一种电芯可靠性测试方法及测试设备技术

本发明专利技术提出一种电芯可靠性测试方法及测试设备，通过以对应电芯测试装置的通孔数量的电芯为一组，使用排列装置从传送装置系每次取出一组电芯按照与电芯固定框架相匹配的排列方式放置在等候测试区，将所述电芯固定框架套设在所述等候测试区的电芯上，使所述电芯固定框架的上表面与所述电芯的上表面大致持平，控制所述电芯固定框架的套环收缩以夹紧所述电芯，将所述电芯固定框架及其所固定的电芯放入电芯测试装置中，在所述电芯测试装置的上表面及下表面分别安装上电极板和下电极板，通过所述电芯测试装置对所述电芯进行可靠性测试，能够提高电芯测试效率、降低电芯测试成本。降低电芯测试成本。降低电芯测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种电芯可靠性测试方法及测试设备


[0001]本专利技术涉及测试
，特别涉及一种电芯可靠性测试方法及测试设备。

技术介绍

[0002]电芯的应用非常广泛，无论是在民用领域还是工业领域，电芯都是人们经常需要使用到的电源之一，小到闹钟、玩具，大到电动自行车、新能源汽车等，因此电芯的可靠性关系到人们的生命财产安全，符合电池安全标准是电芯进入市场的准入条件，在每一个电芯入市前对其进行可靠性测试是非常重要的。热失控测试是电池的可靠性测试中非常关键的一环，导致电芯发生热失控的因素有很多，例如快充、过充、过放、冲击、震动、针刺、挤压等等，一旦电池发生热失控，其有可能会带来很严重的后果。电芯可靠性测试的测试周期长、成本高、难度大，在庞大的市场需求量的背景下，如此巨量的电芯每一个都需要对其进行完整的可靠性测试非常困难，现有的测试方法往往是在同批次电芯中选择具有代表性的样品进行测试，这种情况下不可避免的会导致一些未经测试的存在安全隐患的电芯流入市场。

技术实现思路

[0003]本专利技术正是基于上述问题，提出了一种电芯可靠性测试方法及测试设备，能够提高电芯测试效率、降低电芯测试成本。
[0004]有鉴于此，本专利技术的第一方面提出了一种电芯可靠性测试方法，包括：
[0005]以对应电芯测试装置的通孔数量的电芯为一组，使用排列装置从传送装置系每次取出一组电芯按照与电芯固定框架相匹配的排列方式放置在等候测试区；
[0006]将所述电芯固定框架套设在所述等候测试区的电芯上，使所述电芯固定框架的上表面与所述电芯的上表面大致持平；
[0007]控制所述电芯固定框架的套环收缩以夹紧所述电芯；
[0008]将所述电芯固定框架及其所固定的电芯放入电芯测试装置中；
[0009]在所述电芯测试装置的上表面及下表面分别安装上电极板和下电极板；
[0010]通过所述电芯测试装置对所述电芯进行可靠性测试。
[0011]进一步的，在上述的电芯可靠性测试方法中，在通过所述电芯测试装置对所述电芯进行可靠性测试前，所述电芯处于亏电状态，通过所述电芯测试装置对所述电芯进行可靠性测试的步骤具体包括：
[0012]配置快充可靠性测试功率范围，所述快充可靠性测试功率范围的下限大于或等于所述电芯的快充功率标准范围的上限；
[0013]为所述电芯测试装置中每个通孔的电芯配置所述快充可靠性测试功率范围内的快充可靠性测试功率，所述电芯的快充可靠性测试功率按其对应的通孔编号顺序依次递增；
[0014]接通每个通孔对应的上电极板和下电极板中各个电极的电源以使用所述快充可靠性测试功率对所述电芯进行充电；
[0015]使用所述电芯测试装置每个通孔内的温度传感器测量相应电芯在快充可靠性测试过程中的温度，直到所述电芯的电量充满或者所述电芯的温度到达临界值；
[0016]构建对应所述快充可靠性测试功率的温度相对于充电时间的变化曲线；
[0017]将所述电芯固定框架及其所固定的电芯从所述电芯测试装置中取出放置在降温区；
[0018]使用风机对所述电芯测试装置进行降温处理。
[0019]进一步的，在上述的电芯可靠性测试方法中，为所述电芯测试装置中每个通孔的电芯配置所述快充可靠性测试功率范围内的快充可靠性测试功率的步骤具体包括：
[0020]获取所述电芯测试装置内的电芯数量n；
[0021]获取所述快充可靠性测试功率范围的下限P
tmin
以及上限P
tmax
；
[0022]确定n个大于或等于所述快充可靠性测试功率范围的下限P
tmin
且小于或等于所述快充可靠性测试功率范围的上限P
tmax
的快充可靠性测试功率以按照所述电芯对应的通孔编号顺序为其配置所述n个快充可靠性测试功率中的一个。
[0023]进一步的，在上述的电芯可靠性测试方法中，确定n个大于或等于所述快充可靠性测试功率范围的下限P
tmin
且小于或等于所述快充可靠性测试功率范围的上限P
tmax
的快充可靠性测试功率以按照所述电芯对应的通孔编号顺序为其配置所述n个快充可靠性测试功率中的一个的步骤具体包括：
[0024]获取每个电芯对应的通孔编号i，其中i＝(1,2,
…
,n)；
[0025]将通孔编号为配置i的电芯的快充可靠性测试功率配置为将通孔编号为配置i的电芯的快充可靠性测试功率配置为
[0026]进一步的，在上述的电芯可靠性测试方法中，在将所述电芯固定框架及其所固定的电芯从所述电芯测试装置中取出放置在降温区的步骤之后，还包括：
[0027]从所述降温区取出已完成降温的电芯固定框架及其所固定的另一组电芯放入所述电芯测试装置中；
[0028]在所述电芯测试装置的上表面及下表面分别安装上电极板和下电极板；
[0029]配置过充电压范围，所述过充电压范围的下限大于或等于所述电芯满电状态下的电压上限；
[0030]为所述电芯测试装置中每个通孔的电芯配置所述过充电压范围内的过充可靠性测试电压，所述电芯的过充可靠性测试电压按其对应的通孔编号顺序依次递增；
[0031]接通每个通孔对应的上电极板和下电极板中各个电极的电源以使用预设的过充可靠性测试功率对所述电芯进行充电；
[0032]使用所述电芯测试装置每个通孔内的温度传感器测量相应电芯在过充可靠性测试过程中的温度，直到所述电芯的电压到达相应的过充可靠性测试电压或者所述电芯的温度到达临界值；
[0033]构建对应所述过充可靠性测试电压的温度相对于充电时间的变化曲线；
[0034]将所述电芯固定框架及其所固定的电芯从所述电芯测试装置中取出放置在降温区；
[0035]使用风机对所述电芯测试装置进行降温处理。
[0036]进一步的，在上述的电芯可靠性测试方法中，为所述电芯测试装置中每个通孔的电芯配置所述过充电压范围内的过充可靠性测试电压的步骤具体包括：
[0037]获取所述电芯测试装置内的电芯数量n；
[0038]获取所述过充可靠性测试电压范围的下限V
tmin
以及上限V
tmax
；
[0039]确定n个大于或等于所述过充可靠性测试电压范围的下限V
tmin
且小于或等于所述过充可靠性测试电压范围的上限V
tmax
的过充可靠性测试电压以按照所述电芯对应的通孔编号顺序为其配置所述n个过充可靠性测试电压中的一个。
[0040]进一步的，在上述的电芯可靠性测试方法中，对同一组电芯分别执行两轮快充可靠性测试以及过充可靠性测试，在第一轮快充可靠性测试以及过充可靠性测试中，采用所述电芯的快充可靠性测试功率按其对应的通孔编号顺序依次递增的方式对所述电芯执行快充可靠性测试，以及采用所述电芯的过充可靠性测试电压按其对应的通孔编号顺序依次递增的方式对所述电芯执行过充可靠性测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电芯可靠性测试方法，其特征在于，包括：以对应电芯测试装置的通孔数量的电芯为一组，使用排列装置从传送装置系每次取出一组电芯按照与电芯固定框架相匹配的排列方式放置在等候测试区；将所述电芯固定框架套设在所述等候测试区的电芯上，使所述电芯固定框架的上表面与所述电芯的上表面大致持平；控制所述电芯固定框架的套环收缩以夹紧所述电芯；将所述电芯固定框架及其所固定的电芯放入电芯测试装置中；在所述电芯测试装置的上表面及下表面分别安装上电极板和下电极板；通过所述电芯测试装置对所述电芯进行可靠性测试。2.根据权利要求1所述的电芯可靠性测试方法，其特征在于，在通过所述电芯测试装置对所述电芯进行可靠性测试前，所述电芯处于亏电状态，通过所述电芯测试装置对所述电芯进行可靠性测试的步骤具体包括：配置快充可靠性测试功率范围，所述快充可靠性测试功率范围的下限大于或等于所述电芯的快充功率标准范围的上限；为所述电芯测试装置中每个通孔的电芯配置所述快充可靠性测试功率范围内的快充可靠性测试功率，所述电芯的快充可靠性测试功率按其对应的通孔编号顺序依次递增；接通每个通孔对应的上电极板和下电极板中各个电极的电源以使用所述快充可靠性测试功率对所述电芯进行充电；使用所述电芯测试装置每个通孔内的温度传感器测量相应电芯在快充可靠性测试过程中的温度，直到所述电芯的电量充满或者所述电芯的温度到达临界值；构建对应所述快充可靠性测试功率的温度相对于充电时间的变化曲线；将所述电芯固定框架及其所固定的电芯从所述电芯测试装置中取出放置在降温区；使用风机对所述电芯测试装置进行降温处理。3.根据权利要求2所述的电芯可靠性测试方法，其特征在于，为所述电芯测试装置中每个通孔的电芯配置所述快充可靠性测试功率范围内的快充可靠性测试功率的步骤具体包括：获取所述电芯测试装置内的电芯数量n；获取所述快充可靠性测试功率范围的下限P
tmin
以及上限P
tmax
；确定n个大于或等于所述快充可靠性测试功率范围的下限P
tmin
且小于或等于所述快充可靠性测试功率范围的上限P
tmax
的快充可靠性测试功率以按照所述电芯对应的通孔编号顺序为其配置所述n个快充可靠性测试功率中的一个。4.根据权利要求3所述的电芯可靠性测试方法，其特征在于，确定n个大于或等于所述快充可靠性测试功率范围的下限P
tmin
且小于或等于所述快充可靠性测试功率范围的上限P
tmax
的快充可靠性测试功率以按照所述电芯对应的通孔编号顺序为其配置所述n个快充可靠性测试功率中的一个的步骤具体包括：获取每个电芯对应的通孔编号i，其中i＝(1,2,
…
,n)；将通孔编号为配置i的电芯的快充可靠性测试功率配置为将通孔编号为配置i的电芯的快充可靠性测试功率配置为
5.根据权利要求2
‑
4任一项所述的电芯可靠性测试方法，其特征在于，在将所述电芯固定框架及其所固定的电芯从所述电芯测试装置中取出放置在降温区的步骤之后，还包括：从所述降温区取出已完成降温的电芯固定框架及其所固定的另一组电芯放入所述电芯测试装置中；在所述电芯测试装置的上表面及下表面分别安装上电极板和下电极板；配置过充电压范围，所述过充电压范围的下限大于或等于所述电芯满电状态下的电压上限；为所述电芯测试装置中每个通孔的电芯配置所述过充电压范围内的过充可靠性测试电压，所述电芯的过充可靠性测试电压按其对应的通孔编号顺序依次递增；接通每个通孔对应的上电极板和下电极板中各个电极的电源以使用预设的过充可靠性测试功率对所述电芯进行充电；使用所述电芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：李涛，庞皓元，陈冠通，蔡成钢，
申请(专利权)人：深圳市卓讯达科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：