本发明专利技术的光波形测量装置具备：检测单元(13)，检测测量对象物(100)的光量变动频率的候选；频率决定单元(14)，基于所检测出的光量变动频率的候选来决定光量变动频率；测定条件决定单元(15)，基于所决定的光量变动频率来决定光波形测量的测定条件；以及取得单元(16)，在所决定的测定条件下取得测量对象物的光波形。测定条件决定单元(15)决定测定时间成为由频率决定单元(14)决定的光量变动频率的周期的整数倍的采样频率和测定点数。的整数倍的采样频率和测定点数。的整数倍的采样频率和测定点数。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光波形测量装置及测量方法
[0001]本专利技术涉及对显示器等测量对象物的光波形进行测量的光波形测量装置及测量方法。
技术介绍
[0002]一般而言，个人计算机等的显示器由于以垂直同步信号(Vsync)的周期更新图像，所以具有垂直同步信号的周期的画面的亮度变动。另外，在显示器是液晶显示装置(LCD)的情况下，由于采用在奇数帧和偶数帧中调换极性的反转驱动，所以画面的亮度变动周期进一步成为2倍的低频。
[0003]作为对这样的显示器的基本性能进行测量的光测量器，例如已知有显示器彩色分析仪(作为一例，柯尼卡美能达株式会社制造的CA－410)。这种显示器彩色分析仪在内部具有光传感器，不仅可以测量颜色或亮度，还可以测量光波形或闪烁。
[0004]光量的取得大致有两种方式，即取得瞬时值的逐次取得方式以及取得决定的时间的积分值的积分取得方式。逐次取得方式具有高速性优异的特征，而积分方式具有低亮度测量性能优异这样的特征。
[0005]另外，作为使取得波形的特征明显化的手段，有频率滤波处理。滤波处理对取得波形按构成波形的每个频率成分进行期望的加权。例如，在低通滤波器(LPF)的情况下，相对于信号频率使高频衰减。由此，能够降低高频噪声，能够再现平滑的信号波形。作为另一例子，在滤波器中使用TCSF(temporal contrast sensitivity function，时间对比灵敏度函数)的情况下，能够再现与人的视觉特性对应的波形。
[0006]在以往的光波形测量装置中，取得在系统中预先准备的测定期间的波形，或者用户输入测定点数而取得与该点数相当的时间的波形。
[0007]对取得的波形进行离散傅立叶变换(DFT)处理，将取得波形变换为频谱。对得到的频谱反映具有任意频率特性的滤波器。具体而言，通过对每个频率进行乘法运算来进行加权。通过对加权后的频谱进行傅立叶逆变换(IDFT)，取得滤波处理后的波形。
[0008]另外，作为减少离散傅立叶变换、傅立叶逆变换的运算处理的算法，已知有快速傅立叶变换。快速傅立叶变换具有只能处理数据数为2的幂次方个(数据数＝2
d
个)这样的制约。为了降低离散傅立叶变换、傅立叶逆变换的运算负荷，波形取得时的测定点数大多将测定点数设为2的幂次方个。
[0009]另外，在专利文献1中公开了如下技术：在具备阵列检测器的光测量装置(分光器)中，通过高速扫描来决定测定时间值，能够实现时间上不连续的照明光源的同步。
[0010]现有技术文献
[0011]专利文献
[0012]专利文献1：美国专利公开第2005－0103979号公报
技术实现思路
[0013]专利技术要解决的课题
[0014]这里，在测定时间与发光波形的周期(例如Vsync期间)不匹配的情况下(不是整数倍的情况下)，取得的波形的前端部和后端部的光量值不一致。因此，在频谱中产生多个与测定时间相关联的频率成分。与测定时间相关联的频率成分是1/测定时间
×
n，即以测定时间为1个周期的频率及其高次谐波。
[0015]如果对该频谱实施滤波处理，则滤波处理后的波形(加权后进行傅立叶逆变换)产生波形的前端部和后端部大幅失真的问题。
[0016]作为其对策，已知有删除滤波处理后波形的前端及后端的方法，但在该方法中，由于产生数据的缺失，所以有可能无法取得触发测量等情况下所需的时域的信息，便利性不好。
[0017]作为另一对策，公开了使用使数据端部为同一值的窗函数的方法。在该方式中，对取得波形乘以窗函数，对其进行离散傅立叶变换。然后，对加权和傅立叶逆变换后的波形除以窗函数，生成滤波处理后波形。
[0018]但是，在本方法中，由于在除以了窗函数时测量时误差被扩展，因此也会产生波形较大地失真的问题。
[0019]另外，在专利文献1中没有关于光波形测量的记述、或与光波形测量有关的上述课题的记述，因此，即使参照专利文献1，也不能解决上述课题。
[0020]本专利技术是鉴于这样的技术背景而完成的，其目的在于提供一种能够降低滤波处理后的波形的失真的光波形测量装置以及测量方法。
[0021]用于解决课题的手段
[0022]上述目的通过以下手段实现。
[0023](1)光波形测量装置具备：检测单元，检测测量对象物的光量变动频率的候选；频率决定单元，基于由所述检测单元检测出的光量变动频率的候选来决定光量变动频率；测定条件决定单元，基于由所述频率决定单元决定的光量变动频率，决定光波形测量的测定条件；以及取得单元，在由所述测定条件决定单元决定的测定条件下取得测量对象物的光波形，所述测定条件决定单元决定测定时间成为由所述频率决定单元所决定的光量变动频率的周期的整数倍的采样频率和测定点数。
[0024](2)在前项1中记载的光波形测量装置，其中，所述检测单元通过光波形测量前的预备测定而取得光量变动的波形数据，通过对所述波形数据进行傅立叶变换处理来取得频谱数据，在所述频谱数据中，以成为强度比相邻频率大的奇异点的频率为基础，检测光量变动频率的候选。
[0025](3)在前项1或前项2中记载的光波形测量装置，其中，所述频率决定单元从光量变动频率的候选中将最小的频率的候选决定为光量变动频率。
[0026](4)在前项1或前项2中记载的光波形测量装置，其中，还具备用户能够从由所述检测单元检测出的光量变动频率的候选中选择任一个候选的选择单元，所述频率决定单元将用户通过所述选择单元选择出的候选决定为光量变动频率。
[0027](5)在前项1或前项2中记载的光波形测量装置，其中，具备用户能够输入光量变动频率的输入单元，所述频率决定单元将由检测单元检测出的光量变动频率的候选中最接近
由所述输入单元输入的光量变动频率的候选决定为光量变动频率。
[0028](6)在前项2中记载的光波形测量装置，其中，所述检测单元通过增补来检测光量变动频率的候选，所述增补使用在所述频谱数据中与成为强度比相邻频率大的奇异点的频率相邻的频率的强度。
[0029](7)在前项1中记载的的光波形测量装置，其中，所述检测单元通过光波形测量前的预备测定而取得光量变动的波形数据，通过对所述波形数据的自相关法来检测光量变动频率的候选。
[0030](8)在前项1至前项7中任一项记载的光波形测量装置，其中，由所述取得单元取得的光波形的波数根据所述光量变动频率而变化。
[0031](9)在前项1至前项8中任一项记载的光波形测量装置，其中，具备滤波处理单元，所述滤波处理单元对由所述取得单元取得的光波形进行滤波处理，所述测定点数为2的幂次方个的m倍(m为整数)，测定点数在滤波处理前后不同。
[0032](10)在前项9中的光波形测量装置，其中，将基于所述滤波处理单元的滤波处理前的光波形以m个为单位进行平均化后，进行滤波处理。
[0033](11)光波形测量方法，具备：检测步骤，检测单元检测测量对象物的光量变动频率的候本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种光波形测量装置，具备：检测单元，检测测量对象物的光量变动频率的候选；频率决定单元，基于由所述检测单元检测出的光量变动频率的候选来决定光量变动频率；测定条件决定单元，基于由所述频率决定单元决定的光量变动频率，决定光波形测量的测定条件；以及取得单元，在由所述测定条件决定单元决定的测定条件下取得测量对象物的光波形，所述测定条件决定单元决定测定时间成为由所述频率决定单元所决定的光量变动频率的周期的整数倍的采样频率和测定点数。2.根据权利要求1所述的光波形测量装置，其中，所述检测单元通过光波形测量前的预备测定而取得光量变动的波形数据，通过对所述波形数据进行傅立叶变换处理来取得频谱数据，在所述频谱数据中，以成为强度比相邻频率大的奇异点的频率为基础，检测光量变动频率的候选。3.根据权利要求1或权利要求2所述的光波形测量装置，其中，所述频率决定单元从光量变动频率的候选中将最小的频率的候选决定为光量变动频率。4.根据权利要求1或权利要求2所述的光波形测量装置，其中，具备用户能够从由所述检测单元检测出的光量变动频率的候选中选择任一个候选的选择单元，所述频率决定单元将用户通过所述选择单元选择出的候选决定为光量变动频率。5.根据权利要求1或权利要求2所述的光波形测量装置，其中，具备用户能够输入光量变动频率的输入单元，所述频率决定单元将由检测单元检测出的光量变动频率的候选中最接近由所述输入单元输入的光量变动频率的候选决定为光量变动频率。6.根据权利要求2所述的光波形测量装置，其中，所述检测单元通过增补来检测光量变动频率的候选，所述增补使用在所述频谱数据中与成为强度比相邻频率大的奇异点的频率相邻的频率的强度。7.根据权利要求1所述的光波形测量装置，其中，所述检测单元通过光波形测量前的预备测定而取得光量变动的波形数据，通过对所述波形数据的自相关法来检测光量变动频率的候选。8.根据权利要求1至权利要求7中任一项所述的光波形测量装置，其中，由所述取得单元取得的光波形的波数根据所述光量变动频率而变化。9.根据权利要求1至权利要求8中任一项所述的光波形测量装置，其中，具备滤波处理单元，所述滤波处理单元对由所述取得单元取得的光波形进行滤波处理，所述测定点数为2的幂次方个的m倍，测定点数在滤波处理前后不同，其中，m为整数。
10.根据权利要求9所述的光波形测量装置，其中，将基于所述滤波处理单元的滤波处理前的光波形以m个为单位进行平均化后，进行滤波处理。11.一种光波形测...
【专利技术属性】
技术研发人员：增田敏，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达株式会社，
类型：发明
国别省市：
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