一种封装开关芯片的测试电路制造技术

本申请公开了一种封装开关芯片的测试电路，通过测试芯片转接口与测试机连接芯片连接，将测试机资源引至测试电路板，由ATE测试机连接该接口输出输入结果，设置用于小批量实验测试的转接板接口和用于大批量工业测试的套接字接口，小批量时操作更方便，有利于节约测试程序开发周期，两相配合增加电路板复用性，使得生产线与实验室硬件同步，减小走线复杂度，减小数据差异，设置继电器控制测试机与测试芯片的通断来减少布线，设置上拉电阻用于确定引脚上电后的状态并限流，保证电流的稳定性，设置浮动电压电流源提供超出单个浮动源最大输出电压电流的测试能力，在减少布线的情况下保证测量精度，减小引入的杂波，增强抗干扰能力，提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种封装开关芯片的测试电路


[0001]本申请涉及集成电路
，具体涉及一种封装开关芯片的测试电路。

技术介绍

[0002]目前针对芯片流转到市场前的品质鉴定，在自动化测试方面主要由ATE测试机、分选机连接对应测试电路板进行测试，现有技术方案中ATE测试能够完成对芯片的自动测试前提是有与之匹配的测试电路板卡，测试电路板卡的设计方案决定了最终的测试效益，当下为满足分选机的工装要求，测试电路板Socket周边有大块禁止布线区域，外围电路离测试器件距离远，寄生参数大，对大电流和高速时间信号敏感，由于测试电路板外围器件使用的较多，走线复杂，使用过孔较多，导致引入的杂波多，从而导致电流不稳定，抗干扰能力弱，调试效率较低，测试良率低，从而带来额外的成本。

技术实现思路

[0003]本申请所要解决的技术问题是现有方案走线复杂，电流不稳定，抗干扰能力弱，测试效率低，目的在于提供一种封装开关芯片的测试电路，通过设置用于小批量实验测试的转接板接口和用于大批量工业测试的套接字接口，两相配合增加该电路板复用性，使得生产线与实验室硬件同步，减小走线复杂度，提高测试良率，设置继电器控制测试机与测试芯片的通断来减少布线，设置上拉电阻用于确定引脚上电后的状态并限流，保证电流的稳定性，设置浮动电压电流源提供超出单个浮动源最大输出电压电流的测试能力，在减少布线的情况下保证测量精度，减小引入的杂波，增强抗干扰能力，提高测试效率。
[0004]本申请通过下述技术方案实现：
[0005]一种封装开关芯片的测试电路，包括测试芯片和测试机连接芯片：
[0006]所述测试芯片通过转接口与测试机连接芯片连接，所述转接口包括用于小批量实验测试的转接板接口和用于大批量工业测试的套接字接口；
[0007]所述测试芯片与测试机连接芯片的连接电路中设置有若干继电器和上拉电阻，所述若干继电器用于控制测试机与测试芯片的通断，上拉电阻用于确定引脚上电后的状态并限流；
[0008]所述测试机连接芯片的输入与输出端跨接有浮动电压电流源。
[0009]本申请通过设置测试芯片通过转接口与测试机连接芯片连接进行芯片测试，将测试机资源引至测试电路板上，进而连接至测试芯片各引脚端，当需要为芯片引脚提供电压/电流，或需要测量电压/电流时，可由ATE测试机内部通过该接口输出输入结果，设置用于小批量实验测试的转接板接口和用于大批量工业测试的套接字接口，小批量时操作更方便，有利于节约测试程序开发周期，两相配合增加该电路板复用性，使得生产线与实验室硬件同步，减小走线复杂度，避免因硬件走线、制程等造成的数据差异，提高测试良率，设置继电器控制测试机与测试芯片的通断来减少布线，设置上拉电阻用于确定引脚上电后的状态并限流，保证电流的稳定性，设置浮动电压电流源提供超出单个浮动源最大输出电压电流的
测试能力，在减少布线的情况下保证测量精度，减小引入的杂波，增强抗干扰能力，提高测试效率。
[0010]进一步的，所述测试芯片和测试机连接芯片之间设置有用于滤除外界杂波的电容。通过设置滤波电容用以滤除外界杂波，使得施加在测试芯片上的电压/电流安全无干扰，同时也排除由芯片反馈回测试机的信号无杂波干扰测试结果。
[0011]进一步的，所述测试芯片输出端设置有负载电阻。设置负载电阻接在芯片输出端，模拟客户应用场景，充当虚拟负载，由继电器控制是否接入电路，确保参数测试的适用性和准确性。
[0012]进一步的，所述测试芯片和测试机连接芯片之间设置有预留接口，所述预留接口连接有电阻，所述预留接口电阻/电容与所述芯片的输入端、输出端连接。在调试过程中可根据需要焊接电阻、电容等来屏蔽多站同时并行测试中的干扰问题及解决其他阻抗匹配等测试问题，避免因测试电路板改版带来的时间、材料的成本浪费。
[0013]进一步的，所述测试芯片和测试机连接芯片之间还设置有阻抗匹配电阻。用于配合QTMU资源，避免反射，使得其通路信号发射与接收端阻抗匹配。
[0014]进一步的，所述转接板接口芯片连接有防呆电阻，所述防呆电阻设置在套接字接口和测试机连接芯片之间，所述防呆电阻设置有多个。用以确保站点资源连接及测试结果的准确对应关系。
[0015]进一步的，所述测试机连接芯片与ATE测试机连接，所述测试机连接芯片用于将测试机资源连通至测试电路板，所述测试机连接芯片为电流和电压的输入输出端。
[0016]进一步的，所述浮动电压电流源包括FOVI资源、FPVI资源和QVM资源，所述FPVI资源用于导通电阻、反向电流阻塞以及过流保护的大电流参数的测试，所述QVM资源用于小导通电阻的测试。
[0017]本申请与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：
[0018]通过设置用于小批量实验测试的转接板接口和用于大批量工业测试的套接字接口，两相配合增加该电路板复用性，使得生产线与实验室硬件同步，减小走线复杂度，设置继电器控制测试机与测试芯片的通断来减少布线，设置浮动电压电流源设置不同量程的测试，在减少布线的情况下保证测量精度，减小引入的杂波，增强抗干扰能力，提高测试效率。
附图说明
[0019]此处所说明的附图用来提供对本申请实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本申请实施例的限定。在附图中：
[0020]图1为本申请实施例中的SOT23
‑
6L测试电路图；
[0021]图2为本申请实施例中的测试机连接芯片电路图；
[0022]图3为本申请实施例中的转接板接口电路图；
[0023]图4为本申请实施例中的测试机连接芯片部分引脚连接电路图；
[0024]图5为本申请实施例中的转接板接口与测试机连接芯片连接电路图。
[0025]图6为本申请实施例中的SOT23
‑
5L测试电路图；
[0026]图7为本申请实施例中的QFN
‑
12L测试电路图；
[0027]图8为本申请实施例中的WLCPS测试电路图。
具体实施方式
[0028]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本申请作进一步的详细说明，本申请的示意性实施方式及其说明仅用于解释本申请，并不作为对本申请的限定。
[0029]实施例1
[0030]如图1和图2所示，本实施例提供一种基于SOT23
‑
6L封装开关芯片的测试电路，包括测试芯片和测试机连接芯片：
[0031]测试芯片通过转接口与测试机连接芯片连接，转接口包括用于小批量实验测试的转接板接口和用于大批量工业测试的套接字接口；
[0032]测试芯片与测试机连接芯片的连接电路中设置有若干继电器和上拉电阻，若干继电器用于控制测试机与测试芯片的通断，上拉电阻用于确定引脚上电后的状态并限流；
[0033]测试机连接芯片的输入与输出端跨接有浮动电压电流源。
[0034]本申请通过设置测试芯片通过转接口与测试机连接芯片连接进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种封装开关芯片的测试电路，其特征在于，包括测试芯片和测试机连接芯片：所述测试芯片通过转接口与测试机连接芯片连接，所述转接口包括用于小批量实验测试的转接板接口和用于大批量工业测试的套接字接口；所述测试芯片与测试机连接芯片的连接电路中设置有若干继电器和上拉电阻，所述若干继电器用于控制测试机与测试芯片的通断，上拉电阻用于确定引脚上电后的状态并限流；所述测试机连接芯片的输入与输出端跨接有浮动电压电流源。2.根据权利要求1所述的封装开关芯片的测试电路，其特征在于，所述测试芯片和测试机连接芯片之间设置有用于滤除外界杂波的电容。3.根据权利要求1所述的封装开关芯片的测试电路，其特征在于，所述测试芯片输出端设置有负载电阻。4.根据权利要求1所述的封装开关芯片的测试电路，其特征在于，所述测试芯片和测试机连接芯片之间设置有预留接口，所述预留接口连接有电阻，所述预留接口电阻/电容与所述芯片的输入端、输出端连接。5.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙霓，
申请(专利权)人：杰夫微电子四川有限公司，
类型：新型
国别省市：