一种芯片式样品杆用芯片安装工装制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片式样品杆用芯片安装工装，包括样品杆，所述样品杆的一侧设有滑块套，所述样品杆的一端穿过滑块套并延伸至内部，所述滑块套上螺纹连接有限位旋钮，所述滑块套的一端端面上螺纹连接有定位旋钮，所述滑块套上固定连接有两根定位稍，所述滑块套上设有与两根定位稍相匹配的对准块，所述对准块的上方设有第一螺丝，所述样品杆处于滑块套和对准块之间。本实用新型专利技术，通过滑块与对准块的结合，能方便的对准安装螺钉，安装螺钉时仅需把螺钉轻轻丢到漏斗口，即能保证螺钉能精确落到确定螺纹处，并保持直立姿态，大大提高了安装效率，同时使得安装芯片过程不会因为螺钉倾倒弄坏芯片或者实验样品。倾倒弄坏芯片或者实验样品。倾倒弄坏芯片或者实验样品。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片式样品杆用芯片安装工装


[0001]本技术涉及透射电子显微镜配件及纳米材料原位测量研究
，更具体地说，本技术涉及一种芯片式样品杆用芯片安装工装。

技术介绍

[0002]近20年来，球差矫正透射电子显微镜技术以优异的空间分辨率、时间分辨率使原子尺度表征取得了巨大进步，为物理学、化学、材料科学、电子信息、半导体等领域科技的进步做出了突出贡献。这也促使科研人员提出更多的问题，使得原位外场加载技术成为当下研究的热点之一。
[0003]为了深层次的理解各种外场加载下材料微观结构的变化，国内外多家企业和科研单位研发了不同类型的原位样品杆，用于原位实时观察与研究，这有助于研究人员从根源上理解材料。同时，受透射电镜毫米级空间、微米级观察区域限制，为了集成各种想要的功能，研究者使用现代集成电路加工方法开发具有各种功能的MEMS芯片。将样品通过FIB等方式搭载在芯片上后转移到原位样品杆上，然后插入透射电镜中实现原位观察。整个安装过程要非常小心，轻微的振动可能就会造成样品的损坏。需要一种对齐安装工装，在固定芯片过程中保护样品。
[0004]因此我们提出了一种芯片式样品杆用芯片安装工装来解决上述问题。

技术实现思路

[0005]为了克服现有技术的上述缺陷，本技术的实施例提供一种芯片式样品杆用芯片安装工装，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片式样品杆用芯片安装工装，包括样品杆，所述样品杆的一侧设有滑块套，所述样品杆的一端穿过滑块套并延伸至内部；
[0007]所述滑块套上螺纹连接有限位旋钮，所述滑块套的一端端面上螺纹连接有定位旋钮；
[0008]所述滑块套上固定连接有两根定位稍，所述滑块套上设有与两根定位稍相匹配的对准块，所述对准块的上方设有第一螺丝，所述样品杆处于滑块套和对准块之间。
[0009]本装置中，通过滑块与对准块的结合，能方便的对准安装螺钉；安装螺钉时仅需把螺钉轻轻丢到漏斗口，即能保证螺钉能精确落到确定螺纹处，并保持直立姿态，大大提高了安装效率，同时使得安装芯片过程不会因为螺钉倾倒弄坏芯片或者实验样品。
[0010]在一个优选地实施方式中，所述滑块套上设有与样品杆相匹配的滑槽，所述滑块套上设有开口，所述开口处于滑槽的一侧，所述定位旋钮处于开口的一侧。
[0011]在一个优选地实施方式中，所述滑块套上设有限位槽，所述样品杆上固定连接有与限位槽相匹配的限位杆。
[0012]在一个优选地实施方式中，所述对准块上设有卡槽，所述对准块上设有与定位稍
相匹配的定位通孔，所述对准块上设有对准台，所述第一螺丝处于对准台的上方。
[0013]在一个优选地实施方式中，所述对准台呈圆台状，并开有一字槽孔方便使用镊子，所述对准台上端直径大于下端直径，所述对准台下端直径大于第一螺丝直径。
[0014]在一个优选地实施方式中，镊子夹持第一螺丝，将第一螺丝的螺帽朝上轻轻放置在对准台中，第一螺丝滑入样品杆上的螺钉孔。
[0015]在一个优选地实施方式中，所述滑块套与样品杆前端滑动配合，可选用高分子材料或金属材料。
[0016]在一个优选地实施方式中，所述对准台上的通孔尺寸最小处比第一螺丝帽直径大2
‑
5丝。
[0017]在一个优选地实施方式中，所述对准台可选用高分子材料或金属材料。
[0018]在一个优选地实施方式中，所述对准台对准样品杆芯片螺孔，所述对准台下端平面略高于准样品杆芯片表面。
[0019]本技术的技术效果和优点：
[0020]本装置通过滑块与对准块的结合，能方便的对准安装螺钉；安装螺钉时仅需把螺钉轻轻丢到漏斗口，即能保证螺钉能精确落到确定螺纹处，并保持直立姿态，大大提高了安装效率，同时使得安装芯片过程不会因为螺钉倾倒弄坏芯片或者实验样品。
附图说明
[0021]图1为本技术中实施例一所述的结构示意图；
[0022]图2为本技术中实施例一所述的第一视角结构示意图；
[0023]图3为本技术中实施例一所述的第二视角结构示意图；
[0024]图4为本技术中实施例一所述的局部分解结构示意图；
[0025]图5为本技术中实施例一所述的局部连接结构示意图；
[0026]图6为本技术中实施例一所述对准块的连接结构示意图；
[0027]图7为图6的仰视连接结构示意图；
[0028]图8为本技术中实施例二所述的结构示意图；
[0029]图9为本技术中实施例二所述的局部连接结构示意图；
[0030]图10为图9的分解结构示意图；
[0031]图11为图1的仰视连接结构示意图。
[0032]附图标记为：1样品杆、2滑块套、3限位旋钮、4定位旋钮、5定位稍、6滑槽、7开口、8限位槽、9限位杆、10对准块、11卡槽、12定位通孔、13对准台、14第一螺丝、15紧固旋钮、16放置块、17定位导轨、18定位块、19定位槽、20漏斗台、21第二螺丝、22固定旋钮、23滑台。
具体实施方式
[0033]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0034]参照图1
‑
7，一种芯片式样品杆用芯片安装工装，包括样品杆1，样品杆1的一侧设
有滑块套2，滑块套2与样品杆1前端滑动配合，可选用高分子材料或金属材料，样品杆1的一端穿过滑块套2并延伸至内部，滑块套2上设有与样品杆1相匹配的滑槽6，滑块套3上设有开口7，开口7处于滑槽6的一侧，定位旋钮4处于开口7的一侧，其中滑槽6为圆形槽，并且滑槽6的尺寸与样品杆1前端直径一致，从而作为Y、Z方向的运动束缚；
[0035]而滑块套2上设有有一平面，与样品杆1前端框架共面，作为R旋转方向的束缚，尤为注意的是，定位稍5处于平面上
[0036]滑块套3的一端端面上螺纹连接有定位旋钮4，用来确定X方向位置；同时定位旋钮4作为X方向的运动束缚。
[0037]滑块套2上设有限位槽8，样品杆1上固定连接有与限位槽8相匹配的限位杆9，滑块套3上螺纹连接有限位旋钮3，其中限位旋钮3起到固定样品杆1的目的。
[0038]滑块套3上固定连接有两根定位稍5，对准块10上设有卡槽11，对准块10上设有与定位稍5相匹配的定位通孔12，其中粗调定位稍5，使得待芯片螺纹孔与两个定位稍5共线。
[0039]滑块套3上设有与两根定位稍相匹配的对准块10，对准块10上设有对准台13，第一螺丝14处于对准台13的上方，对准台13呈圆台状，并开有一字槽孔方便使用镊子，对准台13上端直径大于下端直本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片式样品杆用芯片安装工装，包括样品杆(1)，其特征在于；所述样品杆(1)的一侧设有滑块套(2)，所述样品杆(1)的一端穿过滑块套(2)并延伸至内部；所述滑块套(2)上螺纹连接有限位旋钮(3)，所述滑块套(2)的一端端面上螺纹连接有定位旋钮(4)；所述滑块套(2)上固定连接有两根定位稍(5)，所述滑块套(2)上设有与两根定位稍相匹配的对准块(10)，所述对准块(10)的上方设有第一螺丝(14)，所述样品杆(1)处于滑块套(2)和对准块(10)之间。2.根据权利要求1所述的一种芯片式样品杆用芯片安装工装，其特征在于：所述滑块套(2)上设有与样品杆(1)相匹配的滑槽(6)，所述滑块套(2)上设有开口(7)，所述开口(7)处于滑槽(6)的一侧，所述定位旋钮(4)处于开口(7)的一侧。3.根据权利要求1所述的一种芯片式样品杆用芯片安装工装，其特征在于：所述滑块套(2)上设有限位槽(8)，所述样品杆(1)上固定连接有与限位槽(8)相匹配的限位杆(9)。4.根据权利要求1所述的一种芯片式样品杆用芯片安装工装，其特征在于：所述对准块(10)上设有卡槽(11)，所述对准块(10)上设有与定位稍(5)相匹配的定位通孔(12)，所述对准块(10)上设有对准台(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：李海鑫，段占京，李志鹏，
申请(专利权)人：百实创北京科技有限公司，
类型：新型
国别省市：