一种校正定位系统技术方案

技术编号:36134846 阅读:18 留言:0更新日期:2022-12-28 14:51
本实用新型专利技术公开了一种校正定位系统,该校正定位系统包括定位件、定位孔、驱动件与承载件等,由于定位孔中设置的导入面,当待检测物料的边缘接触定位孔内的导入面时,初步位置不准确的待检测物料会被定位孔内的导入面推动朝向定位孔的中心处运动,从而得以纠正待检测物料的位置偏移量,当待检测物料无法再继续下落后,可以视为完成二次定位。若待检测物料仍然有位置偏移时,使用驱动件升起承载件与待检测物料,再度进行一次下落与校正,以保证定位精度与定位结果。由于设置了多个定位孔以及相应的承载件,驱动件同步驱动各承载件运动,因此还提升了整体效率。此还提升了整体效率。此还提升了整体效率。

【技术实现步骤摘要】
一种校正定位系统


[0001]本技术涉及电子产品生产定位设备领域,具体涉及一种校正定位系统。

技术介绍

[0002]在电子设备产品的小型零件生产过程中,装配或者定位检测前经常会使用载盘进行盛放多个零件,零件在载盘中时,往往存在有一定的自由度,其位置的定位精度不高,而在后续产品的装配或者定位检测时,在一些场景下必须要保证转送零件时以较高的定位精度进入下一步,而载盘内的零件定位精度不高会影响转送时的精度,从而削弱了后续所使用的工艺设备的使用效能,因此从载盘上取走零件后在装配或进行其他工艺处理之前,需要对零件进行第二次定位,但是由于电子产品产线上小型零件每批次数量较多,逐个进行二次定位会影响生产加工效率。

技术实现思路

[0003]本技术主要解决的技术问题是如何将产线上进行转送的待检测物料在下一工艺步骤前进行高效率的定位校正。
[0004]为此,本技术提供了一种校正定位系统,包括:
[0005]定位件,所述定位件上开设有多个定位孔,所述定位孔用于定位待检测物料;
[0006]承载件,各所述定位孔中均设有可升降的所述承载件,所述承载件用于将待检测物料移入定位孔中,以实现对待检测物料的定位;
[0007]机架,所述定位件与所述承载件设于机架上。
[0008]根据本技术的一种具体实施例,所述定位孔的上端开口处设有导入面,所述导入面用于将待检测物料导入至定位孔中,以实现对待检测物料的定位。
[0009]根据本技术的一种具体实施例,所述导入面为上大下小的喇叭形曲面。
>[0010]根据本技术的一种具体实施例,还包括:驱动件,所述驱动件与承载件连接,所述驱动件用于驱动承载件进行升降运动。
[0011]根据本技术的一种具体实施例,各所述承载件均与一个所述驱动件连接,所述驱动件能够同步驱动多个承载件进行升降运动。
[0012]根据本技术的一种具体实施例,还包括:连接件,各所述承载件均连接于所述连接件上,所述连接件与所述驱动件连接,以使各个承载件同步运动。
[0013]根据本技术的一种具体实施例,所述承载件可拆卸连接于所述连接件。
[0014]根据本技术的一种具体实施例,所述承载件包括:承载件本体与固定组件,所述固定组件设于承载件本体穿入所述定位孔的一端上,所述固定组件用于固定或放开待定位件。
[0015]根据本技术的一种具体实施例,所述固定组件包括吸盘与真空控制件,所述吸盘设于承载件本体上,所述真空控制件通过气路与所述吸盘连接,所述真空控制件能够控制吸盘吸附待定位件或使吸盘放开待定位件。
[0016]根据本技术的一种具体实施例,所述定位件可拆卸连接于所述机架上。
[0017]本技术的有益效果:
[0018]本技术提供了一种校正定位系统,当多个待检测物料从载盘上被转移至承载件的一端时,为了进行水平方向上的二次精定位需要让各个待检测物料进行水平面上的位移从而减小其位置上的偏移量,从而使各个待检测物料下一步能够更加精准地转送至其他工艺设备上,驱动件驱动承载件带动对应的待检测物料逐渐下降。由于定位孔中设置的导入面,当待检测物料的边缘接触定位孔内的导入面时,初步位置不准确的待检测物料会被定位孔内的导入面推动朝向定位孔的中心处运动,从而得以纠正待检测物料的位置偏移量,当待检测物料无法再继续下落后,可以视为完成二次定位。若待检测物料仍然有位置偏移时,使用驱动件升起承载件与待检测物料,再度进行一次下落与校正,以保证定位精度与定位结果。由于设置了多个定位孔以及相应的承载件,驱动件同步驱动各承载件运动,因此还提升了整体效率。
附图说明
[0019]图1为一种实施例的整体结构示意图;
[0020]图2为一种实施例的整体结构主视剖面图;
[0021]图3为一种实施例的整体结构俯视图;
[0022]图4为一种实施例的整体结构主视剖面图;
[0023]图5为一种实施例的细节结构主视剖面图。
[0024]附图标记说明:
[0025]1、定位件;2、定位孔;3、承载件;4、驱动件;31、承载件本体; 32、固定组件;33、连接件。
具体实施方式
[0026]下面通过具体实施方式结合附图对本技术作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中,很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而,本领域技术人员可以毫不费力的认识到,其中部分特征在不同情况下是可以省略的,或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下,本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述,这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没,而对于本领域技术人员而言,详细描述这些相关操作并不是必要的,他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。
[0027]另外,说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时,方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此,说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例,并不意味着是必须的顺序,除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。
[0028]本文中为部件所编序号本身,例如“第一”、“第二”等,仅用于区分所描述的对象,不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”,如无特别说明,均包括直接和间接连接(联接)。
[0029]实施例一:
[0030]请参考图1,本技术提供了一种校正定位系统,包括定位件1、驱动件4与承载件3。具体地,多个定位孔2竖直地开设于定位件1上并贯穿定位件1的上下表面,各个定位孔2从上往下的内径逐渐缩小,这种喇叭形的内壁则作为具备导向功能的导入面,且定位孔2的最大内径大于待检测物料的最大外径,定位孔2的最小内径小于待检测物料的最大外径。承载件3的一端用于承载待检测物料且该端穿入定位孔2,承载件3的另一端与驱动件4动力连接,驱动件4用于驱动承载件3在定位孔2内进行升降运动。
[0031]当待检测物料从载盘上被转移至承载件3的一端时,为了进行水平方向上的二次精定位需要让待检测物料进行水平面上的位移从而减小其位置上的偏移量,从而使待检测物料下一步能够更加精准地转送至其他工艺设备上,驱动件4驱动承载件3带动待检测物料逐渐下降。由于定位孔2上大下小的设置,当待检测物料的边缘接触定位孔2内的导入面时,初步位置不准确的待检测物料会被定位孔2内的导入面推动朝向定位孔2的中心处运动,从而得以纠正待检测物料的位置偏移量,当待检测物料无法再继续下落后,可以视为完成二次定位,若有需要(例如待检测物料仍然有位置偏移)也可以使用驱动件4升起承载件3与待检测物料,再度进行一次下落与纠正,以保证定位精度与定位结果。
[0032]请参考图1,在本实施例中,定位件1为一长方块体,定位孔2在竖直方向上贯穿定位件1,待检测物料在定位孔本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种校正定位系统,其特征在于,包括:定位件(1),所述定位件(1)上开设有多个定位孔(2),所述定位孔用于定位待检测物料;承载件(3),各所述定位孔中均设有可升降的所述承载件(3),所述承载件(3)用于将待检测物料移入定位孔(2)中,以实现对待检测物料的定位;机架(5),所述定位件(1)与所述承载件(3)设于机架(5)上。2.如权利要求1所述的校正定位系统,其特征在于,所述定位孔(2)的上端开口处设有导入面,所述导入面用于将待检测物料导入至定位孔中,以实现对待检测物料的定位。3.如权利要求2所述的校正定位系统,其特征在于,所述导入面为上大下小的喇叭形曲面。4.如权利要求1所述的校正定位系统,其特征在于,还包括:驱动件(4),所述驱动件(4)与承载件(3)连接,所述驱动件(4)用于驱动承载件(3)进行升降运动。5.如权利要求4所述的校正定位系统,其特征在于,各所述承载件(3)均与一个所述驱动件(4)连接,所述驱动件(4)能够同步驱动多个承载件(3)进行升降运动。6...

【专利技术属性】
技术研发人员:阎鹏飞贺金龙叶华平陈鲁张嵩
申请(专利权)人:深圳中科飞测科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1