一种针对电子数控感应检测的高压检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种针对电子数控感应检测的高压检测设备，包括第一外壳和调节装置，所述第一外壳侧壁上设置有把手，所述第一外壳上设置有连接件，所述连接件的右端设置有调节装置，所述调节装置的上端设置有旋转装置，所述旋转装置的中部下端设置有转轴，所述调节装置包括第一连接块、伸缩装置、第一固定柱、连接孔、第二连接块和第二固定柱，所述第一连接块的上端设置有第一固定柱，所述第一连接块的右端设置有第二连接块，所述第一连接块和第二连接块的连接处设置有连接孔，所述第一连接块和第二连接块的末端均设置有伸缩装置，这样的结构设置，能够有效的解决原有检测设备装置的适配性和不利于操作的问题。配性和不利于操作的问题。配性和不利于操作的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种针对电子数控感应检测的高压检测设备


[0001]本技术属于高压检测设备相关
，具体涉及一种针对电子数控感应检测的高压检测设备。

技术介绍

[0002]电子数控感应设备在运行时间较久之后，为了提高设备的使用寿命和降低维修成本，需要对电子数控感应设备定期进行检测，通过高压检测设备对电子数控感应设备进行相关的检测，及时的发现电子数控感应设备可能存在的问题，并及时对设备进行保养维护。
[0003]现有的针对电子数控感应检测的高压检测设备技术存在以下问题：1、现有的检测设备结构固定，对于市面上不同型号的电子数控感应设备安装连接时适配性不是很好，2、现有的检测设备在打开之后，需要专门对打开的检测设备进行支撑，不利于操作。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种针对电子数控感应检测的高压检测设备，以解决上述
技术介绍
中提出的适配性和不利于操作的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种针对电子数控感应检测的高压检测设备，包括第一外壳和调节装置，所述第一外壳侧壁上设置有把手，所述第一外壳上设置有连接件，所述连接件的右端设置有调节装置，所述调节装置的上端设置有旋转装置，所述旋转装置的中部下端设置有转轴，所述旋转装置的下方且位于第一外壳的右端设置有连接座，所述连接座内设置有轴座，所述轴座的右端设置有第二外壳，所述第二外壳上设置有固定座，所述固定座上设置有吸盘，所述调节装置包括第一连接块、伸缩装置、第一固定柱、连接孔、第二连接块和第二固定柱，所述第一连接块的上端设置有第一固定柱，所述第一连接块的右端设置有第二连接块，所述第一连接块和第二连接块的连接处设置有连接孔，所述第一连接块和第二连接块的末端均设置有伸缩装置。
[0006]优选的，所述伸缩装置包括滑块、滑轨和限位卡块，所述滑块上设置有滑轨，所述滑轨的左侧且位于滑块上设置有限位卡块，且限位卡块通过套接的方式与滑块连接。
[0007]优选的，所述旋转装置包括第一支架、第一套接孔、第一轴孔、第二轴孔、第二支架和第二套接孔，所述第一支架的左端设置有第一套接孔，所述第一支架的右端设置有第一轴孔，所述第一轴孔的上方且位于第一支架的上端设置有第二支架，所述第二支架的左端且位于第一轴孔的上方设置有第二轴孔，所述第二支架的右端设置有第二套接孔。
[0008]优选的，所述第一连接块和第二连接块均为内部中空的矩形金属块结构。
[0009]优选的，所述滑块通过套接的方式分别于第一连接块和第二连接块活动连接。
[0010]优选的，所述第一固定柱和第二固定柱均为金属材质的圆柱结构，且第二固定柱的高度是第一固定柱的两倍。
[0011]优选的，所述转轴依次贯穿第二轴孔、第一轴孔、连接座和轴座。
[0012]优选的，所述连接件设置有四个，四个所述连接件通过焊接的方式分别于与第一
外壳和第二外壳固定连接，所述连接件上设置有矩形通槽结构。
[0013]与现有技术相比，本技术提供了一种针对电子数控感应检测的高压检测设备，具备以下有益效果：
[0014]本技术通过调节装置中设置的第一连接块、伸缩装置、第一固定柱、连接孔、第二连接块、第二固定柱、滑块、滑轨、限位卡块以及旋转装置中设置的第一支架、第一套接孔、第一轴孔、第二轴孔、第二支架和二套接孔结构配合固定座和吸盘结构，实现检测设备对不同型号的电子数控设备进行检测时安装连接的适配性问题，通过旋转装置对展开后的检测设备进行角度固定调节，通过调节装置对旋转装置进行固定支撑，提高检测设备的适配性和通用性，解决原有检测设备中对于不同型号的电子数控结构的适配性问题和检测设备打开之后的固定问题。
附图说明
[0015]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制，在附图中：
[0016]图1为本技术提出的一种针对电子数控感应检测的高压检测设备整体打开结构示意图；
[0017]图2为本技术提出的一种针对电子数控感应检测的高压检测设备部分结构示意图；
[0018]图3为本技术提出的一种针对电子数控感应检测的高压检测设备旋转装置结构示意图；
[0019]图4为本技术提出的一种针对电子数控感应检测的高压检测设备调节装置结构示意图；
[0020]图5为本技术提出的一种针对电子数控感应检测的高压检测设备伸缩装置结构示意图；
[0021]图中：1、第一外壳；2、连接件；3、调节装置；4、旋转装置；5、第二外壳；6、固定座；7、吸盘；8、轴座；9、转轴；10、连接座；11、把手；31、第一连接块；32、伸缩装置；33、第一固定柱；34、连接孔；35、第二连接块；36、第二固定柱；41、第一支架；42、第一套接孔；43、第一轴孔；44、第二轴孔；45、第二支架；46、二套接孔；321、滑块；322、滑轨；323、限位卡块。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]实施例一
[0024]请参阅图1，图2，图4，本技术提供一种技术方案：一种针对电子数控感应检测的高压检测设备，包括第一外壳1和调节装置3，第一外壳1侧壁上设置有把手11，第一外壳1上设置有连接件2，连接件2的右端设置有调节装置3，调节装置3的上端设置有旋转装置4，旋转装置4的中部下端设置有转轴9，旋转装置4的下方且位于第一外壳1的右端设置有连接
座10，连接座10内设置有轴座8，轴座8的右端设置有第二外壳5，第二外壳5上设置有固定座6，固定座6上设置有吸盘7，调节装置3包括第一连接块31、伸缩装置32、第一固定柱33、连接孔34、第二连接块35和第二固定柱36，第一连接块31的上端设置有第一固定柱33，第一连接块31的右端设置有第二连接块35，第一连接块31和第二连接块35的连接处设置有连接孔34，第一连接块31和第二连接块35的末端均设置有伸缩装置32。
[0025]实施例二
[0026]请参阅图4，图5，本技术提供一种技术方案：一种针对电子数控感应检测的高压检测设备，伸缩装置32包括滑块321、滑轨322和限位卡块323，滑块321上设置有滑轨322，滑轨322的左侧且位于滑块321上设置有限位卡块323，且限位卡块323通过套接的方式与滑块321连接，通过限位卡块323在滑轨322上位移，控制滑动之后的滑块321的固定。
[0027]实施例三
[0028]请参阅图1，图2，图3，本技术提供一种技术方案：一种针对电子数控感应检测的高压检测设备，旋转装置4包括第一支架41、第一套本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种针对电子数控感应检测的高压检测设备，包括第一外壳(1)和调节装置(3)，其特征在于：所述第一外壳(1)侧壁上设置有把手(11)，所述第一外壳(1)上设置有连接件(2)，所述连接件(2)的右端设置有调节装置(3)，所述调节装置(3)的上端设置有旋转装置(4)，所述旋转装置(4)的中部下端设置有转轴(9)，所述旋转装置(4)的下方且位于第一外壳(1)的右端设置有连接座(10)，所述连接座(10)内设置有轴座(8)，所述轴座(8)的右端设置有第二外壳(5)，所述第二外壳(5)上设置有固定座(6)，所述固定座(6)上设置有吸盘(7)，所述调节装置(3)包括第一连接块(31)、伸缩装置(32)、第一固定柱(33)、连接孔(34)、第二连接块(35)和第二固定柱(36)，所述第一连接块(31)的上端设置有第一固定柱(33)，所述第一连接块(31)的右端设置有第二连接块(35)，所述第一连接块(31)和第二连接块(35)的连接处设置有连接孔(34)，所述第一连接块(31)和第二连接块(35)的末端均设置有伸缩装置(32)。2.根据权利要求1所述的一种针对电子数控感应检测的高压检测设备，其特征在于：所述伸缩装置(32)包括滑块(321)、滑轨(322)和限位卡块(323)，所述滑块(321)上设置有滑轨(322)，所述滑轨(322)的左侧且位于滑块(321)上设置有限位卡块(323)，且限位卡块(323)通过套接的方式与滑块(321)连接。3.根据权利要求1所述的一种针对电子数控感应检测的高压检测设备，其特征在于：所述旋转装...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘林波，鄂玟，
申请(专利权)人：武汉星捷仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：