一种芯片适配板制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片适配板，包括：老化测试座，用于放置被测试芯片；电路稳压保护模块，与老化测试座相连；电路保护控制单元，与老化测试座相连，包括若干个串联的电路保护控制模块，各电路保护控制模块分别与老化测试座的上对应的输入端口相连；适配板接口电路，与电路稳压保护模块、老化测试座分别相连。本实用新型专利技术一种芯片适配板中老化测试座上对应的输入端口处设置电路控制保护模块控制输入信号，通过本实用新型专利技术的引接测试机台资源到芯片测试座，搭建测试所需求的外围电路，由此满足MAX3490收发器功能测试需求。足MAX3490收发器功能测试需求。足MAX3490收发器功能测试需求。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片适配板


[0001]本技术涉及集成电路
，具体涉及一种芯片适配板。

技术介绍

[0002]MAX3490收发器是一款用于RS
‑
485和RS
‑
422的低功耗收发器，在应用之前需要通过测试子板对其功能进行测试。现有的MAX3490收发器在测试过程中，由于对应的测试子板无法配置所有测试资源，导致测试的数据无法接近上述收发器各项功能测试的典型值，无法满足MAX3490收发器功能测试需求。

技术实现思路

[0003]本技术的主要目的在于提供了一种芯片适配板，以解决现有技术中测试子板无法满足满足MAX3490收发器功能测试需求的技术问题。
[0004]本技术一种芯片适配板，包括：
[0005]老化测试座，用于放置被测试芯片；
[0006]电路稳压保护模块，与老化测试座相连；
[0007]电路保护控制单元，与老化测试座相连，包括若干个串联的电路保护控制模块，各电路保护控制模块分别与老化测试座上对应的输入端口相连；
[0008]适配板接口电路，与电路稳压保护模块、老化测试座分别相连。
[0009]本技术一种芯片适配板中老化测试座上对应的输入端口处设置电路控制保护模块，由此控制输入信号，通过本技术的引接测试机台资源到芯片测试座，搭建测试所需求的外围电路，由此满足MAX3490收发器功能测试需求。
[0010]进一步地，所述电路保护控制模块包括单稳继电器、与单稳继电器相连的双向整流稳压二极管。
[0011]进一步地，电路保护控制单元包括依次串联的A1电路保护控制模块、A2电路保护控制模块、A3电路保护控制模块、B1电路保护控制模块、B2电路保护控制模块、B3电路保护控制模块、C1电路保护控制模块、C2电路保护控制模块、C3电路保护控制模块；
[0012]其中所有电路保护控制模块的端口的正极用于与机台的正极电源连接，所有电路保护控制模块的控制端口用于与机台的控制检测信号端口连接；
[0013]A1电路保护控制模块的控制端口连接老化测试座的检测端口2、检测端口3、适配板接口电路的控制端口3；A2电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；A3电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；A1电路保护控制模块、A2电路保护控制模块、A3电路保护控制模块这三个模块的控制信号端口串联；
[0014]B1电路保护控制模块的控制端口连接老化测试座的检测端口5、检测端口6、适配板接口电路的控制端口3；B2电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；B3电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口，其中B1电路保护控制模块、B2电路保护控制模块、B3电路保护控制模块这三个模块的控制信号端口串联；
[0015]C1电路保护控制模块控制端口连接老化测试座的检测端口7、检测端口8、适配板接口电路的控制端口；C2电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；C3电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；其中C1电路保护控制模块、C2电路保护控制模块、C3电路保护控制模块这三个模块的控制信号端口串联。
[0016]进一步地，所述电路稳压保护模块包括第一储能滤波电容器、第一滤波电容、核心电源模块、第二储能滤波电容器、第二滤波电容，其中第一储能滤波电容器的正极与第一滤波电容的正极连接，第一储能滤波电容器的正极与第一滤波电容的正极分别与电源模块阳极连接，所述第一储能滤波电容器的负极、第一滤波电容的负极、核心电源模块的阴极均接地；核心电源模块的正极分别连接第二滤波电容的正极、第二储能滤波电容器的正极、B3电路保护控制模块的端口8的正极，核心电源模块的阴极分别连接第二滤波电容的负极、第二储能滤波电容器的负极、B3电路保护控制模块的端口6的负极。
[0017]本技术一种芯片适配板中老化测试座上对应的输入端口处设置电路控制保护模块控制输入信号，通过本技术的引接测试机台资源到芯片测试座，搭建测试所需求的外围电路，由此满足MAX3490收发器功能测试需求。
[0018]下面结合附图和具体实施方式对本技术做进一步的说明。本技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
附图说明
[0019]构成本技术的一部分的附图用来辅助对本专利技术的理解，附图中所提供的内容及其在本技术中有关的说明可用于解释本技术，但不构成对本技术的不当限定。在附图中：
[0020]图1为本技术中老化测试座的电路图。
[0021]图2为本技术中A1电路保护控制模块的电路图。
[0022]图3为本技术中A2电路保护控制模块的电路图。
[0023]图4为本技术中A3电路保护控制模块的电路图。
[0024]图5为本技术中B1电路保护控制模块的电路图。
[0025]图6为本技术中B2电路保护控制模块的电路图。
[0026]图7为本技术中B3电路保护控制模块的电路图。
[0027]图8为本技术中C1电路保护控制模块的电路图。
[0028]图9为本技术中C2电路保护控制模块的电路图。
[0029]图10为本技术中C3电路保护控制模块的电路图。
[0030]图11为本技术中电路稳压保护模块的电路图。
[0031]图12为本技术中适配板接口电路的电路图。
具体实施方式
[0032]下面结合附图对本技术进行清楚、完整的说明。本领域普通技术人员在基于这些说明的情况下将能够实现本技术。在结合附图对本技术进行说明前，需要特别指出的是：
[0033]本技术中在包括下述说明在内的各部分中所提供的技术方案和技术特征，在不冲突的情况下，这些技术方案和技术特征可以相互组合。
[0034]此外，下述说明中涉及到的本技术的实施例通常仅是本技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。因此，基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本技术保护的范围。
[0035]关于本技术中术语和单位。本专利技术的说明书和权利要求书及有关的部分中的术语“包括”、“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
[0036]本技术的主要目的在于提供了一种芯片适配板，以解决现有技术中测试子板无法满足满足MAX3490收发器功能测试需求的技术问题。
[0037]本技术一种芯片适配板，包括：
[0038]老化测试座，用于放置被测试芯片；
[0039]电路稳压保护模块，与老化测试座相连；
[0040]电路保护控制单元，与老化测试座相连，包括若干个串联的电路保护控制模块，各电路保护控制模块分别与老化测试座上对应的输入端口本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片适配板，其特征在于，包括：老化测试座，用于放置被测试芯片；电路稳压保护模块，与老化测试座相连；电路保护控制单元，与老化测试座相连，包括若干个串联的电路保护控制模块，各电路保护控制模块分别均与老化测试座上对应的输入端口相连；适配板接口电路，与电路稳压保护模块、老化测试座分别相连。2.如权利要求1所述的一种芯片适配板，其特征在于，所述电路保护控制模块包括单稳继电器、与单稳继电器相连的双向整流稳压二极管。3.如权利要求1所述的一种芯片适配板，其特征在于，电路保护控制单元包括依次串联的A1电路保护控制模块、A2电路保护控制模块、A3电路保护控制模块、B1电路保护控制模块、B2电路保护控制模块、B3电路保护控制模块、C1电路保护控制模块、C2电路保护控制模块、C3电路保护控制模块；其中所有电路保护控制模块的端口的正极用于与机台的正极电源连接，所有电路保护控制模块的控制端口用于与机台的控制检测信号端口连接；A1电路保护控制模块的控制端口连接老化测试座的检测端口2、检测端口3、适配板接口电路的控制端口3；A2电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；A3电路保护控制模块的控制端口连接适配板接口电路的控制端口；A1电路保护控制模块、A2电路保护控制模块、A3电路保护控制模块这三个模块的控制信号端口串联；B1电路保护控制模块的控制端口连接老化测...

【专利技术属性】
技术研发人员：母金辉，
申请(专利权)人：成都鸿立芯半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：