【技术实现步骤摘要】
电寿命的评估方法、装置、计算机可读介质及电子设备
[0001]本专利技术涉及产品评估
,尤其涉及一种电寿命的评估方法、装置、计算机可读介质及电子设备。
技术介绍
[0002]目前银基材料广泛用作接触器的触点,但是不同的合成工艺和添加剂的加入对于触点的抗熔焊性、抗烧蚀性能等有着较大的差异性,这种差异性对产品的电寿命影响比较大,那么如何识别银基材料触点在电寿命过程中抗熔焊性和抗烧蚀能力对于如何提升产品的电寿命能力有着巨大的作用。
[0003]因此,如何提供一种电寿命的评估方法、装置、计算机可读介质及电子设备,以解决现有技术无法通过量化数据来评估金属材料触点的电寿命的缺陷,实已成为本领域技术人员几点解决的技术问题。
技术实现思路
[0004]有鉴于此,本专利技术提供了一种电寿命的评估方法、装置、计算机可读介质及电子设备,其能够通过量化数据来评估接触器中触点的电寿命,对提升产品的电寿命能力有着巨大的作用。
[0005]第一方面,本专利技术实施例提供了电寿命的评估方法,用于评估接触器中金属材料触点的电寿命;所述电寿命的评估方法包括:读取所述触点于不同使用类别中产生的触点工作参数;所述不同使用类别包括接触过程和/或分断过程;根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标;通过所述触点的电寿命评估指标评估触点的电寿命。
[0006]在一种可能的实现方式中,读取所述触点于不同使用类别中产生的触点工作参数,包括:读取所述触点于接触过程中产生的触点工作参数;和/或读取所述触点于分断过程中产生的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电寿命的评估方法,用于评估接触器中金属材料触点的电寿命;所述电寿命的评估方法包括:读取所述触点于不同使用类别中产生的触点工作参数;所述不同使用类别包括接触过程和/或分断过程;根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标;通过所述触点的电寿命评估指标评估触点的电寿命。2.根据权利要求1所述的电寿命的评估方法,其特征在于,读取所述触点于不同使用类别中产生的触点工作参数,包括:读取所述触点于接触过程中产生的触点工作参数;和/或读取所述触点于分断过程中产生的触点工作参数。3.根据权利要求2所述的电寿命的评估方法,其特征在于,所述触点处于接触过程中产生的触点工作参数包括触点处于接触过程中产生的压降值、触点处于接触过程中产生的电流及至少一个压降时间段;其中,触点处于接触过程中产生的压降值包括触点处于接触过程中产生的单点弹跳压降值或双点弹跳压降值;所述触点处于分断过程中产生的触点工作参数包括触点处于分断过程中产生的压降值、触点处于分断过程中产生的电流及至少一个压降时间段。4.根据权利要求3所述的电寿命的评估方法,其特征在于,触点的电寿命评估指标包括触点抗熔焊性的电寿命评估指标;当读取到的触点工作参数是所述触点处于接触过程中产生的触点工作参数时,根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标,包括:根据单点弹跳压降值或双点弹跳压降值,选取与之对应的触点处于接触过程的典型电压值;其中,与单点弹跳压降值或双点弹跳压降值对应的触点处于接触过程的典型电压值由触点金属材料的化学特性确定;根据触点处于接触过程的典型电压值、触点处于接触过程中产生的电流及至少一个压降时间段分别计算各压降时间段对应的触点抗熔焊性的电寿命子评估指标;将各压降时间段对应的触点抗熔焊性的电寿命子评估指标进行累加,形成触点抗熔焊性的电寿命评估指标。5.根据权利要求4所述的电寿命的评估方法,其特征在于,触点的电寿命评估指标包括还包括触点抗烧蚀性的电寿命评估指标;当读取到的触点工作参数是所述触点于分断过程中产生的触点工作参数时,根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标,包括:根据触点处于分断过程中产生的压降值确定与之对应的典型电压值;其中,与触点处于分断过程中产生的压降值对应的典型电压值由触点金属材料的化学特性确定;根据触点处于分断过程的典型电压值、触点处于分断过程中产生的电流及至少一个压降时间段分别计算各压降时间段对应的触点抗烧蚀性的电寿命子评估指标;将各压降时间段对应的触点抗烧蚀性的电寿命子评估指标进行累加,形成触点抗烧蚀性的电寿命评估指标。6.根据权利要求5所述的电寿命的评估方法,其特征在于,各压降时间段对应的触点抗熔焊性的电寿命子评估指标的计算方式可以采用计算触
点在接通过程中各压降时间段的热能量的方式;其中,根据焦耳热的计算公式,...
【专利技术属性】
技术研发人员:葛威,石佳鑫,俞楠,
申请(专利权)人:苏州西门子电器有限公司,
类型:发明
国别省市:
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