本实用新型专利技术属于性能测试装置技术领域，尤其涉及一种常温下光器件抗摔性能测试装置，所述常温下光器件抗摔性能测试装置包括：支架；以及设在所述支架一侧的测试组件，用于对光器件进行抗摔性能测试；所述测试组件包括：与所述支架贴合的升降板；以及开在所述升降板内部的滑槽；所述滑槽的内部滑动连接有第一滑块；以及通过螺纹与所述第一滑块连接的测试螺杆；所述测试螺杆通过固定片与升降板连接。本实用新型专利技术通过设置调节组件，使得装置得以对测试高度进行调节，在本实施例中，通过将测试组件和调节组件结合，从而使得装置得以对光器件进行抗摔测试，并对测试结果进行量化分析，测试效果好，能力强，更加适宜推广使用。更加适宜推广使用。更加适宜推广使用。
【技术实现步骤摘要】
一种常温下光器件抗摔性能测试装置
[0001]本技术属于性能测试装置
，尤其涉及一种常温下光器件抗摔性能测试装置。
技术介绍
[0002]光器件分为有源器件和无源器件，光有源器件是光通信系统中需要外加能源驱动工作的可以将电信号转换成光信号或将光信号转换成电信号的光电子器件，是光传输系统的心脏，光无源器件是不需要外加能源驱动工作的光电子器件。
[0003]当现有的常温下光器件抗摔性能测试装置，在使用中，无法对元器件的抗摔性能进行量化分析，测试能力有限。
[0004]由上可见，现有的常温下光器件抗摔性能测试装置，无法对元器件的抗摔性能进行量化分析，不适宜推广使用。
技术实现思路
[0005]本技术实施例的目的在于提供一种常温下光器件抗摔性能测试装置，以解决上述技术问题，所述常温下光器件抗摔性能测试装置包括：
[0006]支架；以及设在所述支架一侧的测试组件，用于对光器件进行抗摔性能测试；
[0007]所述测试组件包括：
[0008]与所述支架贴合的升降板；以及开在所述升降板内部的滑槽；
[0009]所述滑槽的内部滑动连接有第一滑块；以及通过螺纹与所述第一滑块连接的测试螺杆；
[0010]所述测试螺杆通过固定片与升降板连接；
[0011]所述测试螺杆的一侧固定连接有转把；
[0012]所述第一滑块上固定连接有第一置物架；
[0013]所述支架的一侧固定连接有刻度尺。
[0014]进一步的，所述测试螺杆上通过螺纹连接有第二滑块，所述第二滑块与滑槽滑动连接，所述第二滑块上固定连接有第二置物架。
[0015]进一步的，所述常温下光器件抗摔性能测试装置还包括：
[0016]调节组件，与所述升降板连接，用于对升降板的高度进行调节。
[0017]进一步的，所述调节组件包括：
[0018]驱动件，与所述支架连接；以及与所述驱动件连接的转动轴，所述转动轴与支架转动连接；
[0019]与所述转动轴固定连接的第一锥齿轮；以及与所述第一锥齿轮啮合的第二锥齿轮；
[0020]所述第二锥齿轮上固定连接有升降螺杆，所述升降螺杆与升降板通过螺纹连接，所述升降螺杆上远离第二锥齿轮的一侧与支架转动连接。
[0021]进一步的，所述第一锥齿轮、第二锥齿轮和升降螺杆的数量为两组，两组相同的所述第一锥齿轮、第二锥齿轮和升降螺杆对称分布在升降板两侧。
[0022]本技术提供的常温下光器件抗摔性能测试装置通过设置测试组件，使得装置得以对光器件进行抗摔测试，通过设置调节组件，使得装置得以对测试高度进行调节，在本实施例中，通过将测试组件和调节组件结合，从而使得装置得以对光器件进行抗摔测试，并对测试结果进行量化分析，测试效果好，能力强，更加适宜推广使用。
附图说明
[0023]图1为本技术实施例提供的一种常温下光器件抗摔性能测试装置的结构示意图；
[0024]图2为本技术实施例提供的一种常温下光器件抗摔性能测试装置中测试组件结构示意图；
[0025]图3为本技术实施例提供的一种常温下光器件抗摔性能测试装置中支架和刻度尺连接示意图；
[0026]图4为本技术实施例提供的一种常温下光器件抗摔性能测试装置中调节组件结构示意图。
[0027]附图中：1、支架；2、测试组件；201、升降板；202、滑槽；203、第一滑块；204、测试螺杆；205、固定片；206、转把；207、第一置物架；208、刻度尺；209、第二滑块；2010、第二置物架；3、调节组件；301、伺服电机；302、转动轴；303、第一锥齿轮；304、第二锥齿轮；305、升降螺杆。
具体实施方式
[0028]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0029]以下结合具体实施例对本技术的具体实现进行详细描述。
[0030]请参阅图1、图2和图3，本技术实施例提供的一种常温下光器件抗摔性能测试装置，所述常温下光器件抗摔性能测试装置包括：
[0031]支架1；以及设在所述支架1一侧的测试组件2，用于对光器件进行抗摔性能测试；
[0032]所述测试组件2包括：
[0033]与所述支架1贴合的升降板201；以及开在所述升降板201内部的滑槽202；
[0034]所述滑槽202的内部滑动连接有第一滑块203；以及通过螺纹与所述第一滑块203连接的测试螺杆204；
[0035]所述测试螺杆204通过固定片205与升降板201连接；
[0036]所述测试螺杆204的一侧固定连接有转把206；
[0037]所述第一滑块203上固定连接有第一置物架207；
[0038]所述支架1的一侧固定连接有刻度尺208。
[0039]在本技术的实施例中，支架1的大小并不限定，支架1的大小应根据其一侧的测试组件2的大小而决定，支架1的形状并不限定，其可以为支架状，也可以为其他所需形
状。
[0040]在本实施例中，支架1的一侧贴合有升降板201，升降板201的内部设有滑槽202，滑槽202的内部滑动连接有第一滑块203，第一滑块203的内部通过螺纹连接有测试螺杆204，测试螺杆204通过固定片205与升降板201连接，测试螺杆204的一侧固定连接有转把206，第一滑块203上固定连接有第一置物架207，支架1的一侧固定连接有刻度尺208。
[0041]在实际使用中，转动转把206，可使得测试螺杆204转动，并带动第一滑块203在滑槽202内移动。
[0042]在本实施例中，通过刻度尺208可对光器件的测试高度进行记录，通过对比测试高度，对光器件的抗摔性能进行量化测试。
[0043]在本技术的一个实施例中，请参阅图2，所述测试螺杆204上通过螺纹连接有第二滑块209，所述第二滑块209与滑槽202滑动连接，所述第二滑块209上固定连接有第二置物架2010。
[0044]在本实施例中，测试螺杆204上通过螺纹连接有第二滑块209，第二滑块209与滑槽202滑动连接，第二滑块209上固定连接有第二置物架2010，在实际使用中，当测试螺杆204转动，使得第二滑块209在滑槽202内移动。
[0045]在本实施例中，将光器件放置在第一置物架207和第二置物架2010上，通过第一滑块203和第二滑块209的相互远离，使得光器件摔落。
[0046]在本技术的一个实施例中，请参阅图1，所述常温下光器件抗摔性能测试装置还包括：
[0047]调节组件3，与所述升降板201连接，用于对升降板201的高度进行调节。
[0048]在本实施例中，调节组件3的设置，使得装置可对升降板201的高度进行调节，从而使得本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种常温下光器件抗摔性能测试装置，其特征在于，所述常温下光器件抗摔性能测试装置包括：支架；以及设在所述支架一侧的测试组件，用于对光器件进行抗摔性能测试；所述测试组件包括：与所述支架贴合的升降板；以及开在所述升降板内部的滑槽；所述滑槽的内部滑动连接有第一滑块；以及通过螺纹与所述第一滑块连接的测试螺杆；所述测试螺杆通过固定片与升降板连接；所述测试螺杆的一侧固定连接有转把；所述第一滑块上固定连接有第一置物架；所述支架的一侧固定连接有刻度尺。2.根据权利要求1所述的常温下光器件抗摔性能测试装置，其特征在于，所述测试螺杆上通过螺纹连接有第二滑块，所述第二滑块与滑槽滑动连接，所述第二滑块上固定连接有第二置物架。3.根据权利要求1所述的常温下光器件抗摔性能测试装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：高翔，邹明辉，
申请(专利权)人：上海宝熙通信设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。