ADC芯片测试用电连接器制造技术

本实用新型专利技术公开了ADC芯片测试用电连接器，具体涉及芯片测试技术领域，现有的芯片测试电连接器上的芯片连接件在不使用时会有的灰尘落在其表面，影响连接件的使用寿命，连接插头在在使用过程中容易因意外的拉动使得连接位置的插头出现松动，进而使得连接处出现接触不良，包括连接器本体，连接器本体外侧表面连接有连接插头，本实用新型专利技术在不需要对芯片进行测试时，可通过向上拉动拉块从而通过活动杆使滑板向上移动，从侧面移动防尘壳使防尘壳位于矩形槽的上方，将防尘壳插入到矩形槽内，将芯片连接板位于防尘壳的内部，之后松开拉块通过弹簧的力，使方形块插入到方形孔内将防尘壳固定住，在不使用时，防止灰尘与芯片连接板接触，影响其使用寿命。影响其使用寿命。影响其使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
ADC芯片测试用电连接器


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体为ADC芯片测试用电连接器。

技术介绍

[0002]随着消费类电子产品的日益发展，越来越多公司更加注重产品的出产测试，从而需要测试设备对产品的主板进行。
[0003]现有芯片测试电连接器在使用时还存在着一些问题：
[0004]1、现有的芯片测试电连接器上的芯片连接件在不使用时会有的灰尘落在其表面，从而影响连接件的使用寿命；
[0005]2、连接插头在在使用过程中容易因意外的拉动使得连接位置的插头出现松动，进而使得连接处出现接触不良，影响测试结果，为此我们提出ADC芯片测试用电连接器用于解决上述问题。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供ADC芯片测试用电连接器，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0007]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：ADC芯片测试用电连接器，包括连接器本体，所述连接器本体外侧表面连接有连接插头，所述连接器本体上设有芯片连接板，所述连接器本体上设有防护组件，所述连接器本体的外侧表面固定设有辅助固定组件，所述连接插头与辅助固定组件活动接触；
[0008]所述防护组件包括防尘壳与矩形槽，所述防尘壳的外侧表面固定设有连接块，所述连接块的上表面开设有方形孔，所述连接器本体的上表面开设有矩形槽，所述防尘壳与矩形槽的内表面活动接触，所述连接器本体的上表面固定设有矩形板，所述矩形板的内表面固定设有弹簧，所述弹簧的下表面固定设有滑板，所述滑板与矩形板滑动贴合，所述滑板的下表面固定设有方形块，所述方形块可活动插设在方形孔内，所述滑板远离方形块的一侧固定设有活动杆，所述活动杆活动贯穿矩形板。
[0009]作为本技术的一种优选技术方案，所述辅助固定组件包括固定块，所述固定块固定连接在连接器本体的外侧表面，所述固定块的上表面固定圆形块，所述圆形块的上端固定设有卡扣，所述卡扣可活动夹持住连接插头，所述卡扣的外侧表面螺纹插设有螺栓，所述螺栓的外侧表面螺纹套设有螺母。
[0010]作为本技术的一种优选技术方案，所述弹簧设有两个，且弹簧对称设置在矩形板与滑板之间。
[0011]作为本技术的一种优选技术方案，所述矩形板的截面形状为“L”形。
[0012]作为本技术的一种优选技术方案，所述活动杆远离滑板的一端固定设有拉块。
[0013]作为本技术的一种优选技术方案，所述连接块设有两个，且连接块对称设置
在防尘壳的外侧表面。
[0014]与现有技术相比，本技术的有益效果在于：
[0015]1.本技术在不需要对芯片进行测试时，可通过向上拉动拉块从而通过活动杆使滑板向上移动，从而侧面移动防尘壳使防尘壳位于矩形槽的上方，将防尘壳插入到矩形槽内，将芯片连接板位于防尘壳的内部，之后松开拉块通过弹簧的力，使方形块插入到方形孔内将防尘壳固定住，在不使用时，防止灰尘与芯片连接板接触，影响其使用寿命；
[0016]2.本技术在连接插头与连接器本体连接时，可先转动螺母将卡扣调松，使连接插头可从卡扣内穿过，之后在将连接插头穿过卡扣，反向转动螺母使其配合螺栓使卡扣夹紧连接插头，防止误触使得连接处出现接触不良，影响测试结果。
附图说明
[0017]图1为本技术结构示意图，
[0018]图2为本技术防护组件结构示意图，
[0019]图3为本技术图2中A处放大结构示意图，
[0020]图4为本技术辅助固定组件结构示意图。
[0021]图中：1、连接器本体；11、连接插头；12、芯片连接板；2、防护组件； 21、防尘壳；211、矩形槽；22、连接块；23、方形孔；24、矩形板；25、弹簧； 26、滑板；27、方形块；28、活动杆；29、拉块；3、辅助固定组件；31、固定块；32、圆形块；33、卡扣；34、螺栓；35、螺母。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]实施例：如图1
‑
4所示，本技术提供了ADC芯片测试用电连接器，包括连接器本体1，所述连接器本体1外侧表面连接有连接插头11，所述连接器本体1的上设有芯片连接板12，所述连接器本体1上设有防护组件2，所述连接器本体1外侧表面固定设有辅助固定组件3，所述连接插头11与辅助固定组件 3活动接触；
[0024]所述防护组件2包括防尘壳21与矩形槽211，所述防尘壳21的外侧表面固定设有连接块22，所述连接块22设有两个，且连接块22对称设置在防尘壳21 的外侧表面，所述连接块22的上表面开设有方形孔23，所述连接器本体1的上表面开设有矩形槽211，所述防尘壳21与矩形槽211的内表面活动接触，所述连接器本体1的上表面固定设有矩形板24，所述矩形板24的截面形状为“L”形，所述矩形板24的内表面固定设有弹簧25，所述弹簧25设有两个，且弹簧 25对称设置在矩形板24与滑板26之间，所述弹簧25的下表面固定设有滑板 26，所述滑板26的下表面固定设有方形块27，所述方形块27可活动插设在方形孔23内，所述滑板26远离方形块27的一侧固定设有活动杆28，所述活动杆 28远离滑板26的一端固定设有拉块29，所述活动杆28活动贯穿矩形板24，在不需要对芯片进行测试时，可通过向上拉动拉块29从而通过活动杆28使滑板 26向上移动，从而侧面移动防尘壳21使防尘壳21位于矩形槽211的上方，将防尘壳21插入到矩形槽211内，将芯片连接板12位于防尘壳21的内部，之后
松开拉块29通过弹簧25的力，使方形块27插入到方形孔23内将防尘壳21固定住，在不使用时，防止灰尘与芯片连接板12接触，影响其使用寿命。
[0025]进一步的，所述辅助固定组件3包括固定块31，所述固定块31固定连接在连接器本体1的外侧表面，所述固定块31的上表面固定圆形块32，所述圆形块 32的上端固定设有卡扣33，所述卡扣33可活动夹持住连接插头11，所述卡扣 33的外侧表面螺纹插设有螺栓34，与螺母35均设有两个，所述螺栓34的外侧表面螺纹套设有螺母35，在连接插头11与连接器本体1连接时，可先转动螺母 35将卡扣33调松，使连接插头11可从卡扣33内穿过，之后在将连接插头11 穿过卡扣33，反向转动螺母35使其配合螺栓34使卡扣33夹紧连接插头11，防止误触使得连接处出现接触不良，影响测试结果。
[0026]工作原理：本技术在不需要对芯片进行测试时，可通过向上拉动拉块 29从而通过活动杆28使滑板26向上移动，从侧面移动防尘壳21使防尘壳21 位于矩形槽211的上方，将防尘壳21插入到矩形槽211内，将芯片连接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.ADC芯片测试用电连接器，包括连接器本体(1)，其特征在于：所述连接器本体(1)外侧表面连接有连接插头(11)，所述连接器本体(1)上设有芯片连接板(12)，所述连接器本体(1)上设有防护组件(2)，所述连接器本体(1)的外侧表面固定设有辅助固定组件(3)，所述连接插头(11)与辅助固定组件(3)活动接触；所述防护组件(2)包括防尘壳(21)与矩形槽(211)，所述防尘壳(21)的外侧表面固定设有连接块(22)，所述连接块(22)的上表面开设有方形孔(23)，所述连接器本体(1)的上表面开设有矩形槽(211)，所述防尘壳(21)与矩形槽(211)的内表面活动接触，所述连接器本体(1)的上表面固定设有矩形板(24)，所述矩形板(24)的内表面固定设有弹簧(25)，所述弹簧(25)的下表面固定设有滑板(26)，所述滑板(26)与矩形板(24)滑动贴合，所述滑板(26)的下表面固定设有方形块(27)，所述方形块(27)可活动插设在方形孔(23)内，所述滑板(26)远离方形块(27)的一侧固定设有活动杆(28)，所述活动杆(28)活动...

【专利技术属性】
技术研发人员：张雄，李琨莹，
申请(专利权)人：劳瑞科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：