本实用新型专利技术公开了一种光发射次模块加工用老化测试箱，包括测试箱主体、底座、立柱、复用器和分路器，测试箱主体底部的一侧固定有底座，且底座的顶端固定有立柱，测试箱主体底部的一侧安装有温度传感器，且温度传感器一侧的测试箱主体底部安装有光缆扇出器，测试箱主体的内壁上安装有陶瓷电加热板，测试箱主体一侧的内壁上安装有误码仪，测试箱主体的内壁上安装有复用器。本实用新型专利技术不仅避免待测光模块之间相互影响，提高测试箱对待测光模块的老化测试精度，使得待测光模块处于不同的温度下进行老化测试，提高测试箱的检测效率，还提升测试箱的散热性能。箱的散热性能。箱的散热性能。
【技术实现步骤摘要】
一种光发射次模块加工用老化测试箱
[0001]本技术涉及光发射次模块测试
，具体为一种光发射次模块加工用老化测试箱。
技术介绍
[0002]光模块主要由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接受两部分，光模块的作用就是发送端把电信号转换成光信号，通过光纤传送后，接收端再把光信号转换成电信号，光模块是进行光电和电光转换的光电子器件，为保证光模块的产品质量，需要对光模块进行老化测试，如在测试箱中检测光模块在不同温度中的使用寿命。
[0003]现今市场上的此类测试箱种类繁多，基本可以满足人们的使用需求，但是依然存在一定的不足之处，现有的此类测试箱在使用过程中，光模块的位置多是直接置于箱体内部，每组待测光模块之间容易发生干扰，导致光缆扇出器分出的信号出现乱码的现象，降低了光模块老化的测试精度，并且加热后的测试箱温度难以及时散出，为工作人员的检测带来了不便。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种光发射次模块加工用老化测试箱，以解决上述
技术介绍
中提出测试箱中的光缆扇出器易发生乱码以及测试箱散热性能较低的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种光发射次模块加工用老化测试箱，包括测试箱主体、底座、立柱、复用器和分路器，所述测试箱主体底部的一侧固定有底座，且所述底座的顶端固定有立柱，所述测试箱主体底部的一侧安装有温度传感器，且所述温度传感器一侧的测试箱主体底部安装有光缆扇出器，所述测试箱主体的内壁上安装有陶瓷电加热板，所述测试箱主体一侧的内壁上安装有误码仪，所述测试箱主体的内壁上安装有复用器，且复用器一侧的测试箱主体内壁上安装有光衰减器，所述测试箱主体顶部的一侧安装有分路器，所述测试箱主体一侧的内壁上固定有导轨，所述测试箱主体一侧的外壁上安装有控制面板,控制面板内部单片机的输出端与温度传感器的输入端电性连接，所述立柱的表面设置有等间距的内螺纹孔。
[0006]优选的，所述测试箱主体一侧的外壁上安装有吸附箱，且所述吸附箱的上下两端皆焊接有直角垫块，所述直角垫块一侧的外壁上安装有紧固螺栓,紧固螺栓的一端延伸至测试箱主体的内部。
[0007]优选的，所述测试箱主体的底端设置有散热孔。
[0008]优选的，所述立柱的表面滑动安装有多组连接套，且所述连接套一侧的外壁上安装有连接块。
[0009]优选的，所述连接块一侧的外壁上固定有滑台,滑台与导轨滑动连接。
[0010]优选的，所述连接套一侧的外壁上固定有挡块，且所述挡块远离连接套的一端固定有支架，所述连接套的表面安装有限位螺栓,限位螺栓的一端与内螺纹孔螺纹配合。
[0011]优选的，所述吸附箱的内部安装有风扇,风扇的出风口延伸至测试箱主体的内部。
[0012]优选的，所述吸附箱内部的一侧安装有聚乙烯滤网，且所述聚乙烯滤网一侧的吸附箱顶部安装有初效微粒滤网。
[0013]与现有技术相比，本技术的有益效果是：该一种光发射次模块加工用老化测试箱不仅避免待测光模块之间相互影响，提高测试箱对待测光模块的老化测试精度，使得待测光模块处于不同的温度下进行老化测试，提高测试箱的检测效率，还提升测试箱的散热性能；
[0014](1)通过设置有连接套和支架等，将多组待测光模块放置于支架上，手动滑动挡块以及连接套，使得连接套在光缆扇出器的表面进行滑动，导轨可对滑台的滑动起到导向的作用，使得每组待测光模块相隔一端距离，将限位螺栓拧入内螺纹孔中，从而可对支架的位置进行限位，避免待测光模块之间相互影响；
[0015](2)通过设置有陶瓷电加热板和分路器等，光信号通过光衰减器、分路器输送给待测光模块，通过复用器输送给误码仪进行误码校验，从而完成该通道的误码测试，多个测试通道共用一台误码仪可完成多个待测光模块的测试，在该过程中工作人员通过控制面板开启陶瓷电加热板进行工作，使其对箱体中的待测光模块进行加热，使得待测光模块处于不同的温度下进行老化测试，其升温较快，提高测试箱的检测效率；
[0016](3)通过设置有风扇和吸附箱等，开启风扇进行工作，使其将外部空气通过吸附箱送入测试箱主体的内部，此时风扇可对测试箱主体的内部进行快速散热，散热孔起到气体交换的作用，从而提升测试箱的散热性能。
附图说明
[0017]图1为本技术的主视结构示意图；
[0018]图2为本技术图1中A处放大结构示意图；
[0019]图3为本技术的侧视结构示意图；
[0020]图4为本技术图3中B处放大结构示意图；
[0021]图5为本技术的仰视结构示意图；
[0022]图中：1、测试箱主体；2、底座；3、立柱；4、温度传感器；5、光缆扇出器；6、陶瓷电加热板；7、误码仪；8、复用器；9、光衰减器；10、分路器；11、导轨；12、滑台；13、连接块；14、连接套；15、限位螺栓；16、挡块；17、支架；18、内螺纹孔；19、吸附箱；20、控制面板；21、风扇；22、聚乙烯滤网；23、初效微粒滤网；24、直角垫块；25、紧固螺栓；26、散热孔。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]请参阅图1
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5，本技术提供的一种实施例：一种光发射次模块加工用老化测试箱，包括测试箱主体1、底座2、立柱3、复用器8和分路器10，测试箱主体1底部的一侧固定有底座2，且底座2的顶端固定有立柱3，测试箱主体1一侧的内壁上固定有导轨11，立柱3的表面滑动安装有多组连接套14，且连接套14一侧的外壁上安装有连接块13，连接块13一侧的
外壁上固定有滑台12,滑台12与导轨11滑动连接，导轨11可对滑台12的滑动起到导向的作用；
[0025]连接套14一侧的外壁上固定有挡块16，且挡块16远离连接套14的一端固定有支架17，工作人员将多组待测光模块放置于支架17上，连接套14的表面安装有限位螺栓15,限位螺栓15的一端与内螺纹孔18螺纹配合，限位螺栓15依次拧入连接套14以及内螺纹孔18后，支架17的位置被固定；
[0026]手动滑动挡块16以及连接套14，使得连接套14在光缆扇出器5的表面进行滑动，连接套14带动连接块13、滑台12在导轨11的表面滑动，此时每组待测光模块相隔一端距离，避免待测光模块之间相互影响；
[0027]测试箱主体1底部的一侧安装有温度传感器4，该温度传感器4的型号可为WRM
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101，且温度传感器4一侧的测试箱主体1底部安装有光缆扇出器5，测试箱主体1的底端设置有散热孔26，测试箱主体1的内壁上安装有陶瓷电加热板6，通过控制面板20开启陶瓷电加热板6进行工作，使其对箱体中的待测光模块进行加热，使得待测光模块处于不同的温度本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光发射次模块加工用老化测试箱，其特征在于：包括测试箱主体(1)、底座(2)、立柱(3)、复用器(8)和分路器(10)，所述测试箱主体(1)底部的一侧固定有底座(2)，且所述底座(2)的顶端固定有立柱(3)，所述测试箱主体(1)底部的一侧安装有温度传感器(4)，且所述温度传感器(4)一侧的测试箱主体(1)底部安装有光缆扇出器(5)，所述测试箱主体(1)的内壁上安装有陶瓷电加热板(6)，所述测试箱主体(1)一侧的内壁上安装有误码仪(7)，所述测试箱主体(1)的内壁上安装有复用器(8)，且复用器(8)一侧的测试箱主体(1)内壁上安装有光衰减器(9)，所述测试箱主体(1)顶部的一侧安装有分路器(10)，所述测试箱主体(1)一侧的内壁上固定有导轨(11)，所述测试箱主体(1)一侧的外壁上安装有控制面板(20),控制面板(20)内部单片机的输出端与温度传感器(4)的输入端电性连接，所述立柱(3)的表面设置有等间距的内螺纹孔(18)。2.根据权利要求1所述的一种光发射次模块加工用老化测试箱，其特征在于：所述测试箱主体(1)一侧的外壁上安装有吸附箱(19)，且所述吸附箱(19)的上下两端皆焊接有直角垫块(24)，所述直角垫块(24)一侧的外壁上安装有紧固螺栓(25),紧固螺栓(25)的一端延伸至测试箱主体(...
【专利技术属性】
技术研发人员：马小立，司马卫武，
申请(专利权)人：广东光智通讯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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