电池片PID测试方法技术

本申请提供了一种电池片PID测试方法，包括将导电件与待测测试件电连接，待测测试件包括待测电池片及钠离子层，将导电件与供电装置电连接；对待测测试件加热使得待测测试件达到预设温度后供电装置对导电件输出直流电压，达到预定时间后关闭供电装置；将待测电池片从待测测试件中拆出；对拆出的待测电池片的电参数进行测试，并计算得出衰减值；在预设环境中采用环境光源对待测电池片照射第一预设时间，使得电池恢复效率，随后对待测电池片进行光伏效率测试，得到待测电池片的一组衰减值；对同一待测电池片重复进行上述步骤，得到待测电池片的多组衰减值。本申请提供的电池片PID测试方法可以解决现有技术中PID测试方法准确度不高的问题。的问题。的问题。

【技术实现步骤摘要】
电池片PID测试方法


[0001]本专利技术涉及光伏电池
，尤其涉及一种电池片PID测试方法。

技术介绍

[0002]PID效应(Potential Induced Degradation)全称为潜在电势诱导衰减。光伏组件为了防止触电风险以及抑制组件边框电化学腐蚀，通常将组件边框接地，这样就在光伏组件中电池与组件边框之间形成电势差，该电势差会导致组件效率衰减，从而影响太阳能电池的光伏转化效率。具体地，这种衰减主要是由作为封装材料的玻璃中所含的钠离子在上述电势差的驱动作用下，使玻璃、封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池片表面，使得电池表面的钝化效果变差，造成太阳电池的电学性能下降。为解决此问题，各光伏厂家设计了多种抗PID效应的方法，为了验证各抗PID效应的方法的有效性，需要对太阳能电池进行PID衰减测试。
[0003]现有技术中通常对单独的电池片进行PID衰减测试，但是对单个电池片进行PID测试所得出的测试结果的准确度不高。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请提供了一种电池片PID测试方法，用以解决现有技术中PID测试方法准确度不高的问题。
[0005]本申请提供了一种电池片PID测试方法，包括：
[0006]S1、将导电件与待测测试件电连接，所述待测测试件包括待测电池片及钠离子层，将所述导电件与供电装置电连接；S2、对待测测试件加热使得所述待测测试件达到预设温度后所述供电装置对所述导电件输出直流电压，达到预定时间后关闭所述供电装置；S3、将所述待测电池片从所述待测测试件中拆出；S4、对拆出的所述待测电池片的电参数进行测试，并计算得出衰减值；S5、在预设环境中采用环境光源对待测电池片照射第一预设时间，使得电池恢复效率，随后对所述待测电池片进行光伏效率测试，得到所述待测电池片的一组衰减值；对同一所述待测电池片重复进行所述S1
‑
S5步骤，得到所述待测电池片的多组衰减值。
[0007]采用上述技术方案后，有益效果是：
[0008]通过待测测试件进行多次PID测试，可避免单次测试中的额外因素或操作失误所带来的测试误差，获得更准确可靠的PID测试结果。
[0009]本申请实施例的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请实施例而了解。本申请实施例的目的和其他优点在说明书以及附图所特别指出的结构来实现和获得。
【附图说明】
[0010]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附
图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0011]图1为本申请实施例提供的PID测试方法的流程图；
[0012]图2为本申请实施例提供的一种PID测试装置的结构图。
[0013]附图标记：
[0014]100
‑
太阳能电池潜在电势诱导衰减测试装置；
[0015]1‑
待测测试件；
[0016]11
‑
第一玻璃件；
[0017]12
‑
第一胶膜件；
[0018]13
‑
待测电池片；
[0019]14
‑
第二胶膜件；
[0020]15
‑
保护件；
[0021]2‑
挤压模块；
[0022]21
‑
金属板；
[0023]22
‑
驱动件；
[0024]3‑
电压加载模块；
[0025]31
‑
供电器；
[0026]32
‑
导电件；
[0027]33
‑
位移模块。
[0028]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。
【具体实施方式】
[0029]为了更好的理解本申请的技术方案，下面结合附图对本申请实施例进行详细描述。
[0030]应当明确，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
[0031]在本申请实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其它含义。
[0032]应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0033]需要注意的是，本申请实施例所描述的“上”、“下”、“左”、“右”等方位词是以附图所示的角度来进行描述的，不应理解为对本申请实施例的限定。此外，在上下文中，还需要理解的是，当提到一个元件连接在另一个元件“上”或者“下”时，其不仅能够直接连接在另一个元件“上”或者“下”，也可以通过中间元件间接连接在另一个元件“上”或者“下”。
[0034]下面根据本申请实施例提供的电池片PID测试方法的结构，对其具体实施例进行说明。
[0035]本申请提供一种电池片PID测试方法，包括：
[0036]S1、将导电件与待测测试件电连接，所述待测测试件包括待测电池片及钠离子层，将所述导电件与供电装置电连接；
[0037]在S1步骤中，待测测试件包括待测电池片及钠离子层，钠离子层可以是含钠离子的玻璃、含钠离子的盐水层等。以下给出具体的实施例：
[0038](1)待测电池片、胶膜、玻璃依次堆叠，利用导电件连接待测电池片与玻璃，供电装置通过导电件向待测电池片与玻璃进行通电，使得待测电池片与玻璃之间产生电势差，上述胶膜的材料可以是EVA(乙烯
‑
醋酸乙烯酯共聚物)、POE(聚烯烃弹性体)、EPE(可发性聚乙烯)等高分子材料。
[0039](2)待测电池片和金属板贴合，在待测电池片的任意一面设置有钠离子溶液，同样利用导电件连接待测电池片与金属板，供电装置通过导电件向待测电池片通电与金属板进行通电，使得待测电池片与金属板之间产生电势差。
[0040](3)将第一玻璃件、第一胶膜件、待测电池片、第二胶膜件及保护件依次堆叠形成待测测试件，其中，保护件可以是玻璃或背板，将待测测试件夹设于两块接地金属板之间，利用导电件连接待测电池片的正极与负极，并使得供电装置通过导电件向待测电池片的正负极通电，使得待测电池片的正面及背面分别与两块金属板之间产生电势差，进而同时对待测电池片的正面及本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电池片PID测试方法，其特征在于，包括：S1、将导电件与待测测试件电连接，所述待测测试件包括待测电池片及钠离子层，将所述导电件与供电装置电连接；S2、对待测测试件加热使得所述待测测试件达到预设温度后所述供电装置对所述导电件输出直流电压，达到预定时间后关闭所述供电装置；S3、将所述待测电池片从所述待测测试件中拆出；S4、对拆出的所述待测电池片的电参数进行测试，并计算得出衰减值；S5、在预设环境中采用环境光源对待测电池片照射第一预设时间，使得电池恢复效率，随后对所述待测电池片进行光伏效率测试，得到所述待测电池片的一组衰减值；对同一所述待测电池片重复进行所述S1
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S5步骤，得到所述待测电池片的多组衰减值。2.根据权利要求1所述的电池片PID测试方法，其特征在于，重复所述S1
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S5步骤2
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4次。3.根据权利要求1或2所述的电池片PID测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括，得到所述多组衰减值后，计算多组衰减值的差值，若多组衰减值的差值小于预设数值，采用多组所述衰减值中任意一组或多组所述衰减值的均值；若多组衰减值的差值小于预设数值，检查所述供电装置和/或所述预设温度。4.根据权利要求1所述的电池片PID测试方法，其特征在于，当所述待测电池片为P型电池时，将所述P型电池的正面朝...

【专利技术属性】
技术研发人员：于琨，刘长明，张昕宇，赵鹏松，高贝贝，
申请(专利权)人：晶科能源股份有限公司，
类型：发明
国别省市：