一种半导体用带有限位结构的检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种半导体用带有限位结构的检测装置，包括机体、连接架和检测探头，机体顶部一侧开设有缓冲槽，缓冲槽内槽设有限位座，限位座顶部设有开槽，限位座开槽内壁开设有两个滑槽，另两个滑槽均滑动连接有限位板，本实用新型专利技术具有以下优点：通过夹持结构将半导体晶片就进行夹持，保证了检测过程的稳定性，提升检测的效率；通过在夹持结构的下方设置缓冲结构，保证在探针下压时，晶片能够得到缓冲，防止检测下压的力度过大对其造成损伤。防止检测下压的力度过大对其造成损伤。防止检测下压的力度过大对其造成损伤。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体用带有限位结构的检测装置


[0001]本技术涉及半导体检测
，具体涉及一种半导体用带有限位结构的检测装置。

技术介绍

[0002]半导体主要是用于集成电力路领域的一种用具类型，用于集成电路的内部元器件制造使用；
[0003]半导体生产时需要对其进行电路通路的通电检测，现在的检测装置一般都是将半导体平放在设备的检测探头下方；
[0004]缺少对半导体的限位结构，存在半导体检测时不稳定的情况存在，容易产生检测稳定性较差；
[0005]所以这里设计生产了一种半导体用带有限位结构的检测装置，以便于解决上述问题。

技术实现思路

[0006]本技术提供一种半导体用带有限位结构的检测装置，用于解决上述
技术介绍
中所提出的问题。
[0007]为了解决上述技术问题，本技术提供了如下的技术方案：一种半导体用带有限位结构的检测装置，包括机体、连接架和检测探头，所述机体顶部一侧开设有缓冲槽，所述缓冲槽内槽设有限位座，所述限位座顶部设有开槽，所述限位座开槽内壁开设有两个滑槽，另两个所述滑槽均滑动连接有限位板。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案，所述连接架螺栓连接于机体顶部缓冲槽的一侧，所述连接架相对限位座的一侧滑动设有检测探头。
[0009]作为本技术的一种优选技术方案，所述滑槽内槽焊接连接有滑杆，所述滑杆与限位板贯穿且滑动连接，两个所述限位板相反一侧与滑槽内壁之间焊接连接有限位弹簧。
[0010]作为本技术的一种优选技术方案，两个所述限位板相对一侧上方均固定连接有防脱板，两个所述限位板相对一侧侧壁均设有防护胶层。
[0011]作为本技术的一种优选技术方案，所述缓冲槽内槽底部固定连接有缓冲杆，所述缓冲杆贯穿且滑动连接有两个缓冲块，所述缓冲块与限位座之间转动连接有缓冲连杆。
[0012]作为本技术的一种优选技术方案，两个所述缓冲块相对一侧之间设有缓冲弹簧。
[0013]本技术所达到的有益效果是：
[0014]通过夹持结构将半导体晶片就进行夹持，保证了检测过程的稳定性，提升检测的效率；通过在夹持结构的下方设置缓冲结构，保证在探针下压时，晶片能够得到缓冲，防止
检测下压的力度过大对其造成损伤。
附图说明
[0015]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。
[0016]在附图中：
[0017]图1是本技术的正剖视结构示意图；
[0018]图2是本技术图1的A处放大结构示意图；
[0019]图3是本技术图1的B处放大结构示意图。
[0020]图中：1、机体；2、连接架；3、检测探头；4、缓冲槽；5、限位座；6、滑槽；7、限位板；8、滑杆；9、限位弹簧；10、防脱板；11、防护胶层；12、缓冲杆；13、缓冲块；14、缓冲连杆；15、缓冲弹簧。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]实施例一
[0023]如图1
‑
2所示，本技术一种半导体用带有限位结构的检测装置，包括机体1、连接架2和检测探头3，机体1顶部一侧开设有缓冲槽4，缓冲槽4内槽设有限位座5，限位座5顶部设有开槽，限位座5开槽内壁开设有两个滑槽6，另两个滑槽6均滑动连接有限位板7，通过两个限位板7同步滑动，将不同大小的半导体进行夹持，保证半导体夹持的稳定性，连接架2螺栓连接于机体1顶部缓冲槽4的一侧，连接架2相对限位座5的一侧滑动设有检测探头3，滑槽6内槽焊接连接有滑杆8，滑杆8与限位板7贯穿且滑动连接，两个限位板7相反一侧与滑槽6内壁之间焊接连接有限位弹簧9，两个限位板7相对一侧上方均固定连接有防脱板10，两个限位板7相对一侧侧壁均设有防护胶层11，在对半导体进行检测时，将半导体片放到限位座5的顶部开槽内的两个限位板7之间，此时通过限位板7在滑槽6内的滑杆8上滑动，并通过限位弹簧9回弹即可通过限位板7将半导体夹持固定，然后通过防脱板10防止其从上方脱出，并且防护胶层11能够保证对半导体限位时不会对其造成过度损伤。
[0024]实施例二
[0025]如图3所示，在实施例1的基础上做了进一步改进：
[0026]为了在对半导体下压检测时保证其安全，通过限位座5底部转动连接有缓冲连杆14，缓冲连杆14另一端转动连接有缓冲块13，缓冲块13贯穿且滑动连接有缓冲杆12，缓冲杆12固定连接于缓冲槽4内槽，两个缓冲块13相对一侧之间靠近缓冲杆12外侧设有缓冲弹簧15，在检测探头3下降到半导体表面通电检测时，如果发生下压力过大时，此时限位座5在缓冲槽4内槽向下移动，并推动缓冲连杆14和缓冲块13在缓冲杆12上向外滑动，并拉伸缓冲弹簧15实现缓冲效果吧，保证检测的稳定和半导体的安全。
[0027]尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，
可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体用带有限位结构的检测装置，包括机体(1)、连接架(2)和检测探头(3)，其特征在于：所述机体(1)顶部一侧开设有缓冲槽(4)，所述缓冲槽(4)内槽设有限位座(5)，所述限位座(5)顶部设有开槽，所述限位座(5)开槽内壁开设有两个滑槽(6)，另两个所述滑槽(6)均滑动连接有限位板(7)。2.如权利要求1所述的一种半导体用带有限位结构的检测装置，其特征在于，所述连接架(2)螺栓连接于机体(1)顶部缓冲槽(4)的一侧，所述连接架(2)相对限位座(5)的一侧滑动设有检测探头(3)。3.如权利要求1所述的一种半导体用带有限位结构的检测装置，其特征在于，所述滑槽(6)内槽焊接连接有滑杆(8)，所述滑杆(8)与限位板(7)贯穿且滑动连...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈富伦，
申请(专利权)人：连云港太平洋润辉光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：