一种光模块调试模块制造技术

本实用新型专利技术涉及一种光模块调试模块，配合光模块设置，以接插端实现光模块的插入，以扫描单元配合设于接插端外侧，用于获取光模块的信息，以调试电路的输入端设于接插端的底部并与插入的光模块配合，用于获取光模块测试数据；最后以调试旋钮直接与调试电路配合进行光模块参数的调节，以控制器控制扫描单元、调试电路的工作，实现光模块的调试。本实用新型专利技术操作简单，仅需要连接待测光模块，后续上电后调节调试旋钮即可，不用DC调试眼图，可以省略眼图仪；测试简单、测试时间短，通用型较强；大幅降低光模块调试的成本。降低光模块调试的成本。降低光模块调试的成本。

【技术实现步骤摘要】
一种光模块调试模块


[0001]本技术涉及光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件的
，特别涉及一种光模块调试模块。

技术介绍

[0002]光模块(optical module)由光电子器件、功能电路和光接口等组成，其通过发送端把电信号转换成光信号，通过光纤传送后，接收端再把光信号转换成电信号，进而完成信息的传输。
[0003]光模块在完成生产后还必须要进行测试，只有所有的参数都达到要求才可以保证光模块的质量，这些测试包括但不限于发光和收光测试、眼图和消光比测试、高低温老化测试、兼容性连通测试及端面清洁；这其中前两项尤为重要，其直接与光模块的信号输出相关。
[0004]对于发光和收光测试，可以通过测试输出光功率来实现，测试输出光功率是可以决定光模块传输距离和质量的重要参数，接收灵敏度可以决定光模块收光的灵敏程度，一般来说，光模块速率越高，接收灵敏度越差。
[0005]对于眼图、消光比测试，以示波器对数字信号多次采集并叠加显示的结果，可以直观地反映被测信号是否丢包、信号传输是否良好，而消光比是用于衡量光模块质量的参数之一，消光比越大、光信号可被接收辨别能力就越强，接收灵敏度就会越高，消光比和光功率成反比，在测试过程可发现消光比越大，发射光功率就越小。
[0006]然而现有技术中，在各种光模块的生产调试过程中，光模块发射端的消光比是一个难以测量而又至关重要的参数，一般采用高速采样示波器，如agilent 86100系列进行测试，成本高昂；为了降低成本，部分技术人员选择在产品初测过程中不对光模块发射端眼图进行调试，只维持光模块发射端工作在正常状态，这种方式虽然节省了初期的检测损耗，但带来了产品在老化期间处于不确定状态的风险，增加产品终测时间和复杂性及产品品质控制的风险；还有部分技术人员则调节激光器偏置，设定多个直流工作点，通过对光模块发射端激光器LIV曲线进行扫描拟合，之后再通过计算得到激光器的调制电流和偏置电流数值，从而设定光模块发射端眼图，但这种方法对光模块内部的MCU或者主芯片的设备的精度要求较高，事实上由于LIV曲线的不精准而影响最后眼图调整的效果，测试时间亦较长。
[0007]同时，现有技术中，对于光模块的频繁插拔还对光模块有损伤的风险，亦是一个需要被关注的问题。

技术实现思路

[0008]本技术解决了现有技术中存在的问题，提供了一种光模块调试模块。
[0009]本技术所采用的技术方案是，一种光模块调试模块，配合所述光模块设置，所述调试模块包括：
[0010]一接插端，用于实现光模块的插入；
[0011]一扫描单元，配合设于接插端外侧，用于获取光模块的信息；
[0012]一调试电路，所述调试电路的输入端设于接插端的底部并与插入的光模块配合，用于获取光模块测试数据；
[0013]一调试旋钮，与调试电路配合，用于调节光模块参数；
[0014]配合所述扫描单元、调试电路设有控制器。
[0015]优选地，配合所述接插端的内侧底部设有与光模块的端部匹配的环形金属弹片；所述环形金属弹片与调试电路配合。
[0016]优选地，所述扫描单元为设于接插端外侧的扫码器，配合所述扫码器的任一光模块外贴设有标识层。
[0017]优选地，配合所述扫码器和标识层的光模块设有防呆机构。
[0018]优选地，所述防呆机构为设于光模块的端部的卡接片。
[0019]优选地，所述光模块通过所述卡接片与接插端过盈配合。
[0020]优选地，所述光模块测试数据包括调制电流和偏置电流。
[0021]优选地，配合所述控制器设有显示屏，用于显示光模块的信息、光模块测试数据。
[0022]优选地，配合所述控制器设有眼图仪，所述控制器与眼图仪间设有触发机构。
[0023]优选地，所述触发机构为继电器。
[0024]本技术提供了一种光模块调试模块，配合光模块设置，以接插端实现光模块的插入，以扫描单元配合设于接插端外侧，用于获取光模块的信息，以调试电路的输入端设于接插端的底部并与插入的光模块配合，用于获取光模块测试数据；最后以调试旋钮直接与调试电路配合进行光模块参数的调节，以控制器控制扫描单元、调试电路的工作，实现光模块的调试。
[0025]本技术的有益效果在于：
[0026]（1）操作简单，仅需要连接待测光模块，后续上电后调节调试旋钮即可，不用DC调试眼图，可以省略眼图仪；
[0027]（2）测试简单、测试时间短，通用型较强；
[0028]（3）大幅降低光模块调试的成本。
附图说明
[0029]图1为本技术的结构示意图；
[0030]图2为本技术中光模块的结构示意图；
[0031]图3为本技术中在未通电情况下环形金属弹片与调试电路的配合示意图。
具体实施方式
[0032]下面结合实施例对本技术做进一步的详细描述，但本技术的保护范围并不限于此。
[0033]本技术涉及一种光模块调试模块，配合所述光模块2设置，所述调试模块包括：
[0034]一接插端1，用于实现光模块2的插入；
[0035]一扫描单元3，配合设于接插端1外侧，用于获取光模块2的信息；
[0036]一调试电路4，所述调试电路4的输入端设于接插端1的底部并与插入的光模块2配合，用于获取光模块测试数据；
[0037]一调试旋钮5，与调试电路4配合，用于调节光模块2参数；
[0038]配合所述扫描单元3、调试电路4设有控制器6。
[0039]本技术中，通过将光模块2中各个光器件的LIV曲线数据存储在控制器的存储单元中作为基础配置信息，并与光模块2的条码（标识层7）进行对应，通过扫描光模块2的标识层7获取对应当前光器件的LIV曲线数据，并获取最佳眼图对应的调制电流和偏置电流，基于调试电路4以调试旋钮5进行调节，直至调制电流和偏置电流与预设的数据值匹配，进而获得符合要求的光模块2产品。
[0040]本技术中，控制器6的设置需要获得调试旋钮5调试下调试电路4的输出并给出反馈，本领域技术人员可以基于需求进行设置。
[0041]配合所述接插端1的内侧底部设有与光模块2的端部匹配的环形金属弹片8；所述环形金属弹片8与调试电路4配合。
[0042]本技术中，由于在调试过程中，插拔可能会导致光模块2的损坏，故在接插端1的内侧底部与光模块2的端部匹配处设置环形金属弹片8，由于环形金属弹片8与调试电路4配合，故当调试电路4开始工作时，为通电，此时环形金属弹片8吸附于接插端1底部，结束工作后，调试电路4断电，此时环形金属弹片8为弹出状态，可以为拔出光模块2提供初始的弹力，确保插拔的安全性。
[0043]本技术中，环形金属弹片8为环形，不影响光模块2与调试电路4核心位置的电连接。
[0044]所述扫描单元3为设于接插端1外侧的扫码器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光模块调试模块，配合所述光模块设置，其特征在于：所述调试模块包括：一接插端，用于实现光模块的插入；一扫描单元，配合设于接插端外侧，用于获取光模块的信息；一调试电路，所述调试电路的输入端设于接插端的底部并与插入的光模块配合，用于获取光模块测试数据；一调试旋钮，与调试电路配合，用于调节光模块参数；配合所述扫描单元、调试电路设有控制器。2.根据权利要求1所述的一种光模块调试模块，其特征在于：配合所述接插端的内侧底部设有与光模块的端部匹配的环形金属弹片；所述环形金属弹片与调试电路配合。3.根据权利要求1所述的一种光模块调试模块，其特征在于：所述扫描单元为设于接插端外侧的扫码器，配合所述扫码器的任一光模块外贴设有标识层。4.根据权利要求3所述的一种光模块调试模块，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙全意，段志成，齐鹏远，
申请(专利权)人：尚宁光电无锡有限公司，
类型：新型
国别省市：