本发明专利技术公开一种鞘流电阻抗粒子计数装置及检测方法，其中，鞘流电阻抗粒子计数装置包括鞘流前池和鞘流后池，所述鞘流前池和所述鞘流后池通过计数孔连通以形成粒子通路，所述鞘流前池上设置有前池电极、样本针、鞘液入口和前池冲洗入口，所述样本针用于向所述鞘流前池内输送样本液；所述鞘流后池上设置有后池电极、后池冲洗入口和后池冲洗出口；所述前池冲洗入口和所述后池冲洗入口均朝向所述计数孔，所述后池冲洗入口位于经过所述计数孔的中心轴线的X水平面的下方，所述后池电极为实心圆柱结构或中空圆柱结构。本发明专利技术的鞘流电阻抗粒子计数装置便于冲洗，而且在进行后池冲洗时能够避免产生的气泡匿藏在电极片处。够避免产生的气泡匿藏在电极片处。够避免产生的气泡匿藏在电极片处。
【技术实现步骤摘要】
鞘流电阻抗粒子计数装置及检测方法
[0001]本专利技术涉及鞘流阻抗法计数领域，特别是涉及一种鞘流电阻抗粒子计数装置及检测方法。
技术介绍
[0002]鞘流电阻抗计数原理是使悬浮在电解质中的待测粒子一次排列通过一个小孔(宝石孔)，在此小孔两侧各安装一个电极(一个正极、一个负极)正负极经小孔(宝石孔)前后电解质导通形成恒流源。当待测粒子通过小孔时电解质整体电导率就会发生变化，从而引起电阻发生变化而产生相应的电压脉冲信号。鞘流阻抗后池电极(正极)一般采用铂金片或铂金丝，采用铂金丝时可实现高压灼烧功能，高压灼烧清理残留蛋白，保持宝石孔的通畅，不考虑灼烧功能是则选择采用铂金片作为正极。
[0003]目前的鞘流电阻抗粒子计数装置存在容易冲洗不干净影响后续检测的问题，而且鞘流阻抗后池电极一般采用铂金片形式进行安装，如果位置安装不当容易导致后池冲洗时产生的气泡匿藏在电极片处，同时也会阻碍流体流向，减低后池冲洗能力。
[0004]鉴于此，有必要提供一种鞘流电阻抗粒子计数装置及检测方法以解决或至少缓解上述缺陷。
技术实现思路
[0005]为了解决现有存在的技术问题，本专利技术提供一种便于冲洗的鞘流电阻抗粒子计数装置。
[0006]为达到上述目的，本专利技术实施例的技术方案是这样实现的：
[0007]一种鞘流阻抗粒子计数装置，包括鞘流前池和鞘流后池，所述鞘流前池和所述鞘流后池通过计数孔连通以形成粒子通路，所述鞘流前池上设置有前池电极、样本针、鞘液入口和前池冲洗入口，所述样本针用于向所述鞘流前池内输送样本液；所述鞘流后池上设置有后池电极、后池冲洗入口和后池冲洗出口；所述前池电极和所述后池电极共同形成电流回路用于粒子检测；所述前池冲洗入口和所述后池冲洗入口均朝向所述计数孔，所述后池冲洗入口位于经过所述计数孔的中心轴线的X水平面的下方，所述后池电极为实心圆柱结构或中空圆柱结构。
[0008]优选地，所述后池电极为耐腐蚀结构，或所述后池电极的表面设置耐腐蚀层。
[0009]优选地，所述后池电极为中空圆柱结构，所述后池电极与所述计数孔共轴设置，所述后池电极作为样本废液收集管。
[0010]优选地，所述后池电极为实心圆柱结构，所述鞘流后池上还设置有样本废液收集管，所述样本废液收集管的管口朝向所述计数孔。
[0011]优选地，所述后池电极与所述样本废液收集管间隔设置，且所述后池电极的中心轴线平行于所述样本废液收集管的中心轴线。
[0012]优选地，所述后池冲洗入口位于所述样本废液收集管的下方，所述后池电极的外
周缘与所述样本废液收集管的外周缘在垂直于X水平面的方向上不交叠。
[0013]优选地，所述后池电极的中心轴线与所述样本废液收集管的中心轴线在平行于X水平面的方向上的距离大于所述后池电极的半径与所述样本废液收集管的半径之和。
[0014]优选地，所述后池冲洗入口和所述后池冲洗出口位于同一竖直平面；或，所述后池冲洗入口的中心轴线与所述X水平面呈预设角度设置，所述后池冲洗出口的中心轴线垂直于所述X水平面。
[0015]优选地，所述前池冲洗入口和所述鞘液入口位于同一竖直平面；或，所述前池冲洗入口的中心轴线与所述X水平面呈预设角度设置，所述鞘液入口的中心轴线垂直于所述X水平面。
[0016]优选地，所述前池冲洗入口与所述后池冲洗入口相对于垂直于所述计数孔的中心轴线的竖直面对称设置，和/或，所述鞘液入口与所述后池冲洗出口相对于垂直于所述计数孔的中心轴线的竖直面对称设置。
[0017]此外，本专利技术还提供一种检测方法，应用于如上所述的鞘流电阻抗粒子计数装置，所述检测方法包括以下步骤：
[0018]将样本液通过所述样本针送入所述鞘流前池；
[0019]将鞘液通过所述鞘液入口送入所述鞘流前池，鞘流包裹所述样本液中的粒子使其逐一通过所述计数孔并产生电信号；
[0020]根据统计和分析电信号而获得样本粒子的数量及体积信息。
[0021]本申请的上述实施例中，计数池包括鞘流前池和鞘流后池，所述鞘流前池和所述鞘流后池通过计数孔连通以形成粒子通路，鞘流前池内的样本粒子可以通过所述计数孔流入鞘流后池。所述鞘流前池上设置有前池电极、样本针、鞘液入口和前池冲洗入口，所述鞘流后池上设置有后池电极、后池冲洗入口、后池冲洗出口和样本液出口，通过所述样本针将样本粒子引入鞘流前池中，样本粒子在前池鞘液的包裹下通过计数孔进入到鞘流后池，再通过样本液出口排出至鞘流后池外。样本粒子通过计数孔时电解质整体电导率就会发生变化，从而引起电阻发生变化而产生相应的电压脉冲信号，被计数电路所获取。所述前池冲洗入口和所述后池冲洗入口均朝向所述计数孔，使得经所述前池冲洗入口注射到鞘流前池的前池冲洗液能够对计数孔靠近鞘流前池的一侧进行冲洗，同时经所述后池冲洗入口注射到鞘流后池的后池冲洗液能够对计数孔靠近鞘流后池的一侧进行冲洗。此外，为了避免后池电极藏匿气泡的情况，后池电极为实心圆柱结构或中空圆柱结构以减少后池冲洗液在所述鞘流后池中的流动阻力，使得鞘流后池内的流体受阻力最小、气泡能够匿藏的死角最小，从而避免气泡粘附或藏储于后池电极处影响鞘流阻抗检测的结果准确性。
附图说明
[0022]图1为本申请鞘流电阻抗粒子计数装置的第一实施例正视剖面图；
[0023]图2为本申请鞘流电阻抗粒子计数装置的第二实施例正视剖面图。
[0024]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0025]以下结合说明书附图及具体实施例对本专利技术技术方案做进一步的详细阐述。除非
另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，并不是旨在于限制本专利技术。在以下描述中，涉及到“一些实施例”的表述，其描述了所有可能实施例的子集，但是应当理解的是，“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集，并且可以在不冲突的情况下相互结合。
[0026]另需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“竖直的”、“水平的”、“内”、“外”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
[0027]请参阅图1和附图2，本申请的实施例提供一种鞘流电阻抗粒子计数装置，包括计数池和与所述计数池连接的计数电路，所述计数池包括鞘流前池100和鞘流后池200，所述鞘流前池100和所述鞘流后池200通过计数孔300连通以形成粒子通路，所述鞘流前池100上设置有前池电极110、样本针120、鞘液入口和前池冲洗入口130，前池电极110用于连接恒流源的负极，从而将前池鞘液接负极，同时，前池电极110也可以作为前池鞘液的输入口，即直接将鞘液入口设置本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种鞘流阻抗粒子计数装置，包括鞘流前池和鞘流后池，所述鞘流前池和所述鞘流后池通过计数孔连通以形成粒子通路，其特征在于，所述鞘流前池上设置有前池电极、样本针、鞘液入口和前池冲洗入口，所述样本针用于向所述鞘流前池内输送样本液；所述鞘流后池上设置有后池电极、后池冲洗入口和后池冲洗出口；所述前池电极和所述后池电极共同形成电流回路用于粒子检测；所述前池冲洗入口和所述后池冲洗入口均朝向所述计数孔，所述后池冲洗入口位于经过所述计数孔的中心轴线的X水平面的下方，所述后池电极为实心圆柱结构或中空圆柱结构。2.如权利要求1所述的鞘流电阻抗粒子计数装置，其特征在于，所述后池电极为耐腐蚀结构，或所述后池电极的表面设置耐腐蚀层。3.如权利要求2所述的鞘流电阻抗粒子计数装置，其特征在于，所述后池电极为中空圆柱结构，所述后池电极与所述计数孔共轴设置，所述后池电极作为样本废液收集管。4.如权利要求2所述的鞘流电阻抗粒子计数装置，其特征在于，所述后池电极为实心圆柱结构，所述鞘流后池上还设置有样本废液收集管，所述样本废液收集管的管口朝向所述计数孔。5.如权利要求4所述的鞘流电阻抗粒子计数装置，其特征在于，所述后池电极与所述样本废液收集管间隔设置，且所述后池电极的中心轴线平行于所述样本废液收集管的中心轴线。6.如权利要求5所述的鞘流电阻抗粒子计数装置，其特征在于，所述后池冲洗入口位于所述样本废液收集管的下方，所述后池电极的外周缘与所述样本废液收集管的外周缘在垂直于X水平面的方向上不交叠。7.如权利要求6所述的鞘流电阻抗粒子计数装置，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：褚聪，徐文超，甘小锋，于记良，牛建会，
申请(专利权)人：深圳市帝迈生物技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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