工控机与数据监测系统技术方案

本发明专利技术涉及芯片领域，公开一种工控机与数据监测系统。所述工控机包括：监测模块，用于在监测到所述工控机上的特定数据文件夹内的生产数据发生变化的情况下，获取所述特定数据文件夹内发生变化的生产数据的生成时间；提取模块，用于提取所述特定数据文件夹的原始数据摘要；插入模块，用于将所述生成时间作为时间戳插入所述原始数据摘要中，以形成所述特定数据文件夹的第一数据摘要；以及发送模块，用于发送所述特定数据文件夹的名称与所述第一数据摘要。由此，本发明专利技术可有效地避免生产数据被篡改，以确保生产数据的真实准确性。以确保生产数据的真实准确性。以确保生产数据的真实准确性。

【技术实现步骤摘要】
工控机与数据监测系统


[0001]本专利技术涉及芯片领域，具体地涉及一种工控机与数据监测系统。

技术介绍

[0002]晶圆接受测试（Wafer Acceptance Test，WAT）在业内也被称作过程控制监控（Process Control Monitor，PCM）。在晶圆产品流片结束之后，通过对晶圆产品上特定的测试结构进行WAT参数电性测试，以通过WAT数据来检测晶圆产品是否符合工艺的规格要求，WAT数据可以作为晶圆产品交货的质量凭证。另外，WAT数据还可以反映生产线的实际生产情况，通过收集和分析WAT数据可以监测生产线的情况，也可以判断生产线变化的趋势，对可能发生的情况进行预警。
[0003]通常，WAT数据由芯片代工厂的工程师通过人为方式从工控机上导出，然后以一定的方式（如邮件、FTP等）发送至设计厂。设计厂依据WAT数据做出器件电学特性分析、结构分析，同时将WAT分析结论作为后续光罩改版、工艺流片拉偏条件方案的制定标准。因此，WAT数据的真实准确性是至关重要的。
[0004]事实上，由于芯片制造工艺的波动性，很难保证每片晶圆的电学性能完全符合出货的标准，因此代工厂为避免重复测试或不能如期交货，偶尔会采取人为篡改WAT数据的方式，使其符合出货标准后再发送给设计厂。例如，在工控机上传数据至主、备服务器的短暂的时间间隔下存在人为篡改WAT数据的风险。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种工控机与数据监测系统，其可以有效地避免生产数据被篡改，以确保所述生产数据的真实准确性，从而可有效地避免由于生产数据不准确而导致电学特性分析错误，导致后续的光罩改版、流片工艺拉偏等决定出现偏差，最终导致芯片从设计到封装全链条性失败。
[0006]为了实现上述目的，本专利技术一方面提供一种工控机，所述工控机包括：监测模块，用于在监测到所述工控机上的特定数据文件夹内的生产数据发生变化的情况下，获取所述特定数据文件夹内发生变化的生产数据的生成时间；提取模块，用于提取所述特定数据文件夹的原始数据摘要；插入模块，用于将所述生成时间作为时间戳插入所述原始数据摘要中，以形成所述特定数据文件夹的第一数据摘要；以及发送模块，用于发送所述特定数据文件夹的名称与所述第一数据摘要。
[0007]优选地，所述工控机还包括：同步模块，用于响应于监测到所述工控机上的特定数据文件夹内的生产数据发生变化，将所述特定数据文件夹内发生变化的生产数据同步至主服务器上的特定数据文件夹内，相应地，所述监测模块还用于获取所述特定数据文件夹在所述主服务器上的存储地址，以及所述插入模块还用于将所述存储地址作为数据地址插入所述第一数据摘要中。
[0008]优选地，所述数据监测系统还包括：查询模块，用于查询所述工控机的存储空间使
用率，所述同步模块还用于，执行以下操作：在所述工控机的存储空间使用率大于第一阈值且小于或者等于第二阈值的情况下，将所述工控机上的生产数据强制同步至所述主服务器；或者在所述工控机的存储空间使用率大于所述第二阈值的情况下，将所述工控机上的生产数据强制同步至所述主服务器与备用服务器。
[0009]优选地，所述查询模块为crontab模块；以及所述同步模块为rsync模块。
[0010]优选地，所述监测模块为Inotify模块。
[0011]优选地，所述生产数据包括晶圆接受测试数据、晶圆测试数据和/或最终测试数据。
[0012]优选地，所述特定数据文件夹的名称与所述生产数据的批号相关联。
[0013]通过上述技术方案，本专利技术创造性地在工控机上配置监测模块、提取模块、插入模块与发送模块，在监测到所述工控机上的特定数据文件夹内的生产数据发生变化的情况下，通过监测模块获取所述特定数据文件夹内发生变化的生产数据的生成时间；通过插入模块将发生变化的生产数据的生成时间插入特定数据文件夹的原始数据摘要中，以形成包括时间戳的新的数据摘要；最后通过发送模块发送特定数据文件夹的名称及其新的数据摘要（例如数据库服务器），由此，数据库服务器可基于新的数据摘要中的时间戳来判定特定数据文件夹中的生产数据是否被篡改，即，可以有效地避免生产数据被篡改，以确保所述生产数据的真实准确性，从而可有效地避免由于生产数据不准确而导致电学特性分析错误，导致后续的光罩改版、流片工艺拉偏等决定出现偏差，最终导致芯片从设计到封装全链条性失败。
[0014]本专利技术第二方面提供一种数据监测系统，所述数据监测系统包括：所述的工控机；数据库服务器，用于执行以下操作：接收特定数据文件夹的名称与第一数据摘要；查询所述数据库服务器上是否记录有第二数据摘要，其中，所述第二数据摘要对应的数据文件夹的名称与所述特定数据文件夹的名称相同；以及在所述数据库服务器上记录有所述第二数据摘要且所述第一数据摘要中的时间戳与所述第二数据摘要中的时间戳不同的情况下，将所述第一数据摘要对应的特定数据文件夹为篡改文件。
[0015]优选地，在所述数据库服务器上记录有所述第二数据摘要且所述第一数据摘要中的时间戳与所述第二数据摘要中的时间戳不同的情况下，所述数据库服务器还用于执行以下步骤：基于所述第一数据摘要对应的特定数据文件夹的名称，间接获取对应于所述第一数据摘要的生产数据；基于所述第二数据摘要对应的数据文件夹的名称，间接获取对应于所述第二数据摘要的生产数据；以及在对应于所述第一数据摘要的生产数据与对应于所述第二数据摘要的生产数据不同的情况下，将所述第一数据摘要对应的特定数据文件夹标记为篡改文件。
[0016]优选地，在所述数据库服务器上记录有所述第二数据摘要且所述第一数据摘要中的时间戳与所述第二数据摘要中的时间戳不同的情况下，所述数据库服务器还用于执行以下步骤：基于所述第一数据摘要中的数据地址，直接获取对应于所述第一数据摘要的生产数据；基于所述第二数据摘要中的数据地址，直接获取对应于所述第二数据摘要的生产数据；以及在对应于所述第一数据摘要的生产数据与对应于所述第二数据摘要的生产数据不同的情况下，将所述第一数据摘要对应的特定数据文件夹标记为篡改文件。
[0017]通过上述技术方案，本专利技术创造性地在特定数据文件夹内的生产数据发生变化时
通过工控机记录生产数据的生成时间，将生产时间作为时间戳加入数据摘要中，并将数据摘要发送至数据库服务器；通过数据库服务器查询其自身是否已记录有特定数据文件夹的名称对应的数据摘要，若记录有，则对比两个数据摘要的时间戳，在时间戳不同的情况下，表明特定数据文件夹内的生产数据已经被篡改，将所述特定数据文件夹标记为篡改文件，由此，可以有效地避免生产数据被篡改，以确保所述生产数据的真实准确性，从而可有效地避免由于生产数据不准确而导致电学特性分析错误，导致后续的光罩改版、流片工艺拉偏等决定出现偏差，最终导致芯片从设计到封装全链条性失败。
[0018]本专利技术的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
[0019]附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种工控机，其特征在于，所述工控机包括：监测模块，用于在监测到所述工控机上的特定数据文件夹内的生产数据发生变化的情况下，获取所述特定数据文件夹内发生变化的生产数据的生成时间；提取模块，用于提取所述特定数据文件夹的原始数据摘要；插入模块，用于将所述生成时间作为时间戳插入所述原始数据摘要中，以形成所述特定数据文件夹的第一数据摘要；以及发送模块，用于发送所述特定数据文件夹的名称与所述第一数据摘要。2.根据权利要求1所述的工控机，其特征在于，所述工控机还包括：同步模块，用于响应于监测到所述工控机上的特定数据文件夹内的生产数据发生变化，将所述特定数据文件夹内发生变化的生产数据同步至主服务器上的特定数据文件夹内，相应地，所述监测模块还用于获取所述特定数据文件夹在所述主服务器上的存储地址，以及所述插入模块还用于将所述存储地址作为数据地址插入所述第一数据摘要中。3.根据权利要求2所述的工控机，其特征在于，所述工控机还包括：查询模块，用于查询所述工控机的存储空间使用率，所述同步模块还用于，执行以下操作：在所述工控机的存储空间使用率大于第一阈值且小于或者等于第二阈值的情况下，将所述工控机上的生产数据强制同步至所述主服务器；或者在所述工控机的存储空间使用率大于所述第二阈值的情况下，将所述工控机上的生产数据强制同步至所述主服务器与备用服务器。4.根据权利要求3所述的工控机，其特征在于，所述查询模块为crontab模块；以及所述同步模块为rsync模块。5.根据权利要求1所述的工控机，其特征在于，所述监测模块为Inotify模块。6.根据权利要求1所述的工控机，其特征在于，所述生产数据包括晶圆接受测试数据、晶圆测试数据和/或最终测试数据。7.根据权利要求1所述的工控机，其特征在于，所述特定数据文件夹的名称与所述生产数据的批号相关联。8.一种数据监测...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵东艳，邓永峰，陈燕宁，梁英宗，付振，刘芳，吴波，郁文，王凯，刘倩倩，余山，
申请(专利权)人：北京智芯微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：