一种金相试样,包括测试样、用于便于测试样打磨的镶料和用于观测打磨深度的标记物,测试样包括位于测试样外表面的边缘面和用于判断所述测试样是否可成功测试的临界测试面,边缘面和临界测试面相互平行,标记物包括用于作为观测标准的初始观测面和用于观测金相试样是否打磨过量的终止观测面,初始观测面和终止观测面之间的距离小于或等于测试样的边缘面和临界测试面之间的距离,标记物的初始观测面与测试样的边缘面位于镶料内的同一平面。该金相试样能够在试样打磨过程中通过观察或测量掌控打磨程度,避免试样打磨过量造成测试失败,节约制样成本。节约制样成本。节约制样成本。
【技术实现步骤摘要】
金相试样
[0001]本技术涉及金相实验辅助工装
,特别是涉及一种打磨量可控的金相试样。
技术介绍
[0002]在观察尺寸较小或者异形的样品时,常常需要镶样和磨样,以获得可供金相显微镜观测的平整面。常用的镶样方法有冷镶样和热镶样,原理都是将样品埋入镶料内,待镶料固化后完成金相试样制样,后续再经砂纸研磨,抛光剂抛光后,获得镜面效果的观测面,最后经特定腐蚀剂腐蚀后,在显微镜下观察晶粒晶界等微观组织。
[0003]由于金相的研磨和抛光是一个材料去除的过程,且不可逆。在样品厚度较小时,如果没有注意去除量,导致去除厚度超过样品厚度,则待观测样品全部消失,无法观测。即使有多余样品,也需要重现开始取样镶样流程,耗时耗力。
[0004]除观测金相外,我们也常用金相试样测试样品的硬度。硬度检测标准内规定,为保证硬度测量值的准确性,需要保证检测点处样品的剩余厚度。例如GB/T4340.1金属维氏硬度试验标准内,明确说明样品或样品测试层厚度至少应为压痕对角线长度的1.5倍,试验后样品背面不能出现可见的变形压痕。而镶样后,由于样品嵌入镶料,无法观察或测量样品剩余厚度,试验剩余厚度如果过小,这可能导致测量的硬度值出现较大误差。
[0005]在心血管植入物领域,血管支架或瓣膜支架的杆宽和壁厚都很小,一般都不足1mm,有的甚至只有0.1mm。这样小尺寸的产品在金相制样过程中,稍不注意就容易导致研磨过度,试验剩余厚度不足或完全研磨消失,因此需要改良金相试样制品,使得试样在被磨样时,去除高度或者剩余厚度能够被观察到或者测量出。
技术实现思路
[0006]有鉴于此,本技术的目的在于提供一种打磨量可控的金相试样,能够在试样打磨过程中通过观察或测量掌控打磨程度,避免试样打磨过量造成测试失败,节约制样成本。
[0007]本技术提供一种金相试样,包括测试样、用于便于所述测试样打磨的镶料和用于观测打磨深度的标记物,所述测试样包括位于所述测试样外表面的边缘面和用于判断所述测试样是否可成功测试的临界测试面,所述边缘面和所述临界测试面相互平行,所述标记物包括用于作为观测标准的初始观测面和用于观测所述金相试样是否打磨过量的终止观测面,所述初始观测面和所述终止观测面之间的距离小于或等于所述测试样的所述边缘面和所述临界测试面之间的距离,所述标记物的所述初始观测面与所述测试样的所述边缘面位于所述镶料内的同一平面。
[0008]在一实施例中,所述标记物为圆锥立体结构,所述标记物的圆锥顶点位于所述初始观测面内,所述标记物轴向上任意横截面的直径等于所述横截面至所述圆锥顶点的垂直距离。
[0009]在一实施例中,所述标记物为圆锥立体结构,所述标记物的底面位于所述初始观测面内,所述标记物轴向上任意横截面的直径等于所述横截面至圆锥顶点的垂直距离。
[0010]在一实施例中,所述标记物的形状为长方体或正方体。
[0011]在一实施例中,所述标记物包括至少一个圆柱状附属标记物,多个的所述附属标记物按照直径由大到小依次轴向或径向分布。
[0012]在一实施例中,所述附属标记物的数量为多个,多个的所述附属标记物的中心轴相互重合,直径最小的所述附属标记物远离直径最大的所述附属标记物的一侧所在的平面作为所述初始观测面,直径最大的所述附属标记物远离直径最小的所述附属标记物的一侧所在的平面作为所述终止观测面。
[0013]在一实施例中,所述附属标记物的数量为多个,多个的所述附属标记物的中心轴相互重合,直径最大的所述附属标记物远离直径最小的所述附属标记物的一侧所在的平面作为所述初始观测面,直径最小的所述附属标记物远离直径最大的所述附属标记物的一侧所在的平面作为所述终止观测面。
[0014]在一实施例中,所述附属标记物的数量为多个,多个的所述附属标记物沿所述附属标记物的径向依次分布,直径最大的所述附属标记物中的两条相对的母线分别位于所述初始观测面和所述终止观测面,多个的所述附属标记物中均包括一条母线位于所述初始观测面所在的平面或者所述终止观测面所在的平面内。
[0015]在一实施例中,多个所述附属标记物中直径最小的所述附属标记物具有第一直径,多个所述附属标记物的直径以第一直径为基准呈倍增长。
[0016]在一实施例中,所述标记物包括不锈钢丝、铜丝、铁、铝、聚乙烯、聚丙烯和聚四氟乙烯中的一种或多种。
[0017]本技术提供的打磨量可控的金相试样,通过在测试样镶嵌入镶料内的同时将标记物与测试样需要打磨的表面齐平放置后一起镶嵌,被打磨后的标记物的截面具有可识别已打磨量的标记,比如横截面积、直径、边长或形状等,通过观察或测量该可识别已打磨量的标记的外观或尺寸变化,即可测算出测试样的剩余厚度,解决了测试样被镶样后,无法直接观察或测量测试样剩余厚度的问题,能够保证各种测试所需的测试样厚度,由于标记物的初始观测面和终止观测面之间的距离小于或等于测试样的边缘面和临界测试面之间的距离,能够避免在打磨过程中造成对测试物的过度打磨,减少测试样的浪费,节约经济、时间和劳动力成本,提升检测效率;标记物可以是常见且可容易获得的材料,比如铁丝或钢丝等,制样操作简单,成本低。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本技术的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0019]图1为第一实施例中标记物选用其中一个可选方案的金相试样的立体示意图。
[0020]图2为图1中标记物的立体示意图。
[0021]图3为图1中标记物各平面分布示例的立体示意图。
[0022]图4为第一实施例中另一可选方案的标记物的立体示意图。
[0023]图5为第三实施例中标记物选用其中一个可选方案的金相试样的立体示意图。
[0024]图6为图5中金相试样放置在打磨机上的立体示意图。
[0025]图7为第三实施例中另一可选方案的标记物的立体示意图。
[0026]图8为第三实施例中又一可选方案的标记物的立体示意图。
[0027]图9为第四实施例中标记物的立体示意图。
具体实施方式
[0028]下面将结合附图,对本技术的特定实施例进行详细描述。显然,所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术的描述,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0029]在本技术的描述中,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“安装”、“连接”等应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语的具体含义。
[0030]术语“上”、“下”、“本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种金相试样,其特征在于,包括测试样(10)、用于便于所述测试样(10)打磨的镶料(20)和用于观测打磨深度的标记物(30),所述测试样(10)包括位于所述测试样(10)外表面的边缘面和用于判断所述测试样(10)是否可成功测试的临界测试面,所述边缘面和所述临界测试面相互平行,所述标记物(30)包括用于作为观测标准的初始观测面(30a)和用于观测所述金相试样是否打磨过量的终止观测面(30b),所述初始观测面(30a)和所述终止观测面(30b)之间的距离小于或等于所述测试样(10)的所述边缘面和所述临界测试面之间的距离,所述标记物(30)的所述初始观测面(30a)与所述测试样(10)的所述边缘面位于所述镶料(20)内的同一平面。2.如权利要求1所述的金相试样,其特征在于,所述标记物(30)为圆锥立体结构,所述标记物(30)的圆锥顶点位于所述初始观测面(30a)内,所述标记物(30)轴向上任意横截面的直径等于所述横截面至所述圆锥顶点的垂直距离。3.如权利要求1所述的金相试样,其特征在于,所述标记物(30)为圆锥立体结构,所述标记物(30)的底面位于所述初始观测面(30a)内,所述标记物(30)轴向上任意横截面的直径等于所述横截面至所述圆锥顶点的垂直距离。4.如权利要求1所述的金相试样,其特征在于,所述标记物(30)的形状为长方体或正方体。5.如权利要求1所述的金相试样,其特征在于,所述标记物(30)包括至少一个圆柱状附属标记物(31),至少一个的所述附属标记物(31)按照直径由大到小依次沿轴向或径向分布。6.如权利要求5所述的金相...
【专利技术属性】
技术研发人员:何东,赵婧,刘祥,
申请(专利权)人:江苏臻亿医疗科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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