一种集成电路测试连接装置制造方法及图纸

本发明专利技术属于集成电路测试领域，尤其是一种集成电路测试连接装置，针对现有的集成电路测试连接装置长时间运行时，内部温度过高降低装置的使用年限，且防尘效果不好，另外在对不同的集成电路进行测试时，容易出现接触不牢靠的情况的问题，现提出如下方案，其包括底座，所述底座的顶部固定连接有两个侧板，两个侧板的顶部固定连接有同一个顶板，顶板的一侧固定安装有电机，两个侧板中的一个侧板上开设有第一滑槽，第一滑槽内滑动安装有第一滑块，本发明专利技术可以有效的保证每一个接触杆都可以有效的与集成电路进行接触，有效的对测试中的集成电路板进行降温和除尘，提升使用的寿命。提升使用的寿命。提升使用的寿命。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试连接装置


[0001]本专利技术涉及集成电路测试
，尤其涉及一种集成电路测试连接装置。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件，通过采用一定的工艺，把一个电路中所需要的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连在一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。对电子产品进行功能测试时，一般是对电子产品的集成电路进行功能测试，对集成电路进行功能测试时，需要将集成电路的各个功能引脚通过集成电路转接板连接到测试装置；
[0003]现有的集成电路测试连接装置长时间运行时，内部温度过高降低装置的使用年限，且防尘效果不好，另外在对不同的集成电路进行测试时，容易出现接触不牢靠的情况。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的集成电路测试连接装置长时间运行时，内部温度过高降低装置的使用年限，且防尘效果不好，另外在对不同的集成电路进行测试时，容易出现接触不牢靠的情况的缺点，而提出的一种集成电路测试连接装置。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0006]一种集成电路测试连接装置，包括底座，所述底座的顶部固定连接有两个侧板，两个侧板的顶部固定连接有同一个顶板，顶板的一侧固定安装有电机，两个侧板中的一个侧板上开设有第一滑槽，第一滑槽内滑动安装有第一滑块，第一滑块的一侧固定连接有连接杆，连接杆的一端固定连接有测试接触板，底座的一侧固定连接有收纳壳体，收纳壳体内设置有散热机构，电机与第一滑块和散热机构相配合，底座的顶部设置集成电路板夹持机构。
[0007]优选的，所述测试接触板的底部开设有多个滑动槽，多个滑动槽内均滑动安装有滑动杆，多个滑动杆的底端均设置有接触杆，多个滑动槽内均设置有复位弹簧，多个复位弹簧的一端分别与多个接触杆的顶端连接，复位弹簧可以带动滑动杆复位。
[0008]优选的，所述第一滑槽内滑动安装有第一螺纹杆，第一滑块上开设有第一螺纹孔，第一螺纹杆螺纹安装于第一螺纹孔内，第一螺纹杆可以通过第一螺纹孔带动第一滑块位移。
[0009]优选的，所述顶板内开设有传动腔，传动腔内转动安装有旋转轴，旋转轴的一端延伸至顶板的外侧并于电机的输出轴相焊接，且旋转轴的外侧固定套设有第一锥齿轮，第一螺纹杆的顶端延伸至传动腔内并固定连接有第二锥齿轮，第二锥齿轮与第一锥齿轮相啮合，第一锥齿轮可以带动第二锥齿轮转动。
[0010]优选的，所述集成电路板夹持机构包括开设于底座顶部的两个第二滑槽，两个第二滑槽内均滑动安装有第二滑块，且两个第二滑槽内转动安装有同一个双向丝杠，双向丝杠的一端延伸至底座的外侧并固定连接有手轮，两个第二滑块上均开设有第二螺纹孔，双向丝杠螺纹安装于两个第二螺纹内，两个第二滑块的顶部均固定连接有夹持板，双向丝杠
可以通过第二螺纹孔带动第二滑块位移。
[0011]优选的，所述散热机构包括开设于收纳壳体底部内壁上的第三滑槽，第三滑槽内滑动安装有第三滑块，第三滑块的顶部设置有散热风扇，第三滑槽内转动安装有第二螺纹杆，第三滑块上开设有第三螺纹孔，第二螺纹杆螺纹安装于第三螺纹孔内，第二螺纹杆可以通过第三螺纹孔带动第三滑块位移。
[0012]优选的，所述旋转轴的另一端延伸至顶板的外侧并固定连接有第一皮带轮，第二螺纹杆的一端延伸至收纳壳体的外侧并固定连接有第二皮带轮，第二皮带轮与第一皮带轮的外侧套设有同一个皮带，第一皮带轮可以通过皮带带动第二皮带轮转动。
[0013]优选的，所述第三滑块的一侧设置有第一接触电极，第三滑槽的一侧内壁上设置有第二接触电极，第一接触电极与第二接触电极相配合。
[0014]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0015]1、本方案通过第一螺纹杆与第一滑块相配合，复位弹簧与滑动杆相配合，从而可以有效的保证每一个接触杆都可以有效的与集成电路进行接触；
[0016]2、本方案通过双向丝杠与第二滑块相配合，可以有效的对集成电路板进行固定，从而便于对其进行电路测试；
[0017]3、本方案通过第二螺纹杆与第三滑块相配合，第一皮带轮通过皮带与第二皮带轮相配合，使得集成电路在进行测试时，可以将收纳壳体内的散热风扇移动出来，并且使其接通电源对电路测试产生的热量进行吹散，同时可以将灰尘吹走；
[0018]本专利技术可以有效的保证每一个接触杆都可以有效的与集成电路进行接触，有效的对测试中的集成电路板进行降温和除尘，提升使用的寿命。
附图说明
[0019]图1为本专利技术提出的一种集成电路测试连接装置的结构示意图；
[0020]图2为本专利技术提出的一种集成电路测试连接装置的收纳壳体结构示意图；
[0021]图3为本专利技术提出的一种集成电路测试连接装置的图1中A处放大结构示意图；
[0022]图4为本专利技术提出的一种集成电路测试连接装置的图1中B处放大结构示意图；
[0023]图5为本专利技术提出的一种集成电路测试连接装置的第二滑块立体结构示意图。
[0024]图中：1、底座；2、侧板；3、顶板；4、电机；5、第一滑块；6、连接杆；7、测试接触板；8、收纳壳体；9、接触杆；10、复位弹簧；11、第一螺纹杆；12、旋转轴；13、第一锥齿轮；14、第二锥齿轮；15、第二滑块；16、双向丝杠；17、手轮；18、夹持板；19、第三滑块；20、散热风扇；21、第二螺纹杆；22、第一皮带轮；23、第二皮带轮；24、皮带；25、第一接触电极；26、第二接触电极；27、滑动杆。
具体实施方式
[0025]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0026]实施例一
[0027]参照图1
‑
5，一种集成电路测试连接装置，包括底座1，底座1的顶部固定连接有两个侧板2，两个侧板2的顶部通过焊接固定连接有同一个顶板3，顶板的一侧通过螺栓固定安
装有电机4，两个侧板2中的一个侧板2上开设有第一滑槽，第一滑槽内滑动安装有第一滑块5，第一滑块5的一侧通过焊接固定连接有连接杆6，连接杆6的一端通过焊接固定连接有测试接触板7，底座1的一侧固定连接有收纳壳体8，收纳壳体8内设置有散热机构，电机4与第一滑块5和散热机构相配合，底座1的顶部设置集成电路板夹持机构。
[0028]本实施例中，测试接触板7的底部开设有多个滑动槽，多个滑动槽内均滑动安装有滑动杆27，多个滑动杆27的底端均设置有接触杆9，多个滑动槽内均设置有复位弹簧10，多个复位弹簧10的一端分别与多个接触杆9的顶端连接，复位弹簧10可以带动滑动杆27复位。
[0029]本实施例中，第一滑槽内滑动安装有第一螺纹杆11，第一滑块5上开设有第一螺纹孔，第一螺纹杆11螺纹安装于第一螺纹孔内，第一螺纹杆11可以通过第一螺纹孔带动第一滑块5位移。
[0030]本实施例中，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试连接装置，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)的顶部固定连接有两个侧板(2)，两个侧板(2)的顶部固定连接有同一个顶板(3)，顶板的一侧固定安装有电机(4)，两个侧板(2)中的一个侧板(2)上开设有第一滑槽，第一滑槽内滑动安装有第一滑块(5)，第一滑块(5)的一侧固定连接有连接杆(6)，连接杆(6)的一端固定连接有测试接触板(7)，底座(1)的一侧固定连接有收纳壳体(8)，收纳壳体(8)内设置有散热机构，电机(4)与第一滑块(5)和散热机构相配合，底座(1)的顶部设置集成电路板夹持机构。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试连接装置，其特征在于，所述测试接触板(7)的底部开设有多个滑动槽，多个滑动槽内均滑动安装有滑动杆(27)，多个滑动杆(27)的底端均设置有接触杆(9)，多个滑动槽内均设置有复位弹簧(10)，多个复位弹簧(10)的一端分别与多个接触杆(9)的顶端连接。3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试连接装置，其特征在于，所述第一滑槽内滑动安装有第一螺纹杆(11)，第一滑块(5)上开设有第一螺纹孔，第一螺纹杆(11)螺纹安装于第一螺纹孔内。4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试连接装置，其特征在于，所述顶板(3)内开设有传动腔，传动腔内转动安装有旋转轴(12)，旋转轴(12)的一端延伸至顶板(3)的外侧并于电机(4)的输出轴相焊接，且旋转轴(12)的外侧固定套设有第一锥齿轮(13)，第一螺纹杆(11)的顶端延伸至传动腔内并固定连接有第二锥齿轮(14)，第...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘本强，陈翔，吴涛，
申请(专利权)人：山东虹芯电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：