一种自动标记坏点的芯片测试机制造技术

本发明专利技术涉及芯片测试机领域，具体的公开了一种自动标记坏点的芯片测试机，包括底座，所述底座的顶部滑动安装有安装板，底座的顶部安装有限位板，底座的顶部两端均滑动安装有与限位板相匹配的夹持板，夹持板与限位板之间安装有放置盘，放置盘的内底部开设有固定孔，放置盘的内底部位于固定孔的两侧均开设有若干个放置孔，放置孔的内壁上转动安装有放置板，放置板的底部靠近固定孔的一端安装有磁铁片，安装板靠近限位板的一侧底部安装有支撑板，支撑板的顶部安装有固定板，固定板的顶部安装有与磁铁片相匹配的电磁铁。本发明专利技术在使用时无需工作人员手动对出现坏点的芯片进行分拣拿取，使用时更加方便。用时更加方便。用时更加方便。

【技术实现步骤摘要】
一种自动标记坏点的芯片测试机


[0001]本专利技术涉及芯片测试机
，尤其涉及一种自动标记坏点的芯片测试机。

技术介绍

[0002]芯片，又称微电路、微芯片、集成电路，是指内含集成电路的硅片，体积很小，是计算机等电子设备的重要组成部分，由于芯片结构精细、制造工艺复杂、流程繁琐，不可避免地会在生产过程中留下潜在的缺陷，因此为了确保芯片质量，通常会通过芯片测试机对芯片进行测试，以便将良品和不良品分开。现有的坏点检测通常采用超声波扫描显微镜进行无损检测，即是通过超声波扫描显微镜扫描芯片后与完好的芯片扫描图进行对比，并通过墨汁在芯片坏点位置进行标记，方便工作人员对有损芯片进行识别。
[0003]现有的芯片测试机在对有损的芯片进行测试和标记后，均需要工作人员手动对有损的芯片进行拿取，在使用时便会出现误拿或忘拿的情况出现，导致有损的芯片混入无损的芯片内进行包装使用，芯片测试机无法在对芯片进行测试时既能对芯片的坏点位置进行精准标记又能对有损芯片和无损芯片进行分选。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种自动标记坏点的芯片测试机。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：一种自动标记坏点的芯片测试机，包括底座，所述底座的顶部滑动安装有安装板，底座的顶部安装有限位板，底座的顶部两端均滑动安装有与限位板相匹配的夹持板，夹持板与限位板之间安装有放置盘，放置盘的内底部开设有固定孔，放置盘的内底部位于固定孔的两侧均开设有若干个放置孔，放置孔的内壁上转动安装有放置板，放置板的底部靠近固定孔的一端安装有磁铁片，安装板靠近限位板的一侧底部安装有支撑板，支撑板的顶部安装有固定板，固定板的顶部安装有与磁铁片相匹配的电磁铁，安装板的侧面安装有测试机构。
[0006]优选的，所述放置盘的底部位于放置孔远离磁铁片的一端安装有挡板，且挡板的一端位于放置板的下方，放置板靠近磁铁片的一端转动安装有固定杆，固定杆的两端分别安装在放置孔的两侧内壁上。
[0007]优选的，所述支撑板的顶部按长度方向开设有固定槽，固定槽的内部安装有传送带，传送带的内部两端均安装有转动轴，两个转动轴的两端均转动安装在固定槽的内壁上，支撑板的侧面安装有第一马达，第一马达的输出轴贯穿至固定槽内，并通过联轴器与其中一个转动轴连接，固定槽位于固定板的下方。
[0008]优选的，所述限位板的侧面底部按长度方向开设有滑动孔，支撑板滑动安装在滑动孔内，安装板的侧面开设有与固定槽相匹配的出料孔，夹持板与限位板的相对面顶部均开设有卡槽，放置盘的边角位置位于卡槽内。
[0009]优选的，所述测试机构包括顶板，顶板位于放置盘的上方，顶板的底部一端安装有超声波扫描显微镜探头，且超声波扫描显微镜探头位于放置板的上方，顶板的底部开设有安装槽，安装槽内转动安装有转动盘。
[0010]优选的，所述转动盘的底部开设有调节槽，调节槽的内壁上转动安装有螺纹杆，螺纹杆上螺纹安装有电动伸缩杆，电动伸缩杆的底端贯穿调节槽，并安装有点墨管，点墨管位于放置盘的上方，安装槽的内壁上开设有环形的限位槽，限位槽内滑动安装有滑块，滑块远离限位槽内壁的一端安装在转动盘的外壁上。
[0011]优选的，所述转动盘的外壁上安装有第二马达，第二马达的输出轴贯穿至调节槽内，并通过联轴器与螺纹杆的一端连接，第二马达位于顶板的下方，顶板的顶部安装有电机，电机的输出轴底端贯穿至安装槽内，并安装在转动盘的顶部，顶板的底部远离超声波扫描显微镜探头的一端安装有吹风口，顶板的顶部安装有微型气泵，微型气泵的出风口与吹风口相互连接。
[0012]优选的，所述安装板的顶部开设有存储槽，安装板的顶部安装有橡胶塞，橡胶塞的底端位于存储槽的内部，存储槽的内部通过连接管与点墨管相互连接，底座的顶部安装有存放板，存放板的一侧与安装板远离放置盘的一侧底部抵接。
[0013]优选的，所述底座的顶部均开设有导向槽，导向槽位于夹持板的下方，导向槽的内壁上安装有支杆，支杆上滑动安装有连接块，连接块的顶端安装在夹持板的底部，支杆上位于导向槽远离限位板的一端内壁与连接块之间安装有弹簧。
[0014]优选的，所述底座的顶部按长度方向开设有凹槽，凹槽位于安装板的下方，凹槽内滑动安装有电动滑块，电动滑块的顶端安装在安装板的底部，支撑板靠近安装板的一端底部与底座的顶部抵接，底座的顶部安装有防护框，防护框的侧面和顶部均安装有观察窗。
[0015]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：1、本专利技术中电磁铁通电后便可产生磁力，对电磁铁上方放置板底部的磁铁片进行吸附，使磁铁片带动放置板以固定杆为中心进行转动，倾斜的放置板上出现坏点的芯片在放置板上向固定孔的方向进行滑动，并通过固定孔和两个固定板之间掉落至下方支撑板上固定槽内的传送带顶部，传送带便可把出现坏点的芯片通过出料口摆放在存放板上，在使用时无需工作人员手动对出现坏点的芯片进行分拣拿取，使用时更加方便，且在对出现坏点的芯片进行输送时并不影响超声波扫描显微镜探头对其余芯片的测试，工作人员便可直接拿下存放板，通过存放板对出现坏点的芯片进行拿取或移动，在使用时工作人员的手并不会触碰芯片，防止工作人员手上的油脂粘附在芯片上。
[0016]2、本专利技术中电机带动转动盘的中端位于固定孔中端的上，且转动盘底部的调节槽的方向和与固定孔与转动盘中端所对应的位置至芯片坏点方向平行，第二马达通过螺纹杆带动电动伸缩杆和点墨管横向芯片坏点位置进行移动，当点墨管移动至芯片坏点的上方，电动伸缩杆便可点墨管对芯片表面坏点位置进行标记，工作人员可通过电机和第二马达对点墨管的位置和角度进行调整，在使用时点墨管能对顶板下方转动盘所覆盖的任意一个位置进行精准标记，使点墨管的标记位置更加准确，且在对芯片坏点进行标记使并不会对超声波扫描显微镜探头的使用造成影响。
[0017]3、本专利技术中因为顶板和其上的超声波扫描显微镜探头均安装在安装板的同一侧，所以在安装板移动时，支撑板能对安装板起到较好的支撑，防止安装板在移动时出现晃动
或倾斜的情况，支撑板滑动安装在限位板上的滑动孔内，在使用时限位板便可通过支撑板对安装板起到较好的限位作用，同时支撑板也能对点墨管所标记的芯片进行筛选输送，使用时更加方便，在使用时安装板不但能对超声波扫描显微镜探头和支撑板进行安装，也能对墨汁进行存放。
[0018]4、本专利技术中在点墨管对芯片的坏点进行标记时，位于顶板顶部的微型气泵把外接的空气通过吹风口向对进行标记的芯片进行吹动，使墨汁的凝固速度更快，防止在工作人员把所标记的芯片进行收集进行维修时，芯片上的墨汁粘附在其余芯片的表面，同时在使用时能对超声波扫描显微镜探头测试完毕后的芯片进行清理，方便工作人员对完好的芯片进行包装。
附图说明
[0019]图1为本专利技术提出的一种自动标记坏点的芯片测试机的立体图；图2为本专利技术提出的一种自动标记坏点的芯片测试机的安装板安装结构示意图；图3为本专利技术提出的一种自动标记坏点的芯片测试机的支撑板安装结构示意图；图4为本专利技术提出本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动标记坏点的芯片测试机，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）的顶部滑动安装有安装板（3），底座（1）的顶部安装有限位板（5），底座（1）的顶部两端均滑动安装有与限位板（5）相匹配的夹持板（6），夹持板（6）与限位板（5）之间安装有放置盘（7），放置盘（7）的内底部开设有固定孔（39），放置盘（7）的内底部位于固定孔（39）的两侧均开设有若干个放置孔（40），放置孔（40）的内壁上转动安装有放置板（41），放置板（41）的底部靠近固定孔（39）的一端安装有磁铁片（43），安装板（3）靠近限位板（5）的一侧底部安装有支撑板（18），支撑板（18）的顶部安装有固定板（23），固定板（23）的顶部安装有与磁铁片（43）相匹配的电磁铁（24），安装板（3）的侧面安装有测试机构。2.根据权利要求1所述的一种自动标记坏点的芯片测试机，其特征在于，所述放置盘（7）的底部位于放置孔（40）远离磁铁片（43）的一端安装有挡板（42），且挡板（42）的一端位于放置板（41）的下方，放置板（41）靠近磁铁片（43）的一端转动安装有固定杆（44），固定杆（44）的两端分别安装在放置孔（40）的两侧内壁上。3.根据权利要求1所述的一种自动标记坏点的芯片测试机，其特征在于，所述支撑板（18）的顶部按长度方向开设有固定槽（21），固定槽（21）的内部安装有传送带（22），传送带（22）的内部两端均安装有转动轴（27），两个转动轴（27）的两端均转动安装在固定槽（21）的内壁上，支撑板（18）的侧面安装有第一马达（20），第一马达（20）的输出轴贯穿至固定槽（21）内，并通过联轴器与其中一个转动轴（27）连接，固定槽（21）位于固定板（23）的下方。4.根据权利要求3所述的一种自动标记坏点的芯片测试机，其特征在于，所述限位板（5）的侧面底部按长度方向开设有滑动孔，支撑板（18）滑动安装在滑动孔内，安装板（3）的侧面开设有与固定槽（21）相匹配的出料孔（16），夹持板（6）与限位板（5）的相对面顶部均开设有卡槽（36），放置盘（7）的边角位置位于卡槽（36）内。5.根据权利要求1所述的一种自动标记坏点的芯片测试机，其特征在于，所述测试机构包括顶板（4），顶板（4）位于放置盘（7）的上方，顶板（4）的底部一端安装有超声波扫描显微镜探头（17），且超声波扫描显微镜探头（17）位于放置板（41）的上方，顶板（4）的底部开设有安装槽（28），安装槽（28）内转动安装有转动盘（29）。6.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘增红，常浩，
申请(专利权)人：镇江矽佳测试技术有限公司，
类型：发明
国别省市：