一种探针组件和飞针测试设备制造技术

本申请公开了一种探针组件和飞针测试设备，该探针组件包括：针体，包括相连接的针身和针尖，其中，针身呈圆柱状，针尖呈圆锥状；绝缘套筒，套设在针身远离针尖的一端，且绝缘套筒内部形成有容置腔，以使外部的导线的一端穿过容置腔连接针身，并通过导线的另一端连接外部的测试线路板。通过上述方式，本申请中的探针组件通过改变针体构造，减小针身直径，有效提高了设置有该探针组件的飞针测试设备对控深深度较小的台阶板产品的测试能力。深度较小的台阶板产品的测试能力。深度较小的台阶板产品的测试能力。

【技术实现步骤摘要】
一种探针组件和飞针测试设备


[0001]本申请涉及电路板
，尤其涉及一种探针组件和飞针测试设备。

技术介绍

[0002]随着PCB产品向着高集成、高密度、细微化和多层化的方向发展，台阶板，也即一种通过外层开窗工艺，露出内层图形，用以镶嵌元器件的电路板的需求也日益增大，制做与测试难度也越来越高。
[0003]在使用飞针测试设备测试台阶板产品时，因产品设计的特殊性，测试针会与产品形成一定的角度，当台阶板的控深深度，也即从元件面或焊接面到内层图层之间的深度越大，可测试的侧壁距离，也即内层测点中心到控深槽侧壁之间的距离也就越远。然而，实际部分产品测试点的侧壁距离很小，远超设备测试能力，以致现场无法使用设备加工。常规的飞针测试设备中的测试架无法嵌套产品，以致无法测试台阶板，而针对此类产品，便只能使用万用表手动量测，无法满足生产要求。

技术实现思路

[0004]本申请提供的一种探针组件和飞针测试设备，以能够解决现有技术中的飞针测试设备无法有效对台阶板进行测试的问题。
[0005]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种探针组件，其中，该探针组件包括：针体，包括相连接的针身和针尖，其中，针身呈圆柱状，针尖呈圆锥状；绝缘套筒，套设在针身远离针尖的一端，且绝缘套筒内部形成有容置腔，以使外部的导线的一端穿过容置腔连接针身，并通过导线的另一端连接外部的测试线路板。
[0006]其中，探针组件还包括安装底座，套筒远离针体的一端连接安装底座。
[0007]其中，绝缘套筒呈圆管状或方形管状。
[0008]其中，针身的直径和针尖的底部直径均不小于0.3毫米。
[0009]其中，针身的直径和针尖的底部直径为0.25
‑
0.3毫米。
[0010]其中，针身的长度为针尖长度的3倍。
[0011]其中，针身的长度为2.7
‑
3.3毫米，针尖的长度为0.9
‑
1.1毫米。
[0012]其中，绝缘套筒的内径不小于导线外径的两倍。
[0013]其中，绝缘套筒的内径为0.75
‑
0.95毫米。
[0014]为解决上述技术问题，本申请采用的又一个技术方案是：提供一种飞针测试设备，其中，该飞针测试设备包括：测试线路板和探针组件，以及连接测试线路板和探针组件的导线，其中，该探针组件为如上任一项所述的探针组件。
[0015]本申请的有益效果是：区别于现有技术，本申请提供的探针组件中的针体包括相连接的针身和针尖，且该针身呈圆柱状，针尖呈圆锥状，而其绝缘套筒套设在针身远离针尖的一端，绝缘套筒内部形成有容置腔，以使外部的导线的一端穿过容置腔连接针身，并通过导线的另一端连接外部的测试线路板，从而能够通过改变针体构造，减小针身直径，有效提
高设置有该探针组件的飞针测试设备对控深深度较小的台阶板产品的测试能力，进而能够提高台阶板产品的制程能力，提高现场的生产效率，降低对应产品的质量隐患，减少投入成本，增加对应产品的竞争力与盈利。
附图说明
[0016]图1是本申请探针组件一实施方式的结构示意图；
[0017]图2是图1中探针组件的剖视图；
[0018]图3是本申请飞针测试设备一实施方式的爆炸示意图。
具体实施方式
[0019]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0020]本申请中的术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0021]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0022]下面结合附图和实施例对本申请进行详细的说明。
[0023]请参阅图1和图2，其中，图1是本申请探针组件一实施方式的结构示意图，图2是图1中探针组件的剖视图。在本实施方式中，该探针组件10包括：针体11和绝缘套筒12。
[0024]其中，本申请中的探针组件10具体是旨在对待测台阶板进行功能测试的飞针测试设备中充当连接测试点的探头，比如，通过将探针组件10伸入到待测台阶板中的控深槽和/或控深孔中，以连接控深槽和/或控深孔底部的测试点，进而对测试点进行信号测试；或，分别将两个不同的探针组件10连接至待测台阶板中的不同测试点处，比如，不同的线路层或焊盘或元件引脚等任意合理两个测试点处，以检测二者之间的阻抗。
[0025]具体地，探针组件10中的针体11进一步包括相连接的针身111和针尖112，而其中的针身111具体呈圆柱状，而针尖112呈圆锥状。
[0026]探针组件10中的绝缘套筒12套设在针身111远离针尖112的一端，且绝缘套筒12内
部形成有容置腔，以使外部的导线20的一端能够穿过容置腔以连接至针身111，进而通过导线20的另一端连接外部的测试线路板，也便使得该测试线路板能够通过将探针组件10伸入到待测台阶板中的控深槽和/或控深孔中，以连接控深槽和/或控深孔底部的测试点，进而对测试点进行信号测试；或，分别将两个不同的探针组件10连接至待测台阶板中的不同测试点处，比如，不同的线路层或焊盘或元件引脚等任意合理两个测试点处，以检测二者之间的阻抗。
[0027]此外，绝缘套筒12套还能够对导线20防护，并对软质导线20自由移动提供一定的限制，以更好的对其进行导向，防止其弯折堵塞控深槽和/或控深孔。
[0028]上述方式，通过改变探针组件10中的针体11构造，减小针身111直径，有效提高设置有该探针组件10的飞针测试设备对控深深度较小的台阶板产品的测试能力，进而能够提高台阶板产品的制程能力，提高现场的生产效率，降低对应产品的质本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探针组件，其特征在于，所述探针组件包括：针体，包括相连接的针身和针尖，其中，所述针身呈圆柱状，所述针尖呈圆锥状；绝缘套筒，套设在所述针身远离所述针尖的一端，且所述绝缘套筒内部形成有容置腔，以使外部的导线的一端穿过所述容置腔连接所述针身，并通过所述导线的另一端连接外部的测试线路板。2.根据权利要求1所述的探针组件，其特征在于，所述探针组件还包括安装底座，所述套筒远离所述针体的一端连接所述安装底座。3.根据权利要求1所述的探针组件，其特征在于，所述绝缘套筒呈圆管状或方形管状。4.根据权利要求1所述的探针组件，其特征在于，所述针身的直径和所述针尖的底部直径均不小于0.3毫米。5.根据权利要求4所述的探针组件，其特征在于，所述针身的直径和所述针尖的底部直径为0.25
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【专利技术属性】
技术研发人员：乃翔宇，孙鑫，卢红泽，韩涛，易灿，杜玉芳，韩力，
申请(专利权)人：深南电路股份有限公司，
类型：新型
国别省市：