激光器芯片的参数测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及激光器芯片测试技术领域，提供一种激光器芯片的参数测试装置，包括设备主体以及设置在设备主体上的工控机；所述设备主体上设置多个容纳槽；每个容纳槽内配合设置抽拉式的测试槽；每个测试槽内设置测试板；所述测试板上留有多个芯片槽；所述芯片槽用于放置测试的激光器芯片；所述设备主体内设置主控板，所述主控板与测试板电性连接；所述主控板上具有多个采集模块；所述主控板与工控机信号连接。采集模块包括：电压采集子模块、功率采集子模块和处理子模块，电压采集子模块、功率采集子模块分别与处理子模块信号连接。本实用新型专利技术能够高效便捷的批量测试激光器芯片的参数，提高生产效率，降低人力成本。降低人力成本。降低人力成本。

【技术实现步骤摘要】
激光器芯片的参数测试装置


[0001]本技术涉及激光器芯片测试
，尤其涉及一种激光器芯片的参数测试装置。

技术介绍

[0002]激光器芯片具有体积小、光电转化效率高等特点，在激光器芯片封装前需要先对单颗激光器芯片进行参数测试，筛选出不合格的芯片，以减少封装不良。
[0003]常规的测试方式只能手动在操作台上用电压表、电流表、功率计逐个进行芯片参数测试，操作不便、测试效率较低。

技术实现思路

[0004]本技术主要解决现有技术的手动在操作台上用电压表、电流表、功率计逐个进行芯片参数测试，操作不便、测试效率较低的技术问题，提出一种激光器芯片的参数测试装置，以高效便捷的批量测试激光器芯片的参数，提高生产效率，降低人力成本。
[0005]本技术提供了一种激光器芯片的参数测试装置，包括：设备主体以及设置在设备主体上的工控机；
[0006]所述设备主体上设置多个容纳槽；每个容纳槽内配合设置抽拉式的测试槽；每个测试槽内设置测试板；所述测试板上留有多个芯片槽；所述芯片槽用于放置测试的激光器芯片；
[0007]所述设备主体内设置主控板，所述主控板与测试板电性连接；所述主控板上具有多个采集模块；
[0008]所述主控板与工控机信号连接。
[0009]优选的，所述设备主体内设置半导体制冷器。
[0010]优选的，所述设备主体上设置半导体制冷器控制面板，所述半导体制冷器控制面板与半导体制冷器信号连接。
[0011]优选的，所述采集模块包括：电压采集子模块、功率采集子模块和处理子模块，所述电压采集子模块、功率采集子模块分别与处理子模块信号连接。
[0012]优选的，所述测试板采用LTS
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7540型号测试板。
[0013]优选的，所述设备主体上设置显示器，所述显示器与工控机信号连接。
[0014]优选的，所述设备主体上设置电源模块，所述电源模块与工控机电连接。
[0015]本技术提供的一种激光器芯片的参数测试装置，可同时对多个激光器芯片进行参数测试(IVP测试)，能够高效便捷的批量测试激光器芯片的参数(电流
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功率、电流
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电压)，相比于常规的手动逐个检测，大大缩短了测量时间，提高了生产效率，降低了人力成本。
附图说明
[0016]图1是本技术提供的激光器芯片的参数测试装置的结构示意图；
[0017]图2是本技术提供的激光器芯片的参数测试装置的侧向透视图。
[0018]附图标记：1、设备主体；2、显示器；3、工控机；4、测试槽；5、主控板；6、半导体制冷器控制面板；7、电源模块；8、容纳槽。
具体实施方式
[0019]为使本技术解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面结合附图和实施例对本技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本技术，而非对本技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本技术相关的部分而非全部内容。
[0020]如图1
‑
2所示，本技术实施例提供的激光器芯片的参数测试装置，包括：设备主体1以及设置在设备主体1上的工控机3。
[0021]所述设备主体1上设置多个容纳槽8；每个容纳槽8内配合设置抽拉式的测试槽4；每个测试槽4内设置测试板；所述测试板上留有多个芯片槽；所述芯片槽用于放置测试的激光器芯片。所述测试板可以采用LTS
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7540型号测试板。如图1展示，参数测试装置具有8个测试槽4，而每个测试板上留有16个芯片槽，具体的个数可根据实际情况而定。本实施例中的参数测试装置，可同时对多个激光器芯片进行参数测试，操作便捷，大大提升了测试效率。
[0022]所述设备主体1内设置主控板5，所述主控板5与测试板电性连接；所述主控板5与工控机3信号连接。工控机3可进行装置操控。所述设备主体1上设置显示器2，所述显示器2与工控机3信号连接，显示器2可显示测试数据。
[0023]具体的，芯片槽上具有电性接口，激光器芯片插入芯片槽，即可与测试板电性连接；容纳槽8内设置接口板，接口板与主控板5电性连接，测试槽4插入容纳槽8内，测试板上具有电性接口并与容纳槽8内的接口板对接，实现测试板与主控板5的电性连接。
[0024]所述主控板5上具有多个采集模块，所述采集模块用于采集激光器芯片的电压信号和功率信号，并得到电流
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功率(IP)对应关系数据和电流
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电压(IV)对应关系数据；电流信号由工控机3加到主控板5上，且控制电流信号逐步变化。所述采集模块包括：电压采集子模块、功率采集子模块和处理子模块，所述电压采集子模块、功率采集子模块分别与处理子模块信号连接。电压采集子模块采集激光器芯片的电压信号，功率采集子模块采集激光器芯片的功率信号，通过对主控板5施加电流，并控制电流以固定的变化量增长；电压采集子模块、功率采集子模块采集的信号发送到处理子模块，处理子模块获取测试过程的电流值和电压值、功率值，并得到电流
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功率(IP)和电流
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电压(IV)对应关系数据。
[0025]每个采集模块对应n个芯片槽；n可以根据实际测试情况而定，可以一个采集模块对应一个芯片槽，也可以一个采集模块对应2个或多个芯片槽。
[0026]进一步的，所述设备主体1内设置半导体制冷器，用来对设备内进行制冷，防止测试时激光器芯片温度过高，影响测试效果。所述设备主体1上设置半导体制冷器控制面板，所述半导体制冷器控制面板与半导体制冷器信号连接，对半导体制冷器进行控制。
[0027]另外，所述设备主体1上设置电源模块7，所述电源模块7与工控机3电连接，为装置进行供电。机器外接220V电即可，主控板5上可配置转化器，将220V电压转成5V电压。
[0028]本技术的激光器芯片的参数测试装置的工作原理：利用工控机3对主控板5施加电流，并控制电流以固定的变化量增长，对激光器芯片进行测试；采集模块得到电流
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功率(IP)和电流
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电压(IV)对应关系数据，并将得到的数据传输到工控机3中，对工控机3进行测试分析提供数据支撑，由显示器2显示电流
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功率、电流
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电压的关系曲线，方便测试人员筛选出有问题的激光器芯片。
[0029]最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例技术方案的范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光器芯片的参数测试装置，其特征在于，包括：设备主体(1)以及设置在设备主体(1)上的工控机(3)；所述设备主体(1)上设置多个容纳槽(8)；每个容纳槽(8)内配合设置抽拉式的测试槽(4)；每个测试槽(4)内设置测试板；所述测试板上留有多个芯片槽；所述芯片槽用于放置测试的激光器芯片；所述设备主体(1)内设置主控板(5)，所述主控板(5)与测试板电性连接；所述主控板(5)上具有多个采集模块；所述主控板(5)与工控机(3)信号连接。2.根据权利要求1所述的激光器芯片的参数测试装置，其特征在于，所述设备主体(1)内设置半导体制冷器。3.根据权利要求2所述的激光器芯片的参数测试装置，其特征在于，所述设备主体(1)上设置半导体制冷器控制面板，所述半导体制...

【专利技术属性】
技术研发人员：范旭东，杨炳雄，范明海，张奇，孙伟杰，李志强，刘婷婷，
申请(专利权)人：艾科感知科技大连有限公司，
类型：新型
国别省市：