本发明专利技术公开了基于多光照条件的类镜面工件表面缺陷检测方法及装置。所述方法包括：基于白光对第一位置进行检测以获得第一图像，同时基于余弦条纹光对第一位置进行检测以获得第二图像。基于第一检测模型对第一图像进行处理以识别非形变缺陷，并获取其类型、坐标及尺寸；同时基于相位偏折算法对第二图像进行处理以确认是否存在形变缺陷。若存在形变缺陷，则确认缺陷区域，并触发二值条纹光对所述缺陷区域进行扩区检测以获得第三图像。基于第二检测模型对第三图像进行处理以识别形变缺陷，并获取其类型、坐标及尺寸。重复上述过程直至完成整个类镜面工件的表面缺陷检测。本发明专利技术可同时解决在类镜面工件表面检测时存在的漏检及误检。检。检。
【技术实现步骤摘要】
基于多光照条件的类镜面工件表面缺陷检测方法及装置
[0001]本专利技术涉及缺陷检测
，具体涉及基于多光照条件的类镜面工件表面缺陷检测方法及装置。
技术介绍
[0002]类镜面工件指具有高反射性表面的工件，如汽车的漆面车身、车辆零部件、陶瓷产品、芯片的硅圆及显示面板的基板等。
[0003]现有的工业质检中，对类镜面工件的表面缺陷检测沿用了对普通工件进行表面缺陷检测的方法。即主要通过如下过程实现：首先，获取工件表面的缺陷图像；其次，使用机器算法对所述缺陷图像进行检测识别以得到工件的表面缺陷情况。但受类镜面工件表面的高反射性影响，该类方法在实际使用时并不能在类镜面工件上有效适用。
[0004]具体的，在缺陷图像获取中，为了提高图像清晰度及缺陷可识别度，一般需要人工光源对工件表面进行辅助照射。但类镜面工件的表面缺陷种类繁多，主要包括凹陷、凸起、刮擦、灰尘或油污等；同时，对于任一类型的缺陷，又按具体尺寸包括超大缺陷、大缺陷、一般缺陷、小缺陷及微小缺陷。而受类镜面工件表面的高反射性影响，各种类型的缺陷及各种尺寸的缺陷对不同光源的敏感程度不同，因此常导致工件表面实际存在的所有缺陷不能均被准确检出，即常存在漏检率高、误检率高的问题。
技术实现思路
[0005]本专利技术目的在于提供一种基于多光照条件的类镜面工件表面缺陷检测方法及装置，用于解决现有类镜面工件的表面缺陷检测中漏检率及误检率均较高的技术问题。
[0006]为达成上述目的，本专利技术提出如下技术方案：
[0007]基于多光照条件的类镜面工件表面缺陷检测方法，包括：
[0008]基于白光对第一位置进行检测以获得第一图像，同时基于余弦条纹光对所述第一位置进行检测以获得第二图像；
[0009]基于第一检测模型对所述第一图像进行处理以识别非形变缺陷，并获取所述非形变缺陷的类型、坐标及尺寸；同时基于相位偏折算法对所述第二图像进行处理以确认是否存在形变缺陷；其中，所述第一检测模型仅可识别非形变缺陷；
[0010]若存在形变缺陷，则确认所述形变缺陷的缺陷区域，并触发二值条纹光对所述缺陷区域进行扩区检测以获得第三图像；其中，所述扩区检测包括：先按预设比例对所述缺陷区域的范围进行扩大以确定扩增区域，再对所述扩增区域进行检测；
[0011]基于第二检测模型对所述第三图像进行处理以识别形变缺陷，并获取所述形变缺陷的类型、坐标及尺寸；其中，所述第二检测模型仅可识别形变缺陷；
[0012]重复上述过程直至完成整个待检测类镜面工件的表面缺陷检测。
[0013]进一步的，所述基于白光对第一位置进行检测以获得第一图像，同时基于余弦条纹光对所述第一位置进行检测以获得第二图像之前，包括：
[0014]获取自当前时间前溯一预设时间段内类镜面工件的生产数量及生产质量；
[0015]基于所述生产数量及生产质量确定全检的频率及抽检的频率；其中，所述全检用于对类镜面工件表面的任一位置均进行检测；所述抽检用于仅对类镜面工件表面的部分位置进行检测。
[0016]进一步的，所述基于白光对第一位置进行检测以获得第一图像，同时基于余弦条纹光对所述第一位置进行检测以获得第二图像之前，包括：
[0017]基于类镜面工件的表面结构设定检测路径及检测点位；
[0018]基于类镜面工件的表面结构确定任一所述检测点位的检测次数，及与任一次检测相应的检测设置；其中，所述表面结构中易损区域的检测次数大于其他区域的检测次数，所述检测设置包括获取图像时的光源角度、光源强度及拍摄角度；其中，对于同一所述检测点位的不同次检测中，所述检测设置不完全相同。
[0019]进一步的，所述基于第二检测模型对所述第三图像进行处理以识别形变缺陷，并获取所述形变缺陷的类型、坐标及尺寸之后，包括：
[0020]若所述形变缺陷的尺寸大于预设尺寸，发送第一预警信息至检测前端；其中，所述第一预警信息包括：前述超规的形变缺陷的检出时间、类型、坐标及尺寸。
[0021]进一步的，所述重复上述过程直至完成整个待检测类镜面工件的表面缺陷检测之后，还包括：
[0022]存储所述类镜面工件的检测结果以生成检出表；
[0023]当所述检出表中与任一类型形变缺陷相应的数目超出预设的数目阈值时，则发送第二预警信息至检测前端；其中，所述第二预警信息包括：前述超规的形变缺陷的类型、总数及集中分布区域。
[0024]基于多光照条件的类镜面工件表面缺陷检测装置，包括：
[0025]第一检测模块，用于基于白光对第一位置进行检测以获得第一图像，同时基于余弦条纹光对所述第一位置进行检测以获得第二图像；
[0026]第一识别模块，用于基于第一检测模型对所述第一图像进行处理以识别非形变缺陷，并获取所述非形变缺陷的类型、坐标及尺寸；同时基于相位偏折算法对所述第二图像进行处理以确认是否存在形变缺陷；
[0027]第二检测模块，用于在存在形变缺陷时，确认所述形变缺陷的缺陷区域，并触发二值条纹光对所述缺陷区域进行扩区检测以获得第三图像；其中，所述扩区检测包括：先按预设比例对所述缺陷区域的范围进行扩大以确定扩增区域，再对所述扩增区域进行检测；
[0028]第二识别模块，用于基于第二检测模型对所述第三图像进行处理以识别形变缺陷，并获取所述形变缺陷的类型、坐标及尺寸；
[0029]循环模块，用于重复调用上述模块直至完成整个待检测类镜面工件的表面缺陷检测。
[0030]进一步的，包括：
[0031]第一获取模块，用于获取自当前时间前溯一预设时间段内类镜面工件的生产数量及生产质量；
[0032]第一设定模块，用于基于所述生产数量及生产质量确定全检的频率及抽检的频率；其中，所述全检用于对类镜面工件表面的任一位置均进行检测；所述抽检用于仅对类镜
面工件表面的部分位置进行检测。
[0033]进一步的，包括：
[0034]第二设定模块，用于基于类镜面工件的表面结构设定检测路径及检测点位；
[0035]第三设定模块，用于基于类镜面工件的表面结构确定任一所述检测点位的检测次数，及与任一次检测相应的检测设置；其中，所述表面结构中易损区域的检测次数大于其他区域的检测次数，所述检测设置包括获取图像时的光源角度、光源强度及拍摄角度；其中，对于同一所述检测点位的不同次检测中，所述检测设置不完全相同。
[0036]进一步的，包括：
[0037]第一预警模块，用于在所述形变缺陷的尺寸大于预设尺寸时，发送第一预警信息至检测前端；其中，所述第一预警信息包括：前述超规的形变缺陷的检出时间、类型、坐标及尺寸。
[0038]进一步的，包括：
[0039]第一生成模块，用于存储所述类镜面工件的检测结果以生成检出表；
[0040]第二预警模块，当所述检出表中与任一类型形变缺陷相应的数目超出预设的数目阈值时，则发送第二预警信息至检测前端；其中，所述第二预警信息包括：前述超规的形变缺陷的类型、本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.基于多光照条件的类镜面工件表面缺陷检测方法，其特征在于，包括：基于白光对第一位置进行检测以获得第一图像，同时基于余弦条纹光对所述第一位置进行检测以获得第二图像；基于第一检测模型对所述第一图像进行处理以识别非形变缺陷，并获取所述非形变缺陷的类型、坐标及尺寸；同时基于相位偏折算法对所述第二图像进行处理以确认是否存在形变缺陷；其中，所述第一检测模型仅可识别非形变缺陷；若存在形变缺陷，则确认所述形变缺陷的缺陷区域，并触发二值条纹光对所述缺陷区域进行扩区检测以获得第三图像；其中，所述扩区检测包括：先按预设比例对所述缺陷区域的范围进行扩大以确定扩增区域，再对所述扩增区域进行检测；基于第二检测模型对所述第三图像进行处理以识别形变缺陷，并获取所述形变缺陷的类型、坐标及尺寸；其中，所述第二检测模型仅可识别形变缺陷；重复上述过程直至完成整个待检测类镜面工件的表面缺陷检测。2.根据权利要求1所述的基于多光照条件的类镜面工件表面缺陷检测方法，其特征在于，所述基于白光对第一位置进行检测以获得第一图像，同时基于余弦条纹光对所述第一位置进行检测以获得第二图像之前，包括：获取自当前时间前溯一预设时间段内类镜面工件的生产数量及生产质量；基于所述生产数量及生产质量确定全检的频率及抽检的频率；其中，所述全检用于对类镜面工件表面的任一位置均进行检测；所述抽检用于仅对类镜面工件表面的部分位置进行检测。3.根据权利要求1所述的基于多光照条件的类镜面工件表面缺陷检测方法，其特征在于，所述基于白光对第一位置进行检测以获得第一图像，同时基于余弦条纹光对所述第一位置进行检测以获得第二图像之前，包括：基于类镜面工件的表面结构设定检测路径及检测点位；基于类镜面工件的表面结构确定任一所述检测点位的检测次数，及与任一次检测相应的检测设置；其中，所述表面结构中易损区域的检测次数大于其他区域的检测次数，所述检测设置包括获取图像时的光源角度、光源强度及拍摄角度；其中，对于同一所述检测点位的不同次检测中，所述检测设置不完全相同。4.根据权利要求1所述的基于多光照条件的类镜面工件表面缺陷检测方法，其特征在于，所述基于第二检测模型对所述第三图像进行处理以识别形变缺陷，并获取所述形变缺陷的类型、坐标及尺寸之后，包括：若所述形变缺陷的尺寸大于预设尺寸，发送第一预警信息至检测前端；其中，所述第一预警信息包括：前述超规的形变缺陷的检出时间、类型、坐标及尺寸。5.根据权利要求1所述的基于多光照条件的类镜面工件表面缺陷检测方法，其特征在于，所述重复上述过程直至完成整个待检测类镜面工件的表面缺陷检测之后，还包括：存储所述类镜面工件的检测结果以生成检出表；当所述检出表中与任一类型形变缺陷相应的数目超出预设的数目阈值...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘鹏，张真，高秀斌，包念原，杜毅甫，梁彦龙，
申请(专利权)人：南京云创大数据科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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