一种三维测量的图像自动校正方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请涉及测量领域，尤其是涉及一种三维测量的图像自动校正方法、装置及电子设备，其方法包括获取第一待测物体的位置，并预设平行光从至少两个平面以及与待测物体的不同距离对第一待测物体进行照射；采集不同情况的平行光照射后，产生的阴影区域位置；根据第一待测物体的位置、平行光的位置以及阴影区域的位置，确定第一待测物体平面的尺寸；将不同平面、不同距离以及对应的第一待测物体的尺寸拟合得到校正拟合曲线；用至少两个平面的平行光对第二待测物体进行照射，得到第二待测物体的尺寸，并得到第二图像；根据校正得到的尺寸对第二图像进行校正，以得到校正后的图像。本申请具有校正三维测量存在误差的图像的效果。具有校正三维测量存在误差的图像的效果。具有校正三维测量存在误差的图像的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种三维测量的图像自动校正方法、装置及电子设备


[0001]本申请涉及测量技术的领域，尤其是涉及一种三维测量的图像自动校正方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]三维测量是集光、机、电和计算机技术于一体的高新技术，主要用于对物体空间外形和结构进行测量，以获得物体表面的空间坐标。它的重要意义在于能够将实物的立体信息转换为计算机能直接处理的数字信号，为实物数字化提供了相当方便快捷的手段。
[0003]然而传统的三维测量设备多为接触式测量器，采用接触式测量方法时，不平行的接触会导致得到的尺寸存在误差，但是对测量得到的图像进行校正的工艺复杂，越来越不能满足现代测量的需要。

技术实现思路

[0004]为了解决在对三维测量存在误差的图像进行校正的问题，本申请提供一种三维测量的图像自动校正方法、装置及电子设备。
[0005]本申请提供的一种三维测量的图像自动校正方法采用如下技术方案。
[0006]一种三维测量的图像自动校正方法，应用于控制系统中，包括：获取第一待测物体的位置，并预设平行光从至少两个平面以及与待测物体的不同距离，对第一待测物体进行照射，其中所述至少两个平面均为与第一待测物体表面平行的平面；采集不同平面以及不同距离的平行光照射所述第一待测物体后，所产生的阴影区域边缘的坐标位置；根据所述第一待测物体的位置、预设平行光的坐标位置以及所述阴影区域边缘的坐标位置，确定第一待测物体靠近平行光一侧的平面尺寸；将平行光的不同平面、平行光与第一待测物体的不同距离以及对应的第一待测物体的尺寸进行拟合，得到校正拟合曲线；在预设的距离和至少两个平面的平行光对第二待测物体进行照射，并得到第二待测物体至少两个平面的尺寸，根据所述尺寸得到第二图像；根据所述校正拟合曲线得到所述第二待测物体的尺寸，并根据所述尺寸对所述第二图像进行校正，以得到校正后的图像。
[0007]通过采用上述技术方案，利用平行光对第一待测物体进行照射，进而产生阴影，通过产生的阴影得到第一待测物体的尺寸。第一待测物体有至少三个平面，那么需要对其中至少两个平面进行照射，并得到照射后的阴影，通过计算阴影的尺寸，得到其中至少两个平面的尺寸。同时，也需要从不同的距离对第一待测物体进行照射，以提高最终获得的第一待测物体尺寸的准确度。
[0008]将在不同情况下对第一待测物体所得到的不同尺寸进行拟合，并得到校正拟合曲
线，并将校正拟合曲线作为三维测量的校正标准。当需要对第二待测物体进行测量时，确定平行光与第二待测物体的距离，并保持不变，根据一定的距离调整平行光对第二待测物体照射的平面，并得到照射后的阴影。计算阴影的尺寸，并根据阴影的尺寸对应得到第二待测物体平面的尺寸，最后确定第二待测物体的第二图像。将平行光与第二待测物体的距离以及对不同平面的照射，通过校正拟合曲线，得到第二待测物体的尺寸，并根据尺寸对第二图像进行校正，最后得到校正后的图像。通过对第一待测物体进行不同距离以及不同角度的测量，得到测量结果，并根据不同的变量所得的尺寸进行拟合，最后得到校正拟合曲线，在对第二待测物体进行测量后，将平行光的距离以及平行光的不同角度带入校正拟合曲线，并根据带入结果对第二图像进行校正，有利于减少对待测物体校正的工作量，同时有利于提高对待测物体校正的精确度。
[0009]可选的，所述至少两个平面均为与第一待测物体表面平行的平面的步骤，具体包括：控制运动传感器获取平行光是否与所述第一待测物体任一表面是否平行的信息，所述运动传感器位于平行光的发射处；若平行光与所述第一待测物体任一表面平行，则停止移动所述平行光。
[0010]通过采用上述技术方案，当改变平行光的角度时，通过在平行光的光源发射处设置运动传感器的方式，对平行光是否与第一待测物体的任一平面是否平行进行检测。如果发射的平行光与第一待测物体的任一平面平行，那么就停止移动平行光，并根据平行光照射第一待测物体所得到的阴影进行物体尺寸的计算，通过确认平行光是否与待测物体的任一平面是否平行，有利于提升对待测物体尺寸测量的准确度。
[0011]可选的，所述采集不同平面以及不同距离的平行光，照射所述第一待测物体后，所产生的阴影区域边缘的坐标位置的步骤，具体包括：设置平行光与所述第一待测物体表面平行的第一平面，移动所述平行光，以改变所述平行光与所述第一待测物体表面的距离；获取与第一平面平行的平行光在不同距离时，所产生的阴影区域边缘的坐标位置，进而确定在不同距离的平行光下的所述第一平面的尺寸。
[0012]通过采用上述技术方案，当平行光在不同距离与不同角度对待测物体进行照射时，控制其中一个变量为常量，进而改变另外一个变量以得到不同情况下的结果。在平行光与待测物体的第一平面平行时，移动平行光与待测物体之间的距离，并得到第一待测物体的第一平面在不同距离的平行光照射下的阴影面积，进而通过阴影面积计算得到第一待测物体的第一平面的尺寸。通过平行光对同一平面不同距离的照射，有利于提高对同一平面尺寸测量的准确性。
[0013]可选的，所述采集不同平面以及不同距离的平行光，照射所述第一待测物体后，所产生的阴影区域边缘的坐标位置的步骤，具体还包括：设置平行光与所述第一待测物体表面的距离，移动所述平行光，以改变所述平行光与所述第一待测物体平行的表面；获取平行光照射在第一平面以及第二平面，所产生的阴影区域边缘的坐标位置，进而确定同一距离下的平行光照射得到的所述第一平面及第二平面的尺寸。
[0014]通过采用上述技术方案，通过将平行光设置在与第一待测物体距离相同的水平线
上，改变平行光的角度，以使平行光与第一待测物体的第一平面及第二平面平行。其后，通过平行光对不同平面照射产生的阴影确定不同平面的尺寸。通过平行光对同一距离不同平面的照射，有利于提高同一距离尺寸测量的准确性。
[0015]可选的，所述方法，具体还包括：当所述平行光在预设距离照射第一平面，所得到的阴影区域的面积不大于预设的阴影区域面积时，缩小平行光与第一待测物体的距离，或改变所述平行光距离置放第一待测物体平面的高度。
[0016]通过采用上述技术方案，当平行光照射在第一待测物体的第一平面上时，产生的阴影面积小于或等于预设的阴影区域面积时，说明平行光与第一待测物体的距离过大，或是平行光的高度有误，需要进行调整，此时缩小平行光与第一待测物体的距离或是改变平行光距离放置第一待测物体平面的高度。通过对阴影面积的测量，进而调整平行光的位置，有利于进一步提高对第一待测物体测量的准确性。
[0017]可选的，所述若平行光与所述第一待测物体任一表面平行，则停止移动所述平行光的步骤，还包括：当所述平行光与第一平面平行，并得到第一平面的尺寸后，移动所述平行光至与第二平面平行；若移动所述平行光至与第一平面平行的位置，则继续移动所述平行光，直至所述平行光与除第一平面外的任一平面平行。
[0018]通过采用上述技术方案，当平行光与第一平面平行，并且得到照射第一平面产生的阴影后，移动平行光与除第一平面外的第二平面平行，进而得到平行光照射第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三维测量的图像自动校正方法，其特征在于，应用于控制系统中，包括：获取第一待测物体的位置，并预设平行光从至少两个平面以及与待测物体的不同距离，对第一待测物体进行照射，其中所述至少两个平面均为与第一待测物体表面平行的平面；采集不同平面以及不同距离的平行光照射所述第一待测物体后，所产生的阴影区域边缘的坐标位置；根据所述第一待测物体的位置、预设平行光的坐标位置以及所述阴影区域边缘的坐标位置，确定第一待测物体靠近平行光一侧的平面尺寸；将平行光的不同平面、平行光与第一待测物体的不同距离以及对应的第一待测物体的尺寸进行拟合，得到校正拟合曲线；在预设的距离和至少两个平面的平行光对第二待测物体进行照射，并得到第二待测物体至少两个平面的尺寸，根据所述尺寸得到第二图像；根据所述校正拟合曲线得到所述第二待测物体的尺寸，并根据所述尺寸对所述第二图像进行校正，以得到校正后的图像。2.根据权利要求1所述的一种三维测量的图像自动校正方法，其特征在于，所述至少两个平面均为与第一待测物体表面平行的平面的步骤，具体包括：控制运动传感器获取平行光是否与所述第一待测物体任一表面是否平行的信息，所述运动传感器位于平行光的发射处；若平行光与所述第一待测物体任一表面平行，则停止移动所述平行光。3.根据权利要求1所述的一种三维测量的图像自动校正方法，其特征在于，所述采集不同平面以及不同距离的平行光，照射所述第一待测物体后，所产生的阴影区域边缘的坐标位置的步骤，具体包括：设置平行光与所述第一待测物体表面平行的第一平面，移动所述平行光，以改变所述平行光与所述第一待测物体表面的距离；获取与第一平面平行的平行光在不同距离时，所产生的阴影区域边缘的坐标位置，进而确定在同一距离的平行光下的所述第一平面的尺寸。4.根据权利要求3所述的一种三维测量的图像自动校正方法，其特征在于，所述采集不同平面以及不同距离的平行光，照射所述第一待测物体后，所产生的阴影区域边缘的坐标位置的步骤，具体还包括：设置平行光与所述第一待测物体表面的距离，移动所述平行光，以改变所述平行光与所述第一待测物体平行的表面；获取平行光照射在第一平面以及第二平面，所产生的阴影区域边缘的坐标位置，进而确定不同距离下的平行光照射得到的所述第一平面及第二平面的尺寸。5.根据权利要求1所述的一种三维测量的图像自动校正方法，其特征在于，所述方法，具体还包括：当所述平行光在预设距离照射第一平面，所得到的阴影区域的面积不大于预设的阴影区域面积时，缩小平行光与第一待测物体的距离，或改变所述平行光距离置放第一待测物体平面的高度。6.根据权利要求2所述的一种三维测...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨浦，沈珏玮，
申请(专利权)人：上海零眸智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：