一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置制造方法及图纸

技术编号:36081702 阅读:13 留言:0更新日期:2022-12-24 10:55
本申请提出一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置,属于触控技术领域。其中,该获取触摸轨迹凹凸特征的方法包括:在对触摸轨迹跟踪的过程中,获取上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点;根据上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点,对当前轨迹区间的凹凸性进行识别;根据当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新。本申请通过历史触摸点和当前触摸点,可以识别当前轨迹区间的凹凸性,也就是实现了对触摸轨迹的分段式凹凸性识别,进而有利于提出触摸轨迹的凹凸特征,丰富了特征信息的种类,有利于提高后续轨迹预测或者轨迹分类的精准性。轨迹预测或者轨迹分类的精准性。轨迹预测或者轨迹分类的精准性。

【技术实现步骤摘要】
一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置


[0001]本申请涉及触控
,尤其涉及一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置。

技术介绍

[0002]当前对于触摸轨迹的特征提取,主要提取触摸位置、触摸面积等特征信息,这些特征信息的提取对于复杂的触摸轨迹,如曲线型的触摸轨迹,大手掌的触摸轨迹,无法精准识别。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置。
[0004]本申请第一方面实施例提出了一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法,包括:
[0005]在对触摸轨迹跟踪的过程中,获取上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点;
[0006]根据所述上一轨迹区间的触摸点和所述当前轨迹区间的触摸点,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别;
[0007]根据所述当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新。
[0008]本申请实施例中,在对触摸轨迹跟踪的过程中,获取上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点,根据上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点,对当前轨迹区间的凹凸性进行识别,并且根据当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新。本申请实施例中,通过历史触摸点和当前触摸点,可以识别当前轨迹区间的凹凸性,也就是实现了对触摸轨迹的分段式凹凸性识别,进而有利于提出触摸轨迹的凹凸特征,丰富了特征信息的种类,有利于提高后续轨迹预测或者轨迹分类的精准性。
[0009]本申请第二方面实施例提出了一种获取触摸轨迹凹凸特征的装置,包括:
[0010]获取模块,用于在对触摸轨迹跟踪的过程中,获取上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点;
[0011]识别模块,用于根据所述上一轨迹区间的触摸点和所述当前轨迹区间的触摸点,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别;
[0012]更新模块,用于根据所述当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新。
[0013]本申请第三方面实施例提出了一种电子设备,包括:本申请第二方面实施例提出的获取触摸轨迹凹凸特征的装置。
[0014]本申请第四方面实施例提出了一种触控芯片,包括:处理器;用于存储所述处理器可执行指令的存储器;其中,所述处理器被配置为执行所述指令,以实现本申请第一方面实施例提出的获取触摸轨迹凹凸特征的方法。
[0015]本申请第五方面实施例提出了一种非临时性计算机可读存储介质,当所述存储介
质中的指令由电子设备的处理器执行时,使得电子设备能够执行本申请第一方面实施例提出的获取触摸轨迹凹凸特征的方法。
[0016]本申请第六方面实施例提出了一种计算机程序产品,包括计算机程序,所述计算机程序在被通信设备中的处理器执行时实现本申请第一方面实施例提出的获取触摸轨迹凹凸特征的方法。
[0017]本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实践了解到。
附图说明
[0018]本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
[0019]图1为本申请实施例所提供的一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法的流程示意图;
[0020]图2为本申请实施例所提供的另一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法的流程示意图;
[0021]图3为本申请实施例所提供的一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法示例图;
[0022]图4为本申请实施例所提供的另一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法的流程示意图;
[0023]图5为本申请实施例所提供的另一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法的流程示意图;
[0024]图6为本申请实施例所提供的另一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法的流程示意图;
[0025]图7为本申请实施例所提供的另一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法的流程示意图;
[0026]图8为本申请实施例所提供的一种获取触摸轨迹凹凸特征的装置的结构示意图;
[0027]图9为根据本申请实施例所提供的一种电子设备的结构示意图;
[0028]图10为根据本申请实施例所提供的另一种电子设备的结构示意图;
[0029]图11为根据本申请实施例所提供的一种触控芯片的结构示意图。
具体实施方式
[0030]这里将详细地对示例性实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请实施例相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请实施例的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0031]在本申请实施例使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本申请实施例。在本申请实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解,本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
[0032]应当理解,尽管在本申请实施例可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息,但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如,
在不脱离本申请实施例范围的情况下,第一信息也可以被称为第二信息,类似地,第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境,如在此所使用的词语“如果”及“若”可以被解释成为“在
……
时”或“当
……
时”或“响应于确定”。
[0033]下面详细描述本申请的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的要素。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本申请,而不能理解为对本申请的限制。
[0034]下面参照附图描述本申请实施例的获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置。
[0035]请参考图1,图1为本申请实施例提供的一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法的流程示意图。如图1所示,该方法可以包括以下但不限于下述步骤:
[0036]S101,在对触摸轨迹跟踪的过程中,获取上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点。
[0037]本申请实施例提供的获取触摸轨迹凹凸特征的方法,可适用于具有触摸屏的电子设备。例如,电子设备可以手机、平板电脑、笔记本、可穿戴设备、智能电视、车载电脑等。
[0038]本申请实施例中,电子设备可以对触摸屏进行轨迹跟踪,在一些实现中,电子设备的触摸屏下方可以设置有屏下传感器,通过该屏下传感器可以感知触摸点,以对触摸轨迹进行跟踪。
[0039]S102,根据上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点,对当前轨迹区间的凹凸性进行识别。
[0040]触摸过程往往是一个连续的过程,相应地触摸轨迹一个连续的形态。本申请实施例中,可以将上一个轨迹区间的结束触摸点可以作为当前轨迹区间的起始触摸点,并且对当前轨迹区间本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法,其特征在于,包括:在对触摸轨迹跟踪的过程中,获取上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点;根据所述上一轨迹区间的触摸点和所述当前轨迹区间的触摸点,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别;根据所述当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述上一轨迹区间的触摸点和所述当前轨迹区间的触摸点,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别,包括:以上一个轨迹区间的结束触摸点作为当前轨迹区间的起始触摸点;获取所述当前轨迹区间当前的待识别触摸点的第一位置;根据所述第一位置和所述起始触摸点的第二位置,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一位置和所述起始触摸点的第二位置,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别,包括:确定所述当前轨迹区间的拟合端点在第一坐标轴上的第一拟合坐标值,以及所述拟合端点对应的参考触摸点在所述第一坐标轴上的目标坐标值;根据所述拟合坐标值和所述目标坐标值,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述拟合端点的所述第一拟合坐标值的确定过程,包括:确定所述第一位置中所述第一坐标轴上的第一坐标值和所述第二位置中的所述第一坐标轴上的第二坐标值;基于预设的凹凸性计算系数,对所述第一坐标值和所述第二坐标值进行线性拟合,得到所述拟合端点的所述第一拟合坐标值。5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述参考点的所述目标坐标值的确定过程,包括:确定所述第一位置中的第二坐标轴上的第三坐标值和所述第二位置中的所述第二坐标轴上的第四坐标值;基于预设的凹凸性计算系数,对所述第三坐标值和所述第四坐标值进行线性拟合,得到所述拟合端点在所述第二坐标轴上的第二拟合坐标值;根据所述第二拟合坐标值,查询历史触摸点的位置,以获取所述参考触摸点的所述目标坐标值。6.根据权利要求2

5中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一拟合坐标值和所述目标坐标值,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别,包括:判断所述第一拟合坐标值是否大于或者等于所述目标坐标值;响应于所述第一拟合坐标值大于或等于所述目标坐标值,确定所述当前轨迹段的凹凸性为凸;响应于所述第一拟合坐标值小于所述目标坐标值,确定所述当前轨迹区间的凹凸性为凹。7.根据权利要求2

5中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一位置和所述第二位置,对所述当前轨迹区间的凹凸性进行识别之前,还包括:
根据所述第一位置和所述第二位置,获取两个触摸点间的第一距离,并确定所述第一距离大于预设的距离阈值。8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:在获取所述待识别触摸点的第一位置之后,判断所述待识别触摸点是否为抬起状态;响应于所述待识别触摸点未处于抬起状态,继续执行所述根据所述第一位置和所述第二位置,获取两个触摸点间的第一距离;响应于所述待识别触摸点处于抬起状态,结束凹凸性识别流程。9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新,包括:获取轨迹跟踪过程中当前已进行的凹凸性识别次数,确定所述当前轨迹区间对应的第一标识;建立所述第一标识和所述当前轨迹区间的凹凸性的第一关联关系,并将所述第一关联关系更新到第一轨迹凹凸特征集中。10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述根据所述当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新之后,还包括:基于所述当前轨迹区间的凹凸性和所述上一个轨迹区间的凹凸性,判断所述当前轨迹区间是否为凹凸性连续的轨迹区间;响应于所述当前轨迹区间的凹凸性和所述上一个轨迹区间的凹凸性一致,确定所述当前轨迹区间为凹凸性连续的轨迹区间;响应于所述当前轨迹区间的凹凸性和所述上一个轨迹区间的凹凸性不同,确定当前统计的抖动次数,并在所述抖动次数达到预设次数阈值,确定所述当前轨迹区间为凹凸性变化的轨迹区间。11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述确定所述当前轨迹区间为凹凸性变化的轨迹区间之后,还包括:更新所跟踪轨迹上当前已识别出的所述凹凸性变化的轨迹区间的个数。12.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述确定所述当前轨迹区间为凹凸性连续的轨迹区间之后,还包括:获取当前识别出的凹凸性连续的轨迹区间的个数,确定所述当前轨迹区间对应的第二标识;获取与所述当前轨迹区间的凹凸性一致且位置连续的轨迹区间,生成一个轨迹范围;获取所述轨迹范围内首个轨迹区间的起始触摸点和所述当前待识别触摸点之间的第二距离;建立所述第二标识、所述第二距离和所述当前轨迹区间的凹凸性之间的第二关联关系,并将所述第二关联关系更新到第二轨迹凹凸特征集中。13.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,所述将所述第二关联关系更新到第二轨迹凹凸特征集之后,还包括:根据所述第二轨迹凹凸特征集中每个轨迹区间的凹凸性,更新所跟踪轨迹的拐点信息,其中,所述拐点信息至少包括轨迹拐点和拐点个数。14.根据权利要求13所述的方法,其特征在于,所述拐点个数的确定过程,包括:
从所述第二轨迹凹凸特征集中,获取凹凸性一致且位置连续的轨迹区间,并确定所述凹凸性一致且位置连续的轨迹区间为一个轨迹区间集合;根据所述轨迹区间集合的个数,确定所述拐点个数。15.根据权利要求13所述的方法,其特征在于,所述轨迹拐点的确定过程,包括:确定所述第二轨迹凹凸特征集中相邻的两个轨迹区间集合;在所述相邻的两个轨迹区间集合在位置上连续,将所述相邻的两个轨迹区间集合间发生凹凸性变化的触摸点,确定为轨迹拐点,并将所述复用触摸点的位置确定为所述轨迹拐点的位置;在所述相邻的两个轨迹区间集合在位置上未连续,确定位于所述相邻的两个轨迹区间集合间的一个或多个轨迹区间;根据所述相邻的两个轨迹区间集合的凹凸性,确定所述一个或多个轨迹区间中最高触摸点和最低触摸点中的一个,确定为所述轨迹拐点。16.根据权利要求9

15中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述当前轨迹区间的凹凸性,对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新之后,还包括:将所述待识别触摸点确定为下一个轨迹区间的起始触摸点,并检测所述下一个轨迹区间的待识别触摸点。17.一种获取触摸轨迹凹凸特征的...

【专利技术属性】
技术研发人员:闫俊超张喆尧
申请(专利权)人:北京奕斯伟计算技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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