一种减少前导检测中系统内存用量的电路及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种减少前导检测中系统内存用量的电路及方法，用于替代前导检测电路中的相干累加部分，其中，其包括第一求复数能量模块，第一缓存器，相位生成模块，极值搜索及排序模块，第二缓存器，相干／非相干累加系统内存读写控制模块，首次迭代控制模块，２选１模块，相干累加系统内存，相干累加模块，以及，第二求复数能量模块。本发明专利技术电路及方法，通过减少ＲＡＭ的用量，节省了芯片的面积，并提高了芯片的良品率，由此降低了芯片的成本；由于芯片中节省了大量的ＲＡＭ，减少了由于ＲＡＭ引起的功耗，并可降低芯片封装难度和对电源的供电能力需求。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种减少前导检测中系统内存用量的电路，用于替代前导检测电路中的相干累加部分，其特征在于，其包括第一求复数能量模块，第一缓存器，相位生成模块，极值搜索及排序模块，第二缓存器，相干／非相干累加系统内存读写控制模块，首次迭代控制模块，２选 １模块，相干累加系统内存，相干累加模块，以及，第二求复数能量模块。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：温子瑜，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[]