耳机运行测试采集方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种耳机运行测试采集方法、装置、计算机设备和存储介质。上述方法包括获取耳机的运行测试状态参数；根据运行测试状态参数获取第一采样时间以及第二采样时间；将第一采样时间与第二采样时间进行时溶处理，得到采样时差；根据采样时差向耳机监测系统发送运参数显信号，以显示耳机的各工作状态数据。通过对运行测试状态参数的时间确定，便于求取上述两个采样时间的差异程度，从而便于确定耳机的不同测试参数之间的采样时间间隔，使得所显示的耳机的各项测试参数为同时采集的，确保了各项测试参数的采集处于相同的采样环境下，有效地提高了对耳机的测试结果准确性。地提高了对耳机的测试结果准确性。地提高了对耳机的测试结果准确性。

【技术实现步骤摘要】
耳机运行测试采集方法、装置、计算机设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及耳机
，特别是涉及一种耳机运行测试采集方法、装置、计算机设备和存储介质。

技术介绍

[0002]在蓝牙耳机设计过程中，需要对其进行硬件测试，通过外接万用表的方式采集其工作电流、工作电压，通过观察和分析电流与电压的采集值曲线来对产品硬件进行评审。同样的，蓝牙耳机可以通过手机或者蓝牙快连板通讯进行电量百分比的读取，采集电量百分比曲线，用于评审产品软件和产品本身的适配度。
[0003]然而，传统的耳机测试方式，基本是采用分开采样，很难保证两次测试的产品状态和环境一致，会对测试结果的准确性产生一定的影响。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种有效提高测试结果准确性的耳机运行测试采集方法、装置、计算机设备和存储介质。
[0005]本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：
[0006]一种耳机运行测试采集方法，所述方法包括：
[0007]获取耳机的运行测试状态参数；
[0008]根据所述运行测试状态参数获取第一采样时间以及第二采样时间；
[0009]将所述第一采样时间与所述第二采样时间进行时溶处理，得到采样时差；
[0010]根据所述采样时差向耳机监测系统发送运参数显信号，以显示所述耳机的各工作状态数据。
[0011]在其中一个实施例中，所述获取耳机的运行测试状态参数，包括：获取所述耳机的运行电参。
[0012]在其中一个实施例中，所述根据所述运行测试状态参数获取第一采样时间以及第二采样时间，包括：根据所述运行电参获取对应的第一采样时间。
[0013]在其中一个实施例中，所述获取耳机的运行测试状态参数，包括：获取所述耳机的运行电量。
[0014]在其中一个实施例中，所述根据所述运行测试状态参数获取第一采样时间以及第二采样时间，包括：根据所述运行电量获取对应的第二采样时间。
[0015]在其中一个实施例中，所述根据所述采样时差向耳机监测系统发送运参数显信号，以显示所述耳机的各工作状态数据，包括：检测所述采样时差与预设时差是否匹配；当所述采样时差与所述预设时差匹配时，向所述耳机监测系统发送运参同显信号，以同时显示所述耳机的各运行测试状态数据。
[0016]在其中一个实施例中，所述检测所述采样时差与预设时差是否匹配，之后还包括：当所述采样时差与所述预设时差不匹配时，向所述耳机监测系统发送运显预警信号。
[0017]一种耳机运行测试采集装置，所述装置包括：
[0018]运参采样模块，用于获取耳机的运行测试状态参数；
[0019]运参处理模块，用于根据所述运行测试状态参数获取第一采样时间以及第二采样时间；将所述第一采样时间与所述第二采样时间进行时溶处理，得到采样时差；
[0020]运参显示模块，用于根据所述采样时差向耳机监测系统发送运参数显信号，以显示所述耳机的各工作状态数据。
[0021]一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
[0022]获取耳机的运行测试状态参数；
[0023]根据所述运行测试状态参数获取第一采样时间以及第二采样时间；
[0024]将所述第一采样时间与所述第二采样时间进行时溶处理，得到采样时差；
[0025]根据所述采样时差向耳机监测系统发送运参数显信号，以显示所述耳机的各工作状态数据。
[0026]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0027]获取耳机的运行测试状态参数；
[0028]根据所述运行测试状态参数获取第一采样时间以及第二采样时间；
[0029]将所述第一采样时间与所述第二采样时间进行时溶处理，得到采样时差；
[0030]根据所述采样时差向耳机监测系统发送运参数显信号，以显示所述耳机的各工作状态数据。
[0031]与现有技术相比，本专利技术至少具有以下优点：
[0032]通过对运行测试状态参数的时间确定，即第一采样时间和第二采样时间，便于求取上述两个采样时间的差异程度，从而便于确定耳机的不同测试参数之间的采样时间间隔，进而便于确定运行测试状态参数中的各参数采样时间的同一性，使得所显示的耳机的各项测试参数为同时采集的，确保了各项测试参数的采集处于相同的采样环境下，有效地提高了对耳机的测试结果准确性，从而有效地提高了对耳机测试效率。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0034]图1为一实施例中耳机运行测试采集方法的流程图；
[0035]图2为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
[0036]为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳实施方式。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本专利技术的公开内容理解的更
加透彻全面。
[0037]需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
[0038]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0039]本专利技术涉及一种耳机运行测试采集方法。在其中一个实施例中，所述耳机运行测试采集方法包括获取耳机的运行测试状态参数；根据所述运行测试状态参数获取第一采样时间以及第二采样时间；将所述第一采样时间与所述第二采样时间进行时溶处理，得到采样时差；根据所述采样时差向耳机监测系统发送运参数显信号，以显示所述耳机的各工作状态数据。通过对运行测试状态参数的时间确定，即第一采样时间和第二采样时间，便于求取上述两个采样时间的差异程度，从而便于确定耳机的不同测试参数之间的采样时间间隔，进而便于确定运行测试状态参数中的各参数采样时间的同一性，使得所显示的耳机的各项测试参数为同时采集的，确保了各项测试参数的采集处于相同的采样环境下，有效地提高了对耳机的测试结果准确性，从而有效地提高了对耳机测试效率。
[0040]请参阅图1，其本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种耳机运行测试采集方法，其特征在于，包括：获取耳机的运行测试状态参数；根据所述运行测试状态参数获取第一采样时间以及第二采样时间；将所述第一采样时间与所述第二采样时间进行时溶处理，得到采样时差；根据所述采样时差向耳机监测系统发送运参数显信号，以显示所述耳机的各工作状态数据。2.根据权利要求1所述的耳机运行测试采集方法，其特征在于，所述获取耳机的运行测试状态参数，包括：获取所述耳机的运行电参。3.根据权利要求2所述的耳机运行测试采集方法，其特征在于，所述根据所述运行测试状态参数获取第一采样时间以及第二采样时间，包括：根据所述运行电参获取对应的第一采样时间。4.根据权利要求1所述的耳机运行测试采集方法，其特征在于，所述获取耳机的运行测试状态参数，包括：获取所述耳机的运行电量。5.根据权利要求4所述的耳机运行测试采集方法，其特征在于，所述根据所述运行测试状态参数获取第一采样时间以及第二采样时间，包括：根据所述运行电量获取对应的第二采样时间。6.根据权利要求1所述的耳机运行测试采集方法，其特征在于，所述根据所述采样时差向耳机监测系统发送运参数显信号，以显示所述耳机的各工...

【专利技术属性】
技术研发人员：单家威，王丽，
申请(专利权)人：深圳市豪恩声学股份有限公司，
类型：发明
国别省市：