行检测，获得初始口面场分布，所述干扰源处于所述检测探头与所述相控阵之间。
[0052]依据本申请第三方面，提供一种电子设备，包括处理器，存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现上述第一方面所述相控阵校准方法。
[0053]依据本申请第四方面，提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面所述的相控阵校准方法。
[0054]针对现有技术，本申请具备如下优点：
[0055]本申请提供的一种相控阵校准方法、装置、电子设备及计算机存储介质，通过采用学习有干本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种相控阵校准方法，其特征在于，所述方法包括：获取相控阵在未补偿干扰源影响时的初始口面场分布；将所述初始口面场分布输入至口面场分布补偿模型进行预测，得到所述相控阵在已补偿干扰源影响时的目标口面场分布；根据所述目标口面场分布对所述相控阵进行校准。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述口面场分布补偿模型是通过以下步骤得到：获取在不同通道激励信号下相控阵的映射数据，所述映射数据包括相关联的样本口面场分布和标准口面场分布；利用所述映射数据对待训练的口面场分布补偿模型进行训练；在训练后的口面场分布补偿模型符合训练要求时，结束训练。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取在不同通道激励信号下相控阵的映射数据，包括：通过仿真模型模拟在不同通道激励信号下未被干扰源影响下的相控阵，得到标准口面场分布，以及通过仿真模型模拟不同通道激励信号下已被干扰源影响下的相控阵，得到样本口面场分布。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取在不同通道激励信号下相控阵的映射数据，包括：通过检测探头对不同通道激励信号下未被干扰源影响下的相控阵进行检测，得到标准口面场分布，以及对不同通道激励信号下已被干扰源影响下的相控阵进行检测，得到样本口面场分布。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述映射数组包括：所述样本口面场分布和所述标准口面场分布中的相位分布和幅度分布；所述利用所述映射数据对待训练的口面场分布补偿模型进行训练，包括：将从所述相位分布中提取的实部相位特征、虚部相位特征，以及从所述幅度分布中提取的实部幅...
【专利技术属性】
技术研发人员：苏雪嫣，丁天伦，卫盟，谢晶，王岩，杨晓强，唐粹伟，王晓波，梁鸿刚，赵维，刘勇，张志锋，车春城，曲峰，李必奇，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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