一种电路参数的校准方法及自动校准设备技术

本发明专利技术公开了一种电路参数的校准方法及自动校准设备，该方法包括：确定待校准的当前待测设备以及每个当前待测设备的校准类型，根据每个当前待测设备的目标校准类型，确定与每个当前待测设备对应的校准信息，其中，每个当前待测设备的目标校准类型包括校准类型集合中的至少一种校准类型，针对每个当前待测设备，根据确定出的该当前待测设备对应的校准信息，对该当前待测设备中的电路参数进行校准。可见，实施本发明专利技术能够对多个待测设备中不同类型的电路参数进行校准，能够有利于提高对电路参数进行校准的效率。参数进行校准的效率。参数进行校准的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种电路参数的校准方法及自动校准设备


[0001]本专利技术涉及电子
，尤其涉及一种电路参数的校准方法及自动校准设备。

技术介绍

[0002]随着科学技术的发展，电子产品的种类的数量越来越多，各个类型的电子产品也成为了人们日常生活中不可或缺的一个部分。
[0003]在制作电子产品的过程中检测和校准是必不可缺的一个步骤，目前对于电子产品的检测方法通常会因为电子产品中的电器元器件、PCB板、加工工艺等因素的影响，导致采集到的参数与实际所需的参数不符合，从而导致对该电子产品的检测结果有偏差甚至会导致检测结果错误。其次，现在大部分的校准都是通过人工手动对每一台设备进行测试校准，或者通过校准软件对设备进行统一校准之后再由人工进行手动校准，这样的方法不仅耗费大量的人力资源，而且还存在着校准准确性低下以及校准效率低下的问题。可见，如何提供一种新的校准方法以提高校准准确性以及校准效率显得尤为重要。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题在于，提供一种电路参数的校准方法及自动校准设备，能够通过对多个待测设备中不同类型的电路参数进行校准，能够有利于提高对电路参数进行校准的效率，以及能够有利于提高对电路参数进行校准的准确性。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术第一方面公开了一种电路参数的校准方法，所述方法包括：
[0006]确定待校准的当前待测设备以及每个所述当前待测设备的目标校准类型；
[0007]根据每个所述当前待测设备的目标校准类型，确定与每个所述当前待测设备对应的校准信息，其中，每个所述当前待测设备的目标校准类型包括校准类型集合中的至少一种校准类型；
[0008]针对每个所述当前待测设备，根据确定出的该当前待测设备对应的校准信息，对该当前待测设备中的电路参数进行校准。
[0009]作为一种可选的实施方式，在本专利技术第一方面中，所述校准类型集合包括输出信号校准类型、自有电路校准类型、输入信号校准类型中的一种或多种。
[0010]作为一种可选的实施方式，在本专利技术第一方面中，针对每个所述当前待测设备，所述根据确定出的该当前待测设备对应的校准信息，对该当前待测设备中的电路参数进行校准，包括：
[0011]当该当前待测设备的目标校准类型包括所述输出信号校准类型时，获取该当前待测设备当前输出的第一电路信号；
[0012]判断获取到的该当前待测设备当前输出的第一电路信号与该当前待测设备对应的第一校准信息中所包括的第一校准信号是否相匹配，当判断出不相匹配时，分析该当前待测设备当前输出的第一电路信号与所述第一校准信号之间的差异参数，将所述差异参数
发送至该当前待测设备，并继续触发执行所述的获取该当前待测设备当前输出的第一电路信号的操作以及继续触发所述的判断获取到的该当前待测设备当前输出的第一电路信号与该当前待测设备对应的第一校准信息中所包括的第一校准信号是否相匹配的操作，直至该当前待测设备当前输出的第一电路信号与所述第一校准信号相匹配或者累计校验参数满足预设校验参数条件；所述差异参数用于触发该当前待测设备执行与所述差异参数相匹配的自调整操作以调整该当前待测设备当前输出的第一电路信号，其中，所述第一校准信息为与所述输出信号校准类型相匹配的校准信息；
[0013]当判断出该当前待测设备当前输出的第一电路信号与所述第一校准信号相匹配时，确定针对该当前待测设备中的电路参数执行完毕所述输出信号校准类型对应的校准操作。
[0014]作为一种可选的实施方式，在本专利技术第一方面中，针对每个所述当前待测设备，所述根据确定出的该当前待测设备对应的校准信息，对该当前待测设备中的电路参数进行校准，包括：
[0015]当该当前待测设备的目标校准类型包括所述自有电路校准类型时，获取针对该当前待测设备采集到的第二电路信号；
[0016]将所述第二电路信号发送至该当前待测设备，以触发该当前待测设备执行相匹配的自调整操作并反馈调整结果信号；
[0017]接收该当前待测设备发送的所述调整结果信号，并根据所述调整结果信号判断该当前待测设备是否调整完毕，当根据所述调整结果信号判断出该当前待测设备已调整完毕时，确定针对该当前待测设备中的电路参数执行完毕所述自有电路校准类型对应的校准操作；
[0018]其中，该当前待测设备执行相匹配的自调整操作，包括：
[0019]由该当前待测设备根据所述第二电路信号对该当前待测设备对应的第二校准信息中所包括的待校准对象执行内容更新操作；
[0020]所述内容更新操作用于将所述待校准对象的内容更新为所述第二电路信号或者用于将所述待校准对应的内容更新为基于所述第二校准信息中所包括的校准算法对所述第二电路信息进行计算所得到的计算结果。
[0021]作为一种可选的实施方式，在本专利技术第一方面中，针对每个所述当前待测设备，所述根据确定出的该当前待测设备对应的校准信息，对该当前待测设备中的电路参数进行校准，包括：
[0022]当该当前待测设备的目标校准类型包括所述输入信号校准类型时，根据该当前待测设备对应的第三校准信息中所包括的校准信号类型向该当前待测设备发送与所述校准信号类型相匹配的电路信号，以触发该当前待测设备在接收到与所述校准信号类型相匹配的电路信号发送反馈信号；
[0023]接收该当前待测设备发送的所述反馈信号，判断所述反馈信号是否与其向该当前待测设备发送与所述校准信号类型相匹配的电路信号相匹配；
[0024]当判断出所述反馈信号与向该当前待测设备发送与所述校准信号类型相匹配的电路信号相匹配时，确定针对该当前待测设备中的电路参数执行完毕所述输入信号校准类型对应的校准操作。
[0025]作为一种可选的实施方式，在本专利技术第一方面中，针对每个所述当前待测设备，所述根据确定出的该当前待测设备对应的校准信息，对该当前待测设备中的电路参数进行校准，还包括：
[0026]当该当前待测设备的目标校准类型包括所述输入信号校准类型时，且当判断出所述反馈信号与向该当前待测设备发送与所述校准信号类型相匹配的电路信号不匹配时，计算所述反馈信号与向该当前待测设备发送与所述校准信号类型相匹配的电路信号之间的偏移参数；
[0027]将所述偏移参数发送至该当前待测设备，以触发该当前待测设备执行与所述偏移参数相匹配的自调整操作，并重新执行所述的根据该当前待测设备对应的第三校准信息中所包括的校准信号类型向该当前待测设备发送与所述校准信号类型相匹配的电路信号，以触发该当前待测设备在接收到与所述校准信号类型相匹配的电路信号发送反馈信号的操作以及重新执行所述的接收该当前待测设备发送的所述反馈信号，判断所述反馈信号是否与其向该当前待测设备发送与所述校准信号类型相匹配的电路信号相匹配的操作。
[0028]作为一种可选的实施方式，在本专利技术第一方面中，所述方法还包括：
[0029]对于任一所述当前待测设备的任一目标校准类型，当针对该当前待测设备执行完毕该目标校准类型对应的校准操作时，判断针对该当前待测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路参数的校准方法，其特征在于，所述方法包括：确定待校准的当前待测设备以及每个所述当前待测设备的目标校准类型；根据每个所述当前待测设备的目标校准类型，确定与每个所述当前待测设备对应的校准信息，其中，每个所述当前待测设备的目标校准类型包括校准类型集合中的至少一种校准类型；针对每个所述当前待测设备，根据确定出的该当前待测设备对应的校准信息，对该当前待测设备中的电路参数进行校准。2.根据权利要求1所述的一种电路参数的校准方法，其特征在于，所述校准类型集合包括输出信号校准类型、自有电路校准类型、输入信号校准类型中的一种或多种。3.根据权利要求2所述的一种电路参数的校准方法，其特征在于，针对每个所述当前待测设备，所述根据确定出的该当前待测设备对应的校准信息，对该当前待测设备中的电路参数进行校准，包括：当该当前待测设备的目标校准类型包括所述输出信号校准类型时，获取该当前待测设备当前输出的第一电路信号；判断获取到的该当前待测设备当前输出的第一电路信号与该当前待测设备对应的第一校准信息中所包括的第一校准信号是否相匹配，当判断出不相匹配时，分析该当前待测设备当前输出的第一电路信号与所述第一校准信号之间的差异参数，将所述差异参数发送至该当前待测设备，并继续触发执行所述的获取该当前待测设备当前输出的第一电路信号的操作以及继续触发所述的判断获取到的该当前待测设备当前输出的第一电路信号与该当前待测设备对应的第一校准信息中所包括的第一校准信号是否相匹配的操作，直至该当前待测设备当前输出的第一电路信号与所述第一校准信号相匹配或者累计校验参数满足预设校验参数条件；所述差异参数用于触发该当前待测设备执行与所述差异参数相匹配的自调整操作以调整该当前待测设备当前输出的第一电路信号，其中，所述第一校准信息为与所述输出信号校准类型相匹配的校准信息；当判断出该当前待测设备当前输出的第一电路信号与所述第一校准信号相匹配时，确定针对该当前待测设备中的电路参数执行完毕所述输出信号校准类型对应的校准操作。4.根据权利要求2所述的一种电路参数的校准方法，其特征在于，针对每个所述当前待测设备，所述根据确定出的该当前待测设备对应的校准信息，对该当前待测设备中的电路参数进行校准，包括：当该当前待测设备的目标校准类型包括所述自有电路校准类型时，获取针对该当前待测设备采集到的第二电路信号；将所述第二电路信号发送至该当前待测设备，以触发该当前待测设备执行相匹配的自调整操作并反馈调整结果信号；接收该当前待测设备发送的所述调整结果信号，并根据所述调整结果信号判断该当前待测设备是否调整完毕，当根据所述调整结果信号判断出该当前待测设备已调整完毕时，确定针对该当前待测设备中的电路参数执行完毕所述自有电路校准类型对应的校准操作；其中，该当前待测设备执行相匹配的自调整操作，包括：由该当前待测设备根据所述第二电路信号对该当前待测设备对应的第二校准信息中所包括的待校准对象执行内容更新操作；
所述内容更新操作用于将所述待校准对象的内容更新为所述第二电路信号或者用于将所述待校准对应的内容更新为基于所述第二校准信息中所包括的校准算法对所述第二电路信息进行计算所得到的计算结果。5.根据权利要求2所述的一种电路参数的校准方法，其特征在于，针对每个所述当前待测设备，所述根据确定出的该当前待测设备对应的校准信息，对该当前待测设备中的电路参数进行校准，包括：当该当前待测设备的目标校准类型包括所述输入信号校准类型时，根据该当前待测设备对应的第三校准信息中所包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：娄珂，周振彬，周开军，段海波，雷滨华，
申请(专利权)人：深圳顶匠科技有限公司，
类型：发明
国别省市：