本发明专利技术涉及框架内腔对称度精密测量用辅助装置及测量方法，包括顶尖固定部分和框架定位部分；顶尖固定部分包括底板、定位导向条、两顶尖定位块、两上盖和两顶尖；定位导向条固装于底板上端，两顶尖定位块通过定位导向槽与定位导向条滑动定位配合，并通过螺钉压固；两上盖与两顶尖定位块上端连接，两上盖上的凹槽与两顶尖定位块上的V形槽分别对正，各围成一个顶尖定位空间，两顶尖通过顶尖杆同轴插装于两顶尖定位空间内，并通过螺钉固定；框架定位部分包括固定柱、连接杆、压盖及限位柱；固定柱下端与底板固连，连接杆尾端与定位柱上部转动套装，压盖与定位柱上端连接；限位柱沿竖向与连接杆前端固连。本发明专利技术可实现框架内腔对称度的快速准确测量。快速准确测量。快速准确测量。
【技术实现步骤摘要】
一种框架内腔对称度精密测量用辅助装置及测量方法
[0001]本专利技术属于精密测量
，具体涉及一种框架内腔对称度精密测量方法及装置。
技术介绍
[0002]陀螺仪框架1为两端设置有旋转轴1.1，中部设置有方形内腔1.2的架体结构，在两端的旋转轴上设置有顶尖孔1.3。在使用时框架的内腔侧壁对于顶尖孔有对称度要求，如图1所示。此类框架一般用于高速旋转，内腔对于顶尖孔的对称度直接影响整体旋转动平衡。
[0003]目前，带内腔框架对称度测量主要使用机床主轴安装杠杆表盘，找正机床顶尖轴线，旋转主轴，通过杠杆表接触两测量端面与顶尖轴线相对距离，评定对称度。此方案技术成熟，但是操作流程复杂，测量周期长、测量精度有待提高。
[0004]因此，为了保证后期框架在旋转过程中可靠性，需要优化测量方法，以提高带内腔框架对称度的测量精度和准确度及缩短测量周期。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的是在于克服现有技术的不足之处，提供一种框架内腔对称度精密测量用辅助装置及测量方法。
[0006]本专利技术的上述目的之一通过如下技术方案来实现：
[0007]一种框架内腔对称度精密测量用辅助装置，其特征在于：包括顶尖固定部分和框架定位部分；
[0008]所述顶尖固定部分包括底板、定位导向条、两顶尖定位块、两上盖和两顶尖；定位导向条沿底板长边方向固定安装于底板上端，两顶尖定位块通过设置于下部的定位导向槽与定位导向条形成滑动式定位配合，并在两顶尖定位块的侧部设置螺纹孔，通过安装螺钉，使顶尖定位块与定位导向条在侧壁形成压紧固定；在两顶尖定位块的上端中部设置有V形槽，两上盖采用倒置的凹形结构，两上盖通过螺钉与两顶尖定位块的上端连接，两上盖上的凹槽与两顶尖定位块上的V形槽分别对正，并各围成一个顶尖定位空间，所述两顶尖以顶尖头相对的方式分别通过顶尖杆同轴插装于两顶尖定位空间内；在两上盖的中部对应于凹槽的部位设置有螺纹通孔，并在螺纹通孔内安装有对顶尖进行固定的锁紧螺钉；
[0009]所述框架定位部分包括固定柱、连接杆、压盖及限位柱；所述固定柱的下端与底板固定连接，所述连接杆的尾端与定位柱的上部可转动式套装连接，所述压盖与定位柱的上端通过螺钉连接，使连接杆的尾端沿上下方向以间隙配合的方式安装于定位柱的上部与压盖的下端之间；所述限位柱沿竖向与连接杆的前端固定连接；
[0010]所述限位柱的圆柱面对于底板下底面的垂直度不大于0.05mm；所述底板的上端面对于其下底面平行度不大于0.02mm。
[0011]进一步的：所述定位导向条采用燕尾状定位导向条，所述两顶尖定位块上的定位导向槽采用与燕尾状定位导向条形状匹配的燕尾槽或采用直角梯形槽，直角梯形槽的底角
角度与燕尾状定位导向条的底角角度一致。
[0012]进一步的：在固定柱的上端制有圆柱台，在连接杆的尾端设置有定位孔，定位孔与圆柱台形成套装配合，且套装配合的单边间隙为0.01mm；连接杆的定位孔部位的厚度比圆柱台高度小0.015mm。
[0013]进一步的：在连接杆的前端设置有圆弧面，并在圆弧面中间位置制有螺纹孔；所述限位柱的外径与连接杆上的圆弧面的外径匹配；所述限位柱定位与连接杆上的圆弧面处，在限位柱的中间部位制有矩形槽，矩形槽内制有径向的通孔，通过安装在该通孔及圆弧面处的螺纹孔内的螺栓，使限位柱固定于连接杆的前端
[0014]本专利技术的上述目的之二通过如下技术方案来实现：
[0015]一种基于上述框架内腔对称度精密测量用辅助装置的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
[0016]步骤1、清洁框架
[0017]使用酒精或石油醚清洁框架两端顶尖孔，保证顶尖孔内无异物，清除框架内腔测量面毛刺，并擦拭干净；
[0018]步骤2、进行测量装置摆放调整
[0019]将测量装置摆放于00级大理石平板上，确认摆放后装置整体的稳定，无晃动；平移测量装置，使双顶尖的中心连线方向与测高仪测头测杆延伸方向及测头移动方向均垂直。
[0020]步骤3、工件固定
[0021]保持顶尖定位块和定位导向条固定螺钉松开，移动两个顶尖定位块，其位置能够保证限位柱能够依靠住框架中间位置，然后紧固螺钉；松开上盖上端对顶尖固定的螺钉，使顶尖可以滑动，使用两顶尖与框架工件两端的顶尖孔配合，将框架工件顶紧固定，紧固力度适中，保证框架能够旋转且不晃动。
[0022]步骤4、进行测量
[0023]采用精度为0.001mm的测高仪，测头选用球星测头，标定测高仪测头；测量过程为：
[0024]将测高仪测头置于所需测量截面，手动旋转连接杆，使限位柱贴靠框架侧面，将测头与框架内腔的上端面和下端面分别接触，上下采取测量点，得出内腔中心位置高度，反向手动旋转连接杆，解除对框架工件的限位，然后旋转框架90
°
，同时将测头向上抬起，移出框架内腔范围，再旋转框架180
°
，再将测头移入框架内腔位置，反向旋转框架90
°
，实现框架上下内壁反转，手动旋转连接杆，使限位柱贴靠框架侧面，再次将测头与框架内腔的上端面和下端面分别接触，上下采取测量点，得出内腔中心位置高度；将前后两次所得中心高度值相减，即为框架内腔对顶尖孔的对称度。
[0025]本专利技术具有的优点和积极效果：
[0026]1、本专利技术辅助装置具有与框架工件的两顶尖孔配合的顶尖，实现对框架工件的可旋转式支撑，在此基础上，通过框架定位部分的定位柱与框架工件的侧面靠齐接触，可实现使框架的两个测量面一上一下的方式对框架工件进行定位，从而方便了对框架工件进行测量，另外，框架定位部分采用手动式可转动式结构，方便了测量操作，有利于提高测量效率。
[0027]2、本专利技术辅助装置的两顶尖之间的距离可调节，可适用于不同尺寸型号的框架工件，使本装置达到了较好的适用性
[0028]2、本专利技术测量方法，借助上述辅助装置，只需要对框架内腔的两个相对面进行一
次正测和反转后的一次反测，将两个测量结果进行减小，即可得出框架内腔对顶尖孔的对称度，每测量一个工件仅需要1～2分钟，而现有的测量方式测量一个工件需要7～10分钟，从而大幅度提高了测量效率，另外，也提高了测量精度。
附图说明
[0029]图1是本专利技术的测量对象示意图；
[0030]图2是本专利技术辅助装置的整体结构示意图；
[0031]图3是本专利技术底板的结构示意图；
[0032]图4是本专利技术定位导向条的结构示意图；
[0033]图5是本专利技术顶尖定位块的结构示意图；
[0034]图6是本专利技术上盖的结构示意图；
[0035]图7是本专利技术顶尖的结构示意图；
[0036]图8是本专利技术固定柱的结构示意图；
[0037]图9是本专利技术连接杆的结构示意图；
[0038]图10是本专利技术压盖的结构示意图；
[0039]图11是本专利技术限位柱的结构示意图；
[0040]图12是本专利技术进行工件本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种框架内腔对称度精密测量用辅助装置，其特征在于：包括顶尖固定部分和框架定位部分；所述顶尖固定部分包括底板、定位导向条、两顶尖定位块、两上盖和两顶尖；定位导向条沿底板长边方向固定安装于底板上端，两顶尖定位块通过设置于下部的定位导向槽与定位导向条形成滑动式定位配合，并在两顶尖定位块的侧部设置螺纹孔，通过安装螺钉，使顶尖定位块与定位导向条在侧壁形成压紧固定；在两顶尖定位块的上端中部设置有V形槽，两上盖采用倒置的凹形结构，两上盖通过螺钉与两顶尖定位块的上端连接，两上盖上的凹槽与两顶尖定位块上的V形槽分别对正，并各围成一个顶尖定位空间，所述两顶尖以顶尖头相对的方式分别通过顶尖杆同轴插装于两顶尖定位空间内；在两上盖的中部对应于凹槽的部位设置有螺纹通孔，并在螺纹通孔内安装有对顶尖进行固定的锁紧螺钉；所述框架定位部分包括固定柱、连接杆、压盖及限位柱；所述固定柱的下端与底板固定连接，所述连接杆的尾端与定位柱的上部可转动式套装连接，所述压盖与定位柱的上端通过螺钉连接，使连接杆的尾端沿上下方向以间隙配合的方式安装于定位柱的上部与压盖的下端之间；所述限位柱沿竖向与连接杆的前端固定连接；所述限位柱的圆柱面对于底板下底面的垂直度不大于0.05mm；所述底板的上端面对于其下底面平行度不大于0.02mm。2.根据权利要求1所述的框架内腔对称度精密测量用辅助装置，其特征在于：所述定位导向条采用燕尾状定位导向条，所述两顶尖定位块上的定位导向槽采用与燕尾状定位导向条形状匹配的燕尾槽或采用直角梯形槽，直角梯形槽的底角角度与燕尾状定位导向条的底角角度一致。3.根据权利要求1所述的框架内腔对称度精密测量用辅助装置，其特征在于：在固定柱的上端制有圆柱台，在连接杆的尾端设置有定位孔，定位孔与圆柱台形成套装配合，且套装配合的单边间隙为0.01mm；连接杆的定位孔部位的厚度比圆柱台高度小0.015mm。4.根据权利要求1所述的框架内腔对称度精密测量用辅助装置，其特征在于：在连接杆的前端设置...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐海辉，于金洽，陈亚欧，张涌禄，刘媛媛，张文夏，陈明，付天章，彭建生，
申请(专利权)人：中国船舶集团有限公司第七零七研究所，
类型：发明
国别省市：
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