一种测试方法、测试设备和计算机存储介质技术

本公开实施例提供了一种测试方法、测试设备和计算机存储介质，该方法包括：向被测存储块发送测试命令，其中，测试命令用于打开被测存储块中的预设冗余列选通线；对被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；根据目标冗余列选通线和预设冗余列选通线，确定测试结果。这样，通过打开被测存储块中与测试命令相对应的预设冗余列选通线，然后将被测存储块中实际被打开的目标冗余列选通线与预设冗余列选通线进行比较，从而能够确定被测存储块中的冗余列选通线是否存在异常，进而实现对芯片的功能测试。进而实现对芯片的功能测试。进而实现对芯片的功能测试。

【技术实现步骤摘要】
一种测试方法、测试设备和计算机存储介质


[0001]本公开涉及半导体
，尤其涉及一种测试方法、测试设备和计算机存储介质。

技术介绍

[0002]动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)芯片在工作时，首先发送激活命令(包含行信息)对存储结构中的字线进行行激活，然后再发送读写命令(包含列信息)，选择列选通线(Column select line，Csl)信号以获取或者写入数据。
[0003]DRAM中有大量的Csl信号，当正常的列选通线无法正常工作时，就会使用冗余列选通线来维持DRAM的正常工作。因此，在芯片前期的验证工作中，需要保证冗余列选通线可以正确被访问。

技术实现思路

[0004]本公开实施例提供了一种测试方法、测试设备和计算机存储介质。
[0005]第一方面，本公开实施例提供了一种测试方法，包括：
[0006]向被测存储块发送测试命令，其中，所述测试命令用于打开所述被测存储块中的预设冗余列选通线；
[0007]对所述被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；
[0008]根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果。
[0009]在一些实施例中，所述向被测存储块发送测试命令，包括：
[0010]向所述被测存储块发送第一测试命令，所述第一测试命令用于激活所述被测存储块中的目标行地址；
[0011]向所述被测存储块发送第二测试命令，所述第二测试命令用于指示目标列地址，并根据所述目标列地址打开所述被测存储块中的预设冗余列选通线。
[0012]在一些实施例中，所述被测存储块至少包括第一控制模块和第二控制模块，其中：
[0013]在所述目标行地址为所述被测存储块中的非边界行的情况下，所述目标列地址用于打开所述第一控制模块或者所述第二控制模块的预设冗余列选通线；
[0014]在所述目标行地址为所述被测存储块中的边界行的情况下，所述目标列地址用于打开所述第一控制模块和所述第二控制模块的预设冗余列选通线。
[0015]在一些实施例中，所述第一测试命令包括激活命令，所述第二测试命令包括读命令或者写命令。
[0016]在一些实施例中，所述第一控制模块和所述第二控制模块均包括第一预设数量个使能模块，每一个所述使能模块均包括第二预设数量个列选通模块，每一个所述列选通模块均包括第三预设数量个冗余列选通线，所述方法还包括：
[0017]基于所述第二测试命令，设置所述第二测试命令对应的目标使能模块以及在所述
目标使能模块中的预设冗余列选通线；
[0018]其中，在所述目标使能模块中，每一个所述列选通模块对所述第二测试命令的响应状态相同。
[0019]在一些实施例中，所述根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果，包括：
[0020]若所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线均为相同的冗余列选通线，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线正常；
[0021]若所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线中存在不同的冗余列选通线，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线存在异常。
[0022]在一些实施例中，所述根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果，包括：
[0023]根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定每一个所述使能模块的测试结果；
[0024]根据每一个所述使能模块的测试结果，确定所述被测存储块的测试结果。
[0025]在一些实施例中，所述根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定每一个所述使能模块的测试结果，包括：
[0026]接收所述使能模块中的每一个列选通模块发送的列选通使能信号；
[0027]根据所述列选通使能信号，确定所述使能模块中处于打开状态的第一目标冗余列选通线，并统计所述第一目标冗余列选通线的数量；
[0028]将所述第一目标冗余列选通线的数量与所述使能模块对应的预设冗余列选通线的数量进行比较，确定所述使能模块的测试结果。
[0029]在一些实施例中，所述将所述第一目标冗余列选通线的数量与所述使能模块对应的预设冗余列选通线的数量进行比较，包括：
[0030]在所述目标行地址为非边界行的情况下，将目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与所述第二预设数量进行比较，将非目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与零进行比较；或者，
[0031]在所述目标行地址为所述被测存储块中的边界行的情况下，将目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与所述第二预设数量的二倍进行比较；将非目标使能模块中的第一目标冗余列选通线的数量与零进行比较。
[0032]在一些实施例中，所述根据所述每一个使能模块的测试结果，确定所述被测存储块的测试结果，包括：
[0033]若每一个所述使能模块的测试结果均为相同，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线正常；
[0034]若每一个所述使能模块的测试结果中存在不同，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线存在异常。
[0035]在一些实施例中，所述方法还包括：
[0036]将所述目标冗余列选通线对应的存储块信息和存储区域信息进行记录；
[0037]其中，所述存储区域信息用于表征所述目标行地址是否为边界行。
[0038]在一些实施例中，在所述确定所述被测存储块中的冗余列选通线存在异常之后，
所述方法还包括：
[0039]根据所述测试结果，生成错误记录报告。
[0040]在一些实施例中，在所述确定所述被测存储块中的冗余列选通线存在异常之后，所述方法还包括：
[0041]对所述被测存储块进行修复处理，并返回执行所述向被测存储块发送测试命令的步骤。
[0042]在一些实施例中，所述方法还包括：
[0043]根据每一个所述使能模块中的目标冗余列选通线的数量、所述目标列地址和所述使能模块的位置信息，生成目标测试报告。
[0044]第二方面，本公开实施例提供了一种测试设备，包括发送单元、检测单元和确定单元，其中：
[0045]所述发送单元，配置为向被测存储块发送测试命令，其中，所述测试命令用于打开所述被测存储块中的预设冗余列选通线；
[0046]所述检测单元，配置为对所述被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；
[0047]所述确定单元，配置为根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果。
[0048]第三方面，本公开实施例提供了另一种测试设备，包括存储器和处理器，其中，
[0049]所述存储器，用于存储能够在所述处理器上运行的计算机程序；
[0050]所述处理器，用于在运行所述计算机程序时，执行如第一方面所述的方法。
[0051]第四方面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：向被测存储块发送测试命令，其中，所述测试命令用于打开所述被测存储块中的预设冗余列选通线；对所述被测存储块中的冗余列选通线进行状态检测，确定处于打开状态的目标冗余列选通线；根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述向被测存储块发送测试命令，包括：向所述被测存储块发送第一测试命令，所述第一测试命令用于激活所述被测存储块中的目标行地址；向所述被测存储块发送第二测试命令，所述第二测试命令用于指示目标列地址，并根据所述目标列地址打开所述被测存储块中的预设冗余列选通线。3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述被测存储块至少包括第一控制模块和第二控制模块，其中：在所述目标行地址为所述被测存储块中的非边界行的情况下，所述目标列地址用于打开所述第一控制模块或者所述第二控制模块的预设冗余列选通线；在所述目标行地址为所述被测存储块中的边界行的情况下，所述目标列地址用于打开所述第一控制模块和所述第二控制模块的预设冗余列选通线。4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述第一测试命令包括激活命令，所述第二测试命令包括读命令或者写命令。5.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述第一控制模块和所述第二控制模块均包括第一预设数量个使能模块，每一个所述使能模块均包括第二预设数量个列选通模块，每一个所述列选通模块均包括第三预设数量个冗余列选通线，所述方法还包括：基于所述第二测试命令，设置所述第二测试命令对应的目标使能模块以及在所述目标使能模块中的预设冗余列选通线；其中，在所述目标使能模块中，每一个所述列选通模块对所述第二测试命令的响应状态相同。6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果，包括：若所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线均为相同的冗余列选通线，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线正常；若所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线中存在不同的冗余列选通线，则确定所述被测存储块中的冗余列选通线存在异常。7.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定测试结果，包括：根据所述目标冗余列选通线和所述预设冗余列选通线，确定每一个所述使能模块的测试结果；根据每一个所述使能模块的测试结果，确定所述被测存储块的测试结果。8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述目标冗余列选通线和所
述预设冗余列选通线，确定每一个所述使能模块的测试结果，包括：接收所述使能模块中的每一个列选通模块发送的列选通使能信号；根据所述列选通使能信号，确定所述使能模块中处于打开状态的第一目标冗余列选通线，并统计所述第一目标冗余列选通线的数量；将...

【专利技术属性】
技术研发人员：王彬彬，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：