本公开提供了一种存储装置的测试方法、测试装置及系统，其中，测试方法包括：接收测试指令，测试指令用于表征接入至测试平台的待测存储装置的型号；根据测试指令，从预存的多个测试方法中选择与待测存储装置的型号对应的测试方法作为目标测试方法；执行目标测试方法对待测存储装置进行测试。采用本公开的存储装置的测试方法及测试装置，能够在一个测试平台上接入了多种不同型号的待测存储装置进行测试，提高了测试装置的通用性。提高了测试装置的通用性。提高了测试装置的通用性。
【技术实现步骤摘要】
存储装置的测试方法、测试装置及系统
[0001]本公开涉及半导体
，尤其涉及一种存储装置的测试方法、测试装置及系统。
技术介绍
[0002]DDR(Double Data Rate)双倍速率同步动态随机存储器，随着科学技术的发展，DDR芯片种类日益繁多，而不同种类的DDR芯片对DDR芯片测试会有不同的测试需求。在DDR芯片的设计、生产过程中，需要使用测试平台来对待测试DDR芯片的功能和性能进行测试。然而，现有技术中，一种测试设备只能对一种DDR芯片进行测试，为了满足不同种类的DDR芯片的测试需求，需要使用不同的测试设备测试不同的DDR芯片，芯片测试效率较低，通用性较差。
技术实现思路
[0003]以下是对本公开详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0004]本公开提供了一种存储装置的测试方法、测试装置及系统。
[0005]根据本公开实施例的第一方面，提供了一种存储装置的测试方法，所述测试方法包括：
[0006]接收测试指令，所述测试指令用于表征接入至测试平台的待测存储装置的型号；
[0007]根据所述测试指令，从预存的多个测试方法中选择与所述待测存储装置的型号对应的测试方法作为目标测试方法；
[0008]执行所述目标测试方法对所述待测存储装置进行测试。
[0009]根据本公开的一些实施例，所述根据所述测试指令，从预存的多个测试方法中选择与所述待测存储装置的型号对应的测试方法作为目标测试方法，包括：
[0010]根据所述测试指令，确定所述待测存储装置的型号；
[0011]获取配置信息，所述配置信息用于表征存储装置的型号与测试方法的对应关系；
[0012]根据所述待测存储装置的型号和所述配置信息，确定所述目标测试方法。
[0013]根据本公开的一些实施例，所述执行所述目标测试方法对所述待测存储装置进行测试，包括：
[0014]发送所述目标测试方法包含的输入测试参数至所述待测存储装置；
[0015]读取所述待测存储装置接收到的实际测试参数；
[0016]当所述输入测试参数与所述实际测试参数不同时，确定存在测试错误。
[0017]根据本公开的一些实施例，若存在测试错误，所述方法还包括：
[0018]存储错误地址数据；和/或，
[0019]存储所述实际测试参数；和/或，
[0020]存储所述输入测试参数。
[0021]根据本公开的一些实施例，所述输入测试参数包括输入控制信号和输入数据信号。
[0022]根据本公开实施例的第二方面，提供了一种存储装置的测试装置，所述测试装置包括：
[0023]接收模块，用于接收测试指令，所述测试指令用于表征接入至测试平台的待测存储装置的型号；
[0024]调度模块，用于根据所述测试指令，从预存的多个测试方法中选择与所述待测存储装置的型号对应的测试方法作为目标测试方法；
[0025]执行模块，用于执行所述目标测试方法对所述待测存储装置进行测试。
[0026]根据本公开的一些实施例，所述调度模块用于：
[0027]根据所述测试指令，确定所述待测存储装置的型号；
[0028]获取配置信息，所述配置信息用于表征存储装置的型号与测试方法的对应关系；
[0029]根据所述待测存储装置的型号和所述配置信息，确定所述目标测试方法。
[0030]根据本公开的一些实施例，所述测试装置还包括：
[0031]多路选择器，用于发送所述目标测试方法包含的输入测试参数至内存控制器；
[0032]内存控制器，用于发送所述目标测试方法包含的输入测试参数至所述待测存储装置；
[0033]所述内存控制器，还用于读取所述待测存储装置接收到的实际测试参数；
[0034]所述内存控制器，还用于当所述输入测试参数与所述实际测试参数不同时，确定存在测试错误。
[0035]根据本公开的一些实施例，所述测试装置还包括：
[0036]错误地址存储模块，用于存储错误地址数据；和/或，
[0037]实际数据存储模块，用于存储实际测试数据；和/或，
[0038]输入测试参数存储模块，用于存储所述输入测试参数。
[0039]根据本公开实施例的第三方面，提供一种存储装置的测试系统，所述测试系统包括测试平台，所述测试平台上设置有至少两个测试座，所述测试座用于安装待测存储装置，所述测试系统还包括如第二方面所述的存储装置的测试装置，并采用如第一方面所述的存储装置的测试方法进行测试。
[0040]根据本公开的一些实施例，所述测试平台包括第一测试座和第二测试座，所述第一测试座用于安装78ball的DDR4芯片，所述第二测试座用于安装96ball的DDR4芯片。
[0041]根据本公开的一些实施例，所述测试系统还包括转换装置，所述转换装置与所述测试装置电连接，所述转换装置用于将所述测试装置的串口接口转换为USB接口。
[0042]根据本公开的一些实施例，所述USB接口包括Type
‑
C接口。
[0043]根据本公开的一些实施例，所述测试系统还包括终端设备，所述终端设备通过所述转换装置与所述测试装置电连接，所述终端设备用于输入测试指令。
[0044]本公开实施例所提供的存储装置的测试方法、测试装置及系统中，可以将多个不同型号的待测存储装置同时安装到测试平台上，以通过更换不同的测试方法选择与所述待测存储装置的型号对应的目标测试方法来分别对多个待测存储装置进行测试，一方面，实现了在一个测试平台上接入了多种不同型号的待测存储装置并进行测试，提高了测试效
率；另一方面，测试存储装置的测试方法不占用待测存储装置的内存空间，从而能够覆盖待测存储装置的整个地址空间进行测试，测试结果更全面，可靠性更高。
[0045]在阅读并理解了附图和详细描述后，可以明白其他方面。
附图说明
[0046]并入到说明书中并且构成说明书的一部分的附图示出了本公开的实施例，并且与描述一起用于解释本公开实施例的原理。在这些附图中，类似的附图标记用于表示类似的要素。下面描述中的附图是本公开的一些实施例，而不是全部实施例。对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，可以根据这些附图获得其他的附图。
[0047]图1是根据一示例性实施例示出的存储装置的测试方法的流程图；
[0048]图2是根据一示例性实施例示出的存储装置的测试方法中步骤S102的流程图；
[0049]图3是根据一示例性实施例示出的存储装置的测试方法的流程图；
[0050]图4是根据一示例性实施例示出的存储装置的测试装置的框图；
[0051]图5是根据一示例性实施例示出的存储装置的测试系统的示意图。
具体实施方式
[0052]为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例中的附本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种存储装置的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：接收测试指令，所述测试指令用于表征接入至测试平台的待测存储装置的型号；根据所述测试指令，从预存的多个测试方法中选择与所述待测存储装置的型号对应的测试方法作为目标测试方法；执行所述目标测试方法对所述待测存储装置进行测试。2.根据权利要求1所述的存储装置的测试方法，其特征在于，所述根据所述测试指令，从预存的多个测试方法中选择与所述待测存储装置的型号对应的测试方法作为目标测试方法，包括：根据所述测试指令，确定所述待测存储装置的型号；获取配置信息，所述配置信息用于表征存储装置的型号与测试方法的对应关系；根据所述待测存储装置的型号和所述配置信息，确定所述目标测试方法。3.根据权利要求1所述的存储装置的测试方法，其特征在于，所述执行所述目标测试方法对所述待测存储装置进行测试，包括：发送所述目标测试方法包含的输入测试参数至所述待测存储装置；读取所述待测存储装置接收到的实际测试参数；当所述输入测试参数与所述实际测试参数不同时，确定存在测试错误。4.根据权利要求3所述的存储装置的测试方法，其特征在于，若存在测试错误，所述测试方法还包括：存储错误地址数据；和/或，存储所述实际测试参数；和/或，存储所述输入测试参数。5.根据权利要求3所述的存储装置的测试方法，其特征在于，所述输入测试参数包括输入控制信号和输入数据信号。6.一种存储装置的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：接收模块，用于接收测试指令，所述测试指令用于表征接入至测试平台的待测存储装置的型号；调度模块，用于根据所述测试指令，从预存的多个测试方法中选择与所述待测存储装置的型号对应的测试方法作为目标测试方法；执行模块，用于执行所述目标测试方法对所述待测存储装置进行测试。7.根据权利要求6所述的存储装置的测试装置，其特征在于，所述调度模块用于：根据所述测试指令，确定所述待测存储装置的型号；获取配置信息，所述配置信息用于表征存储装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈鑫旺，马茂松，刘建斌，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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