测试方法和装置、电子设备和可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:35690230 阅读:15 留言:0更新日期:2022-11-23 14:38
本申请提供了一种测试方法、测试装置、电子设备和非易失性计算机可读存储介质。测试方法包括基于预设的曝光控制算法和当前曝光时间进行曝光以获取预览图像;根据所述预览图像的预设区域的像素值计算当前灰度值,并根据所述当前灰度值及所述当前曝光时间,确定所述曝光控制算法的映射函数;根据所述映射函数和预设的目标灰度值,确定目标曝光时间;及根据所述曝光控制算法和所述目标曝光时间进行曝光,以获取目标测试图像。由于曝光控制算法是开放的,且能够准确地获取到算法的映射函数,不仅能够快速而准确地生成目标灰度值的目标测试图像,而且测试人员能够快速检查目标测试图像的输出过程是否存在问题,从而提高测试效率。从而提高测试效率。从而提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
测试方法和装置、电子设备和可读存储介质


[0001]本申请涉及测试
,特别涉及一种测试方法、测试装置、电子设备和非易失性计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]当前手机生产过程中,影像相关的测试项都需要先对测试环境进行自动曝光(Auto exposure,AE)使图片达到合适的亮度。例如,清晰度测试中,会对达到合适亮度的图片进行测试,在手机生产过程中使用的AE算法,都是平台端提供,算法完全封闭,对手机电子设备仅开放调试参数,导致测试产生问题后难以快速定位问题所在,影响测试效率。

技术实现思路

[0003]本申请的实施方式提供了一种测试方法、测试装置、电子设备和非易失性计算机可读存储介质,以解决测试效率低的问题。
[0004]本申请实施方式的测试方法包括基于预设的曝光控制算法和当前曝光时间进行曝光以获取预览图像;根据所述预览图像的预设区域的像素值计算当前灰度值,并根据所述当前灰度值及所述当前曝光时间,确定所述曝光控制算法的映射函数;根据所述映射函数和预设的目标灰度值,确定目标曝光时间;及根据所述曝光控制算法和所述目标曝光时间进行曝光,以获取目标测试图像。
[0005]本申请实施方式的测试装置包括获取模块、第一确定模块、第二确定模块和曝光控制模块。所述获取模块用于基于预设的曝光控制算法和当前曝光时间进行曝光以获取预览图像;所述第一确定模块用于根据所述预览图像的预设区域的像素值计算当前灰度值,并根据所述当前灰度值及所述当前曝光时间,确定所述曝光控制算法的映射函数;及所述第二确定模块用于根据所述映射函数和预设的目标灰度值,确定目标曝光时间;所述曝光控制模块用于根据所述曝光控制算法和所述目标曝光时间进行曝光,以获取目标测试图像。
[0006]本申请实施方式的电子设备包括处理器和相机,所述相机用于采集预览图像,所述处理器用于基于预设的曝光控制算法和当前曝光时间控制所述相机进行曝光以获取预览图像;根据所述预览图像的预设区域的像素值计算当前灰度值,并根据所述当前灰度值及所述当前曝光时间,确定所述曝光控制算法的映射函数;根据所述映射函数和预设的目标灰度值,确定目标曝光时间;及根据所述曝光控制算法和所述目标曝光时间控制所述相机进行曝光,以获取目标测试图像。
[0007]本申请的一种包含计算机程序的非易失性计算机可读存储介质,当所述计算机程序被一个或多个处理器执行时,使得所述处理器执行测试方法。所述测试方法包括基于预设的曝光控制算法和当前曝光时间进行曝光以获取预览图像;根据所述预览图像的预设区域的像素值计算当前灰度值,并根据所述当前灰度值及所述当前曝光时间,确定所述曝光控制算法的映射函数;根据所述映射函数和预设的目标灰度值,确定目标曝光时间;及根据
所述曝光控制算法和所述目标曝光时间进行曝光,以获取目标测试图像。
[0008]本申请实施方式的测试方法、测试装置、电子设备和非易失性计算机可读存储介质基于预设的曝光控制算法,以当前曝光时间进行曝光,从而获取到预览图像,预设的曝光控制算法中,曝光时间和对应图像的预设区域的图像亮度之间满足的预设的映射函数,然后通过当前曝光时间、和预览图像中预设区域的像素值计算得到的当前灰度值,以确定映射函数的参数值,从而获取到准确地映射函数;之后,根据要输出的目标测试图像的目标灰度值以及映射函数,即可计算得到目标曝光时间,从而能够根据目标曝光时间和曝光控制算法来进行曝光,以得预设区域为目标灰度值的目标测试图像。由于曝光控制算法是开放的,且能够准确地获取到算法的映射函数,不仅能够快速而准确地生成目标灰度值的目标测试图像,而且测试人员能够快速检查目标测试图像的输出过程是否存在问题,从而提高测试效率。
[0009]本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实践了解到。
附图说明
[0010]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0011]图1是本申请某些实施方式的测试方法的流程示意图;
[0012]图2是本申请某些实施方式的测试装置的模块示意图;
[0013]图3是本申请某些实施方式的电子设备平面示意图;
[0014]图4是本申请某些实施方式的测试方法的场景示意图;
[0015]图5是本申请某些实施方式的测试方法的流程示意图;
[0016]图6是本申请某些实施方式的测试方法的流程示意图;和
[0017]图7本申请某些实施方式的处理器和计算机可读存储介质的连接示意图。
具体实施方式
[0018]以下结合附图对本申请的实施方式作进一步说明。附图中相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。另外,下面结合附图描述的本申请的实施方式是示例性的,仅用于解释本申请的实施方式,而不能理解为对本申请的限制。
[0019]请参阅图1,本申请实施方式的测试方法包括以下步骤:
[0020]011:基于预设的曝光控制算法和当前曝光时间进行曝光以获取预览图像;
[0021]012:根据预览图像的预设区域的像素值计算当前灰度值,并根据当前灰度值及当前曝光时间,确定曝光控制算法的映射函数;
[0022]013:根据映射函数和预设的目标灰度值,确定目标曝光时间;及
[0023]014:根据曝光控制算法和目标曝光时间进行曝光,以获取目标测试图像。
[0024]请参阅图2,本申请实施方式的测试装置10包括获取模块11、第一确定模块12、第
二确定模块13和曝光控制模块14。获取模块11用于基于预设的曝光控制算法和当前曝光时间进行曝光以获取预览图像;第一确定模块12用于根据预览图像的预设区域的像素值计算当前灰度值,并根据当前灰度值及当前曝光时间,确定曝光控制算法的映射函数;及第二确定模块13用于根据映射函数和预设的目标灰度值,确定目标曝光时间;曝光控制模块14用于根据曝光控制算法和目标曝光时间进行曝光,以获取目标测试图像。也即是说,获取模块11、第一确定模块12、第二确定模块13和曝光控制模块14分别用于执行步骤011、步骤012、步骤013和步骤014。
[0025]请参阅图3,本申请的电子设备100还包括处理器20和相机30。相机30用于采集预览图像,处理器20用于基于预设的曝光控制算法和当前曝光时间控制相机30进行曝光以获取预览图像;根据预览图像的预设区域的像素值计算当前灰度值,并根据当前灰度值及当前曝光时间,确定曝光控制算法的映射函数;根据映射函数和预设的目标灰度值,确定目标曝光时间;及根据曝光控制算法和目标曝光时间控制相机30进行曝光,以获取目标测试图像。也即是说,步骤011和步骤014可以由处理器20配合相机30实现,步骤012和步骤013可以由处理器本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试方法,其特征在于,包括:基于预设的曝光控制算法和当前曝光时间进行曝光以获取预览图像;根据所述预览图像的预设区域的像素值计算当前灰度值,并根据所述当前灰度值及所述当前曝光时间,确定所述曝光控制算法的映射函数;根据所述映射函数和预设的目标灰度值,确定目标曝光时间;及根据所述曝光控制算法和所述目标曝光时间进行曝光,以获取目标测试图像。2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述预设区域为以所述预览图像的中心为对角线交点的预设尺寸的矩形区域,所述根据所述预览图像的预设区域的像素值计算当前灰度值,包括:根据所述预设区域的所有像素值的平均值计算所述当前灰度值。3.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述根据所述当前灰度值及所述当前曝光时间,确定预设的曝光控制算法的映射函数,包括:在所述曝光控制算法中,所述当前灰度值和所述当前曝光时间呈线性关系的情况下,根据所述当前灰度值及所述当前曝光时间确定斜率,以确定所述映射函数;或者在所述曝光控制算法中,所述当前灰度值和所述当前曝光时间呈非线性关系的情况下,以一个所述当前灰度值及对应的一个所述当前曝光时间为一组数据,根据多组所述数据确定所述映射函数。4.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,还包括:在所述目标测试图像的所述预设区域的灰度值与所述目标灰度值不匹配的情况下,调整所述目标曝光时间,并根据调整后的所述目标曝光时间进行曝光,以获取所述目标灰度值的所述目标测试图像;在所述目标测试图像的所述预设区域的灰度值与所述目标灰度值匹配的情况下,确定获取到所述目标灰度值的所述目标测试图像。5.根据权利要求4所述的测试方法,其特征在于,所述调整所述目标曝光时间,包括:在所述目标测试图像的所述预设区域的灰度值小...

【专利技术属性】
技术研发人员:钟俊宇
申请(专利权)人:OPPO广东移动通信有限公司
类型:发明
国别省市:

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