本申请公开了一种测试方法、装置及一种电子设备和计算机可读存储介质，该方法包括：确定触发设备的目标告警对应的信号；其中，若所述设备的内存温度大于预设值，则触发所述目标告警；确定所述信号对应的寄存器，并通过设置所述寄存器的值的方式触发所述信号；判断基板管理控制器中是否存在所述信号对应的触发日志；若是，则测试通过；若否，则测试不通过。本申请提供的测试方法，通过修改寄存器的值的方式模拟触发内存温度过高的目标告警，不需要手动真实的加热内存，有利于提高测试效率，避免了测试过程中由于温度过高损伤器件，减少了资源浪费，避免了安全隐患。避免了安全隐患。避免了安全隐患。
【技术实现步骤摘要】
一种测试方法、装置及电子设备和存储介质
[0001]本申请涉及计算机
，更具体地说，涉及一种测试方法、装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]BMC(Baseboard Manager Controller，基板管理控制器)是服务器上的基板管理系统，其负责服务器的资产信息显示、硬件监控、散热调控、系统配置、远程监控、日志收集、故障诊断、系统维护等重要功能。BMC与主处理器和板上各元件相连接，监控并且在一定程度上管理各物理组件的状态。
[0003]随着信息化技术的发展，服务器内部的元器件密集程度越来越高；随着信息量的急剧增加，内存的功耗和温度也变得越来越高。BMC需要通过监控内存温度的变化，进行相应的散热处理，确保其不影响服务器的正常运行。如果内存温度过高或者由于内存温度过高导致系统关机，BMC要产生相应的告警信息，便于及时发现和解决问题。
[0004]BMC目前关于内存memhot和memtrip的测试，主要是通过使用吹风机或热风枪手动加热内存的方式来触发memhot和memtrip。该方法需要手持吹风机或热风枪进行操作，如果温度控制不合理或操作不当，容易造成温度过高损伤器件。另外，使用该方法需要手持式工具操作，无法实现自动化，影响测试效率。
[0005]因此，如何在测试过程中避免由于温度过高损伤器件是本领域技术人员需要解决的技术问题。
技术实现思路
[0006]本申请的目的在于提供一种测试方法、装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质，在测试过程中避免了由于温度过高损伤器件。
[0007]为实现上述目的，本申请提供了一种测试方法，包括：
[0008]确定触发设备的目标告警对应的信号；其中，若所述设备的内存温度大于预设值，则触发所述目标告警；
[0009]确定所述信号对应的寄存器，并通过设置所述寄存器的值的方式触发所述信号；
[0010]判断基板管理控制器中是否存在所述信号对应的触发日志；若是，则测试通过；若否，则测试不通过。
[0011]其中，所述目标告警具体为内存温度大于第一预设值触发的告警。
[0012]其中，所述目标告警具体为内存温度大于第二预设值导致所述设备关机的告警。
[0013]其中，所述通过设置所述寄存器的值的方式触发所述信号，包括：
[0014]通过设置所述寄存器的值的方式拉低所述信号，以触发所述信号。
[0015]其中，还包括：
[0016]通过设置所述寄存器的值的方式解除所述信号；
[0017]判断基板管理控制器中是否存在所述信号对应的解除日志；若是，则测试通过；若
否，则测试不通过。
[0018]其中，所述通过设置所述寄存器的值的方式解除所述信号，包括：
[0019]通过设置所述寄存器的值的方式拉高所述信号，以解除所述信号。
[0020]其中，所述确定触发设备的目标告警对应的信号，包括：
[0021]确定触发设备的目标告警对应的多个信号；
[0022]相应的，所述确定所述信号对应的寄存器，并通过设置所述寄存器的值的方式触发所述信号，包括：
[0023]依次将每个所述信号作为目标信号；
[0024]确定所述目标信号对应的寄存器，并通过设置所述寄存器的值的方式触发所述目标信号；
[0025]相应的，所述判断基板管理控制器中是否存在所述信号对应的触发日志；若是，则测试通过；若否，则测试不通过，包括：
[0026]判断基板管理控制器中是否存在所述目标信号对应的触发日志；若是，则测试通过；若否，则测试不通过。
[0027]为实现上述目的，本申请提供了一种测试装置，包括：
[0028]确定模块，用于确定触发设备的目标告警对应的信号；其中，若所述设备的内存温度大于预设值，则触发所述目标告警；
[0029]触发模块，用于确定所述信号对应的寄存器，并通过设置所述寄存器的值的方式触发所述信号；
[0030]第一判断模块，用于判断基板管理控制器中是否存在所述信号对应的触发日志；若是，则测试通过；若否，则测试不通过。
[0031]其中，所述目标告警具体为内存温度大于第一预设值触发的告警。
[0032]其中，所述目标告警具体为内存温度大于第二预设值导致所述设备关机的告警。
[0033]其中，所述触发模块具体用于：确定所述信号对应的寄存器，并通过设置所述寄存器的值的方式拉低所述信号，以触发所述信号。
[0034]其中，还包括：
[0035]解除模块，用于通过设置所述寄存器的值的方式解除所述信号；
[0036]第二判断模块，用于判断基板管理控制器中是否存在所述信号对应的解除日志；若是，则测试通过；若否，则测试不通过。
[0037]其中，所述解除模块具体用于：通过设置所述寄存器的值的方式拉高所述信号，以解除所述信号。
[0038]其中，所述确定模块具体用于：确定触发设备的目标告警对应的多个信号；
[0039]相应的，所述触发模块具体用于：依次将每个所述信号作为目标信号；确定所述目标信号对应的寄存器，并通过设置所述寄存器的值的方式触发所述目标信号；
[0040]相应的，所述第一判断模块具体用于：判断基板管理控制器中是否存在所述目标信号对应的触发日志；若是，则测试通过；若否，则测试不通过。
[0041]为实现上述目的，本申请提供了一种电子设备，包括：
[0042]存储器，用于存储计算机程序；
[0043]处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述测试方法的步骤。
[0044]为实现上述目的，本申请提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述测试方法的步骤。
[0045]通过以上方案可知，本申请提供的一种测试方法，包括：确定触发设备的目标告警对应的信号；其中，若所述设备的内存温度大于预设值，则触发所述目标告警；确定所述信号对应的寄存器，并通过设置所述寄存器的值的方式触发所述信号；判断基板管理控制器中是否存在所述信号对应的触发日志；若是，则测试通过；若否，则测试不通过。
[0046]本申请提供的测试方法，通过修改寄存器的值的方式模拟触发内存温度过高的目标告警，不需要手动真实的加热内存，有利于提高测试效率，避免了测试过程中由于温度过高损伤器件，减少了资源浪费，避免了安全隐患。本申请还公开了一种测试装置及一种电子设备和一种计算机可读存储介质，同样能实现上述技术效果。
[0047]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本申请。
附图说明
[0048]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，包括：确定触发设备的目标告警对应的信号；其中，若所述设备的内存温度大于预设值，则触发所述目标告警；确定所述信号对应的寄存器，并通过设置所述寄存器的值的方式触发所述信号；判断基板管理控制器中是否存在所述信号对应的触发日志；若是，则测试通过；若否，则测试不通过。2.根据权利要求1所述测试方法，其特征在于，所述目标告警具体为内存温度大于第一预设值触发的告警。3.根据权利要求1所述测试方法，其特征在于，所述目标告警具体为内存温度大于第二预设值导致所述设备关机的告警。4.根据权利要求1所述测试方法，其特征在于，所述通过设置所述寄存器的值的方式触发所述信号，包括：通过设置所述寄存器的值的方式拉低所述信号，以触发所述信号。5.根据权利要求1所述测试方法，其特征在于，还包括：通过设置所述寄存器的值的方式解除所述信号；判断基板管理控制器中是否存在所述信号对应的解除日志；若是，则测试通过；若否，则测试不通过。6.根据权利要求5所述测试方法，其特征在于，所述通过设置所述寄存器的值的方式解除所述信号，包括：通过设置所述寄存器的值的方式拉高所述信号，以解除所述信号。7.根据权利要求1所述测试方法，其特征在于，所述确定触发设备的目标告警对应的信号，包括：确定触发设备的...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄岚岚，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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