本申请涉及显示屏检测技术领域,提供一种显示屏的检测方法、检测设备及计算机可读存储介质,显示屏的检测方法包括:获取通过微分干涉系统对显示屏进行成像得到的目标图像,所述显示屏包括异方性导电膜和与所述异方性导电膜压合的玻璃基板;基于预先训练好的偏位检测模型,对所述目标图像进行图像识别,得到所述目标图像的第一标识与第二标识之间的偏位信息,其中,所述第一标识为所述异方性导电膜上的标识,所述第二标识为所述玻璃基板上的标识;根据所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息,确定所述异方性导电膜和所述玻璃基板的贴合状态,以提高显示屏的检测效率。以提高显示屏的检测效率。以提高显示屏的检测效率。
【技术实现步骤摘要】
显示屏的检测方法、检测设备及计算机可读存储介质
[0001]本申请涉及显示屏检测
,尤其涉及一种显示屏的检测方法、检测设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]COG(Chip On Glass)/FOG(Film On Glass)绑定工艺有两个重要技术指标,一是IC(Integrated Circuit,芯片)/FPC(Flexible Printed Circuit,柔性电路板)的ACF(Anisotropic Conductive Film,异方性导电膜)与Glass(Glass,玻璃基板)在压合时是否有偏位,二是压合部分是否爆破了足够数量且均匀的合格导电粒子,因此,COG/FOG对绑定效果的质量检测有一定要求,但目前的检测方法存在检测流程较为繁琐,检测效率较低的情形。
技术实现思路
[0003]本申请的主要目的在于提供一种显示屏的检测方法、检测设备及计算机可读存储介质,旨在提高显示屏的检测效率。
[0004]第一方面,本申请提供一种显示屏的检测方法,所述显示屏的检测方法包括以下步骤:
[0005]获取通过微分干涉系统对显示屏进行成像得到的目标图像,所述显示屏包括异方性导电膜和与所述异方性导电膜压合的玻璃基板;
[0006]基于预先训练好的偏位检测模型,对所述目标图像进行图像识别,得到所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息,其中,所述第一标识为所述异方性导电膜上的标识,所述第二标识为所述玻璃基板上的标识;
[0007]根据所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息,确定所述异方性导电膜和所述玻璃基板的贴合状态。
[0008]第二方面,本申请还提供一种显示屏的检测设备,所述显示屏的检测设备包括存储器和处理器;
[0009]所述存储器,用于存储计算机程序;
[0010]所述处理器,用于执行所述计算机程序并在执行所述计算机程序时实现如上述的显示屏的检测方法。
[0011]第三方面,本申请还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,实现如上述的显示屏的检测方法的步骤。
[0012]本申请提供一种显示屏的检测方法、检测设备及计算机可读存储介质,显示屏的检测方法包括:获取通过微分干涉系统对显示屏进行成像得到的目标图像,所述显示屏包括异方性导电膜和与所述异方性导电膜压合的玻璃基板;基于预先训练好的偏位检测模型,对所述目标图像进行图像识别,得到所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位
信息,其中,所述第一标识为所述异方性导电膜上的标识,所述第二标识为所述玻璃基板上的标识;根据所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息,确定所述异方性导电膜和所述玻璃基板的贴合状态,以提高显示屏的检测效率。
附图说明
[0013]为了更清楚地说明本申请实施例技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0014]图1为本申请实施例提供的一种显示屏的检测方法的流程示意图;
[0015]图2为本申请一实施例涉及的异方性导电膜和与异方性导电膜压合的玻璃基板的结构示意图;
[0016]图3为本申请一实施例涉及的目标图像;
[0017]图4为本申请另一实施例涉及的目标图像;
[0018]图5为本申请实施例提供的一种显示屏的检测设备的结构示意性框图。
具体实施方式
[0019]下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
[0020]附图中所示的流程图仅是示例说明,不是必须包括所有的内容和操作/步骤,也不是必须按所描述的顺序执行。例如,有的操作/步骤还可以分解、组合或部分合并,因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
[0021]本申请实施例提供一种显示屏的检测方法、检测设备及计算机可读存储介质。其中,该显示屏的检测方法可应用于显示屏的检测设备中。
[0022]下面结合附图,对本申请的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下,下述的实施例及实施例中的特征可以相互结合。
[0023]请参阅图1,图1为本申请实施例提供的一种显示屏的检测方法的流程示意图。
[0024]如图1所示,该显示屏的检测方法包括步骤S101至步骤S103。
[0025]步骤S101、获取通过微分干涉系统对显示屏进行成像得到的目标图像,显示屏包括异方性导电膜和与异方性导电膜压合的玻璃基板。
[0026]示例性的,微分干涉系统包括相机、第一偏光片、第二偏光片、半反半透镜、微分干涉(Differential Interference Contrast,DIC)棱镜以及光源。
[0027]在一些实施例中,微分干涉系统采用的相机为CCD(Charge Coupled Device,电荷耦合器件)相机。
[0028]在一些实施例中,微分干涉系统采用的光源的波长范围为400nm至480nm的光源,其中,基于光的干涉原理,采用同一波段的光源对显示屏发射光束有利于凸显显示屏上微小的凹凸变化在目标图像上的特征。
[0029]举例而言,微分干涉系统中的第一偏光片将光源发出的光束转化为线性偏振的平
行光,平行光通过与第一偏光片同轴设置的半反半透镜后反射至DIC棱镜,并通过DIC棱镜折射后分成两束光束,在不同时间经过显示屏的相邻部位,形成相位差,带有相位差的光束被显示屏的表面反射后先后经过半反半透镜投射以及第二偏光片汇合,从而显示屏中厚度上的微小区别就会转化成明暗区分,有利于增加显示屏的反差并且具有很强的立体感。例如,进一步凸显显示屏包括的异方性导电膜和与异方性导电膜压合的玻璃基板的导电粒子区域的导电粒子,使得导电粒子的成像富有立体感,有利于导电粒子的检测。
[0030]步骤S102、基于预先训练好的偏位检测模型,对目标图像进行图像识别,得到目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息,其中,第一标识为异方性导电膜上的标识,第二标识为玻璃基板上的标识。
[0031]在一些实施例中,在对显示屏进行检测时,除微分干涉系统以外,还需要增加额外的设备对显示屏包括的异方性导电膜和与异方性导电膜压合的玻璃基板之间的偏位信息进行获取和检测,占用额外的工位,增加了显示屏的检测流程,不利于提高显示屏的检测效率。本申请根据通过微分干涉系统对显示屏进行成像得到的目标图像,既可以识别得到显示屏包括的异方性导电膜和与异方性导电膜压合的玻璃基板之间的偏位信息,又可以进行异方性导电膜和与异方性导电膜压合的玻璃基板之间的贴合状态例如对导电粒子的检测,节省了硬本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示屏的检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取通过微分干涉系统对显示屏进行成像得到的目标图像,所述显示屏包括异方性导电膜和与所述异方性导电膜压合的玻璃基板;基于预先训练好的偏位检测模型,对所述目标图像进行图像识别,得到所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息,其中,所述第一标识为所述异方性导电膜上的标识,所述第二标识为所述玻璃基板上的标识;根据所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息,确定所述异方性导电膜和所述玻璃基板的贴合状态。2.根据权利要求1所述的显示屏的检测方法,其特征在于,所述基于预先训练好的偏位检测模型,对所述目标图像进行图像识别,得到所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息,包括:基于预先训练好的偏位检测模型,对所述目标图像进行图像识别,以确定所述第一标识的位置信息和所述第二标识的位置信息;根据所述第一标识的位置信息和所述第二标识的位置信息,确定所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息。3.根据权利要求2所述的显示屏的检测方法,其特征在于,所述基于预先训练好的偏位检测模型,对所述目标图像进行图像识别,以确定所述第一标识的位置信息和所述第二标识的位置信息,包括:在所述目标图像中,识别所述第一标识对应的第一区域、所述第二标识对应的第二区域以及除所述第一标识和所述第二标识外的第三区域;确定所述第一区域对应的第一灰度值、所述第二区域对应的第二灰度值以及所述第三区域对应的第三灰度值;根据所述第一灰度值、所述第二灰度值和所述第三灰度值,确定灰度值阈值;根据所述灰度值阈值对所述目标图像进行灰度处理,以及根据灰度处理后的目标图像确定所述第一标识的位置信息和所述第二标识的位置信息。4.根据权利要求2所述的显示屏的检测方法,其特征在于,所述根据所述第一标识的位置信息和所述第二标识的位置信息,确定所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息,包括:根据所述第一标识的位置信息与至少两个所述第二标识的位置信息,确定所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏移角度和/或偏移距离,其中,任意一个第二标识与至少一个第二标识相邻。5.根据权利要求1至4中任一项所述的显示屏的检测方法,其特征在于,所述根据所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息,确定所述异方性导电膜和所述玻璃基板的贴合状态,包括:判断所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息是否满足预设条件;当所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息满足预设条件时,根据所述目标图像中第一标识与第二标识之间的偏位信息...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘伟生,
申请(专利权)人:深圳禾思众成科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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