影像快速自动对位的自动光学系统及其使用方法技术方案

一种影像快速自动对位的自动光学系统及其使用方法，其设一中央处理器－可程序逻辑控制器在自动对位过程中，比对一目标影像与一待测影像，将待测影像进行线性回归计算后的直线方程式与取样点比较，去除与直线方程式距离超过一阀值的取样点，以剩余的取样点计算二次线性回归直线方程式，得到校正后的基准线；再将与基准线互相垂直／平行的其余边线，朝基准线作九十度旋转、一百八十度映射／平移，以进行取样点补偿运算；并将此点群组进行第三次线性回归得到补偿后的边线，以求出更精准的待测影像的定位中心；达到对位效率佳、具有校正补偿机制，以及适用于各种对位影像等功效。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种影像快速自动对位的自动光学系统的使用方法，其特征在于，包括下列步骤：一．准备步骤：预先准备一目标样板，该目标样板上具有至少一个目标影像；将该目标样板定义为Ｔｉ，ｊ，ｋ（ｐ，ｑ），其大小为ＰＱ，１≤ｉ≤３，１≤ｐ≤Ｐ，１≤ｑ≤Ｑ；并设定该目标样板的预定忽略灰阶值及其分布范围；再设定该目标样板的预定的特征权重矩阵；设一感光耦合组件影像控制定位装置，将该目标样板撷取至一中央处理器－可程序逻辑控制器内，由其内建程序对该目标样板及其上的目标影像进行扫描；二．载入步骤：加载一预定的待测样板，并将该待测样板定义为Ｉｉ（ｘ，ｙ），大小为ＭＮ，１≤ｉ≤３，该待测样板对应该目标影像而具有一待测影像；三．调整步骤：依计算该待测影像的区域灰阶值所得数值，自动调整该目标影像的亮度及对比度至接近该待测影像的预定值，以线性回归法取得该待测影像的数条边线，再由数条边线求出该待测影像的中心；四．校正补偿比对步骤：比对该目标影像与该待测影像，将线性回归计算后取得的直线方程式与取样点进行比较，若取样点与直线方程式之间的距离超过一预设阀值，则将此取样点去除，当所有取样点均判断完毕，再以剩余的取样点计算二次线性回归直线方程式，得到校正后的基准线；将与该基准线互相垂直／平行的其余边线，朝该基准线分别作九十度旋转、一百八十度映射／平移，对该基准线进行取样点补偿运算；使原始点群组总个数ｋ’变成ｋ’＝ｋ＋ｉ，增加取样点数，并将此点群组进行第三次线性回归，以求得补偿后的待测影像的边线；进而求出更精准的待测影像的定位中心；五．完成步骤：于该待测影像上比对得到吻合的目标影像。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林宸生，张书绮，刘硕茸，吴国彰，
申请(专利权)人：逢甲大学，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]