一种无源晶振起振的自适应方法技术

本发明专利技术公开了一种无源晶振起振的自适应方法，所述方法包括：a.将晶振起振过程分成N个阶段，每个阶段对应一个起振方案；b.使能晶振起振；c.执行第一起振方案，进入第一阶段的起振过程；d.判断所述晶振是否起振，若未起振，则执行步骤e；e.执行下一个起振方案，进入下一阶段的起振过程；f.重复执行步骤d

【技术实现步骤摘要】
一种无源晶振起振的自适应方法


[0001]本专利技术涉及晶振起振方案，尤其涉及无源晶振的起振方法。

技术介绍

[0002]目前的晶振电路主要采用的是皮尔斯振荡器电路模型，应用的时候只需要给晶振配置合适的外围电路，即两个外部负载电容C1、C2，晶振就可以正常工作了。但是由于晶振起振是一个匹配问题，由于晶振的参差不齐，或者PCB差异或者产品使用环境的差异等，往往有一部分晶振不能正常起振。
[0003]此外，传统的无源晶振起振系统没有监控和处理机制，如果晶振不起振，系统不会尝试其它方案，重新使晶振起振。
[0004]因此，亟需一种能在晶振不起振时做出响应并帮助晶振重新起振的方案。

技术实现思路

[0005]为了克服上述技术问题，本专利技术提出了一种无源晶振起振的自适应方法，该方法包括以下步骤：
[0006]a.将晶振起振过程分成N个阶段，每个阶段对应一个起振方案；
[0007]b.使能晶振起振；
[0008]c.执行第一起振方案，进入第一阶段的起振过程；
[0009]d.判断所述晶振是否起振，若未起振，则执行步骤e；
[0010]e.执行下一个起振方案，进入下一阶段的起振过程；
[0011]f.重复执行步骤d
‑
e，直至所述晶振起振。
[0012]在一个实施例中，所述晶振起振后还包括：
[0013]判断所述晶振的预热时间是否结束；若结束，则起振过程结束；若未结束，则继续判断晶振预热时间是否结束。
[0014]在一个实施例中，所述第一起振方案为传统激励方式。
[0015]在一个实施例中，第一次执行所述步骤e时，所述下一个起振方案为传统激励方式与第一扰动激励方式的结合。
[0016]在一个实施例中，所述第一扰动激励方案采用正弦信号作为激励信号。
[0017]在一个实施例中，第二次执行所述步骤e时，所述下一个起振方案为传统激励方式与第二扰动激励方式的结合。
[0018]在一个实施例中，所述第二扰动激励方案采用方波信号作为激励信号。
[0019]在一个实施例中，第三次执行所述步骤e时，所述下一个起振方案为传统激励方式与调整晶振驱动电路参数方式的结合。
[0020]在一个实施例中，第四次执行所述步骤e时，所述下一个起振方案为更换晶振驱动电路。
[0021]在一个实施例中，所述传统激励方式为采用皮尔斯振荡器电路。
[0022]本专利技术的无源晶振起振的自适应方法引入了晶振起振检测和处理机制，如果检测到晶振不起振，采取不同的方案轮询切换，提高晶振起振的成功率。本专利技术将晶振起振过程分为多个阶段，时时检测晶振是否起振，一旦晶振不起振，系统会做出相应响应，进入下一个阶段，尝试其它驱动方案，从而帮助晶振重新起振。
附图说明
[0023]本专利技术的以上
技术实现思路
以及下面的具体实施方式在结合附图阅读时会得到更好的理解。需要说明的是，附图仅作为所请求保护的专利技术的示例。在附图中，相同的附图标记代表相同或类似的元素。
[0024]图1示出根据本专利技术一实施例的无源晶振起振的自适应方法的总体流程图；
[0025]图2示出根据本专利技术一实施例的无源晶振起振的自适应方法中将起振过程分为两个阶段的设计示例；
[0026]图3示出根据本专利技术一实施例的无源晶振起振的自适应方法的起振流程图，其中，该起振过程分为两个阶段；
[0027]图4示出根据本专利技术一实施例的无源晶振起振的自适应方法中将起振过程分为三个阶段的设计示例；
[0028]图5示出根据本专利技术一实施例的无源晶振起振的自适应方法的起振流程图，其中，该起振过程分为三个阶段；
[0029]图6示出根据本专利技术一实施例的无源晶振起振的自适应方法中将起振过程分为四个阶段的设计示例；
[0030]图7示出根据本专利技术一实施例的无源晶振起振的自适应方法的起振流程图，其中，该起振过程分为四个阶段；
[0031]图8示出根据本专利技术一实施例的无源晶振起振的自适应方法中将起振过程分为五个阶段的设计示例；
[0032]图9示出根据本专利技术一实施例的无源晶振起振的自适应方法的起振流程图，其中，该起振过程分为五个阶段。
具体实施方式
[0033]以下在具体实施方式中详细叙述本专利技术的详细特征以及优点，其内容足以使任何本领域技术人员了解本专利技术的
技术实现思路
并据以实施，且根据本说明书所揭露的说明书、权利要求及附图，本领域技术人员可轻易地理解本专利技术相关的目的及优点。
[0034]传统的无源晶振起振系统都是单一给出驱动激励，没有系统的检测和处理机制，给出驱动激励后晶振不起振，不做任何处理，这种系统过于简单。由于晶振或者PCB或者产品的使用环境的差异等，通常会有部分产品表现出晶振起振异常。为了提高晶振起振的概率，减小产品晶振起振不良率，极需一种提高无源晶振起振成功率的方法。
[0035]自适应方案具体执行过程：将晶振起振过程分为N个阶段，并且时时检测晶振起振，如果阶段1起振失败，进入阶段2，更换起振方案，继续起振；如果阶段2起振失败，进入阶段3，更换起振方案方案，继续起振；依次执行，直到晶振的预热时间结束，这样可以极大的提高晶振起振的成功率。
[0036]为了克服上述技术问题，本专利技术提出了一种无源晶振起振的自适应方法，引入了晶振起振检测和处理机制，如果检测到晶振不起振，采取不同的方案轮询切换，提高晶振起振的成功率。本专利技术将晶振起振过程分为多个阶段，时时检测晶振是否起振，一旦晶振不起振，系统会做出相应响应，进入下一个阶段，尝试其它驱动方案，从而帮助晶振重新起振。
[0037]图1示出根据本专利技术一实施例的无源晶振起振的自适应方法流程图。该方法将晶振起振过程分成N(N>1)个阶段，每个阶段对应一个起振方案，因此一共具有N个起振方案。该方法包括但不限于以下步骤：
[0038]步骤101：使能晶振起振；
[0039]步骤102：执行第一起振方案，进入第一阶段的起振过程；
[0040]步骤103：判断晶振是否起振，若起振，则执行步骤109；若未起振，则执行步骤104；
[0041]步骤104：切换成执行第二起振方案，进入第二阶段的起振过程；
[0042]步骤105：判断晶振是否起振，若起振，则执行步骤109；若未起振，则执行步骤106；
[0043]步骤106：切换成执行第三起振方案，进入第三阶段的起振过程；
[0044]步骤107：判断晶振是否起振，若起振，则执行步骤109；若未起振，则执行步骤108；
[0045]步骤108：切换成执行第N起振方案，进入第N阶段的起振过程；
[0046]步骤109：判断晶振预热时间是否结束，若结束，则起振过程结束；若未结束，则继续判断晶振预热时间是否结束。
[0047]图2示出根据本专利技术一实施例的无源晶振起振的自适应方法中将起振过程分为两个阶段的设计示例。
[0048本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种无源晶振起振的自适应方法，其特征在于，所述方法包括：a.将晶振起振过程分成N个阶段，每个阶段对应一个起振方案，其中，N>1；b.使能晶振起振；c.执行第一起振方案，进入第一阶段的起振过程；d.判断所述晶振是否起振，若未起振，则执行步骤e；e.执行下一个起振方案，进入下一阶段的起振过程；f.重复执行步骤d
‑
e，直至所述晶振起振。2.如权利要求1所述的无源晶振起振的自适应方法，其特征在于，所述晶振起振后还包括：判断所述晶振的预热时间是否结束；若结束，则起振过程结束；若未结束，则继续判断晶振预热时间是否结束。3.如权利要求1所述的无源晶振起振的自适应方法，其特征在于，所述第一起振方案为传统激励方式。4.如权利要求1所述的无源晶振起振的自适应方法，其特征在于，第一次执行所述步骤e时，所述下一个起振方案为传统激励方式...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁晓明，许成珅，
申请(专利权)人：西安中颖电子有限公司，
类型：发明
国别省市：