电机电流采样方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电机电流采样方法、装置、设备及存储介质，涉及电机控制技术领域，该方法包括：确定空间矢量脉宽调制器的输出波形在预设采样周期内的非零矢量导通时间；在非零矢量导通时间小于预设采样时间时，对输出波形进行修正，获得修正波形，修正波形在预设采样周期内的非零矢量导通时间大于或等于预设采样时间；基于修正波形对电机进行电流采样。本发明专利技术根据预设采样时间判断空间矢量脉宽调制器的输出波形在预设采样周期内的非零矢量导通时间是否过短；若是，对输出波形进行修正，从而增加预设采样周期内的非零矢量导通时间，保证了电流采样的准确性。证了电流采样的准确性。证了电流采样的准确性。

【技术实现步骤摘要】
电机电流采样方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及电机控制
，尤其涉及一种电机电流采样方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]由于对成本及空间的考虑，永磁同步电机在进行SVPWM控制时，多采用单电阻采样方式对电机电流进行采样以形成反馈控制。但在单电阻采样时，可能会出现由于非零矢量导通时间过短从而无法进行准确的电流采样问题。因此，如何提高电机电流的采样准确性，是亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的在于提供一种电机电流采样方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术中电机电流的采样不准确的技术问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供一种电机电流采样方法，电机电流采样方法包括以下步骤：
[0005]确定空间矢量脉宽调制器的输出波形在预设采样周期内的非零矢量导通时间；
[0006]在非零矢量导通时间小于预设采样时间时，对输出波形进行修正，获得修正波形；其中，修正波形在预设采样周期内的非零矢量导通时间大于或等于预设采样时间；以及，
[0007]基于修正波形对电机进行电流采样。
[0008]可选的，在非零矢量导通时间小于预设采样时间时，对输出波形进行修正，获得修正波形，包括：
[0009]在非零矢量导通时间小于预设采样时间时，确定修正量和补偿量，修正量与补偿量互为相反数；
[0010]根据修正量对输出波形在预设采样周期内的占空比进行调整；以及，
[0011]根据补偿量对输出波形在非预设采样周期内的占空比进行调整，以获得修正波形。
[0012]可选的，非零矢量导通时间包括第一导通时间和第二导通时间，输出波形包括占空比依次减小的第一PWM波、第二PWM波和第三PWM波，第一导通时间为第一PWM波与第二PWM波相邻上升沿之间的时间差，第二导通时间为第二PWM波与第三PWM波相邻上升沿之间的时间差；
[0013]在非零矢量导通时间小于预设采样时间时，确定修正量和补偿量，包括：
[0014]在第一导通时间和第二导通时间均小于预设采样时间时，将第一导通时间与预设采样时间之间的差值作为第一修正量；
[0015]将第二导通时间与预设采样时间之间的差值作为第二修正量；以及，
[0016]根据第一修正量和第二修正量确定对应的补偿量。
[0017]可选的，根据修正量对输出波形在预设采样周期内的占空比进行调整，包括：
[0018]根据第一修正量对第一PWM波在预设采样周期内占空比进行放大；以及，
[0019]根据第二修正量对第三PWM波在预设采样周期内占空比进行缩小。
[0020]可选的，在非零矢量导通时间小于预设采样时间时，确定修正量和补偿量，还包括：
[0021]在第一导通时间或第二导通时间小于预设采样时间时，将小于预设采样时间的导通时间作为参考时间；以及，
[0022]将参考时间与预设采样时间之间的差值作为第三修正量，并根据第三修正量确定对应的补偿量。
[0023]可选的，根据修正量对输出波形在预设采样周期内的占空比进行调整，包括：
[0024]在参考时间为第一导通时间时，根据第三修正量对第二PWM波在预设采样周期内占空比进行缩小。
[0025]可选的，根据修正量对输出波形在预设采样周期内的占空比进行调整，还包括：
[0026]在参考时间为第二导通时间时，根据第三修正量对第二PWM波在预设采样周期内占空比进行放大。
[0027]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种电机电流采样装置，电机电流采样装置包括：
[0028]获取模块，用于确定空间矢量脉宽调制器的输出波形在预设采样周期内的非零矢量导通时间；
[0029]修正模块，用于在非零矢量导通时间小于预设采样时间时，对输出波形进行修正，获得修正波形；其中，修正波形在预设采样周期内的非零矢量导通时间大于或等于预设采样时间；以及，
[0030]采样模块，用于基于修正波形对电机进行电流采样。
[0031]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种电机电流采样设备，电机电流采样设备包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的电机电流采样程序，电机电流采样程序被处理器执行时实现如上述的电机电流采样方法。
[0032]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种存储介质，存储介质上存储有电机电流采样程序，电机电流采样程序被处理器执行时实现如上述的电机电流采样方法。
[0033]在本专利技术中，通过确定空间矢量脉宽调制器的输出波形在预设采样周期内的非零矢量导通时间；在非零矢量导通时间小于预设采样时间时，对输出波形进行修正，获得修正波形，修正波形在预设采样周期内的非零矢量导通时间大于或等于预设采样时间；基于修正波形对电机进行电流采样。本专利技术根据预设采样时间判断空间矢量脉宽调制器的输出波形在预设采样周期内的非零矢量导通时间是否过短；若是，对输出波形进行修正，从而增加预设采样周期内的非零矢量导通时间，保证了电流采样的准确性。
附图说明
[0034]图1是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的电机电流采样设备的结构示意图；
[0035]图2为本专利技术电机电流采样方法第一实施例的流程示意图；
[0036]图3为本专利技术电机电流采样方法第二实施例的流程示意图；
[0037]图4为本专利技术电机电流采样方法第三实施例的流程示意图；
[0038]图5为本专利技术输出波形修正过程一实施例的示意图；
[0039]图6为本专利技术电机电流采样方法第三实施例的流程示意图；
[0040]图7为本专利技术输出波形修正过程一实施例的示意图；
[0041]图8为本专利技术输出波形修正过程一实施例的示意图；
[0042]图9为本专利技术电机电流采样装置一实施例的结构示意图。
[0043]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0044]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0045]参照图1，图1为本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的电机电流采样设备结构示意图。
[0046]如图1所示，该电机电流采样设备可以包括：处理器1001，例如中央处理器(Central Processing Unit，CPU)，通信总线1002、用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口，对于用户接口1003的有线接口在本专利技术中可为USB接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如无线保真(Wireless
‑
Fidelity，Wi
‑
Fi)接口)。存储器1005可以是高速的随机存取存储器(Rando本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电机电流采样方法，其特征在于，所述电机电流采样方法包括以下步骤：确定空间矢量脉宽调制器的输出波形在预设采样周期内的非零矢量导通时间；在所述非零矢量导通时间小于预设采样时间时，对所述输出波形进行修正，获得修正波形；其中，所述修正波形在所述预设采样周期内的非零矢量导通时间大于或等于所述预设采样时间；以及，基于所述修正波形对电机进行电流采样。2.如权利要求1所述的电机电流采样方法，其特征在于，所述在所述非零矢量导通时间小于预设采样时间时，对所述输出波形进行修正，获得修正波形，包括：在所述非零矢量导通时间小于预设采样时间时，确定修正量和补偿量，所述修正量与所述补偿量互为相反数；根据所述修正量对所述输出波形在所述预设采样周期内的占空比进行调整；以及，根据所述补偿量对所述输出波形在非预设采样周期内的占空比进行调整，以获得修正波形。3.如权利要求2所述的电机电流采样方法，其特征在于，所述非零矢量导通时间包括第一导通时间和第二导通时间，所述输出波形包括占空比依次减小的第一PWM波、第二PWM波和第三PWM波，所述第一导通时间为所述第一PWM波与所述第二PWM波相邻上升沿之间的时间差，所述第二导通时间为所述第二PWM波与所述第三PWM波相邻上升沿之间的时间差；所述在所述非零矢量导通时间小于预设采样时间时，确定修正量和补偿量，包括：在所述第一导通时间和所述第二导通时间均小于预设采样时间时，将所述第一导通时间与所述预设采样时间之间的差值作为第一修正量；将所述第二导通时间与所述预设采样时间之间的差值作为第二修正量；以及，根据所述第一修正量和所述第二修正量确定对应的补偿量。4.如权利要求3所述的电机电流采样方法，其特征在于，所述根据所述修正量对所述输出波形在所述预设采样周期内的占空比进行调整，包括：根据所述第一修正量对所述第一PWM波在预设采样周期内占空比进行放大；以及，根据所述第二修正量对所述第三PWM波在预...

【专利技术属性】
技术研发人员：张凯，
申请(专利权)人：美的威灵电机技术上海有限公司，
类型：发明
国别省市：