本发明专利技术公开了一种超级电容漏液检测装置和方法，其中所述装置包括：检测线圈；供电电源；MCU；上拉电阻；下拉电阻；其中所述检测线圈环绕安装于所述超级电容器底部，所述检测线圈分别连接所述MCU和供电电源构成检测电路，所述上拉电阻和下拉电阻连接于所述检测电路，所述MCU判断所述检测电路电压，并根据所述检测电路电压变化判断是否存在超级电容器漏液。所述装置和方法通过主动检测的方式，在超级电容器周围设置检测线圈，将检测线圈连接到检测电路中，通过获取检测电路的电平高低状态判断电容器周围是否存在漏液，从而实现在超级电容器漏液早期就可以检测并维修更换，避免漏液影响整个电路板。整个电路板。整个电路板。
【技术实现步骤摘要】
一种超级电容漏液检测装置和方法
[0001]本专利技术涉及电容漏液检测
，特别涉及一种超级电容漏液检测装置和方法
技术介绍
[0002]目前超级电容器在不同的电子产品上应用非常广泛，然而现有的超级电容器存在着难以解决的漏液问题，现有技术中，针对超级电容器漏液的解决方法包括：1、降低超级电容的满电电压，如：2.7V的额定电压，通过超级电容外围电路控制，使得电路在充满电平衡状态下，超级电容电压不得高于80％的额定电压，即2.2V。通过降额延长超级电容的使用寿命，减缓漏液。2、通过在超级电容本体外在套一层密封数量壳，引脚端用树脂密封，提高超级电容的密封性。超级电容引脚面本身使用橡胶塞进行密封，现有技术水平无法做到完全密封，因此在超级电容本地再套胶套并灌注树脂，理论上可阻止超级电容渗漏，但仍无法避免橡胶塞漏液，堆积在树脂与橡胶塞之间，腐蚀超级电容引脚，最终从引脚处流程。3、在超级电容本体下进行开槽、不走线，不铺铜皮，增加于空气的接触面，使渗漏的电解液进行及时的挥发，减少与金属材质的接触，减少对电路的腐蚀。然而上述现有技术仍然没有对超级电容器漏液进行有效检测，从而无法及时在漏液早期就对超级电容进行维修更换。
技术实现思路
[0003]本专利技术其中一个专利技术目的在于提供一种超级电容漏液检测装置和方法，所述装置和方法通过主动检测的方式，在超级电容器周围设置检测线圈，将检测线圈连接到检测电路中，通过获取检测电路的电平高低状态判断电容器周围是否存在漏液，从而实现在超级电容器漏液早期就可以检测并维修更换，避免漏液影响整个电路板。
[0004]本专利技术另一个专利技术目的在于提供一种超级电容漏液检测装置和方法，所述装置和方法通过双层环绕的方式构建圆形的检测区域，在超级电容器上下两层设置环绕圈检测的方式可以比较全面的覆盖对应的超级电容器漏液区域，从而实现准确的检测超级电容器漏液覆盖区域的漏液情况。
[0005]本专利技术另一个专利技术目的在于提供一种超级电容漏液检测装置和方法，所述装置和方法通过双层逆向环绕的方式构建检测线圈，由于双层意向环绕的圈数相同，因此两个相同圈数逆向环绕的检测线圈之间形成的感应磁场相互抵消，从而避免检测线圈产生的磁场对电容器以及周围的电磁敏感器件的影响。
[0006]为了实现至少一个上述专利技术目的，本专利技术进一步提供一种超级电容漏液检测装置，所述装置包括：
[0007]检测线圈；
[0008]供电电源；
[0009]MCU；
[0010]上拉电阻；
[0011]下拉电阻；
[0012]其中所述检测线圈环绕安装于所述超级电容器底部，所述检测线圈分别连接所述MCU和供电电源构成检测电路，所述上拉电阻和下拉电阻连接于所述检测电路，所述MCU判断所述检测电路电压，并根据所述检测电路电压变化判断是否存在超级电容器漏液。
[0013]根据本专利技术其中一个较佳实施例，所述检测线圈分别连接所述超级电容器所在电路板的上下表面，形成双层环绕结构的检测线圈。
[0014]根据本专利技术另一个较佳实施例，所述双层环绕结构的检测线圈在电路板一层为顺时针环绕一定圈数，形成第一检测线圈层，穿过所述电路板在另一层沿着所述第一检测线圈层相反的逆时针方向旋转相同的圈数，在另一层形成第二检测线圈层。
[0015]根据本专利技术另一个较佳实施例，所述第一检测线圈层和所述第二检测线圈层之间串联连接。
[0016]根据本专利技术另一个较佳实施例，所述上拉电阻一端连接所述供电电源，所述上拉电阻另一端连接绕出的第二检测线圈层。
[0017]根据本专利技术另一个较佳实施例，所述下拉电阻一端连接所述MCU以及连接所绕入的第一检测线圈层，并且所述下拉电阻另一端接地。
[0018]根据本专利技术另一个较佳实施例，所述供电电源的电压为3.3V。
[0019]根据本专利技术另一个较佳实施例，所述下拉电阻的阻值为100K欧姆。
[0020]为了实现至少一个上述专利技术目的，本专利技术进一步提供一种超级电容漏液检测方法，所述方法包括：
[0021]安装完毕检测电路后，供电电源对所述检测电路供电；
[0022]MCU实时获取所述检测电路的电压值，MCU自身设置第一电压阈值；
[0023]当所述MCU获取的检测电路电压值大于所述第一电压阈值，则判断当前超级电容不存在漏液现象；
[0024]当超级电容器存在漏液并溶解所述检测电路的线圈后，所述检测线圈出现断路，所述MCU获取到的检测电路电压值小于所述第一电压阈值，此时MCU判断存在超级电容器漏液现象。
[0025]本专利技术进一步提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序可被处理器执行上述一种超级电容漏液检测方法。
附图说明
[0026]图1显示的是本专利技术一种超级电容漏液检测装置单个电容检测结构示意图。
[0027]图2显示的是本专利技术一种超级电容漏液检测装置多个电容检测结构示意图。
[0028]图3显示的是本专利技术一种超级电容漏液检测方法的流程示意图。
[0029]其中，第二检测线圈层
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1，第一检测线圈层
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2，超级电容
‑
3。
具体实施方式
[0030]以下描述用于揭露本专利技术以使本领域技术人员能够实现本专利技术。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本专利技术的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本专利技术的精神和范围的其他技术方案。
[0031]可以理解的是，术语“一”应理解为“至少一”或“一个或多个”，即在一个实施例中，一个元件的数量可以为一个，而在另外的实施例中，该元件的数量可以为多个，术语“一”不能理解为对数量的限制。
[0032]请参考图1
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图3，本专利技术公开了一种超级电容漏液检测装置和方法，其中所述检测装置主要包括如下部分：检测线圈、供电电源、MCU、上拉电阻和下拉电阻；其中所述检测线圈被安装在所述超级电容安装的对应的电路板上，并且所述检测线圈一端连接所述供电电源，所述检测线圈的另一端连接所述MCU，通过所述MCU、所述检测线圈和供电电源提供了用于检测超级电容漏液情况的检测电路，所述检测电路通过所述MCU获取安装于所述超级电容底部可能漏液位置检测线圈的通断情况判断是否存在超级电容漏液问题。当所述检测线圈因为超级电容器漏液而导致断路时，所述MCU可以获取所述检测电路的电压变化，当所述电压变化大于预设的阈值时，可以判断所述超级电容存在漏液。本专利技术通过主动检测的方式可以及时地发现存在漏液的超级电容器，从而及时地对电路板展开维修工作，从而有效避免超级电容器长久漏液对电路板整体功能造成损坏。
[0033]具体而言，本专利技术中所述检测线圈优选配置为直径较小的铜线圈，并且所述检测线圈在所述超级电容器安装的电路板上配置为双层串联结构的检测线圈。请参考图1，所述检测线圈包括第一本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种超级电容漏液检测装置，其特征在于，所述装置包括：检测线圈；供电电源；MCU；上拉电阻；下拉电阻；其中所述检测线圈环绕安装于所述超级电容器底部，所述检测线圈分别连接所述MCU和供电电源构成检测电路，所述上拉电阻和下拉电阻连接于所述检测电路，所述MCU判断所述检测电路电压，并根据所述检测电路电压变化判断是否存在超级电容器漏液。2.根据权利要求1所述的一种超级电容漏液检测装置，其特征在于，所述检测线圈分别连接所述超级电容器所在电路板的上下表面，形成双层环绕结构的检测线圈。3.根据权利要求2所述的一种超级电容漏液检测装置，其特征在于，所述双层环绕结构的检测线圈在电路板一层为顺时针环绕一定圈数，形成第一检测线圈层，穿过所述电路板在另一层沿着所述第一检测线圈层相反的逆时针方向旋转相同的圈数，在另一层形成第二检测线圈层。4.根据权利要求3所述的一种超级电容漏液检测装置，其特征在于，所述第一检测线圈层和所述第二检测线圈层之间串联连接。5.根据权利要求3所述的一种超级电容漏液检测装置，其特征在于，所述上拉电阻一端连接所述供电电源，所述上拉电阻另一...
【专利技术属性】
技术研发人员：王冰洁，黄野，霍海洋，胡明生，戴翚，王刚，
申请(专利权)人：杭州粒合信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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