一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置及检测方法，包括采集组件和位于所述采集组件下方的发光组件，其特征在于，所述发光组件包括同轴光源、八通道球积分光源、八通道环形光源和环形光源；所述同轴光源、八通道球积分光源、八通道环形光源和环形光源沿着远离所述采集组件的方向依次设置。本发明专利技术通过由同轴光源、八通道球积分光源、八通道环形光源和环形光源组成发光组件，可在配合采集组件采集金属表面的图像后，结合光度立体算法实现对金属表面的明显和轻微缺陷的检测，减少了漏检的可能，提高了检测准确率，具有广阔的市场应用前景。市场应用前景。市场应用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置及检测方法


[0001]本专利技术涉及机器视觉
，尤其涉及一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置及检测方法。

技术介绍

[0002]在电子产品的生产场景中，不同的生产工艺环节有可能会造成不同的产品外观缺陷，常见的缺陷类型有划伤、压伤、脏污、异物、粘胶、溢胶，缺损等等。这些产品表面的缺陷若不能及时检测出来，不仅影响产品外观，还会对产品的质量、性能造成影响。
[0003]目前，在机器视觉的应用中，对圆柱锂电池的表面缺陷检测时，电池的金属表面磨砂纹理可能会干扰视觉检测，虽然可以通过一些特殊的打光方式将工件的表面照均匀，但这种方法同时也会掩盖一些细微的缺陷，如划痕、凹坑、凸点等，从而造成漏检。
[0004]因此，需要对现有技术进行改进。
[0005]以上信息作为背景信息给出只是为了辅助理解本公开，并没有确定或者承认任意上述内容是否可用作相对于本公开的现有技术。

技术实现思路

[0006]本专利技术提供一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置及检测方法，以解决现有技术的不足。
[0007]为实现上述目的，本专利技术提供以下的技术方案：
[0008]第一方面，本专利技术实施例提供一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置，包括采集组件10和位于所述采集组件10下方的发光组件20，所述发光组件20包括同轴光源21、八通道球积分光源22、八通道环形光源23和环形光源24；
[0009]所述同轴光源21、八通道球积分光源22、八通道环形光源23和环形光源24沿着远离所述采集组件10的方向依次设置。
[0010]进一步地，所述基于光度立体的金属表面缺陷检测装置中，所述同轴光源21、八通道球积分光源22、八通道环形光源23和环形光源24同轴设置。
[0011]进一步地，所述基于光度立体的金属表面缺陷检测装置中，所述八通道球积分光源22具有检测孔；
[0012]所述同轴光源21的出光面位于所述检测孔的正上方。
[0013]进一步地，所述基于光度立体的金属表面缺陷检测装置中，在所述八通道球积分光源22中，每两个通道作为一个球积分光源分区，共四个球积分光源分区，每个球积分光源分区可独立控制；
[0014]所述八通道环形光源23中，每两个通道作为一个环形光源分区，共四个环形光源分区，每个环形光源分区可独立控制。
[0015]进一步地，所述基于光度立体的金属表面缺陷检测装置中，同轴光源21为白色同轴光源；
[0016]八通道球积分光源22为八通道白色球积分光源；
[0017]八通道环形光源23为八通道白色环形光源；
[0018]环形光源24为白色环形光源。
[0019]第二方面，本专利技术实施例提供一种基于光度立体的金属表面缺陷检测方法，采用如所述第一方面所述的基于光度立体的金属表面缺陷检测装置执行，所述方法包括：
[0020]采用采集组件10配合发光组件20采集金属表面的图像；
[0021]将采集的图像用光度立体算法进行图像处理，以检测金属表面的缺陷。
[0022]进一步地，所述基于光度立体的金属表面缺陷检测方法中，所述采用采集组件10配合发光组件20采集金属表面的图像的步骤包括：
[0023]点亮发光组件20中的同轴光源21照射到金属表面，并采用采集组件10采集金属表面的明场图像；
[0024]点亮发光组件20中的环形光源24照射到金属表面，并采用采集组件10采集金属表面的暗场图像；
[0025]依次点亮发光组件20中的八通道球积分光源22的四个分区照射到金属表面，并采用采集组件10采集金属表面的图像，以及同时点亮发光组件20中的八通道球积分光源22的四个分区照射到金属表面，并采用采集组件10采集金属表面的图像；
[0026]依次点亮发光组件20中的八通道环形光源23的四个分区照射到金属表面，并采用采集组件10采集金属表面的图像，以及同时点亮发光组件20中的八通道环形光源23的四个分区照射到金属表面，并采用采集组件10采集金属表面的图像。
[0027]进一步地，所述基于光度立体的金属表面缺陷检测方法中，所述将采集的图像用光度立体算法进行图像处理，以检测金属表面的缺陷的步骤包括：
[0028]根据采集的明场图像和暗场图像，检测金属表面的明显缺陷；
[0029]将点亮八通道球积分光源22和八通道环形光源23时采集的图像用光度立体算法进行图像处理，以检测金属表面的细微缺陷。
[0030]与现有技术相比，本专利技术实施例具有以下有益效果：
[0031]本专利技术实施例提供的一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置及检测方法，通过由同轴光源、八通道球积分光源、八通道环形光源和环形光源组成发光组件，可在配合采集组件采集金属表面的图像后，结合光度立体算法实现对金属表面的明显和轻微缺陷的检测，减少了漏检的可能，提高了检测准确率，具有广阔的市场应用前景。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0033]图1是本专利技术实施例一提供的一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置的整体结构示意图；
[0034]图2是本专利技术实施例一提供的同轴光源的结构示意图；
[0035]图3是本专利技术实施例一提供的八通道球积分光源的结构示意图；
[0036]图4是本专利技术实施例一提供的八通道环形光源的结构示意图；
[0037]图5是本专利技术实施例一提供的环形光源的结构示意图；
[0038]图6是本专利技术实施例二提供的一种基于光度立体的金属表面缺陷检测方法的流程示意图。
[0039]附图标记：
[0040]采集组件10，发光组件20；
[0041]同轴光源21，八通道球积分光源22，八通道环形光源23，环形光源24。
具体实施方式
[0042]为使得本专利技术的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0043]在本专利技术的描述中，需要理解的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。当一个组件被认为是“设置在”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中设置的组件。
[0044]此外，术语“长”“短”“内”“外”等指示方位或位置关系为基于附图所展示的方位或者位置关系，仅是为了便于描述本专利技术，而不是指示或暗本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于光度立体的金属表面缺陷检测装置，包括采集组件(10)和位于所述采集组件(10)下方的发光组件(20)，其特征在于，所述发光组件(20)包括同轴光源(21)、八通道球积分光源(22)、八通道环形光源(23)和环形光源(24)；所述同轴光源(21)、八通道球积分光源(22)、八通道环形光源(23)和环形光源(24)沿着远离所述采集组件(10)的方向依次设置。2.根据权利要求1所述的基于光度立体的金属表面缺陷检测装置，其特征在于，所述同轴光源(21)、八通道球积分光源(22)、八通道环形光源(23)和环形光源(24)同轴设置。3.根据权利要求1所述的基于光度立体的金属表面缺陷检测装置，其特征在于，所述八通道球积分光源(22)具有检测孔；所述同轴光源(21)的出光面位于所述检测孔的正上方。4.根据权利要求1所述的基于光度立体的金属表面缺陷检测装置，其特征在于，在所述八通道球积分光源(22)中，每两个通道作为一个球积分光源分区，共四个球积分光源分区，每个球积分光源分区可独立控制；所述八通道环形光源(23)中，每两个通道作为一个环形光源分区，共四个环形光源分区，每个环形光源分区可独立控制。5.根据权利要求1所述的基于光度立体的金属表面缺陷检测装置，其特征在于，同轴光源(21)为白色同轴光源；八通道球积分光源(22)为八通道白色球积分光源；八通道环形光源(23)为八通道白色环形光源；环形光源(24)为白色环形光源。6.一种基于光度立体的金属表面缺陷检测方法，其特征在于，采用如权利要求1
‑
5中任一项所述的基于...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄心龙，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：