一种批量拉伸试样标距划线装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种批量拉伸试样标距划线装置，属于拉伸试样标距划线装置技术领域；解决了现有拉伸试样划线装置结构复杂，无法精确地对批量拉伸试样进行高效划标距线的问题。本发明专利技术的批量拉伸试样标距划线装置包括支撑单元、置样单元、标距单元和划线单元；置样单元、标距单元和划线单元均设于支撑单元上，置样单元用于固定拉伸试样；标距单元用于对拉伸试样进行标距；划线单元用于对标距后的拉伸试样进行划线；标距单元在竖直方向上的设置高度高于置样单元。本发明专利技术能够对不同规格、不同样式的批量拉伸试样进行划标距线，不仅高效，而且精确度高。确度高。确度高。

【技术实现步骤摘要】
一种批量拉伸试样标距划线装置


[0001]本专利技术涉及拉伸试样标距划线装置
，尤其涉及一种批量拉伸试样标距划线装置。

技术介绍

[0002]拉伸试样是材料力学性能试验中最常见的方法之一，其中，断后伸长率为断裂后原始标距的伸长量与原始标距之比，是评估材料塑性的重要指标。
[0003]现有技术中，拉伸试样原始标距一般应用卡尺手画标记、专用标距打点机及激光打标等方式。其中，卡尺手画标记一次只可对一根拉伸试样进行标记，耗时长、效率低。同时，手工操作对操作人员熟练度及操作规范要求较高，容易出现误差大、精准度低的情况。而专用标距打点机容易出现打点深、破坏金属表面的情况，从而加速拉伸试样断裂，造成实验数据不准确。激光打标装置利用激光束照射样品表面从而划出标距，此种装置费用高且激光器易出现故障，影响试验进度。

技术实现思路

[0004]鉴于上述的分析，本专利技术旨在提供一种批量拉伸试样标距划线装置，用以解决现有拉伸试样划线装置结构复杂，无法精确地对批量拉伸试样进行高效划标距线的问题。
[0005]本专利技术的目的主要是通过以下技术方案实现的：
[0006]一方面，本专利技术提供了一种批量拉伸试样标距划线装置，该标距划线装置包括支撑单元、置样单元、标距单元和划线单元；
[0007]置样单元、标距单元和划线单元均设于支撑单元上，置样单元用于固定拉伸试样；标距单元用于对拉伸试样进行标距；划线单元用于对标距后的拉伸试样进行划线；
[0008]标距单元在竖直方向上的设置高度高于置样单元。
[0009]在一种可能的设计中，支撑单元包括矩形状基座；
[0010]置样单元包括结构相同的第一置样台和第二置样台，第一置样台和第二置样台沿基座长度方向平行设置，拉伸试样被固定于第一置样台和第二置样台之间且与两者垂直。
[0011]在一种可能的设计中，支撑单元还包括第一基座导轨和第二基座导轨，第一基座导轨和第二基座导轨沿基座宽度方向平行设置；
[0012]第一置样台和第二置样台的两端均与第一基座导轨和第二基座导轨滑动连接；第一置样台和第二置样台能够沿在第一基座导轨和第二基座导轨相向或反向滑动。
[0013]在一种可能的设计中，第一置样台和第二置样台的底部两端均设有导轨槽；第一置样台的底部两端通过导轨槽分别与第一基座导轨和第二基座导轨装配，同样地，第二置样台的底部两端通过导轨槽分别与第一基座导轨和第二基座导轨装配。
[0014]在一种可能的设计中，标距单元包括标距块、结构相同且相互平行设置的第一刻度尺座和第二刻度尺座。
[0015]在一种可能的设计中，第一刻度尺座和第二刻度尺座沿基座的宽度方向分别设于
基座的两端，标距块沿基座的长度方向设于第一刻度尺基座和第二刻度尺基座之间，标距块与第一刻度尺基座和第二刻度尺基座滑动连接。
[0016]在一种可能的设计中，标距单元还包括定位游标；
[0017]定位游标设于标距块的两端，定位游标上设有矩形腔滑轨，矩形腔滑轨嵌套于第一刻度尺座和第二刻度尺座上。
[0018]在一种可能的设计中，划线单元包括结构和组成均相同的第一划线组件和第二划线组件；第一划线组件设于第一置样台上，第二划线组件设于第二置样台上；第一划线组件和第二划线组件用于对拉伸试样两端的标距位置处划线。
[0019]在一种可能的设计中，第一划线组件包括第一置样台导轨、移动槽、划线刀和划线刀固定块；第一置样台导轨与移动槽垂直设置；
[0020]第一置样台导轨设于第一置样台上，移动槽底端设有第一凹槽，移动槽通过第一凹槽嵌套于第一置样台导轨上；
[0021]划线刀设于划线刀固定块上，划线刀固定块设于移动槽上。
[0022]与现有技术相比，本专利技术至少可实现如下有益效果之一：
[0023](1)本专利技术采用可放置批量拉伸试样的第一置样台和第二置样台以及可滑动的划线刀，可同时快速、高效完成批量拉伸试样标距划线。
[0024](2)本专利技术的第一置样台和第二置样台的固定部上设有V字型槽和一字型台能够满足圆形截面、矩形截面、圆管等多种规格拉伸试样的标距划线需求。
[0025](3)本专利技术结构简单，容易操作，配套条件要求低，环境适用性强，制造成本低，精确度高，可高效地批量对拉伸试样标距进行划线，满足多规格多样式拉伸试样标距划线使用。
[0026]本专利技术中，上述各技术方案之间还可以相互组合，以实现更多的优选组合方案。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分优点可从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过说明书实施例以及附图中所特别指出的内容中来实现和获得。
附图说明
[0027]附图仅用于示出具体实施例的目的，而并不认为是对本专利技术的限制，在整个附图中，相同的参考符号表示相同的部件。
[0028]图1为本专利技术的批量拉伸试样标距划线装置的整体结构示意图；
[0029]图2为第一置样台的结构示意图一；
[0030]图3为标距块和定位游标的结构示意图；
[0031]图4为划线单元的结构示意图；
[0032]图5为划线刀的结构示意图；
[0033]图6为图5的左视图；
[0034]图7为实施例1提供的非比例矩形横截面机加工试样的结构示意图；
[0035]图8为实施例2提供的比例圆形横截面机加工试样的结构示意图；
[0036]图9为实施例3提供的正六边形截面不经加工试样的结构示意图；
[0037]图10为实施例3提供的正六边形截面不经加工试样划标距线后的结构示意图；
[0038]图11为实施例4提供的圆管管段试样的结构示意图；
[0039]图12为第一置样台的结构示意图二；
[0040]图13为第一置样台上V字型槽和一字型台的结构示意图。
[0041]附图标记：
[0042]1‑
基座，2
‑
第一置样台；3
‑
第二置样台；4
‑
第一基座导轨；5
‑
第二基座导轨；6
‑
第一置样台导轨；7
‑
第二置样台导轨；8
‑
第一划线组件；9
‑
第二划线组件；10
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第一刻度尺座；11
‑
第二刻度尺座；12
‑
标距块；13
‑
定位游标；14
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定位螺钉；15
‑
支撑部；16
‑
固定部；17
‑
V字型槽；18
‑
V字型支撑臂；19
‑
一字型台；20
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第一紧固螺钉；21
‑
移动槽；22
‑
连杆；23
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压缩弹簧；24
‑
滑块；25
‑
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种批量拉伸试样标距划线装置，其特征在于，包括支撑单元、置样单元、标距单元和划线单元；所述置样单元、标距单元和所述划线单元均设于所述支撑单元上，所述置样单元用于固定拉伸试样；所述标距单元用于对所述拉伸试样进行标距；所述划线单元用于对标距后的拉伸试样进行划线；所述标距单元在竖直方向上的设置高度高于所述置样单元。2.根据权利要求1所述的批量拉伸试样标距划线装置，其特征在于，所述支撑单元包括矩形的基座；所述置样单元包括结构相同的第一置样台和第二置样台，所述第一置样台和所述第二置样台沿所述基座长度方向平行设置，所述拉伸试样被固定于所述第一置样台和所述第二置样台之间且与两者垂直。3.根据权利要求2所述的批量拉伸试样标距划线装置，其特征在于，所述支撑单元还包括第一基座导轨和第二基座导轨，所述第一基座导轨和第二基座导轨沿基座宽度方向平行设置；所述第一置样台和所述第二置样台的两端均与第一基座导轨和第二基座导轨滑动连接；所述第一置样台和所述第二置样台能够沿在所述第一基座导轨和所述第二基座导轨相向或反向滑动。4.根据权利要求3所述的批量拉伸试样标距划线装置，其特征在于，所述第一置样台和第二置样台的底部两端均设有导轨槽；所述第一置样台的底部两端通过导轨槽分别与第一基座导轨和第二基座导轨装配，同样地，所述第二置样台的底部两端通过导轨槽分别与第一基座导轨和第二基座导轨装配。5.根据权利要求4所述的批量拉伸试样标距划线装置，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李玉博，高红月，韩翼龙，赵伟杰，孙新宇，张永，
申请(专利权)人：北京航星机器制造有限公司，
类型：发明
国别省市：