电寿命的评估方法、装置、计算机可读介质及电子设备制造方法及图纸

技术编号:36126662 阅读:19 留言:0更新日期:2022-12-28 14:34
本发明专利技术提供了电寿命的评估方法、装置、计算机可读介质及电子设备,用于评估接触器中金属材料触点的电寿命。所述电寿命的评估方法包括:读取所述触点于不同使用类别中产生的触点工作参数;所述不同使用类别包括接触过程和/或分断过程;根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标;通过所述触点的电寿命评估指标评估触点的电寿命。基于上述方案,能够通过量化数据来评估接触器中触点的电寿命,对提升产品的电寿命能力有着巨大的作用。产品的电寿命能力有着巨大的作用。产品的电寿命能力有着巨大的作用。

【技术实现步骤摘要】
电寿命的评估方法、装置、计算机可读介质及电子设备


[0001]本专利技术涉及产品评估
,尤其涉及一种电寿命的评估方法、装置、计算机可读介质及电子设备。

技术介绍

[0002]目前银基材料广泛用作接触器的触点,但是不同的合成工艺和添加剂的加入对于触点的抗熔焊性、抗烧蚀性能等有着较大的差异性,这种差异性对产品的电寿命影响比较大,那么如何识别银基材料触点在电寿命过程中抗熔焊性和抗烧蚀能力对于如何提升产品的电寿命能力有着巨大的作用。
[0003]因此,如何提供一种电寿命的评估方法、装置、计算机可读介质及电子设备,以解决现有技术无法通过量化数据来评估金属材料触点的电寿命的缺陷,实已成为本领域技术人员几点解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此,本专利技术提供了一种电寿命的评估方法、装置、计算机可读介质及电子设备,其能够通过量化数据来评估接触器中触点的电寿命,对提升产品的电寿命能力有着巨大的作用。
[0005]第一方面,本专利技术实施例提供了电寿命的评估方法,用于评估接触器中金属材料触点的电寿命;所述电寿命的评估方法包括:读取所述触点于不同使用类别中产生的触点工作参数;所述不同使用类别包括接触过程和/或分断过程;根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标;通过所述触点的电寿命评估指标评估触点的电寿命。
[0006]在一种可能的实现方式中,读取所述触点于不同使用类别中产生的触点工作参数,包括:读取所述触点于接触过程中产生的触点工作参数;和/或读取所述触点于分断过程中产生的触点工作参数。
[0007]在一种可能的实现方式中,所述触点处于接触过程中产生的触点工作参数包括触点处于接触过程中产生的压降值、触点处于接触过程中产生的电流及至少一个压降时间段;其中,触点处于接触过程中产生的压降值包括触点处于接触过程中产生的单点弹跳压降值或双点弹跳压降值;所述触点处于分断过程中产生的触点工作参数包括触点处于分断过程中产生的压降值、触点处于分断过程中产生的电流及至少一个压降时间段。触点处于接触过程中产生的触点工作参数可以协助从微观层面分析银基材料的触点在电性能中的抗熔焊。触点处于分断过程中产生的触点工作参数可以协助从微观层面分析银基材料的触点在电性能中的抗熔焊和抗烧蚀的性能。
[0008]在一种可能的实现方式中,触点的电寿命评估指标包括触点抗熔焊性的电寿命评估指标;当读取到的触点工作参数是所述触点处于接触过程中产生的触点工作参数时,根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标,包括:根据单点弹跳压降值或双点弹跳压降值,选取与之对应触点处于接触过程的典型电压值;其中,与单点弹跳压降值或双点弹
跳压降值对应的触点处于接触过程的典型电压值由触点金属材料的化学特性确定;根据触点处于接触过程的典型电压值、触点处于接触过程中产生的电流及至少一个压降时间段分别计算各压降时间段对应的触点抗熔焊性的电寿命子评估指标;将各压降时间段对应的触点抗熔焊性的电寿命子评估指标进行累加,形成触点抗熔焊性的电寿命评估指标。通过对触点处于接触过程中产生的触点工作参数进行分析可以准确地识别出触点抗熔焊性。
[0009]在一种可能的实现方式中,触点的电寿命评估指标包括还包括触点抗烧蚀性的电寿命评估指标;当读取到的触点工作参数是所述触点于分断过程中产生的触点工作参数时,根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标,包括:根据触点处于分断过程中产生的压降值确定与之对应的典型电压值;其中,与触点处于分断过程中产生的压降值对应的典型电压值由触点金属材料的化学特性确定;根据触点处于分断过程的典型电压值、触点处于分断过程中产生的电流及至少一个压降时间段分别计算各压降时间段对应的触点抗烧蚀性的电寿命子评估指标;将各压降时间段对应的触点抗烧蚀性的电寿命子评估指标进行累加,形成触点抗烧蚀性的电寿命评估指标。通过对触点于分断过程中产生的触点工作参数进行分析可以准确地识别出触点抗烧蚀性。
[0010]在一种可能的实现方式中,各压降时间段对应的触点抗熔焊性的电寿命子评估指标的计算方式可以采用计算触点在接通过程中各压降时间段的热能量的方式;其中,根据焦耳热的计算公式,计算触点在接通过程中各压降时间段的热能量;各压降时间段对应的触点抗烧蚀性的电寿命子评估指标的计算方式可以采用计算触点在分断过程中各压降时间段的热能量的方式;其中,根据焦耳热的计算公式,计算触点在分断过程中各压降时间段的热能量。采用焦耳热的计算公式可以准确计算出接通过程中各压降时间段的热能量和分断过程中各压降时间段的热能量,实现了在电寿命过程中对金属材料进行定性分析转变到定量分析的功能。
[0011]在一种可能的实现方式中,计算触点在接通过程中各压降时间段的热能量的焦耳热计算公式为:其中,表示触点在接通过程中压降时间段t
n

t
n+1
的热能量,U1表示与单点弹跳压降值对应的触点处于接触过程的典型电压值,U2表示与双点弹跳压降值对应的触点处于接触过程的典型电压值,i(t)表示触点处于接触过程中压降时间段t
n

t
n+1
产生的电流,n大于等于1,且n为奇数;m表示接通过程;计算触点在分断过程中各压降时间段的热能量的焦耳热计算公式为:其中,表示触点在分断过程中压降时间段t
n

t
n+1
的热能量,U3表示与触点处于分断过程中产生的压降值对应的典型电压值,i(t)表示触点处于分断过程中压降时间段t
n

t
n+1
产生的电流,n大于等于1,且n为奇数;b表示分断过程。焦耳热的计算公式采用积分方式可以更加准确计算接通过程中各压降时间段的热能量和分断过程中各压降时间段的热能量。
[0012]在一种可能的实现方式中,通过所述触点的电寿命评估指标评估触点的电寿命,包括:将触点抗熔焊性的电寿命评估指标与预设抗熔焊性评估指标进行比较,当触点抗熔焊性的电寿命评估指标大于预设抗熔焊性评估指标时,则表示触点的抗熔焊性越差,触点的电寿命短。
[0013]在一种可能的实现方式中,通过所述触点的电寿命评估指标评估触点的电寿命,还包括:将触点抗烧蚀性的电寿命评估指标与预设抗烧蚀性评估指标进行比较,当触点抗烧蚀性的电寿命评估指标大于预设抗烧蚀性评估指标时,则表示触点的抗烧蚀性差,触点的电寿命短。
[0014]第二方面,本专利技术实施例提供了一种电寿命的评估装置,包括:读取模块,用于读取所述触点于不同使用类别中产生的触点工作参数;所述不同使用类别包括接触过程和/或分断过程;分析模块,用于根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标;评估模块,用于通过所述触点的电寿命评估指标评估触点的电寿命。第三方面,本专利技术实施例提供了一种计算机可读介质,所述计算机可读介质上存储有计算机可读指令,所述计算机可读指令在被处理器执行时,使所述处理器执行所述的电寿命的评估方法中的步骤。
[0015]第四方面,本专利技术实施例提供了一种电子设备本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电寿命的评估方法,用于评估接触器中金属材料触点的电寿命;所述电寿命的评估方法包括:读取所述触点于不同使用类别中产生的触点工作参数;所述不同使用类别包括接触过程和/或分断过程;根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标;通过所述触点的电寿命评估指标评估触点的电寿命。2.根据权利要求1所述的电寿命的评估方法,其特征在于,读取所述触点于不同使用类别中产生的触点工作参数,包括:读取所述触点于接触过程中产生的触点工作参数;和/或读取所述触点于分断过程中产生的触点工作参数。3.根据权利要求2所述的电寿命的评估方法,其特征在于,所述触点处于接触过程中产生的触点工作参数包括触点处于接触过程中产生的压降值、触点处于接触过程中产生的电流及至少一个压降时间段;其中,触点处于接触过程中产生的压降值包括触点处于接触过程中产生的单点弹跳压降值或双点弹跳压降值;所述触点处于分断过程中产生的触点工作参数包括触点处于分断过程中产生的压降值、触点处于分断过程中产生的电流及至少一个压降时间段。4.根据权利要求3所述的电寿命的评估方法,其特征在于,触点的电寿命评估指标包括触点抗熔焊性的电寿命评估指标;当读取到的触点工作参数是所述触点处于接触过程中产生的触点工作参数时,根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标,包括:根据单点弹跳压降值或双点弹跳压降值,选取与之对应的触点处于接触过程的典型电压值;其中,与单点弹跳压降值或双点弹跳压降值对应的触点处于接触过程的典型电压值由触点金属材料的化学特性确定;根据触点处于接触过程的典型电压值、触点处于接触过程中产生的电流及至少一个压降时间段分别计算各压降时间段对应的触点抗熔焊性的电寿命子评估指标;将各压降时间段对应的触点抗熔焊性的电寿命子评估指标进行累加,形成触点抗熔焊性的电寿命评估指标。5.根据权利要求4所述的电寿命的评估方法,其特征在于,触点的电寿命评估指标包括还包括触点抗烧蚀性的电寿命评估指标;当读取到的触点工作参数是所述触点于分断过程中产生的触点工作参数时,根据所述触点工作参数分析触点的电寿命评估指标,包括:根据触点处于分断过程中产生的压降值确定与之对应的典型电压值;其中,与触点处于分断过程中产生的压降值对应的典型电压值由触点金属材料的化学特性确定;根据触点处于分断过程的典型电压值、触点处于分断过程中产生的电流及至少一个压降时间段分别计算各压降时间段对应的触点抗烧蚀性的电寿命子评估指标;将各压降时间段对应的触点抗烧蚀性的电寿命子评估指标进行累加,形成触点抗烧蚀性的电寿命评估指标。6.根据权利要求5所述的电寿命的评估方法,其特征在于,各压降时间段对应的触点抗熔焊性的电寿命子评估指标的计算方式可以采用计算触
点在接通过程中各压降时间段的热能量的方式;其中,根据焦耳热的计算公式,...

【专利技术属性】
技术研发人员:葛威石佳鑫俞楠
申请(专利权)人:苏州西门子电器有限公司
类型:发明
国别省市:

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