一种红外探测器盲点检测方法技术

本发明专利技术属于红外探测器技术领域，公开了一种红外探测器盲点检测方法。所述检测方法利用黑体检测，判断暗元、亮元、恒定坏元，判断存在坏元后，将坏元合并并进行标记以获得像元矩阵；遍历像元矩阵，将其与预设的卷积模板进行卷积运算以判定是否为坏块。本发明专利技术克服了现有盲元自动检测技术的局限性，可以快速地判断出各类型盲元的存在，尤其是对于多点连通的坏块，能够准确地判断出其位置，计算简洁易于软件实现，降低了检测时间和成本。降低了检测时间和成本。降低了检测时间和成本。

【技术实现步骤摘要】
一种红外探测器盲点检测方法


[0001]本专利技术属于红外探测器
，特别涉及一种红外探测器盲点检测方法。

技术介绍

[0002]随着红外成像技术的不断发展和红外焦平面阵列图像传感器的日益成熟，其被广泛应用于军事、工业和商业等领域的多种热成像系统中。由于制造技术、制造工艺和原材料的原因，导致红外探测器面阵不可避免的都会存在一定数量的坏元，其表现为：当入射辐射发生改变时，某些探测元的响应始终过高或过低，导致图像上出现影响视觉效果的亮点或暗点，即为盲点（也称为盲元）。盲元的存在降低了图像的质量，因此对盲元进行检测很有必要。人工检测效率低、易漏检。然而现有的自动检测方法中，当单点盲元或多点连续盲元数量超过一定数量时，其算法设计过于复杂；并且一般现有的自动检测方法能检测出盲元，但是不能区分是否为连续盲元。

技术实现思路

[0003]为了解决以上问题，专利技术提供一种红外探测器盲点检测方法，能够迅速判断出坏块，提高了盲点检测的准确率，具有效率高、易于工程实现的特点。具体技术方案如下：一种红外探测器盲点检测方法，包括以下步骤：S1.黑体温度稳定后，通过连续获取多帧红外探测器面阵数据得到面元矩阵，将每个面元数据与面元矩阵的平均值进行比较，判断是否存在疑似暗元数据或疑似亮元数据；S2.改变黑体温度至预定温度，重复步骤S1，对疑似暗元数据、疑似亮元数据进行多次确认，判断对应像元是否为暗元或亮元；S3.多次改变黑体温度，获取多个不同黑体温度下的红外探测器所对应的多个面元矩阵，将每个像元在不同面元矩阵中的对应面元数据进行比较，判定是否为恒定坏元；S4.判断存在坏元后，将坏元合并并进行标记以获得像元矩阵；遍历像元矩阵，将其与预设的卷积模板进行卷积运算以判定是否为坏块。
[0004]进一步地，所述步骤S1中，对红外探测器每个像元的多帧数据求取平均值以获取面元矩阵。
[0005]进一步地，所述步骤S1中，若面元数据小于面元矩阵的平均值，且其二者差值的绝对值大于预设的暗元阈值，则判定为疑似暗元数据；若面元数据大于面元矩阵的平均值，且其二者差值的绝对值大于预设的亮元阈值，则判定为疑似亮元数据。
[0006]进一步地，所述步骤S2中，对疑似暗元数据、疑似亮元数据进行二次确认，若两次判断均为疑似暗元数据或均为疑似亮元数据，则相应判断对应像元为暗元或亮元。
[0007]进一步地，所述步骤S2、步骤S3中，所述黑体温度的改变为升序或降序顺序。
[0008]进一步地，所述步骤S3中，若像元在不同面元矩阵中的对应面元数据之间的差值在预设的恒元阈值范围内，则判定为恒定坏元。
[0009]进一步地，所述步骤S4中，若判断为暗元、亮元、恒定坏元的一种或多种，则判断存
在坏元；将坏元合并并进行标记，其中坏元标记为1，非坏元标记为0。
[0010]进一步地，所述步骤S4中，所述卷积模板为（2n+1）*（2n+1）的阵列，通过将卷积结果与预设的卷积阈值进行比较，判断以当前像元为中心的（2n+1）*（2n+1）的阵列是否为坏块。
[0011]进一步地，所述步骤S4中，所述卷积模板为3*3的阵列；从像元矩阵的第二行第二列开始遍历像元矩阵，若卷积结果大于3，则判断以当前像元为中心的3*3的阵列为坏块。
[0012]与现有技术相比，上述技术方案之一或多个技术方案能达到至少以下有益效果之一：本专利技术克服了现有自动盲元检测技术的局限性，可以快速地判断出各类型盲元的存在，尤其是对于多点连通的坏块，能够准确地判断出其位置，计算简洁易于软件实现，降低了检测时间和成本。
附图说明
[0013]为了更清楚地说明专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0014]图1为实施例1红外探测器盲点检测方法流程示意图。
[0015]图2为实施例1红外探测器暗元检测方法流程示意图。
[0016]图3为实施例1红外探测器图像示意图。
[0017]图4为实施例1红外探测器图像盲元标记示意图。
具体实施方式
[0018]下面将结合专利技术实施例中的附图，对专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于专利技术保护的范围。
[0019]实施例1如图1所示，本实施例提供一种红外探测器盲点检测方法。方法利用黑体检测，判断暗元、亮元、恒定坏元，判断存在坏元后，将坏元合并并进行标记以获得像元矩阵；遍历像元矩阵，将其与预设的卷积模板进行卷积运算以判定是否为坏块。具体检测方法如下所述。
[0020]S1.将黑体放置于红外探测器的成像清晰处，并使黑体充满红外探测器的成像面。首先对红外探测器进行暗元、亮元的坏元判定。
[0021]S11.疑似暗元数据的判定。
[0022]如图2所示为暗元的检测方法。
[0023]设置暗元判断环境，调节黑体温度使其温度稳定。连续获取多帧红外探测器面阵数据，并对多帧数据的每个点求取其平均值形成一个新的面元矩阵，再对此面元矩阵求平均值。
[0024]扫描面元矩阵，将每个面元数据与面元矩阵的平均值进行比较；若面元数据小于
面元矩阵的平均值，且其二者差值的绝对值大于预设的暗元阈值，则判定为疑似暗元数据。
[0025]S12.疑似亮元数据的判定。
[0026]设置亮元判断环境，调节黑体温度到50度使其温度稳定，连续获取多帧红外探测器面阵数据，并对多帧数据的每个点求取其平均值形成一个新的面元矩阵，再对此面元矩阵求平均值。
[0027]扫描面元矩阵，将每个面元数据与面元矩阵的平均值进行比较；若面元数据大于面元矩阵的平均值，且其二者差值的绝对值大于预设的亮元阈值，则判定为疑似亮元数据。
[0028]S21.暗元的判定。
[0029]关闭暗元判断环境，适当调节黑体温度，温度可以比开启暗元判断环境时的高10度，重复步骤S11对疑似暗元数据二次确认。两次判断均为疑似暗元数据，则判断对应像元为暗元。
[0030]S22.亮元的判定。
[0031]调节黑体温度到60度，重复步骤S11对疑似亮元数据二次确认。两次判断均为疑似亮元数据，则判断对应像元为暗元。
[0032]S3.恒定坏元的判定。
[0033]多次改变黑体温度，获取多个不同黑体温度下的红外探测器所对应的多个面元矩阵，将每个像元在不同面元矩阵中的对应面元数据进行比较，判定是否为恒定坏元；若像元在不同面元矩阵中的对应面元数据之间的差值在恒元阈值范围内，则判定为恒定坏元。
[0034]S4.多点连通坏块判定。
[0035]S41.判断存在坏元后，再进行连续坏元判定；其中，若判断存在暗元、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种红外探测器盲点检测方法，其特征在于，所述方法包括步骤：S1.黑体温度稳定后，通过连续获取多帧红外探测器面阵数据得到面元矩阵，将每个面元数据与面元矩阵的平均值进行比较，判断是否存在疑似暗元数据或疑似亮元数据；S2.改变黑体温度至预定温度，重复步骤S1，对疑似暗元数据、疑似亮元数据进行多次确认，判断对应像元是否为暗元或亮元；S3.多次改变黑体温度，获取多个不同黑体温度下的红外探测器所对应的多个面元矩阵，将每个像元在不同面元矩阵中的对应面元数据进行比较，判定是否为恒定坏元；S4.判断存在坏元后，将坏元合并并进行标记以获得像元矩阵；遍历像元矩阵，将其与预设的卷积模板进行卷积运算以判定是否为坏块。2.根据权利要求1所述的红外探测器盲点检测方法，其特征在于，所述步骤S1中，对红外探测器每个像元的多帧数据求取平均值以获取面元矩阵。3.根据权利要求2所述的红外探测器盲点检测方法，其特征在于，所述步骤S1中，若面元数据小于面元矩阵的平均值，且其二者差值的绝对值大于预设的暗元阈值，则判定为疑似暗元数据；若面元数据大于面元矩阵的平均值，且其二者差值的绝对值大于预设的亮元阈值，则判定为疑似亮元数据。4.根据权利要求1所述的红外探测器盲点检测方法，其特征在于，所述步骤S...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗斌，曾广锋，高涛，
申请(专利权)人：东莞先导先进科技有限公司，
类型：发明
国别省市：