一种基于双DSP芯片变压器测试装置及测试仪制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种基于双DSP芯片变压器测试装置及测试仪，用于提高变压器数据采样的速度和精度。其中，装置包括：第一DSP芯片、第二DSP芯片、高通滤波模块、放大电路、第一AD转换电路、第二AD转换电路、第一信号采集模块、第二信号采集模块、逻辑电路模块、数据存储器、USB通信接口。本发明专利技术通过第二DSP芯片产生预设频率点的正弦波信号作为激励信号，通过第一DSP芯片生成预设倍频的方波，并根据预设倍频的方波从数据存储器中进行信号采样，实现了双DSP设计，改进了现有的单一DSP芯片设计，实现了高速采样，并且避免了数据重叠，影响数据精度，同时降低了集成化的成本，提高了实际应用价值。提高了实际应用价值。提高了实际应用价值。

【技术实现步骤摘要】
一种基于双DSP芯片变压器测试装置及测试仪


[0001]本专利技术涉及变压器测试
，尤其涉及一种基于双DSP芯片变压器测试装置及测试仪。

技术介绍

[0002]变压器是电力系统中主要设备之一，其性能好坏直接影响电力系统的安全运行，因此，对变压器运行状态的检测，尤其是预防性试验，就显得尤为重要。目前国内外对变压器的预防性试验有两种方式：一是利用变压器综合测试平台；二是利用多种不同测试项目的专用仪器进行测试。但是第一种方式中，变压器综合测试平台体积重量都很大(重达数百千克)，同时在配网系统中，变压器安装较为分散，因此不方便携带到户外进行测试，仅适用试验所测试研究。而第二种方式通过携带几台专用测试仪进行不同项目的测试，是目前变压器预防性试验的主要方法。
[0003]目前国内外变压器测试仪的硬件实现主要分为两类：一种是包含DSP或单片机等在内的微处理器，一种是基于虚拟仪器的工控机技术。单一微处理器在国内最为常用。然而由于主频设置，单一微处理器很难进行高速采样，也缺乏较好的人机交换界面。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种基于双DSP芯片变压器测试装置及测试仪，用于提高变压器数据采样的速度和精度。
[0005]本专利技术提供的一种基于双DSP芯片变压器测试装置，包括：
[0006]第一DSP芯片、第二DSP芯片、高通滤波模块、放大电路、第一AD转换电路、第二AD转换电路、第一信号采集模块、第二信号采集模块、逻辑电路模块、数据存储器、USB通信接口；
[0007]所述第二DSP芯片与高通滤波模块连接；所述高通滤波模块与所述放大电路连接；
[0008]所述第一AD转换电路与所述第一信号采集模块连接；
[0009]所述第二AD转换电路与所述第二信号采集模块连接；
[0010]所述第二信号采集模块、所述第一AD转换电路、所述第二AD转换电路分别与所述逻辑电路模块连接；
[0011]所述逻辑电路模块、所述第一AD转换电路、所述第二AD转换电路与数据存储器连接；
[0012]所述数据存储器通过数据地址总线与所述第一DSP芯片连接；
[0013]所述逻辑电路模块通过控制总线与所述第一DSP芯片连接；
[0014]所述第一DSP芯片与USB通信接口连接；
[0015]所述第一DSP芯片用于生成预设倍频的方波；
[0016]所述第二DSP芯片用于生成预设频率点的正弦波信号。
[0017]本专利技术还提供了一种变压器测试仪，所述测试仪包括：中控模块、直流电阻测试模块、交流电阻测试模块、变压器变比测试模块、交流参数测试模块、中控模块；
[0018]所述直流电阻测试模块、所述交流电阻测试模块、所述变压器变比测试模块、所述交流参数测试模块通过RS485总线与所述中控模块连接；
[0019]所述直流电阻测试模块、所述交流电阻测试模块、所述变压器变比测试模块、所述交流参数测试模块分别由如权利要求1所述的测试装置集成。
[0020]可选地，所述直流测试模块用于测试待测变压器的直流电阻参数。
[0021]可选地，所述交流电阻测试模块用于测试待测变压器的绝缘电阻参数。
[0022]可选地，所述变压器变比测试模块用于测试变压器的变比参数。
[0023]可选地，所述交流参数测试模块用于测试待测变压器的损耗参数和工频耐压参数。
[0024]可选地，所述测试仪还包括恒流源；
[0025]所述恒流源分别与所述直流电阻测试模块、所述交流电阻测试模块、所述变压器变比测试模块和所述交流参数测试模块连接。
[0026]可选地，所述测试仪还包括显示屏；
[0027]所述中控模块与显示屏连接。
[0028]可选地，所述测试仪还包括打印机；
[0029]所述中控模块与所述打印机连接。
[0030]可选地，所述中控模块与计算机连接。
[0031]从以上技术方案可以看出，本专利技术具有以下优点：
[0032]本专利技术一方面公开了一种基于双DSP芯片变压器测试装置，包括第一DSP芯片、第二DSP芯片、高通滤波模块、放大电路、第一AD转换电路、第二AD转换电路、第一信号采集模块、第二信号采集模块、逻辑电路模块、数据存储器、USB通信接口。本实施例中，通过第二DSP芯片生成激励信号进行输出，激励信号用于测试待测变压器的参数特性，并通过第二DSP芯片生成与激励信号对应的标准输入信号至第一信号采集模块，通过第二信号采集模块接收在激励信号作用下，待测变压器反馈的响应输入信号；并通过第一DSP芯片输出控制指令至逻辑电路模块，逻辑电路模块根据接收到的控制指令输出时序指令至第一AD转换电路和第二AD转换电路，使第一AD转换电路和第二AD转换电路，根据时序指令，将标准输入信号和响应输入信号按照时序关系传输至数据存储器中，并通过第一DSP芯片生成预设倍频的方波，并根据方波采集数据存储器中的标准输入信号数据和响应输入信号数据，实现了对测试数据进行高速采样，并且避免了数据重叠，影响数据精度；第一DSP芯片根据标准输入信号数据和响应输入信号数据进行变压器特性参数分析，并将分析得到的变压器特性参数结果，通过USB通信接口进行输出，实现对变压器特性参数的测试。
[0033]在本实施例中，通过第二DSP芯片产生预设频率点的正弦波信号作为激励信号，通过第一DSP芯片生成预设倍频的方波，并根据预设倍频的方波从数据存储器中进行信号采样，实现了双DSP设计，改进了现有的单一DSP芯片设计，并且通过第一DSP芯片、逻辑电路模块、数据存储器的结构和数据交互，实现了高速采样，并且避免了数据重叠，影响数据精度，同时降低了集成化的成本，提高了实际应用价值。
[0034]本专利技术另一方面提供了一种变压器测试仪，包括：中控模块、直流电阻测试模块、交流电阻测试模块、变压器变比测试模块、交流参数测试模块、中控模块；
[0035]所述直流电阻测试模块、所述交流电阻测试模块、所述变压器变比测试模块、所述
交流参数测试模块通过RS485总线与所述中控模块连接；
[0036]所述直流电阻测试模块、所述交流电阻测试模块、所述变压器变比测试模块、所述交流参数测试模块分别由上述的测试装置集成。
[0037]本实施例中，各测试模块分别对应由一个测试装置集成。因此，通过采用基于双DSP芯片变压器测试装置集成的各测试模块，使得各测试模块具备高速数据采样的功能，同时具备独立的数据处理功能；并且将各测试模块集成于测试仪中，实现了将多个不同测试功能进行集成化和一体化，提高了变压器的试验效率，并且避免了现有的变压器测试中，只能携带多种专用仪器测试单一试验项目的问题，提供了更加便携的具备多种测试功能测试仪器。而且本实施例中，各测试模块通过RS485总线将测试数据传输至中控模块，通过中控模块对各测试模块得到的测试数据进行数据管理，避免了现有的变压器测试中，不同的测试仪器可能来自不同的厂家，多种测试仪器的测试数据并不完全相通，造本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于双DSP芯片变压器测试装置，其特征在于，包括：第一DSP芯片、第二DSP芯片、高通滤波模块、放大电路、第一AD转换电路、第二AD转换电路、第一信号采集模块、第二信号采集模块、逻辑电路模块、数据存储器、USB通信接口；所述第二DSP芯片与高通滤波模块连接；所述高通滤波模块与所述放大电路连接；所述第一AD转换电路与所述第一信号采集模块连接；所述第二AD转换电路与所述第二信号采集模块连接；所述第二信号采集模块、所述第一AD转换电路、所述第二AD转换电路分别与所述逻辑电路模块连接；所述逻辑电路模块、所述第一AD转换电路、所述第二AD转换电路与数据存储器连接；所述数据存储器通过数据地址总线与所述第一DSP芯片连接；所述逻辑电路模块通过控制总线与所述第一DSP芯片连接；所述第一DSP芯片与USB通信接口连接；所述第一DSP芯片用于生成预设倍频的方波；所述第二DSP芯片用于生成预设频率点的正弦波信号。2.一种变压器测试仪，其特征在于，所述测试仪包括：中控模块、直流电阻测试模块、交流电阻测试模块、变压器变比测试模块、交流参数测试模块、中控模块；所述直流电阻测试模块、所述交流电阻测试模块、所述变压器变比测试模块、所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：张林楠，陈燕亮，黄科源，向文辉，李锦波，吕家骏，
申请(专利权)人：广东电网有限责任公司珠海供电局，
类型：发明
国别省市：