低温测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种低温测试系统，涉及低温测试技术领域。低温测试系统，其特征在于，包括制冷腔、测试腔、制冷机和热开关；所述制冷腔和所述测试腔相互隔离，所述测试腔用于容置样品；所述制冷机和所述热开关设置于所述制冷腔内，所述热开关分别与所述制冷机和所述样品相连，所述热开关能够打开或闭合，从而实现所述制冷机和所述样品的热分离或热接触。本实用新型专利技术提供的低温测试系统，能够实现在制冷机不停机状态下进行样品更换，保证制冷腔始终保持真空状态，省去了低温测试系统复温、再降温的漫长过程，有利于低温测试的连续、多次进行；还方便在低温测试完成后将样品与制冷机热分离，实现对样品的单独复温。现对样品的单独复温。现对样品的单独复温。

【技术实现步骤摘要】
低温测试系统


[0001]本技术涉及低温测试
，尤其涉及一种低温测试系统。

技术介绍

[0002]随着科学技术的发展，超导测试研究、低温材料测试、低温温度计标定等科研工作都离不开低温测试环境。
[0003]低温测试系统是用于提供低温测试环境的设备，其中，基于制冷机的低温测试系统因仅需通电即可持续工作、工作温区宽、操作简单方便、可实现无人值守，得到广泛的应用。
[0004]然而，基于制冷机的低温测试系统的降温和复温时间过长，当一件样品的测试完成后，需要关闭制冷机进行数小时的复温才能拆卸或更换样品，然后再次启动制冷机进行数小时的降温，在测试多个样品的情况下，需要制冷机反复降温、复温，导致低温测试效率大大降低，不利于低温测试工作的开展。

技术实现思路

[0005]本技术提供一种低温测试系统，用以解决现有技术中低温测试系统需反复降温、复温，导致测试效率低下的技术问题。
[0006]本技术提供一种低温测试系统，包括制冷腔、测试腔、制冷机和热开关；
[0007]所述制冷腔和所述测试腔相互隔离，所述测试腔用于容置样品；
[0008]所述制冷机和所述热开关设置于所述制冷腔内，所述热开关分别与所述制冷机和所述样品相连，所述热开关能够打开或闭合，从而实现所述制冷机和所述样品的热分离或热接触。
[0009]根据本技术提供的一种低温测试系统，所述低温测试系统还包括冷却平台；
[0010]所述冷却平台设置于所述制冷腔和所述测试腔之间，所述冷却平台与所述热开关相连，所述冷却平台用于安装所述样品并与所述样品产生热接触。
[0011]根据本技术提供的一种低温测试系统，所述冷却平台包括相互背离的第一表面和第二表面，所述第一表面位于所述制冷腔且与所述热开关相连，所述第二表面位于所述测试腔且与所述样品相连。
[0012]根据本技术提供的一种低温测试系统，所述低温测试系统还包括绝热支撑件；
[0013]所述绝热支撑件安装于所述制冷腔和所述测试腔之间，所述冷却平台设置于所述绝热支撑件上。
[0014]根据本技术提供的一种低温测试系统，所述制冷机包括相连的一级冷头与二级冷头；
[0015]所述二级冷头相对于所述一级冷头位于靠近所述测试腔的位置，所述热开关与所述二级冷头具有热接触。
[0016]根据本技术提供的一种低温测试系统，所述低温测试系统还包括冷屏，所述冷屏设置于所述制冷腔内且与所述一级冷头具有热接触，所述热开关位于所述冷屏围成的空间内。
[0017]根据本技术提供的一种低温测试系统，所述测试腔包括密封门，所述密封门能够打开或关闭。
[0018]本技术提供的低温测试系统，通过设置制冷腔和测试腔相互隔离，使制冷机所在的制冷腔和样品所在的测试腔相互独立，能够实现在制冷机不停机状态下进行样品更换，保证制冷腔始终保持真空状态，省去了低温测试系统复温、再降温的漫长过程，大大提高了低温测试系统的测试效率，有利于低温测试的连续、多次进行；通过设置热开关分别与制冷机和样品相连，能够实现制冷机和样品的热分离或热接触，有助于制冷腔和测试腔相互隔离的情况下实现样品与制冷机的热接触，还方便在低温测试完成后将样品与制冷机热分离，实现对样品的单独复温。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本技术或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1是本技术提供的低温测试系统的结构示意图。
[0021]附图标记：
[0022]10：制冷腔；20：测试腔；30：制冷机；31：一级冷头；32：二级冷头；40：热开关；50：冷却平台；60：绝热支撑件；70：冷屏；100：样品。
具体实施方式
[0023]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术中的附图，对本技术中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0025]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0026]本技术提供的低温测试系统，包括制冷腔10、测试腔20、制冷机30和热开关
40。
[0027]制冷腔10和测试腔20相互隔离，测试腔20用于容置样品100。
[0028]制冷机30和热开关40设置于制冷腔10内，热开关40分别与制冷机30和样品100相连，热开关40能够打开或闭合，从而实现制冷机30和样品100的热分离或热接触。
[0029]制冷腔10和测试腔20可以位于同一箱体内，也可以分别位于不同的箱体；制冷腔10和测试腔20可以相互邻接，也可以相互分离，只要能实现制冷腔10和测试腔20相互隔离即可。例如图1所示，制冷腔10和测试腔20位于同一箱体内且相互邻接，制冷腔10和测试腔20沿箱体的高度方向分布，制冷腔10位于测试腔20的上方。
[0030]热开关40可以为运动接触式、磁阻式、气隙式等，本技术不作具体限定，能实现连通与断开的热连接件均包含在本技术保护的范围内。
[0031]在一个实施例中，低温测试系统包括控制器，热开关40与控制器通信连接。当控制器向热开关40发送打开信号时，热开关40接收打开信号并打开，实现样品100和制冷机30的热分离；当控制器向热开关40发送闭合信号时，热开关40接收闭合信号并闭合，实现样品100和制冷机30的热接触。测试人员可以通过操作控制器向热开关40发送打开信号或闭合信号，实现对热开关40的自动控制。
[0032]在另一个实施例中，低温测试系统包括驱动组件，驱动组件设置于制冷腔10且与热开关40传动连接，驱动组件可以沿制冷腔10的高度方向升降运动，从而带动热开关40的其中一个触点运动，使该触点与另一触点接触或分离，以实现热开关40的闭合或断开。
[0033]现有技术中，使用基于制冷机的低温本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种低温测试系统，其特征在于，包括制冷腔、测试腔、制冷机和热开关；所述制冷腔和所述测试腔相互隔离，所述测试腔用于容置样品；所述制冷机和所述热开关设置于所述制冷腔内，所述热开关分别与所述制冷机和所述样品相连，所述热开关能够打开或闭合，从而实现所述制冷机和所述样品的热分离或热接触。2.根据权利要求1所述的低温测试系统，其特征在于，所述低温测试系统还包括冷却平台；所述冷却平台设置于所述制冷腔和所述测试腔之间，所述冷却平台与所述热开关相连，所述冷却平台用于安装所述样品并与所述样品产生热接触。3.根据权利要求2所述的低温测试系统，其特征在于，所述冷却平台包括相互背离的第一表面和第二表面，所述第一表面位于所述制冷腔且与所述热开关相连，所述第二表面位于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李建国，王国鹏，洪国同，梁惊涛，
申请(专利权)人：中国科学院理化技术研究所，
类型：新型
国别省市：