一种谷物类品质分析检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种谷物类品质分析检测设备，送料装置包括依次设置的入料斗、振动送料斗和透明送料台，振动送料斗包括呈长条状且横向设置的振动斗和连接于振动斗底部的振动器；振动斗一端为进料端，呈分离状设置于入料斗下方；振动斗另一端为出料端且延伸至透明送料台上方；且出料端的外底面与透明送料台的上表面间距离略大于待检谷物粒径；卸料装置包括置于透明送料台上的刮料机构和设置在刮料机构后部的卸料斗；本实用新型专利技术的谷物类品质分析检测设备，解决现有技术中谷物的品质分析设置、检测设备存在的问题，通过振动送料斗和透明送料台结构的合理设计和布置，实现谷物的单粒独立分析和模拟静态分析，提高分析的精准度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
一种谷物类品质分析检测设备


[0001]本技术属于谷物检测设备领域，更具体的说涉及一种谷物类品质分析检测设备。

技术介绍

[0002]原先谷物类的品质分析主要依赖人工检测方法，人工检测存在一致性差、准确性低、检测时间长、易误检、漏检、结果可追溯性低等缺点。为解决人工检测存在的问题，现有技术中也提出了若干实现半自动或自动检测的设备。
[0003]有如专利CN201720454687.5提出一种粮食不完善粒的智能检测系统，通过将粮食投入震动喂料部，螺旋式输出样品，逐粒向视觉识别部输入，对粮食颗粒进行识别检测，可实现粮食不完善颗粒的智能检测，检测快速，检测结果准确，并可接入智能出入库管理系统。但是受制于该振动器的结构和逐粒检测方式，该设备检测速度相对偏低，且对于较轻或者较大的物体不具有兼容性。
[0004]随着人们对谷物品质要求越来越高，在谷物选种时以及在谷物品质等级鉴定时，对谷物品质分析的精准度要求越来越高，对谷物品质分析的工作效率也越来越高。由上可知，现有技术中的检测装置均很难满足要求。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种谷物类品质分析检测设备，解决现有技术中谷物的品质分析设置、检测设备存在的问题，通过振动送料斗和透明送料台结构的合理设计和布置，实现谷物的单粒分析和模拟静态分析，提高分析的精准度。同时还通过自动化的快速的连续的进料出料，实现自动化高效分析。
[0006]本技术技术方案一种谷物类品质分析检测设备，包括送料装置、图像获取装置和卸料装置，所述送料装置包括依次设置的入料斗、振动送料斗和透明送料台，
[0007]所述振动送料斗包括呈长条状且横向设置的振动斗和连接于所述振动斗底部的振动器；振动斗一端为进料端，呈分离状设置于所述入料斗下方；振动斗另一端为出料端且延伸至所述透明送料台上方；且出料端的外底面与所述透明送料台的上表面间距离略大于待检谷物粒径；
[0008]所述卸料装置包括置于所述透明送料台上的刮料机构和设置在所述刮料机构后部的卸料斗；
[0009]所述图像获取装置包括分别朝向透明送料台的上表面和下表面的工业线扫相机，两所述工业线扫相机的视野均朝向所述刮料机构与振动斗出料端之间的区域。
[0010]优选地，所述振动斗呈水平状设置，且振动斗的内底面为平面，所述出料端的朝向与所述透明送料台的送料方向一致。
[0011]优选地，所述振动斗的出料端宽度大于待检谷物粒径，而小于工业线扫相机的视野宽度。
[0012]优选地，所述入料斗底部设置有竖直向下的出料口，所述出料口延伸至所述振动斗的进料端内，出料口的底边沿与所述进料端的内底面间距离略大于待检谷物粒径。
[0013]优选地，所述透明送料台为圆台，且呈水平状设置并固接有竖直状态的转轴，所述转轴上连接有旋转驱动装置，所述旋转驱动装置包括与所述转轴固接的伺服电机；所述刮料机构设置在所述透明送料台旋转方向上的前部。
[0014]优选地，两所述工业线扫相机上均分别安装有工业镜头，两所述工业镜头上均分别罩设有遮光罩；所述遮光罩呈鸭嘴状，且开口朝向透明送料台，两所述遮光罩的两侧均分别固接有补光组件，所述补光组件发射出的光线均朝向透明送料台。
[0015]优选地，所述补光组件包括条形光源，同一遮光罩上的两条形光源发射出的光线均朝向遮光罩的开口的前端，同一遮光罩上的两条形光源发射出的光线夹角为60
°‑
90
°
。
[0016]优选地，所述刮料机构包括刮料电机和由所述刮料电机带动的刮料带，所述刮料带沿圆台的径向设置，且刮料带沿圆台的径向方向刮料，所述刮料带上固接有若干呈离散状设置的柔性刮料块，所述柔性刮料块远离所述刮料带的表面与圆台的上表面接触，所述卸料斗设置在所述刮料带后部下侧。
[0017]优选地，本谷物类品质分析检测设备还包括主体框架和安装在主体框架上的电气控制系统和图像处理系统，所述主体框架主要由顶板、底板和连接顶板与底板的若干立柱组成，所述入料斗固接在所述顶板上，所述振动器上连接有第一安装架，所述第一安装架固接在所述底板上，旋转驱动装置上连接有第二安装架，所述第二安装架与所述底板固接，所述刮料机构和所述卸料斗上均连接有第三安装架，所述第三安装架与所述顶板固接；
[0018]所述振动器、伺服电机和刮料电机均由所述电气控制系统控制，所述工业线扫相机与所述图像处理系统信号连接。
[0019]本技术技术方案一种谷物类品质分析检测设备的有益效果是：
[0020]1、出料端且延伸至透明送料台上方，且出料端的外底面与透明送料台的上表面间距离略大于待检谷物粒径。有效的避免了待检谷物在透明送料台上出现跳动或滚动等问题，确保了待检谷物在经过工业线扫相机视野范围内时，待检谷物仅仅随透明送料台送料运动，即待检谷物仅仅做输送方向的静态输送，工业相机对待检谷物做线性全扫描，工业线扫相机获得完成的待检谷物图形，提高分析精准度。
[0021]2、通过振动送料、在透明送料台送料检测以及卸料装置对透明送料台上谷物进行卸料，实现全自动化分析检测，提高分析效率。
附图说明
[0022]图1为本技术技术方案一种谷物类品质分析检测设备的立体图。
[0023]图2为本技术技术方案的送料装置结构简图。
[0024]图3为本技术技术方案的图像获取装置结构简图。
[0025]图4为本技术技术方案的透明送料台结构示意图。
[0026]图5为本技术技术方案的卸料装置结构简图。
[0027]图6为本技术技术方案的补光组件安装示意图。
具体实施方式
[0028]为便于本领域技术人员理解本技术技术方案，现结合具体实施例和说明书附图对本技术技术方案做进一步的说明。
[0029]如图1所示，本技术技术方案一种谷物类品质分析检测设备，包括送料装置2、图像获取装置4和卸料装置5。送料装置2包括依次设置的入料斗21、振动送料斗和透明送料台31。图像获取装置4包括分别朝向透明送料台31的上表面和下表面的工业线扫相机41，两所述工业线扫相机的视野均朝向所述刮料机构与振动斗出料端之间的区域，工业线扫相机41信号连接有图像处理系统。
[0030]基于上述技术方案，振送至透明送料台31上，随透明送料台31输送，并经过工业线扫相机41的视野区域，工业线扫相机41对谷物进行扫描，获得待检谷物的图像，然后工业线扫相机41将图像信号传输至图像处理系统，通过图像处理系统对图像进行信息进行识别和判断，即实现对谷物进行分析。这里对图像处理系统的描述和介绍是为了便于本领域技术人员对谷物分析过程进行了解，图像处理系统的工作方式和过程并不是本技术方案的重点和保护范围，在实际使用和分析时，图像处理系统采用现有技术中已成熟的基于视觉的图形处理方法即可。本技术方案的保护重点和范围是本分析检测设备的结构，通过对分析检测设备中各个结构部件的设计、布置和安装，确保谷物在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种谷物类品质分析检测设备，包括送料装置、图像获取装置和卸料装置，其特征在于，所述送料装置包括依次设置的入料斗、振动送料斗和透明送料台，所述振动送料斗包括呈长条状且横向设置的振动斗和连接于所述振动斗底部的振动器；振动斗一端为进料端，呈分离状设置于所述入料斗下方；振动斗另一端为出料端且延伸至所述透明送料台上方；且出料端的外底面与所述透明送料台的上表面间距离略大于待检谷物粒径；所述卸料装置包括置于所述透明送料台上的刮料机构和设置在所述刮料机构后部的卸料斗；所述图像获取装置包括分别朝向透明送料台的上表面和下表面的工业线扫相机，两所述工业线扫相机的视野均朝向所述刮料机构与振动斗出料端之间的区域。2.根据权利要求1所述的谷物类品质分析检测设备，其特征在于，所述振动斗呈水平状设置，且振动斗的内底面为平面，所述出料端的朝向与所述透明送料台的送料方向一致。3.根据权利要求1所述的谷物类品质分析检测设备，其特征在于，所述振动斗的出料端宽度大于待检谷物粒径，而小于工业线扫相机的视野宽度。4.根据权利要求1所述的谷物类品质分析检测设备，其特征在于，所述入料斗底部设置有竖直向下的出料口，所述出料口延伸至所述振动斗的进料端内，出料口的底边沿与所述进料端的内底面间距离略大于待检谷物粒径。5.根据权利要求1所述的谷物类品质分析检测设备，其特征在于，所述透明送料台为圆台，且呈水平状设置并固接有竖直状态的转轴，所述转轴上连接有旋转驱动装置，所述旋转驱动装置包括与所述转轴固接的伺服电机；所述刮料机构设置在所述透明送料台旋转方向上的前部。6.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：颜天信，唐麟，陈壮壮，冯康康，张云雷，伊开胜，
申请(专利权)人：安徽省科亿信息科技有限公司，
类型：新型
国别省市：