【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种对一系列像素进行结构特征检测的方法，其特征在于该方法包括：产生一个结构检验和；及利用结构检验和作为索引在一个结构特征表中查找与该结构检验和相对应的结构特征。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：朱舸，
申请(专利权)人：华亚微电子上海有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。