本实用新型专利技术公开了一种扫码装置，包括扫码器和支架，扫码器用于对竖向堆叠于进料区和/或出料区的物料盘贴设的标识码进行扫描；支架设于进料区和/或出料区，扫码器设于支架上，支架上设置有遮挡部，遮挡部用于为扫码器遮挡位于预设位置之外的物料盘的标识码。芯片测试机构的扫码装置通过扫码器对位于预设位置的物料盘贴设的标识码进行扫码，堆叠在预设位置之上的物料盘贴设的标识码通过支架上的遮挡部进行遮挡，从而防止扫码器对除预设位置之外的物料盘产生误扫而导致对预设位置的物料盘产生的漏扫，因此，能够防止后续分BIN时运用错误的芯片BIN项信息和坐标对芯片进行分盘，从而降低芯片分BIN时混料的风险。降低芯片分BIN时混料的风险。降低芯片分BIN时混料的风险。
【技术实现步骤摘要】
扫码装置
[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种扫码装置。
技术介绍
[0002]在芯片测试领域，芯片测试前，需要对承载芯片的物料盘进行扫码，记录标识码，芯片测试后，需要根据测试结果将物料盘各料槽的坐标及放置芯片的BIN项和对应的标识码关联，之后分BIN设备会根据测试后的芯片BIN项和记录的物料盘各料槽的坐标及放置芯片的BIN项将芯片放至对应的物料盘的料槽中，分BIN前需对物料盘进行扫码以调用物料盘各料槽的坐标及放置芯片的BIN项，方便分BIN。在进料区和出料区通常会堆叠大量物料盘，扫码器对物料盘进行扫码时，容易产生误扫或漏扫而导致芯片分BIN时产生混料的风险。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于提供一种扫码装置，能够防止分BIN时产生误扫或漏扫，降低混料风险。
[0004]为实现上述目的，本技术提供了一种扫码装置，包括：
[0005]扫码器，所述扫码器用于对竖向堆叠于进料区和/或出料区的物料盘贴设的标识码进行扫描，其中，竖向堆叠于所述进料区和所述出料区的所述物料盘被依次向下带动至预设位置，所述扫码器对位于所述预设位置的所述物料盘贴设的所述标识码进行扫描；
[0006]支架，所述支架设于进料区和/或出料区，所述扫码器设于所述支架上，所述支架上设置有遮挡部，所述遮挡部用于为所述扫码器遮挡位于所述预设位置之外的所述物料盘的所述标识码。
[0007]可选的，所述支架包括第一支杆和与所述第一支杆相交连接的第二支杆，所述第一支杆连接于所述进料区和/或所述出料区，所述第二支杆用于设置所述扫码器。
[0008]可选的，所述支架包括两间隔设置于进料区和/或所述出料区的所述第一支杆，两所述第一支杆分别连接于所述第二支杆的两端，所述第二支杆被配置为可沿两所述第一支杆的长度方向移动，所述扫码器被配置为可沿所述第二支杆的长度方向移动，以调整所述扫码器的位置。
[0009]可选的，两所述第一支杆上均匀分布有多个相对的第一螺孔，所述第二支杆的两端分别设有两第二螺孔，根据所述物料盘贴设的所述标识码的位置选择两所述第一支杆上对应位置的所述第一螺孔分别与两所述第二螺孔对准后进行锁合，以调整所述扫码器沿所述第一支杆的长度方向的位置。
[0010]可选的，所述支架还包括安装架，所述安装架用于安装所述扫码器，所述安装架设于所述第二支杆并可沿所述第二支杆的长度方向移动，以调整所述扫码器沿所述第二支杆的长度方向的位置。
[0011]可选的，所述安装架包括滑块、第一竖向安装板和第二竖向安装板，所述滑块沿所述第二支杆的长度方向滑动设置，所述第一竖向安装板与所述滑块固定连接，所述第二竖
向安装板可竖向移动地设于所述第一竖向安装板以调整所述扫码器在竖向上的位置，所述扫码器安装于所述第二竖向安装板。
[0012]可选的，所述扫码器被配置为可相对所述第二竖向安装板竖向转动以调整所述扫码器的角度。
[0013]可选的，所述第二竖向安装板和所述扫码器之一者设有转轴，所述第二竖向安装板和所述扫码器之另一者设有供所述转轴穿过的旋转孔，所述转轴相对所述旋转孔转动带动所述扫码器竖向转动；所述第二竖向安装板和所述扫码器之一者设有弧形导向槽，所述第二竖向安装板和所述扫码器之另一者设有可沿所述弧形导向槽滑动的导向轴，所述扫码器沿所述弧形导向槽的轨迹在第一位置和第二位置之间摆动，当所述扫码器位于所述第一位置时，所述导向轴位于所述弧形导向槽的最低点，当所述扫码器位于所述第二位置时，所述导向轴位于所述弧形导向槽的最高点。
[0014]可选的，所述遮挡部设于所述第一支杆，所述遮挡部的一侧与所述第一支杆连接，所述遮挡部相对所述第一支杆的另一侧向所述物料盘的堆叠方向延伸，以为所述扫码器遮挡堆叠于所述预设位置上方的所述物料盘贴设的所述标识码。
[0015]本技术中，芯扫码装置通过扫码器对位于预设位置的物料盘贴设的标识码进行扫码，堆叠在预设位置之上的物料盘贴设的标识码通过支架上的遮挡部进行遮挡，从而防止扫码器对除预设位置之外的物料盘产生误扫而导致对预设位置的物料盘产生的漏扫，因此，能够防止后续分BIN时运用错误的芯片BIN项信息和坐标对芯片进行分盘，从而降低芯片分BIN时混料的风险。
附图说明
[0016]图1是本技术实施例芯片测试机的进料区/出料区的立体结构图。
[0017]图2是图1中A部的放大图。
[0018]图3是是本技术实施例扫码装置的立体结构图。
具体实施方式
[0019]为了详细说明本技术的
技术实现思路
、构造特征、实现的效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。
[0020]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0021]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。并且，本技术中的“上方”和“下方”仅表示相对位置，并不表示绝对位置。
[0022]需要说明的是，当器件被称为“固定于”或“设置于”另一个器件，它可以直接在另一个器件上或者也可以存在居中的器件。当一个器件被认为是“连接”另一个器件，它可以是直接连接到另一个器件或者可能同时存在居中器件。本文所使用的术语“竖向”、“横向”、“上”、“下”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
[0023]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。
[0024]请参阅图1至图3，本技术实施例公开了一种扫码装置1，扫码装置1可以设于芯片测试机中，扫码装置1包括扫码器10和支架20，扫码器10用于对竖向堆叠于进料区和/或出料区的物料盘30贴设的标识码进行扫描，其中，竖向堆叠于进料区和出料区的物料盘30被依次向下带动至预设位置，扫码器10对位于预设位置的物料盘30贴设的标识码进行扫描；支架20设于进料区和/或出料区，扫码器10设于支架20上，支架20上设置有遮挡部40，遮挡部40用于为扫码器10遮挡位于预设位置之外的物料盘30的标识码。
[0025]本技术实施例中，扫码装置1通过扫码器10对位于预设位置的物料盘30贴设的标本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种扫码装置，其特征在于，包括：扫码器，所述扫码器用于对竖向堆叠于进料区和/或出料区的物料盘贴设的标识码进行扫描，其中，竖向堆叠于所述进料区和所述出料区的所述物料盘被依次向下带动至预设位置，所述扫码器对位于所述预设位置的所述物料盘贴设的所述标识码进行扫描；支架，所述支架设于进料区和/或出料区，所述扫码器设于所述支架上，所述支架上设置有遮挡部，所述遮挡部用于为所述扫码器遮挡位于所述预设位置之外的所述物料盘的所述标识码。2.根据权利要求1所述的扫码装置，其特征在于，所述支架包括第一支杆和与所述第一支杆相交连接的第二支杆，所述第一支杆连接于所述进料区和/或所述出料区，所述第二支杆用于设置所述扫码器。3.根据权利要求2所述的扫码装置，其特征在于，所述支架包括两间隔设置于进料区和/或所述出料区的所述第一支杆，两所述第一支杆分别连接于所述第二支杆的两端，所述第二支杆被配置为可沿两所述第一支杆的长度方向移动，所述扫码器被配置为可沿所述第二支杆的长度方向移动，以调整所述扫码器的位置。4.根据权利要求3所述的扫码装置，其特征在于，两所述第一支杆上均匀分布有多个相对的第一螺孔，所述第二支杆的两端分别设有两第二螺孔，根据所述物料盘贴设的所述标识码的位置选择两所述第一支杆上对应位置的所述第一螺孔分别与两所述第二螺孔对准后进行锁合，以调整所述扫码器沿所述第一支杆的长度方向的位置。5.根据权利要求2
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4任一项所述的扫码装置，其特征在于，所述支架还包括安装架，所述安装架用于安装所述扫码器，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖小波，袁俊，郑朝生，郑挺，肖思文，
申请(专利权)人：广东利扬芯片测试股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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