电子元器件测试转接座制造技术

本实用新型专利技术涉及电子元器件测试技术领域，公开了电子元器件测试转接座，包括限位机构，限位机构的一侧设置有转接机构，转接机构包括转接头和滑块，滑块的下侧设置有卡环，转接头包括转接头本体，转接头本体的一侧设置有一组转接线，转接头本体的另一侧中间位置开设有一组转接孔。本实用新型专利技术滑动电子元器件本体使得引脚穿过限位卡槽后嵌入转接孔的内侧，从而使得转接头本体对电子元器件本体进行测试转接，限位挡条转动可以对电子元器件本体进行限位，从而使得工作人员可以对电子元器件本体进行长时间的测试，当测试完成后，被压缩的弹簧恢复形变使得电子元器件本体退出限位底座，从而方便工作人员快速将电子元器件本体退出。方便工作人员快速将电子元器件本体退出。方便工作人员快速将电子元器件本体退出。

【技术实现步骤摘要】
电子元器件测试转接座


[0001]本技术涉及电子元器件测试
，具体是电子元器件测试转接座。

技术介绍

[0002]电子元器件是电子元件和小型的机器及仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，是元件和器件的总称，包括电阻、电容、电感、电位器、电子管、散热器、机电元件、连接器、半导体分立器件、电声器件、激光器件、电子显示器件、光电器件、传感器、电源、开关、微特电机、电子变压器、继电器、印制电路板、集成电路、各类电路、压电、晶体、石英、陶瓷磁性材料、印刷电路用基材基板、电子功能工艺专用材料、电子胶(带)制品、电子化学材料及部品等。
[0003]1、现有的部分电子元器件在进行测试时由于引脚位置不能直接进行测试，不方便工作人员的测试使用。
[0004]2、现有的电子元器件固定在测试转接座上时往往难以快速退出，大大影响了工作人员对电子元器件的测试效率。
[0005]因此，本领域技术人员提供了电子元器件测试转接座，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供电子元器件测试转接座，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0007]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0008]电子元器件测试转接座，包括限位机构，所述限位机构的一侧设置有转接机构，所述转接机构包括转接头和滑块，所述滑块的下侧设置有卡环，所述转接头包括转接头本体，所述转接头本体的一侧设置有一组转接线，所述转接头本体的另一侧中间位置开设有一组转接孔，所述转接头本体的另一侧位于一组转接孔的上侧连接有一组导向杆的一端，所述导向杆的另一端设置有限位圆环，所述导向杆的中间设置有弹簧。
[0009]作为本技术再进一步的方案：所述滑块和卡环固定连接，所述滑块和导向杆滑动连接。
[0010]作为本技术再进一步的方案：所述转接头本体和一组转接线固定连接，所述转接头本体和一组导向杆固定连接。
[0011]作为本技术再进一步的方案：所述转接头本体的前后两侧均设置有第二连接沿，所述第二连接沿和转接头本体固定连接。
[0012]作为本技术再进一步的方案：所述弹簧和导向杆滑动连接，所述限位圆环和导向杆固定连接。
[0013]作为本技术再进一步的方案：所述限位机构包括限位底座、电子元器件本体和限位挡条，所述限位底座的一侧设置有限位杆，所述限位底座的一侧位于限位杆的一侧
设置有L型支撑架，所述限位底座上侧的一端设置有导向卡环，所述限位底座上侧的另一端开设有一组限位卡槽，所述限位底座的前后两侧均设置有第一连接沿，所述电子元器件本体的一侧设置有一组引脚。
[0014]作为本技术再进一步的方案：所述限位底座和第一连接沿固定连接，所述限位底座和导向卡环固定连接，所述限位底座和L型支撑架固定连接。
[0015]作为本技术再进一步的方案：所述限位底座和限位杆固定连接，所述限位挡条和限位杆转动连接，所述电子元器件本体和引脚固定连接，所述电子元器件本体和导向卡环相匹配，所述引脚和限位卡槽相匹配，所述引脚和转接孔相匹配，所述第一连接沿和第二连接沿通过螺杆固定连接。
[0016]与现有技术相比，本技术的有益效果：
[0017]测试时，将一组转接线和测试仪器的端口进行连接，第一连接沿和第二连接沿通过螺杆固定连接，滑动电子元器件本体使得引脚穿过限位卡槽后嵌入转接孔的内侧，从而使得转接头本体对电子元器件本体进行测试转接，同时电子元器件本体移动使得卡环移动，卡环移动使得滑块在导向杆上滑动，弹簧被压缩，转动限位挡条使得限位挡条绕着限位杆转动，限位挡条转动可以对电子元器件本体进行限位，从而使得工作人员可以对电子元器件本体进行长时间的测试，当测试完成后，转动限位挡条到L型支撑架位置，被压缩的弹簧恢复形变使得电子元器件本体退出限位底座，从而方便工作人员快速将电子元器件本体退出，提高工作人员的测试效率，导向杆可以起到导向作用，限位圆环可以起到限位作用。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。
[0019]本说明书所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。
[0020]图1为电子元器件测试转接座的结构示意图；
[0021]图2为电子元器件测试转接座的分解结构示意图；
[0022]图3为电子元器件测试转接座中转接机构的结构示意图；
[0023]图4为电子元器件测试转接座中转接头的结构示意图；
[0024]图5为电子元器件测试转接座中限位机构的结构示意图。
[0025]图中：1、限位机构；11、限位底座；111、第一连接沿；112、限位卡槽；113、导向卡环；114、限位杆；115、L型支撑架；12、电子元器件本体；121、引脚；13、限位挡条；2、转接机构；21、转接头；211、转接头本体；212、转接线；213、导向杆；2131、限位圆环；214、弹簧；215、第二连接沿；216、转接孔；22、滑块；221、卡环。
具体实施方式
[0026]以下由特定的具体实施例说明本技术的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本技术的其他优点及功效，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]请参阅图1～5，本技术实施例中，电子元器件测试转接座，包括限位机构1，限位机构1的一侧设置有转接机构2，转接机构2包括转接头21和滑块22，滑块22的下侧设置有卡环221，转接头21包括转接头本体211，转接头本体211的一侧设置有一组转接线212，转接头本体211的另一侧中间位置开设有一组转接孔216，转接头本体211的另一侧位于一组转接孔216的上侧连接有一组导向杆213的一端，导向杆213的另一端设置有限位圆环2131，导向杆213的中间设置有弹簧214。
[0028]在图1、2、3和4中：滑块22和卡环221固定连接，滑块22和导向杆213滑动连接，转接头本体211和一组转接线212固定连接，转接头本体211和一组导向杆213固定连接，转接头本体211的前后两侧均设置有第二连接沿215，第二连接沿215和转接头本体211固定连接，弹簧214和导向杆213滑动连接，限位圆环213本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.电子元器件测试转接座，包括限位机构(1)，其特征在于，所述限位机构(1)的一侧设置有转接机构(2)，所述转接机构(2)包括转接头(21)和滑块(22)，所述滑块(22)的下侧设置有卡环(221)，所述转接头(21)包括转接头本体(211)，所述转接头本体(211)的一侧设置有一组转接线(212)，所述转接头本体(211)的另一侧中间位置开设有一组转接孔(216)，所述转接头本体(211)的另一侧位于一组转接孔(216)的上侧连接有一组导向杆(213)的一端，所述导向杆(213)的另一端设置有限位圆环(2131)，所述导向杆(213)的中间设置有弹簧(214)。2.根据权利要求1所述的电子元器件测试转接座，其特征在于，所述滑块(22)和卡环(221)固定连接，所述滑块(22)和导向杆(213)滑动连接。3.根据权利要求1所述的电子元器件测试转接座，其特征在于，所述转接头本体(211)和一组转接线(212)固定连接，所述转接头本体(211)和一组导向杆(213)固定连接。4.根据权利要求1所述的电子元器件测试转接座，其特征在于，所述转接头本体(211)的前后两侧均设置有第二连接沿(215)，所述第二连接沿(215)和转接头本体(211)固定连接。5.根据权利要求1所述的电子元器件测试转接座，其特征在于，所述弹簧(214)和导向杆(213)滑动连接，所述限位圆环(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：王伟，刘淼，李娜，王军，
申请(专利权)人：西安天光测控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：