一种半导体致冷晶粒自动计数装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种半导体致冷晶粒自动计数装置，包括左右相向设置的拍照相机和落料组件，所述拍照相机与图像处理单元相连接，所述落料组件包括落料底座，所述落料底座上安装有直线送料器，所述直线送料器的顶部安装有上料槽，所述上料槽的左端设有出料口，所述出料口的正下方设有固定在落料底座的接料盒，所述接料盒与出料口之间竖直设有平行面光源；所述拍照相机水平设置且位置与平行面光源的位置相正对。本实用新型专利技术结构设计合理，利用相机对下落过程中的晶粒进行拍照，再利用图像处理单元对晶粒前后两帧图像的中心竖向坐标数值差异来进行计数，实现视觉计数，相比于光电传感单通道逐个计数，有效提高了计数效率和计数精度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体致冷晶粒自动计数装置
[0001]
：
[0002]本技术涉及一种半导体致冷晶粒自动计数装置。
[0003]
技术介绍
：
[0004]目前，公知的在半导体致冷片制造行业中，对半导体致冷晶粒有用到计数的要求，主要实现方式有人工点数、光电传感器检测计，电子秤称重等。其中人工点数的方式不仅工作量太大，很容易出错，而且工人在点数工程中容易产生视觉疲劳、多点或漏点的情况时常出现；光电传感器检测计数具有一定的局限性，只能单通道逐个进行计数，使得计数效率降低，并且容易受到信号干扰导致计数不准确；而电子秤称重的具体实施方式为先称重获取单颗晶粒的质量，再进行批量晶粒的称重，从而获得该批晶粒的数量，但由于晶粒质量之间存在误差，称重计数的实际结果也会收到影响导致计数错误。
[0005]
技术实现思路
：
[0006]本技术针对上述现有技术存在的问题做出改进，即本技术所要解决的技术问题是提供一种半导体致冷晶粒自动计数装置，设计合理，提高计数精度和计数效率。
[0007]为了实现上述目的，本技术采用的技术方案是：一种半导体致冷晶粒自动计数装置，包括左右相向设置的拍照相机和落料组件，所述拍照相机与图像处理单元相连接，所述落料组件包括落料底座，所述落料底座上安装有直线送料器，所述直线送料器的顶部安装有上料槽，所述上料槽的左端设有出料口，所述出料口的正下方设有固定在落料底座的接料盒，所述接料盒与出料口之间竖直设有平行面光源；所述拍照相机水平设置且位置与平行面光源的位置相正对。
[0008]进一步的，还包括拍照底座，所述拍照底座上设有横向移动件，所述横向移动件的移动端设有竖向移动件，所述拍照相机安装在竖向移动件的移动端。
[0009]进一步的，所述横向移动件包括固定在拍照底座顶面的横向滑台，所述横向滑台上滑动连接有横向滑块，所述横向滑块的顶部固定有支撑座；所述竖向移动件包括竖直固定在支撑座右侧面的竖向滑台，所述竖向滑台上滑动连接有竖向滑块，所述竖向滑块的右端面固定有L形连接架；所述拍照相机安装在L形连接架的水平段底部。
[0010]进一步的，所述横向滑台和竖向滑台的截面均为燕尾型状；所述横向滑块的下端中部设有用于与横向滑台滑动配合的横向滑槽，所述横向滑槽的前侧壁中部螺接有第一锁紧螺钉；所述竖向滑块的左端中部设有用于与竖向滑台滑动配合的竖向滑槽，所述竖向滑槽的前侧壁中部螺接有第二锁紧螺钉。
[0011]进一步的，所述上料槽的右端顶部设置有进料斗，所述进料斗的前侧面设置有下端伸入上料槽内部的挡料板，所述挡料板的底部与上料槽的底面之间形成单层出料通道。
[0012]进一步的，所述挡料板的上端设有一对前后分布的长条槽，所述长条槽沿竖向延伸，所述长条槽内穿设有与进料斗相螺接的锁紧螺栓。
[0013]进一步的，所述接料盒的顶部敞口，接料盒的底部呈弧形状。
[0014]进一步的，所述上料槽的底部呈左端低、右端高的倾斜状。
[0015]与现有技术相比，本技术具有以下效果：本技术结构设计合理，利用相机
对下落过程中的晶粒进行拍照，再利用图像处理单元对晶粒前后两帧图像的中心竖向坐标数值差异来进行计数，实现视觉计数，相比于光电传感单通道逐个计数，有效提高了计数效率和计数精度。
[0016]附图说明：
[0017]图1是本技术实施例的立体构造示意图；
[0018]图2是本技术实施例中主视构造示意图；
[0019]图3是本技术实施例中的计数流程图；
[0020]图4是本技术实施例中的计数原理图。
[0021]图中：
[0022]1‑
拍照底座；2
‑
支撑架；3
‑
L形连接架；4
‑
拍照相机；5
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镜头；6
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接料盒；7
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平行面光源；8
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锁紧螺栓；9
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挡料板；10
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进料斗；11
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直线送料器；12
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落料底座；13
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相机视野；14
‑
背光光源区域；15
‑
前一帧晶粒；16
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边界线；17
‑
后一帧晶粒；18
‑
上料槽；19
‑
横向滑台；20
‑
横向滑块；21
‑
竖向滑台；22
‑
竖向滑块；23
‑
第一锁紧螺钉；24
‑
第二锁紧螺钉；25
‑
长条槽；26
‑
出料口。
[0023]具体实施方式:
[0024]下面结合附图和具体实施方式对本技术做进一步详细的说明。
[0025]在本技术的描述中，需要理解的是，术语
“ꢀ
纵向”、
“ꢀ
横向”、
“ꢀ
上”、
“ꢀ
下”、
“ꢀ
前”、
“ꢀ
后”、
“ꢀ
左”、
“ꢀ
右”、
“ꢀ
竖直”、
“ꢀ
水平”、
“ꢀ
顶”、
“ꢀ
底”、
“ꢀ
内”、
“ꢀ
外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0026]如图1～2所示，本技术一种半导体致冷晶粒自动计数装置，包括左右相向设置的拍照相机4和落料组件，所述拍照相机4与图像处理单元相连接，所述落料组件包括落料底座12，所述落料底座12上安装有与振动盘（图中未画出）相连接的直线送料器11，所述直线送料器11的顶部安装有上料槽18，所述上料槽18的左端设有出料口26，所述出料口26的正下方设有固定在落料底座12的接料盒6，所述接料盒6与出料口26之间竖直设有平行面光源7；所述拍照相机4水平设置且位置与平行面光源7的位置相正对。工作时，待计数的晶粒放置在上料槽内，在振动作用下，直线送料器将上料槽内的晶粒从右往左输送；当晶粒从出料口落下时，拍照相机会连续拍摄到降落的晶粒，再利用图像处理单元对晶粒前后两帧图像的中心竖向坐标数值差异来进行计数，从而进行计数，实现高效准确的计数；而计数后的晶粒落入接料盒内部。
[0027]应说明的是，图像处理单元与电脑相连接，计数的实时数据会显示在电脑屏幕上以便观测。图像处理单元为现有技术，在晶粒下落过程中，图像处理单元先对采集的初始图像进行二值化处理，使用面积筛选消除周围噪点的干扰。再搜索提取图像中晶粒的轮廓，进而获取到每个晶粒的中心像素坐标，取图像高度的一半为纵坐标边界值，过该值的水平线称为边界线，由前后两帧图像中同一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体致冷晶粒自动计数装置，包括左右相向设置的拍照相机和落料组件，所述拍照相机与图像处理单元相连接，其特征在于：所述落料组件包括落料底座，所述落料底座上安装有直线送料器，所述直线送料器的顶部安装有上料槽，所述上料槽的左端设有出料口，所述出料口的正下方设有固定在落料底座的接料盒，所述接料盒与出料口之间竖直设有平行面光源；所述拍照相机水平设置且位置与平行面光源的位置相正对。2.根据权利要求1所述的一种半导体致冷晶粒自动计数装置，其特征在于：还包括拍照底座，所述拍照底座上设有横向移动件，所述横向移动件的移动端设有竖向移动件，所述拍照相机安装在竖向移动件的移动端。3.根据权利要求2所述的一种半导体致冷晶粒自动计数装置，其特征在于：所述横向移动件包括固定在拍照底座顶面的横向滑台，所述横向滑台上滑动连接有横向滑块，所述横向滑块的顶部固定有支撑座；所述竖向移动件包括竖直固定在支撑座右侧面的竖向滑台，所述竖向滑台上滑动连接有竖向滑块，所述竖向滑块的右端面固定有L形连接架；所述拍照相机安装在L形连接架的水平段底部。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑开魁，王朝阳，蔡植善，
申请(专利权)人：福州大学，
类型：新型
国别省市：