本申请公开了一种干式电容器耐久性试验方法及相关装置，方法包括：在预置工作环境温度下给电容器初始样品施加预置测试电流达到第一预置时长，促使电容器初始样品的内部元件的温度达到实际最高芯子温度；通过监测外壳表面的外壳均值温度将电容器实际样品的壳体加热至实际最高芯子温度；给电容器实际样品施加预置直流电压达到第二预置时长后，将电容器实际样品至于室温下充放电达到预置次，返回给外壳加热；将电容器实际样品至于室温冷却后，测量电容器实际样品的试验电容和损耗角正切值，并分析电容器实际样品的耐久性能是否合格。本申请能解决现有耐久性试验无法平衡试验过程中交流电压的热效应和直流电压的相互影响，试验效果较差的技术问题。验效果较差的技术问题。验效果较差的技术问题。
【技术实现步骤摘要】
一种干式电容器耐久性试验方法及相关装置
[0001]本申请涉及电容器试验
，尤其涉及一种干式电容器耐久性试验方法及相关装置。
技术介绍
[0002]电容器是变流器的重要器件之一，其主要作用是在变流器中的直流侧作为储能元件。金属化薄膜电容器在高压、高频、高温、大电流、小体积和长寿命方面比电解电容器具备优势。电容器在直流、交流电压条件下的电压击穿、绝缘特性不同，工作场强也有很大差异；而这些会影响到电容器的相关性能。
[0003]电容器的重要的电压试验项目包括热稳定试验、耐久性试验、极间耐压试验。但是现有的耐久性试验无法平衡试验过程中的交流电压的热效应和直流电压之间的影响，导致实际的耐久性试验要么设置的标准太过严苛，要么无法达到试验要求。
技术实现思路
[0004]本申请提供了一种干式电容器耐久性试验方法及相关装置，用于解决现有的耐久性试验无法平衡试验过程中的交流电压的热效应和直流电压的相互影响，导致试验效果较差的技术问题。
[0005]有鉴于此，本申请第一方面提供了一种干式电容器耐久性试验方法，包括：
[0006]在预置工作环境温度下给电容器初始样品施加预置测试电流达到第一预置时长，促使所述电容器初始样品的内部元件的温度达到实际最高芯子温度，所述电容器初始样品包括内部元件热电偶；
[0007]通过监测多个预置外壳表面测温点测得的外壳均值温度将电容器实际样品的壳体外面加热至所述实际最高芯子温度，所述电容器实际样品未布设所述内部元件热电偶；
[0008]给所述电容器实际样品施加预置直流电压达到第二预置时长后，将所述电容器实际样品至于室温下充放电达到预置次，并返回所述通过监测多个预置外壳表面测温点测得的外壳均值温度将电容器实际样品的壳体外面加热至所述实际最高芯子温度的步骤；
[0009]将所述电容器实际样品至于室温冷却后，测量所述电容器实际样品的试验电容和损耗角正切值，并根据所述试验电容和损耗角正切值分析所述电容器实际样品的耐久性能是否合格。
[0010]优选地，所述在预置工作环境温度下给电容器初始样品施加预置测试电流达到第一预置时长，促使所述电容器初始样品的内部元件的温度达到实际最高芯子温度，包括：
[0011]根据干式电容器的发热特性设置多个预置内部元件测温点；
[0012]在预置工作环境温度下给电容器初始样品施加预置测试电流达到第一预置时长，并测得多个时刻下每个所述预置内部元件测温点的内部元件温度；
[0013]若在预置时间周期内基于所述内部元件温度的温度变化量在预置温度范围内，则温度达到稳定状态，取最大温度值作为实际最高芯子温度。
[0014]优选地，所述通过监测多个预置外壳表面测温点测得的外壳均值温度将电容器实际样品的壳体外面加热至所述实际最高芯子温度，所述电容器实际样品未布设所述内部元件热电偶，之前还包括：
[0015]在电容器实际样品的箱壳多个表面上选取多个预置外壳表面测温点；
[0016]在每个所述预置外壳表面测温点上布设热电偶，用于测量外壳表面温度。
[0017]优选地，所述将所述电容器实际样品至于室温冷却后，测量所述电容器实际样品的试验电容和损耗角正切值，并根据所述试验电容和损耗角正切值分析所述电容器实际样品的耐久性能是否合格，包括：
[0018]将所述电容器实际样品至于室温冷却后，测量所述电容器实际样品的试验电容和损耗角正切值；
[0019]根据所述试验电容和预置初始电容计算电容变化量；
[0020]若所述电容变化量小于预置变化比例，且所述损耗角正切值在预置变化范围内，则判定所述电容器实际样品的耐久性能合格。
[0021]本申请第二方面提供了一种干式电容器耐久性试验装置，包括：
[0022]温度初试模块，用于在预置工作环境温度下给电容器初始样品施加预置测试电流达到第一预置时长，促使所述电容器初始样品的内部元件的温度达到实际最高芯子温度，所述电容器初始样品包括内部元件热电偶；
[0023]壳体加热模块，用于通过监测多个预置外壳表面测温点测得的外壳均值温度将电容器实际样品的壳体外面加热至所述实际最高芯子温度，所述电容器实际样品未布设所述内部元件热电偶；
[0024]放电试验模块，用于给所述电容器实际样品施加预置直流电压达到第二预置时长后，将所述电容器实际样品至于室温下充放电达到预置次，并触发所述壳体加热模块；
[0025]参数分析模块，用于将所述电容器实际样品至于室温冷却后，测量所述电容器实际样品的试验电容和损耗角正切值，并根据所述试验电容和损耗角正切值分析所述电容器实际样品的耐久性能是否合格。
[0026]优选地，所述温度初试模块，具体用于：
[0027]根据干式电容器的发热特性设置多个预置内部元件测温点；
[0028]在预置工作环境温度下给电容器初始样品施加预置测试电流达到第一预置时长，并测得多个时刻下每个所述预置内部元件测温点的内部元件温度；
[0029]若在预置时间周期内基于所述内部元件温度的温度变化量在预置温度范围内，则温度达到稳定状态，取最大温度值作为实际最高芯子温度。
[0030]优选地，还包括：
[0031]测点选取模块，用于在电容器实际样品的箱壳多个表面上选取多个预置外壳表面测温点；
[0032]测点布设模块，用于在每个所述预置外壳表面测温点上布设热电偶，用于测量外壳表面温度。
[0033]优选地，所述参数分析模块，具体用于：
[0034]将所述电容器实际样品至于室温冷却后，测量所述电容器实际样品的试验电容和损耗角正切值；
[0035]根据所述试验电容和预置初始电容计算电容变化量；
[0036]若所述电容变化量小于预置变化比例，且所述损耗角正切值在预置变化范围内，则判定所述电容器实际样品的耐久性能合格。
[0037]本申请第三方面提供了一种干式电容器耐久性试验设备，所述设备包括处理器以及存储器；
[0038]所述存储器用于存储程序代码，并将所述程序代码传输给所述处理器；
[0039]所述处理器用于根据所述程序代码中的指令执行第一方面所述的干式电容器耐久性试验方法。
[0040]本申请第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质用于存储程序代码，所述程序代码用于执行第一方面所述的干式电容器耐久性试验方法。
[0041]从以上技术方案可以看出，本申请实施例具有以下优点：
[0042]本申请中，提供了一种干式电容器耐久性试验方法，包括：在预置工作环境温度下给电容器初始样品施加预置测试电流达到第一预置时长，促使电容器初始样品的内部元件的温度达到实际最高芯子温度，电容器初始样品包括内部元件热电偶；通过监测多个预置外壳表面测温点测得的外壳均值温度将电容器实际样品的壳体外面加热至实际最高芯子温度，电容器实际样品未布设内部元件热电偶；给电容器实际样品施加预置直流电压达到第二预置时长后，将电容器实本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种干式电容器耐久性试验方法，其特征在于，包括：在预置工作环境温度下给电容器初始样品施加预置测试电流达到第一预置时长，促使所述电容器初始样品的内部元件的温度达到实际最高芯子温度，所述电容器初始样品包括内部元件热电偶；通过监测多个预置外壳表面测温点测得的外壳均值温度将电容器实际样品的壳体外面加热至所述实际最高芯子温度，所述电容器实际样品未布设所述内部元件热电偶；给所述电容器实际样品施加预置直流电压达到第二预置时长后，将所述电容器实际样品至于室温下充放电达到预置次，并返回所述通过监测多个预置外壳表面测温点测得的外壳均值温度将电容器实际样品的壳体外面加热至所述实际最高芯子温度的步骤；将所述电容器实际样品至于室温冷却后，测量所述电容器实际样品的试验电容和损耗角正切值，并根据所述试验电容和损耗角正切值分析所述电容器实际样品的耐久性能是否合格。2.根据权利要求1所述的干式电容器耐久性试验方法，其特征在于，所述在预置工作环境温度下给电容器初始样品施加预置测试电流达到第一预置时长，促使所述电容器初始样品的内部元件的温度达到实际最高芯子温度，包括：根据干式电容器的发热特性设置多个预置内部元件测温点；在预置工作环境温度下给电容器初始样品施加预置测试电流达到第一预置时长，并测得多个时刻下每个所述预置内部元件测温点的内部元件温度；若在预置时间周期内基于所述内部元件温度的温度变化量在预置温度范围内，则温度达到稳定状态，取最大温度值作为实际最高芯子温度。3.根据权利要求1所述的干式电容器耐久性试验方法，其特征在于，所述通过监测多个预置外壳表面测温点测得的外壳均值温度将电容器实际样品的壳体外面加热至所述实际最高芯子温度，所述电容器实际样品未布设所述内部元件热电偶，之前还包括：在电容器实际样品的箱壳多个表面上选取多个预置外壳表面测温点；在每个所述预置外壳表面测温点上布设热电偶，用于测量外壳表面温度。4.根据权利要求1所述的干式电容器耐久性试验方法，其特征在于，所述将所述电容器实际样品至于室温冷却后，测量所述电容器实际样品的试验电容和损耗角正切值，并根据所述试验电容和损耗角正切值分析所述电容器实际样品的耐久性能是否合格，包括：将所述电容器实际样品至于室温冷却后，测量所述电容器实际样品的试验电容和损耗角正切值；根据所述试验电容和预置初始电容计算电容变化量；若所述电容变化量小于预置变化比例，且所述损耗角正切值在预置变化范围内，则判定所述电容器实际样品的耐久性能合格。5.一种干式电容器耐久性试验装置，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：姚成，杨柳，刘刚，周月宾，胡泰山，蔡汉生，刘浩，屈路，张义，
申请(专利权)人：南方电网科学研究院有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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