一种导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法技术

本发明专利技术涉及一种导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法，包括以下步骤：构建导管的旋转基准面；规划测量机新路径并测量导管衔接段圆柱，得到发生位置变化的导管衔接段圆柱实际测量值；依据旋转基准面及导管衔接段圆柱实际测量值，计算导管的位置偏移量和角度旋转量；利用位置偏移量和角度旋转量，实现所有后续测量点的路径优化。该导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法的目的是解决导管智能化生产过程中坐标测量的重复定位精度差的问题。的问题。的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法


[0001]本专利技术涉及导管精密坐标测量
，具体涉及一种导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法。

技术介绍

[0002]导管的智能化生产过程包括导管弯曲、切割、清洗、焊接、精度检测等多个工艺步骤，其中三坐标测量机负责导管智能生产线中的产品终检，是导管智能生产线的关键步骤。导管在各工艺环节利用机械臂辅助运输，因各加工设备和缓冲站的卡具卡紧力不一致、清洗环节摇摆导管、以及机械臂重复定位精度低等原因，导致导管经过多工艺环节运输到三坐标测量机卡具的重复定位精度非常差，无法进行精密坐标测量，时常发生导管不可测或者碰撞现象，严重影响了导管的生产效率。究其原因，导管在测量机卡具上的旋转超过3
°
，平移超过2mm，导致精密坐标测量系统不能按照规划测量路径进行测量，无法获取导管表面的点信息导致导管自动测量系统失效。自动测量失败导致导管智能生产线缺失一个重要环节，即无法实现导管的智能化自动化生产。
[0003]因此能否实现导管在测量过程中的测量路径自动优化，是导管在姿态重复定位精度差的情况下实现精密测量关键技术之一，是整条导管生产线能否实现从加工到测量的全流程自动化的关键因素。
[0004]因此，专利技术人提供了一种导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法。

技术实现思路

[0005](1)要解决的技术问题
[0006]本专利技术实施例提供了一种导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法，解决了导管智能化生产过程中坐标测量的重复定位精度差的技术问题。
[0007](2)技术方案
[0008]本专利技术提供了一种导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法，包括以下步骤：
[0009]构建导管的旋转基准面；
[0010]规划测量机新路径并测量导管衔接段圆柱，得到发生位置变化的导管衔接段圆柱实际测量值；
[0011]依据所述旋转基准面及所述导管衔接段圆柱实际测量值，计算所述导管的位置偏移量和角度旋转量；
[0012]利用所述位置偏移量和所述角度旋转量，实现所有后续测量点的路径优化。
[0013]进一步地，所述构建导管的旋转基准面，具体包括如下步骤：
[0014]利用试教法测量导管夹持段圆柱的第一轴线信息及所述导管衔接段圆柱的第二轴线信息；
[0015]对所述导管夹持段圆柱和所述导管衔接段圆柱执行相交圆柱操作，得到两圆柱的
第一轴线交点；
[0016]基于所述第一轴线信息、所述第二轴线信息及所述第一轴线交点，利用拟合算法构建所述旋转基准面。
[0017]进一步地，所述利用试教法测量导管夹持段圆柱的第一轴线信息及所述导管衔接段圆柱的第二轴线信息，具体为：
[0018]在导管夹持段圆柱上采集圆柱表面点三维信息(X1,Y1,Z1)，采集点数大于6，在圆柱上均匀分布，经过最小二乘拟合算法得到所述第一轴线信息；
[0019]在导管衔接段圆柱上采集圆柱表面点三维信息(X2,Y2,Z2)，采集点数大于6，在圆柱上均匀分布，经过最小二乘拟合算法得到所述第一轴线信息。
[0020]进一步地，所述规划测量机新路径并测量导管衔接段圆柱，得到发生位置变化的导管衔接段圆柱实际测量值，具体为：
[0021]利用路径搜索方式，进行所述导管衔接段圆柱的搜索测量，测得所述导管衔接段圆柱实际测量值。
[0022]进一步地，所述利用路径搜索方式，进行所述导管衔接段圆柱的搜索测量，测得所述导管衔接段圆柱实际测量值，具体包括如下步骤：
[0023]测量设备运动到导管衔接段圆柱上方第一个测量点的初始位置；
[0024]测量设备从所述初始位置沿Z轴负方向运动的固定距离，并记录位置信息；
[0025]根据所述位置信息对所述导管衔接段圆柱的测量信息进行更新，实现所述导管衔接段圆柱的测量。
[0026]进一步地，所述依据所述旋转基准面及所述导管衔接段圆柱实际测量值，计算所述导管的位置偏移量和角度旋转量，具体包括如下步骤：
[0027]将所述发生位置变化后的导管衔接段圆柱与所述导管夹持段圆柱相交得到两个圆柱的第二轴线交点；
[0028]利用所述发生位置变化后的导管衔接段圆柱、所述导管夹持段圆柱及所述第二轴线交点，构造发生旋转后的平面；
[0029]依据所述旋转基准面及所述发生旋转后的平面，确定所述导管的旋转角度；
[0030]依据所述第一轴线交点、所述第一轴线交点，确定所述导管的位移。
[0031]进一步地，所述利用所述位置偏移量和所述角度旋转量，实现所有后续测量点的路径优化，具体为：
[0032]根据所述位置偏移量和所述角度旋转量，使规划的测量路径点都绕夹持段导管轴线进行旋转，同时进行偏移，得到优化后的路径点。
[0033]进一步地，所述构建导管的旋转基准面之前，还包括：
[0034]将所述导管放置于非接触测量系统的测量空间。
[0035](3)有益效果
[0036]综上，本专利技术通过针对导管的测量特点建立导管旋转和平移模型，设计衔接段试探式测量流程，利用位置偏移量和角度旋转量实现所有后续测量点的路径优化，达到重复定位精度差的情况下的高精度自动测量，实现后续所有测量点的优化，最终达到实现导管自动测量和降低经济损失的目的。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0038]图1是本专利技术实施例提供的一种导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法的流程示意图；
[0039]图2是本专利技术实施例提供的一种导管的结构示意图；
[0040]图3是本专利技术实施例提供的一种导管基准平面示意图。
[0041]图中：
[0042]1‑
导管夹持段；2
‑
导管衔接段；3
‑
第一轴线交点；4
‑
旋转基准面。
具体实施方式
[0043]下面结合附图和实施例对本专利技术的实施方式作进一步详细描述。以下实施例的详细描述和附图用于示例性地说明本专利技术的原理，但不能用来限制本专利技术的范围，即本专利技术不限于所描述的实施例，在不脱离本专利技术的精神的前提下覆盖了零件、部件和连接方式的任何修改、替换和改进。
[0044]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参照附图并结合实施例来详细说明本申请。
[0045]图1是本专利技术实施例提供的一种导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法的流程示意图，该方法可以包括以下步骤：
[0046]S100、构建导管的旋转基准面；
[0047]S200、规划测量机新路径并测量导管衔接段本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：构建导管的旋转基准面；规划测量机新路径并测量导管衔接段圆柱，得到发生位置变化的导管衔接段圆柱实际测量值；依据所述旋转基准面及所述导管衔接段圆柱实际测量值，计算所述导管的位置偏移量和角度旋转量；利用所述位置偏移量和所述角度旋转量，实现所有后续测量点的路径优化。2.根据权利要求1所述的导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法，其特征在于，所述构建导管的旋转基准面，具体包括如下步骤：利用试教法测量导管夹持段圆柱的第一轴线信息及所述导管衔接段圆柱的第二轴线信息；对所述导管夹持段圆柱和所述导管衔接段圆柱执行相交圆柱操作，得到两圆柱的第一轴线交点；基于所述第一轴线信息、所述第二轴线信息及所述第一轴线交点，利用拟合算法构建所述旋转基准面。3.根据权利要求2所述的导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法，其特征在于，所述利用试教法测量导管夹持段圆柱的第一轴线信息及所述导管衔接段圆柱的第二轴线信息，具体为：在导管夹持段圆柱上采集圆柱表面点三维信息(X1,Y1,Z1)，采集点数大于6，在圆柱上均匀分布，经过最小二乘拟合算法得到所述第一轴线信息；在导管衔接段圆柱上采集圆柱表面点三维信息(X2,Y2,Z2)，采集点数大于6，在圆柱上均匀分布，经过最小二乘拟合算法得到所述第一轴线信息。4.根据权利要求2所述的导管智能生产线中导管自动测量的路径规划方法，其特征在于，所述规划测量机新路径测量导管衔接段圆柱，得到发生位置变化的导管衔接段圆柱实际测量值，具体为：利用路径搜索方式，进行所述导管衔接段圆柱的搜索测量，测得...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘京亮，程爽，李安迪，朱志强，崔晓，佟翔宇，李灿伟，徐微雨，张忠欣，王帼媛，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：